DE10125688A1 - Computergestütztes Entwurfsverfahren und Expertensystem zur Erstellung thermischer Bearbeitungsanordnungen - Google Patents
Computergestütztes Entwurfsverfahren und Expertensystem zur Erstellung thermischer BearbeitungsanordnungenInfo
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Abstract
Computergestütztes Entwurfsverfahren zur Erinstellung optothermischer Bearbeitungsanordnungen, die wenigstens ein vorgefertigtes Strahlermodul zur Erzeugung eines Bearbeitungs-Strahlungsfeldes elektromagnetischer Strahlung im Bereich der nahen Infrarot und/oder mit hoher Leistungsdichte auf einem Bearbeitungsgegenstand und eine Steuereinrichtung zur Steuerung eines Bearbeitungsvorganges mit dem Strahlermodul oder den Strahlermodulen umfassen, wobei unter einer dedizierten Benutzeroberfläche direkte Eingaben und/oder Datenbasis-Verknüpfungen zur Festlegung der relevanten Entwurfsparameter, einschließlich Komponentenparameter der Strahlermodule und wahlweise weiterer Komponenten und von deren Werten oder Wertebereichen, initiiert und ausgeführt, vorgefertigte Entwurfswerkzeuge mit den konkreten Entwurfsparametern aktiviert und mit deren Werten bzw. Wertebereichen abgearbeitet werden und mindestens eine Anlagenkonfiguration mit den relevanten Konstruktions- und Betriebsdaten als Entwurfsergebnis ausgegeben wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein computergestütztes Entwurfsverfah
ren sowie ein Expertensystem zur Erstellung von aus standar
disierten Modulen aufgebauten optothermischen Bearbeitungsan
ordnungen, die ein Bearbeitungs-Strahlungsfeld elektromagne
tischer Strahlung im Bereich des nahen Infrarot und/oder mit
hoher Leistungsdichte zur Bereitstellung hoher Prozeßtempera
turen auf bzw. in einem Werkstück nutzen.
Derartige Bearbeitungsanordnungen und ihre Anwendung zur
thermischen Bearbeitung verschiedenster Werkstücke sind be
kannt. Zu Vorrichtungsaspekten einer solchen Anordnung wird
beispielsweise hingewiesen auf die DE 199 09 542 A1 und die
unveröffentlichten deutschen Patentanmeldungen 100 51 904.0,
100 51 905.9 und 100 51 641.6 der Anmelderin, zu speziellen
Anwendungen etwa auf die WO 99/10160, die WO 99/42774, die
WO 00/26011 und die WO 01/07228 der Anmelderin.
Anordnungen und Verfahren der in Rede stehenden Art weisen -
unabhängig von den konkreten physikalischen Parametern und
geometrischen Abmessungen des Werkstücks und auch von der
konkreten Art der eingesetzten Strahlungsquelle - eine Reihe
typischer gemeinsamer Merkmale auf, und der Entwurf einer
solchen Anlage hat typischerweise von einer definierten Menge
von Entwurfsparametern auszugehen. Zudem bietet sich aus
wirtschaftlichen Gründen die Erstellung solcher Anlagen aus
weitgehend standardisierten Modulen an, mit denen verschiede
nen Einsatzbedingungen und Werkstücksspezifika mit vertretba
ren Entwurfs- und Gestehungskosten flexibel Rechnung getragen
werden kann.
Kernstück des modularen, standardisierten Aufbaus solcher An
lagen sind Strahlermodule mit weitgehend einheitlichem Aufbau
und genormten Abmessungen, die mindestens eine kommerziell
verfügbare Strahlungsquelle und einen dieser zugeordneten
Träger/Reflektor sowie elektrische und gegebenenfalls Medien-
Anschlüsse umfassen. Zur Stromversorgung und Steuerung dieser
Strahlermodule umfaßt eine Bearbeitungsanlage der in Rede
stehenden Art mindestens eine standardisierte Steuereinrich
tung, und ergänzt wird sie durch Konstruktionsmodule für den
mechanischen Aufbau der Anlage und gegebenenfalls Meß- und/
oder Überwachungseinrichtungen, Fluidstromformer (sogenannte
"Luftleisten") etc.. Auch die letztgenannten Komponenten sind
als Module in geeigneten Leistungsparameterabstufungen vor
fertigbar und modular in die Gesamtanlage integrierbar.
Auf der anderen Seite eignen sich die in Rede stehenden Bear
beitungsanordnungen zur Lösung höchst verschiedenster Bear
beitungsaufgaben an Werkstücken mit einem breiten Spektrum
von physikalischen Parametern und geometrischen Abmessungen
und in Produktionsanlagen mit höchst unterschiedlichen Ein
satzbedingungen, so daß - trotz der grundlegenden Gemeinsam
keiten - nahezu für jeden Einsatzfall ein spezieller Entwurf
ausgearbeitet werden muß. Dies geschieht derzeit im wesentli
chen durch Teams von erfahrenen Entwicklungsingenieuren der
Anmelderin und Anlagentechnikern der Anwender, die in den
Entwurf ihre persönliche Erfahrung einbringen und in der Re
gel umfangreiche Meßreihen und Tests zu Erstellung einer auf
den Anwendungszweck angepaßten Anlagenkonfiguration durchfüh
ren müssen.
Dies ist ein Zeit- und kostenaufwendiges Vorgehen, und
gleichwohl sind suboptimale Ergebnisse infolge der Nichtbe
rücksichtigung relevanter Entwurfsparameter nicht vollständig
auszuschließen. Auch die Einbeziehung numerischer Simulatio
nen zur Lösung von Teilproblemen hat hierbei keinen Durch
bruch gebracht.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein wesent
lich effizienteres Entwurfsverfahren und -system zur Erstel
lung von optothermischen Bearbeitungsanlagen der oben genann
ten Art bereitzustellen, welches den Entwicklern die Erstel
lung von auf verschiedene Anwendungsfälle hin optimierten An
lagenkonfigurationen in wesentlich kürzerer Zeit und mit ge
ringerem Kostenaufwand ermöglicht.
Diese Aufgabe wird hinsichtlich ihres Verfahrensaspektes
durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und
hinsichtlich ihres Systemaspektes durch ein Expertensystem
mit den Merkmalen des Anspruchs 10 gelöst.
Die Erfindung schließt den wesentlichen Gedanken ein, zur Lö
sung der oben skizzierten Entwurfsaufgaben ein einheitliches
computergestütztes Entwurfsverfahren anzugeben, welches unter
einer dedizierten Benutzeroberfäche sämtliche für die Erstel
lung einer optothermischen Bearbeitungsanlage benötigten Da
ten bzw. Verknüpfungen zu Datenbasen vorhält, aus denen diese
Daten direkt zu gewinnen sind. Sie schließt weiterhin den Ge
danken ein, in das Entwurfsverfahren und -system die für eine
Anlage typischerweise benutzten Entwurfswerkzeuge (Konstruk
tionsvorschriften, Simulationsverfahren, Prüfvorschriften
etc.) einzubinden.
Das vorgeschlagene System ist modular aufgebaut und dynamisch
erweiterbar, so daß zusätzliche Entwurfsdaten für neue Appli
kationen einfügbar sind, doch zugleich für jede neue Applika
tion die Wissensbasis aller in der Vergangenheit entworfenen
Anlagen und Anwendungen zur Verfügung steht. In gleicher Wei
se können neue Berechnungs- und Prüfverfahren, Konstruktions
vorschriften und andere Entwurfswerkzeuge - zusätzlich oder
in Ersetzung überholter Werkzeuge - eingebunden werden, ohne
das Gesamtsystem erneuern zu müssen.
In der bevorzugten Ausführung des vorgeschlagenen Verfahrens
ist die Benutzeroberfläche zur intuitiven Benutzerführung des
Entwicklungsingenieurs hinsichtlich der Festlegung der rele
vanten Entwurfsparameter und der Erfassung von deren Werten
bzw. Wertebereichen, hinsichtlich der Auswahl der zu benut
zenden Entwurfswerkzeuge und hinsichtlich des für den konkre
ten Anwendungsfall zu wählenden Programmablaufes ausgebildet.
Das System definiert somit eine auf die Spezifik der in Rede
stehenden optothermischen Bearbeitungsanordnungen zugeschnit
tene Entwurfssystematik, die die Berücksichtigung aller we
sentlichen Randbedingungen sichert und somit die Gefahr der
Außerachtlassung wesentlicher Parameter (und damit der Be
reitstellung suboptimaler Lösungen) drastisch reduziert. Aus
derzeitiger Sicht ist es zweckmäßig, die für eine Bearbei
tungsanlage der genannten Art grundsätzlich in Betracht zu
ziehenden Entwurfsparameter zwei großen Gruppen zuzuordnen
und in dedizierten Datenbasen - gegebenenfalls mit einer Un
terteilung in separat adressierbare Sub-Datenbasen - abzule
gen bzw. (soweit es sich um grundsätzlich neue Applikationen
handelt) mit einem als spezielles Entwurfswerkzeug ausgear
beiteten Erfassungs- und Bewertungsalgorithmus neu aufzuneh
men.
Bei der ersten Gruppe handelt es sich insbesondere um
- - optische und thermische Materialgrößen des Werkstücks, insbesondere das spektrale Absorptionsvermögen vom sicht baren Bereich bis in den mittleren Infrarot-Bereich, die Wärmeleitfähigkeit, die spezifische Wärmekapazität sowie optische und thermische Belastungsgrenzen,
- - die Abmessungen des Werkstücks sowie Anlagenparameter ei ner Gesamtanlage, insbesondere der für die thermische Be arbeitungsanordnung verfügbare Bauraum und eine vorgegebe ne Transportgeschwindigkeit des Werkstücks,
- - die Verfügbarkeit und Anschlußparameter von Strom-, Was ser-, Preßluft-, Abluft- und Klimatisierungsanschlüssen.
Weiterhin gehören in diese Gruppe - oder gegebenenfalls in
eine dritte, separat zu handhabende Gruppe - betriebswirt
schaftliche Randbedingungen, die vom Anwender vorgegeben wer
den bzw. sich aus den Einsatzbedingungen der Gesamt-
Produktionsanlage ergeben.
Die zweite Gruppe umfaßt vor allem
- - Komponentenparameter der Strahlermodule, insbesondere Ab messungen, Strom- und Medienanschlüsse, Daten zum spektra len und geometrischen Emissionsverhalten,
- - Komponentenparameter der Steuereinrichtung bzw. -einrich tungen, insbesondere Ein- und Ausgangsgrößen, Signalspezi fikations- bzw. Protokolldaten und Daten zur Verarbei tungs- und Speicherkapazität sowie optional
- - Komponentenparameter passiver Reflektormodule, insbesonde re deren Abmessungen und Gewicht, Daten zum spektralen und geometrischen Reflexionsverhalten und Konfigurierbarkeits daten, und/oder
- - Komponentenparameter von Konstruktionsmodulen, insbesonde re Abmessungen und Gewicht, Tragkraft und Konfigurierbar keitsdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden,
- - Komponentenparameter von Meß- und/oder Überwachungsein richtungen, insbesondere Pyrometern, Lichtschranken, Ge schwindigkeits-, Spannungs- und Strommeßeinrichtung oder Kühlmedium-Durchflußmessern, und/oder
- - Komponentenparameter von Fluidstromformern, insbesondere Abmessungen und Gewicht, Konfigurierbarkeitsdaten und Me dienanschlußdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden.
Wesentliches Element einer bevorzugten Verfahrensführung und
Auslegung des Expertensystems ist die Vorhaltung von bei in
der Vergangenheit ausgearbeiteten Entwürfen genutzten Ent
wurfsdaten und -werkzeugen in einer systematisch erschließba
ren Bibliothek. Die Benutzeroberfläche realisiert also Ver
knüpfungen zu Entwurfsparameter-, Entwurfswerkzeug- und Anla
genkonfigurations-Datenbasen, auf deren Verfügbarkeit der
Entwickler im Rahmen der Benutzerführung hingewiesen und zu
deren sinnvoller Anwendung er mittels eines geeigneten Klas
sifikationsschemas und/oder Thesaurus ertüchtigt wird.
Mit der vorgeschlagenen Lösung werden kundenspezifische An
wendungsparameter und sonstige in Betracht zu ziehende physi
kalische, chemische und konstruktive Parameter abgefragt, sy
stematisch geprüft, gegebenenfalls durch Eingabe oder Daten
bank-Verknüpfungen ergänzt und in geeigneten Entwurfsmodellen
verarbeitet. Die Modellbildung berücksichtigt anlagentypische
Phänomene, wie Wärme- und Stofftransferprozesse und strö
mungsdynamische Phänomene und liefert im Ergebnis numerischer
Simulationen, gegebenenfalls unter Berücksichtigung von inte
rativ ergänzten und präzisierten Werten der Entwurfsparame
ter, zu einer oder mehreren optimierten Systemkonfiguratio
nen. Die Modellbildung und numerische Simulation erfolgen -
teils benutzergesteuert, teils automatisch - unter Abfrage
der vorhandenen Datenbasen und mit standardisierten Ein
griffsmöglichkeiten für den Entwickler, der selbstverständ
lich auch (vorbestimmte) Möglichkeiten zur Modifizierung ei
ner "fertigen" Anlagenkonfiguration hat.
In einer modularen Betrachtungsweise des Expertensystems kann
man sich dieses aus einem Datenerfassungsmodul, einem Pro
grammablauf- bzw. Berechnungssteuermodul, Entwurfswerkzeug-
bzw. Berechnungsmodulen, einem Optimierungsmodul, einem Aus
gabemodul und Datenbasen zusammengesetzt denken, mit denen
der Anwender (Entwicklungsingenieur) über die erwähnte Benut
zeroberfläche interaktiv kommuniziert.
Wesentliche Berechnungsvorgänge im Rahmen des Entwurfsverfah
ren sind insbesondere:
- a) Berechnung des Wärmetransports durch Strahlung, Konvekti on, Wärmeleitung, Verdunstung,
- b) Berechnung von Anzahl, Leistung und Anordnung der Heiz- /Trocknungsmodule,
- c) Berechnung des Anlagen-Kühlbedarfs,
- d) Bilanzierung aller Energieströme und Berechnung des ener getischen Wirkungsgrades,
- e) Berechnung von spezifischen Investitions- und Verbrauchs kosten und
- f) Bilanzierung aller Stoffströme und Bewertung der Stoff- und Energieströme hinsichtlich der Umweltbelastung.
In modularer Betrachtungsweise kann man die den Berechnungen
dienenden Entwurfswerkzeuge beispielsweise als Sub-Module,
Optik, Stofftransport, Wärmetransport, Anlagendimensionie
rung, Kühlbedarf, Energiebilanz, Kosten und Umwelteinflüsse
betrachten, wobei jedes Sub-Modul dedizierte Berechnungsver
fahren enthält, die auf die Spezifik der optothermischen Be
arbeitungsanordnung zugeschnitten sind. Dies gilt in gleicher
Weise für die erwähnten Optimierungs-Werkzeuge, bei denen man
beispielsweise Sub-Module technische Optimierung, wirtschaft
liche Optimierung und ökologische Optimierung unterscheiden
kann. Das Programmablauf- bzw. Berechnungssteuermodul kann -
vereinfacht - in die Submodule Datenerfassung, Modellbildung,
numerische Berechnung und Systemkonfiguration untergliedert
werden.
Die Ausgabe der errechneten Anlagenkonfigurationen erfolgt
bevorzugt in Tabellenform als Liste der einzusetzenden Kompo
nenten und/oder in grafischer Darstellung, beispielsweise als
perspektivische Darstellung der Bearbeitungsanlage in ihrer
räumlichen Einbindung in eine Gesamt-Produktionsanlage des
Anwenders.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird anhand eines Beispiels
illustriert. Verbundplatten, bestehend aus einem Aluminium
blech, welches auf eine 3 cm dicke PU-Schaumschicht geklebt
ist, sollen auf der Al-Seite mit Korrosionsschutz/Primer und
Pulverlack beschichtet und thermisch vernetzt werden.
Von Anwenderseite werden physikalische Eingabewerte zur Ver
fügung gestellt, und zwar thermische Leitfähigkeiten und Wär
mekapazitäten von Pulver, vernetztem Lack und PU-Schaum, so
wie Vorgaben zu maximalem Energiebedarf, Platzbedarf, Be
triebskosten und vorhandenen Schnittstellen eines Gesamtpro
zesses gemacht. Die zur Simulation benötigten spektralen
Transmissions- und Reflektionsspektren des Lacks werden aus
einer externen Datenbasis entnommen, die über die Benut
zeroberfläche zugreifbar ist. Weitere benötigte physikalische
und chemische Größen werden einer betrieblichen Datenbank
entnommen.
Bei der Simulation des Bearbeitungsprozesses greift das Sys
tem auf ein allgemein gefaßtes Berechnungsmodul zur Lösung
von Wärmeleitungsproblemen in ebenen, aufeinanderliegenden
Schichten zu und ruft ein Berechnungsmodul zur strömungsdyna
mischen Simulation von Kühl- und Verdunstungsprozessen auf,
unter Maßgabe von fertigungs- und materialspezifischen Grenz
werten (z. B. maximale Temperaturbelastungen, Grenzwerte für
die Verarbeitungsdauer) und berechnet zeitaufgelöste Tempera
turverteilungen im Werkstück.
Anhand der simulierten Temperaturverteilungen werden kon
struktionsrelevante Parameter (z. B. Dimensionierung von
Emittern, Reflektoren und Kühlung des Heizmoduls, Dimensio
nierung und Geschwindigkeit von Transportmechanismus, Vorga
ben für die Prozeßsteuerung) unter Benutzung der betriebli
chen Datenbank und der Auslegungsprogramme bestimmt. Die si
mulierten Parameter bestimmen die Auswahl von Systemkomponen
ten und führen zur Systemkonfiguration. Durch Zugriff auf die
betriebliche Datenbank, in der die Komponententemperatur und
bereits früher entworfene Konfigurationen abgelegt sind, wer
den Kosten, Energiebilanzen und Umweltbelastung ermittelt.
Ein Lösungsvorschlag, bestehend aus realisierbarer Systemlö
sung, Kosten, Energiebilanzen und Umweltbelastung wird zusam
mengestellt und durch mehrdimensionale Parametervariation
computergestützt (iterativ) optimiert. In mehreren aufeinan
derfolgenden Iterationszyklen werden mehrere Emitterkonfigu
rationen mit verschiedenen Emittertypen und zwei alternative
Auslegungen des Kühlsystems simuliert, bevor das Optimie
rungsmodul eine Konfiguration akzeptiert, die alle Toleranz
vorgaben des Anwenders erfüllt. Es wurde z. B. nach dem er
sten Iterationsschritt ein Lösungsvorschlag gefunden, der
nicht mit der elektrischen Anschlußleistung des Kunden kompa
tibel war. Daher wurden im zweiten Iterationsschritt Simula
tionen Emitter mit geringerem Leistungsbedarf (und geringerem
Kühlbedarf) berücksichtigt, die allerdings nicht zur voll
ständigen Vernetzung der Lackschicht führen würden. Durch
schrittweises Anpassen der Emitteranordnungen in den folgen
den Iterationszyklen wurde ein allen Vorgaben entsprechender
Vorschlag gefunden, welcher dem Kunden unterbreitet und in
der betrieblichen Datenbank abgelegt wird, um für künftige
Projekte verfügbar zu sein.
Die Anwendung der Erfindung ist selbstverständlich nicht auf
dieses Beispiel und die oben hervorgehobenen Aspekte be
schränkt, sondern ebenso für eine Vielzahl anderer Applika
tionen und unter Betonung anderer Randbedingungen und Ent
wurfsparameter ausführbar.
Claims (14)
1. Computergestütztes Entwurfsverfahren zur Erstellung op
tothermischer Bearbeitungsanordnungen, die wenigstens
ein vorgefertigtes Strahlermodul zur Erzeugung eines Be
arbeitungs-Strahlungsfeldes elektromagnetischer Strah
lung im Bereich der nahen Infrarot und/oder mit hoher
Leistungsdichte auf einem Bearbeitungsgegenstand und ei
ne Steuereinrichtung zur Steuerung eines Bearbeitungs
vorganges mit dem Strahlermodul oder den Strahlermodulen
umfassen,
dadurch gekennzeichnet, daß
unter einer dedizierten Benutzeroberfläche direkte Ein gaben und/oder Datenbasis-Verknüpfungen zur Festlegung der relevanten Entwurfsparameter, einschließlich Kompo nentenparameter der Strahlermodule und wahlweise weite rer Komponenten und von deren Werten oder Werteberei chen, initiiert und ausgeführt,
vorgefertigte Entwurfswerkzeuge mit den konkreten Ent wurfsparametern aktiviert und mit deren Werten bzw. Wer tebereichen abgearbeitet werden und
mindestens eine Anlagenkonfiguration mit den relevanten Konstruktions- und Betriebsdaten als Entwurfsergebnis ausgegeben wird.
unter einer dedizierten Benutzeroberfläche direkte Ein gaben und/oder Datenbasis-Verknüpfungen zur Festlegung der relevanten Entwurfsparameter, einschließlich Kompo nentenparameter der Strahlermodule und wahlweise weite rer Komponenten und von deren Werten oder Werteberei chen, initiiert und ausgeführt,
vorgefertigte Entwurfswerkzeuge mit den konkreten Ent wurfsparametern aktiviert und mit deren Werten bzw. Wer tebereichen abgearbeitet werden und
mindestens eine Anlagenkonfiguration mit den relevanten Konstruktions- und Betriebsdaten als Entwurfsergebnis ausgegeben wird.
2. Entwurfsverfahren nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch
die Schritte:
- - Laden einer Prozeßgrößentabelle vorbestimmter thermi scher, räumlicher, zeitlicher und wahlweise weiterer Prozeßgrößen sowie Versorgungsanschluß- und Kosten größen in eine Benutzeroberfläche eines Entwurfsrech ners,
- - Auswahl einer ersten Gruppe relevanter Entwurfspara meter aus der Prozeßgrößentabelle,
- - direkte Eingabe von Werten oder Wertebereichen der Entwurfsparameter der ersten Gruppe und/oder Herstel lung von Verknüpfungen zu vorab spezifizierten, über die Benutzeroberfläche zugreifbaren Datenbasen und Übernahme von Werten bzw. Wertebereichen aus diesen in einen Arbeitsspeicher,
- - Laden einer Komponententabelle verfügbarer und bezüg lich ihrer prozeßrelevanten und wahlweise wirtschaft lichen Parameter vorab definierter Komponenten, ins besondere Strahlermodule, Transport-, Tragkonstrukti ons-, Meß- und Steuerbausteine, mit deren Komponen tenparameter in die Benutzeroberfläche,
- - Löschen von offensichtlich für den konkreten Entwurf nicht relevanten Anlagenkomponenten und Überführen der verbleibenden Komponenten-Datensätze als zweite Gruppe von Entwurfsparametern in den Arbeitsspeicher des Entwurfsrechners,
- - Laden einer Entwurfswerkzeug-Tabelle vorbestimmter Entwurfswerkzeuge, insbesondere von vorprogrammierten Konstruktionsvorschriften und physikalischen Berech nungsverfahren und wahlweise betriebswirtschaftlichen Berechnungsverfahren für die optothermischen Bearbei tungsanordnungen, in die Benutzeroberfläche,
- - Auswahl von relevanten oder Löschen von offensicht lich nicht relevanten Entwurfswerkzeugen und Laden der relevanten Entwurfswerkzeuge in den Arbeitsspei cher des Entwurfsrechners,
- - Eingabe eines Entwurfs-Programmablaufes zur Ausfüh rung des Entwurfsverfahrens und
- - Ausführen des Entwurfs-Programmablaufes und Ausgabe der Anlagenkonfiguration oder Anlagenkonfigurationen unter Angabe der hierfür geltenden Werte der Entwurf sparameter der ersten und zweiten Gruppe.
3. Entwurfsverfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Entwurfsparameter der ersten Gruppe
optische und thermische Materialgrößen des Werk stücks, insbesondere das spektrale Absorptionsvermö gen vom sichtbaren Bereich bis in den mittleren In frarot-Bereich, die Wärmeleitfähigkeit, die spezifi sche Wärmekapazität sowie optische und thermische Be lastungsgrenzen,
die Abmessungen des Werkstücks sowie Anlagenparameter einer Gesamtanlage, insbesondere der für die thermi sche Bearbeitungsanordnung verfügbare Bauraum und ei ne vorgegebene Transportgeschwindigkeit des Werk stücks,
die Verfügbarkeit und Anschlußparameter von Strom-, Wasser-, Preßluft-, Abluft- und Klimatisierungsan schlüssen sowie
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe
Komponentenparameter der Strahlermodule, insbesondere Abmessungen, Strom- und Medienanschlüsse, Daten zum spektralen und geometrischen Emissionsverhalten,
Komponentenparameter der Steuereinrichtung bzw. -ein richtungen, insbesondere Ein- und Ausgangsgrößen, Si gnalspezifikations- bzw. Protokolldaten und Daten zur Verarbeitungs- und Speicherkapazität,
programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Re levanz verarbeitet werden.
optische und thermische Materialgrößen des Werk stücks, insbesondere das spektrale Absorptionsvermö gen vom sichtbaren Bereich bis in den mittleren In frarot-Bereich, die Wärmeleitfähigkeit, die spezifi sche Wärmekapazität sowie optische und thermische Be lastungsgrenzen,
die Abmessungen des Werkstücks sowie Anlagenparameter einer Gesamtanlage, insbesondere der für die thermi sche Bearbeitungsanordnung verfügbare Bauraum und ei ne vorgegebene Transportgeschwindigkeit des Werk stücks,
die Verfügbarkeit und Anschlußparameter von Strom-, Wasser-, Preßluft-, Abluft- und Klimatisierungsan schlüssen sowie
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe
Komponentenparameter der Strahlermodule, insbesondere Abmessungen, Strom- und Medienanschlüsse, Daten zum spektralen und geometrischen Emissionsverhalten,
Komponentenparameter der Steuereinrichtung bzw. -ein richtungen, insbesondere Ein- und Ausgangsgrößen, Si gnalspezifikations- bzw. Protokolldaten und Daten zur Verarbeitungs- und Speicherkapazität,
programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Re levanz verarbeitet werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe zusätzlich Komponentenparameter passiver Reflektormodule, insbeson dere deren Abmessungen und Gewicht, Daten zum spektralen und geometrischen Reflexionsverhalten und Konfigurier barkeitsdaten, und/oder
Komponentenparameter von Konstruktionsmodulen, insbeson dere Abmessungen und Gewicht, Tragkraft und Konfigurier barkeitsdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden.
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe zusätzlich Komponentenparameter passiver Reflektormodule, insbeson dere deren Abmessungen und Gewicht, Daten zum spektralen und geometrischen Reflexionsverhalten und Konfigurier barkeitsdaten, und/oder
Komponentenparameter von Konstruktionsmodulen, insbeson dere Abmessungen und Gewicht, Tragkraft und Konfigurier barkeitsdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe zusätzlich Komponentenparameter von Meß- und/oder Überwachungsein richtungen, insbesondere Pyrometern, Lichtschranken, Ge schwindigkeits-, Spannungs- und Strommeßeinrichtung oder Kühlmedium-Durchflußmessern, und/oder
Komponentenparameter von Fluidstromformern, insbesondere Abmessungen und Gewicht, Konfigurierbarkeitsdaten und Medienanschlußdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden.
als Entwurfsparameter der zweiten Gruppe zusätzlich Komponentenparameter von Meß- und/oder Überwachungsein richtungen, insbesondere Pyrometern, Lichtschranken, Ge schwindigkeits-, Spannungs- und Strommeßeinrichtung oder Kühlmedium-Durchflußmessern, und/oder
Komponentenparameter von Fluidstromformern, insbesondere Abmessungen und Gewicht, Konfigurierbarkeitsdaten und Medienanschlußdaten, programmiert bzw. eingegeben und nach Maßgabe ihrer Relevanz verarbeitet werden.
6. Entwurfsverfahren nach einem der vorangehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet, daß
unter der Benutzeroberfläche eine Verknüpfung zu einer
Anlagenkonfigurations-Datenbasis bereitgestellt wird, in
der vorab entworfene Anlagenkonfigurationen für opto
thermische Bearbeitungsanlagen mit ihren relevanten Ent
wurfsparametern abgelegt sind.
7. Entwurfsverfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
unter der Benutzeroberfläche eine Entwurfsparameter- Datenbasis, in der - insbesondere in jeweils einer sepa rat adressierbaren Sub-Datenbasis -, Entwurfsparameter der ersten und zweiten Gruppe zu in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren abgelegt sind,
eine Entwurfswerkzeug-Datenbasis, in der bei in der Ver gangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optother mische Bearbeitungsanlagen genutzte Werkzeuge oder Links zu solchen gespeichert sind, und/oder
eine Programmablauf-Datenbasis bereitgestellt wird, in der bei in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsver fahren für optothermische Bearbeitungsanlagen definierte Programmabläufe, insbesondere in Form von Programmab laufdiagrammen, gespeichert sind.
unter der Benutzeroberfläche eine Entwurfsparameter- Datenbasis, in der - insbesondere in jeweils einer sepa rat adressierbaren Sub-Datenbasis -, Entwurfsparameter der ersten und zweiten Gruppe zu in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren abgelegt sind,
eine Entwurfswerkzeug-Datenbasis, in der bei in der Ver gangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optother mische Bearbeitungsanlagen genutzte Werkzeuge oder Links zu solchen gespeichert sind, und/oder
eine Programmablauf-Datenbasis bereitgestellt wird, in der bei in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsver fahren für optothermische Bearbeitungsanlagen definierte Programmabläufe, insbesondere in Form von Programmab laufdiagrammen, gespeichert sind.
8. Entwurfsverfahren nach einem der vorangehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Benutzeroberfläche, insbesondere in grafischer Re
präsentation, Programmbausteine bereitstellt und an
zeigt, um den Benutzer intuitiv zur Erstellung eines al
le wesentlichen Eingabe-, Datenbasis-Verknüpfungs-, Be
rechnungs- und Prüfungsvorgänge für optothermische Bear
beitungsanlagen beinhaltenden Programmablaufes zu füh
ren.
9. Entwurfsverfahren nach einem der vorangehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet, daß
ein Zugriff auf die Benutzeroberfläche und die zur Aus
führung des Verfahrens benötigten Entwurfsparameter und
Entwurfswerkzeuge, insbesondere die verschiedenen be
reitgestellten Datenbasen, im Ergebnis differenzierter
Authentisierungsprüfungen stufenweise gewährt wird.
10. Expertensystem zur Erstellung optothermischer Bearbei
tungsanordnungen, die wenigstens ein vorgefertigtes
Strahlermodul zur Erzeugung eines Bearbeitungs-
Strahlungsfeldes elektromagnetischer Strahlung im Be
reich der nahen Infrarot und/oder mit hoher Leistungs
dichte auf einem Bearbeitungsgegenstand und eine Steuer
einrichtung zur Steuerung eines Bearbeitungsvorganges
mit dem Strahlermodul oder den Strahlermodulen umfassen,
gekennzeichnet durch
eine dedizierte Benutzeroberfläche, welche den Benutzer
zur Vornahme direkter Eingaben und/oder Datenbasis-
Verknüpfungen zur Festlegung der relevanten Entwurfspa
rameter, einschließlich Komponentenparameter der Strah
lermodule und wahlweise weiterer Komponenten, und von
deren Werten oder Wertebereichen führt und
vorgefertigte Entwurfswerkzeuge, die mit den konkreten
Entwurfsparametern aktiviert und mit deren Werten bzw.
Wertebereichen abgearbeitet werden können.
11. Expertensystem nach Anspruch 10,
gekennzeichnet durch
eine Anlagenkonfigurations-Datenbasis für optothermische
Bearbeitungsanlagen, in der vorab entworfene Anlagenkon
figuration optothermischer Bearbeitungsanlagen mit ihren
relevanten Entwurfsparametern abgelegt sind und die über
die Benutzeroberfläche adressierbar ist.
12. Expertensystem nach Anspruch 10 oder 11,
gekennzeichnet durch
eine Entwurfsparameter-Datenbasis für optothermische Be arbeitungsanlagen, die insbesondere mehrere separat adressierbare Sub-Datenbasen umfaßt, in der Entwurfspa rameter zu in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfs verfahren abgelegt sind,
eine Entwurfswerkzeug-Datenbasis, in der bei in der Ver gangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optother mische Bearbeitungsanlagen genutzte Werkzeuge oder Links zu solchen gespeichert sind, und/oder eine Pro grammablauf-Datenbasis, in der bei in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optothermische Bear beitungsanlagen definierte Programmabläufe gespeichert sind,
wobei die Datenbasis aus der Benutzeroberfläche direkt adressierbar sind.
eine Entwurfsparameter-Datenbasis für optothermische Be arbeitungsanlagen, die insbesondere mehrere separat adressierbare Sub-Datenbasen umfaßt, in der Entwurfspa rameter zu in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfs verfahren abgelegt sind,
eine Entwurfswerkzeug-Datenbasis, in der bei in der Ver gangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optother mische Bearbeitungsanlagen genutzte Werkzeuge oder Links zu solchen gespeichert sind, und/oder eine Pro grammablauf-Datenbasis, in der bei in der Vergangenheit ausgeführten Entwurfsverfahren für optothermische Bear beitungsanlagen definierte Programmabläufe gespeichert sind,
wobei die Datenbasis aus der Benutzeroberfläche direkt adressierbar sind.
13. Expertensystem nach einem der Ansprüche 10 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Benutzeroberfläche als grafische Benutzeroberfläche
zur intuitiven Benutzerführung zur Erstellung eines alle
wesentlichen Eingabe-, Datenbasis-Verknüpfungs-, Berech
nungs- und Prüfungsvorgänge für eine optothermische Be
arbeitungsanlage beinhaltenden Programmablaufes ausge
bildet ist.
14. Expertensystem nach einem der Ansprüche 10 bis 13,
gekennzeichnet durch
Authentisierungsmittel zur stufenweisen Gewährung eines
Zugriffs auf die Benutzeroberfläche und die zur Ausfüh
rung des Verfahrens benötigten Entwurfsparameter und
Entwurfswerkzeuge, insbesondere die verschiedenen be
reitgestellten Datenbasen, im Ergebnis differenzierter
Authentisierungsprüfungen.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20121730U DE20121730U1 (de) | 2001-05-25 | 2001-05-25 | Expertensystem zur Erstellung thermischer Bearbeitungsanordnungen |
DE10125688A DE10125688A1 (de) | 2001-05-25 | 2001-05-25 | Computergestütztes Entwurfsverfahren und Expertensystem zur Erstellung thermischer Bearbeitungsanordnungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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WO2020099648A1 (de) * | 2018-11-16 | 2020-05-22 | Lenze Automation Gmbh | Verfahren zum visualisieren der automatisierung einer technischen einrichtung |
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- 2001-05-25 DE DE10125688A patent/DE10125688A1/de not_active Ceased
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