DE10122321A1 - Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen - Google Patents
Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichenInfo
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Abstract
Die fluchtende Lage zweier Maschinenteile, insbesondere von Wellen usw., kann durch ein optoelektronisch arbeitendes Meßinstrument ermittelt werden, welches zwei getrennt ansteuerbare Vorrichtungen zur Aussendung eines (Laser-)Lichtstrahles vorsieht. DOLLAR A Durch die getrennt und abwechselnd erfolgende Energetisierung der Lichtquellen ist es möglich, ein einziges Target zum Empfang reflektierter Laserlichtstrahlen zu verwenden. DOLLAR A Der Wechsellichtbetrieb der Lichtquellen kann zusätzlich durch eine Pulscodemodulation modifiziert werden. Das Laserlicht kann dann die interessierenden Nutz-Informationen an ein externes Empfangs-Gerät übertragen.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Beurteilung der fluchtenden Lage zweier
Maschinenteile, zum Beispiel Wellen, Werkzeugmaschinenspindeln, Werkstücken oder
dergleichen.
Vorrichtungen der gattungsgemässen Art sind seit mehreren Jahren in Gebrauch und zeichnen
sich dadurch aus, dass ihre Anwendung sehr viel Arbeitszeit einspart.
Neben den in der DE 34 73 344.2-08 und der EP 0183811 genannten Vorrichtungen ist in
diesem Zusammenhang auf die Lehre der DE 38 14 466 und der DE 199 23 116
hinzuweisen.
In den beiden zuletzt genannten Schriften wird dargestellt, wie die fluchtende Lage zweier
Maschinenteile, insbesondere zweier miteinander zu verbindender Wellen, oder der
Ausrichtung zwischen einer Maschinenspindel und einem Werkstück, unter Verwendung eines
Messmittels mit einer einzigen strahlerzeugenden Lichtquelle überprüft, vermessen und
beurteilt werden kann.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die bekannten Vorrichtungen derart zu verbessern, dass
signifikant niedrigere Herstellungskosten der Geräte erzielt werden können. Damit soll deren
Einsatz auch in solchen Umfeldern möglich werden, wo dies aus Kostengründen bisher
entweder nicht in Frage kam oder allenfalls zögernd akzeptiert wurde.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass eine Vorrichtung zur Vermessung oder Beurteilung
der Relativlage zweier Maschinenteile, Werkzeuge, Werkstücke oder dergleichen angegeben
wird, welche folgende Merkmale aufweist: In einem ersten Gehäuse befindet sich eine
Einrichtung zur Erzeugung mindestens zweier Lichtstrahlen schmalen Querschnitts, wobei
mindestens zwei separate Lichtquellen vorhanden sind. Die separaten Lichtquellen stellen
bevorzugt Laserlichtquellen dar, welche auch Licht von unterschiedlicher Farbe aussenden
können. Die mindestens zwei Lichtquellen werden wechselweise oder sukzessiv bestromt, und
zwar mittels einer Schalt- oder Multiplexeinheit. Weiterhin ist gemäß der Erfindung
mindestens ein lichtempfindlicher optoelektronischer Sensor vorgesehen, welche(r) jeweils
geeignet ist bzw. sind, zumindest den Schwerpunkt einer auf ihn einfallenden Lichtverteilung
nach zwei kartesischen Koordinaten zu registrieren und auszuweisen, d. h. zu sensieren und
als diesbezügliche Signal Kombination abzugeben. Dem bzw. den lichtempfindlichen
Sensor(en) ist eine Auswerteeinheit nachgeschaltet. Mit dieser können die Signale eines bzw.
mehrerer lichtempfindlichen Sensors(en) ausgewertet werden, ggf auch ein vom Multiplexer
oder der Schalteinheit abgegebenes Synchronisationssignal. Gemäß der Erfindung ist noch
ein zweites Gehäuse vorgesehen, in welchem sich eine Reflektorkombination befindet. Die
Reflektorkombination enthält zwei reflektierende Elemente, welche jeweils einer der
mindestens zwei separaten Lichtquellen zugeordnet sind. Die reflektierenden Elemente
können unterschiedlich ausgestaltet sein. Es kann für die reflektierenden Elemente eine
Auswahl getroffen werden, und zwar aus der Menge der Planspiegel, der Tripelspiegel, der
Tripelprismen, der Dachkantspiegel, oder der Dachkantprismen. Typischerweise werden
zwei unterschiedliche Reflektortypen in einer Reflektorkombination angeordnet.
Durch eine solche Auswahl an Systemkomponenten sind deutliche Kosteneinsparungen bei der
Bereitstellung eines Gerätes mit hoher Bedienerfreundlichkeit erzielbar.
Die Erfindung wird anhand der Figuren erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Seitenansicht einer einfachen Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 2 eine schematische Seitenansicht einer bevorzugten Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 3 eine Ausführungsform der Erfindung, welche eine abbildende Optik
in Form einer konvexen Linse aufweist,
Fig. 4 eine Ausführungsform der Erfindung mit zwei abbildenden Linsen,
Fig. 5 eine perspektivische Darstellung eines Reflexionselementes gemäß
der Erfindung,
Fig. 6 eine schematische Seitenansicht einer speziellen Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 7 ein Beispiel eines Impulsdiagramms.
Die Erfindung sieht zwei Lichtstrahl-Quellen, z. B. Laserlichtstrahler 10, 20 vor, in der
bevorzugten Ausführungsform jedoch nur einen einzigen lichtempfindlichen Sensor 200, der
zweidimensional wirkt. Die einzelnen Lichtstrahler an sich und die Sensoren dieser Art sind
per se bekannt. Gemäss der Erfindung sind die Lichtstrahl-Quellen jedoch durch einen
Multiplexer 100 wechselweise, d. h. alternativ, ansteuerbar, und zwar über die Leitungen 120,
110, so daß immer nur jeweils eine dieser Quellen einen räumlich relativ schmal
ausgeblendeten Lichtstrahl aussendet. Die Wechselfrequenz soll dabei mindestens ca. 2 Hz,
bevorzugt jedoch einige hundert Hertz betragen. Die emittierten Strahlen sind mit
Bezugsziffern 12, 22 bezeichnet.
Die Lichtstrahlquellen 10, 20 sind gegenseitig und relativ zum Sensor 200 fest beabstandet
und bevorzugt in einem Gehäuse 105 angebracht. Als weitere, nicht gezeigte
Systemkomponenten sind eine Auswerte- oder Ausleseelektronik für den Sensor 200 zu
nennen sowie eine Stromversorgungseinheit, welche über einen Anschluss 90 z. B. den
Multiplexer 100 speist.
Die Auswerteelektronik empfängt auch ein Synchronisationssignal, welches der Multiplexer
100 bereitstellt, so dass rekonstruierbar wird, welcher der Lichtstrahlen 14, 24 gerade
empfangen wurde.
In einigem Abstand vom Gehäuse 105 ist das passiv wirkende Reflexionselement 400
angebracht, welches bevorzugt in 4 Koordinaten, nämlich zwei Winkelkoordinaten und zwei
Translationskoordinaten verlagert werden kann und somit zur Messung von Parallel-Versätzen
sowie Winkelversätzen geeignet sein soll.
Das passiv wirkende Reflexionselement kann eine unterschiedliche Kombination von
reflektierenden Elementen aufweisen.
Eine erste Kombination besteht z. B. aus einem Planspiegel, welcher beispielsweise den Strahl
22 nach zwei Winkelkoordinaten ablenkt, nicht jedoch nach einer Translationskoordinate, und
zusätzlich einem sogenannten Tripelspiegel (oder Tripelprisma), welcher für die Registrierung
von zwei Translationskoordinaten dient, aber keine Ablenkung nach Winkelkoordinaten
bewirkt.
Eine andere, bevorzugte Kombination besteht aus einem ersten Dachkantspiegel oder
Dachkantprisma 300 und einem zweiten Dachkantspiegel oder Dachkantprisma 330. Beide
genannten optischen Elemente sind zueinander fest beabstandet, bevorzugt durch eine
Verklebung. Die Dachkantprismen oder Spiegel können dabei aus Glas, Metall oder
Kunststoff hergestellt sein.
Wie in Fig. 1 gezeigt, ist die Orientierung der "Dachkanten" zueinander senkrecht, so dass
durch Bezugsziffer 320 eine "Dachfläche" und durch Bezugsziffer 310 eine "Giebelfläche"
ausgewiesen wird. Die Dachkantspiegel oder Prismen lenken einen einfallenden Lichtstrahl
somit nach jeweils einer einzigen Winkelkoordinate und einer einzigen Translationskoordinate
aus. Durch die Kombination der Dachkantspiegel oder Dachkantprismen ist es somit möglich,
insgesamt zwei Winkelkoordinaten und zwei Translationskoordinaten zu vermessen, sofern die
reflektierten Strahlen 14, 24 auf den Sensor 200 auftreffen und dort wechselweise hinsichtlich
ihres Auftreffpunktes in den dortigen x- und y-Koordinaten vermessen werden.
Es spielt dabei keine Rolle, ob der Sensor 200 pixelorientiert ist oder als zweidimensional
wirkender positionsempfindlicher, ganzflächiger Halbleitersensor ausgebildet ist.
Bei Bedarf kann der in Fig. 1 gezeigte Strahlengang durch folgendes modifiziert werden: Eine
grössere Empfangsapertur wird dadurch bereitgestellt, dass die Strahlen 14, 24 durch eine
vor den Sensor 200 geschaltete Sammellinse in angenähert fokussierender Weise konzentriert
werden (nicht gezeigt). Zur Elimination von Streulicht kann desweiteren ein schmalbandiges
optisches Filter vorgesehen werden, welches auf die Lichtwellenlänge der Lichtstrahl-Quellen
10, 20 abgestimmt ist.
Die Vorrichtung ist sehr bedienerfreundlich, da nur die Komponenten innerhalb des Gehäuses
105 mit Energie versorgt werden müssen, so dass der jeweilige Auf- und Abbau der
Vorrichtung, welche insbesondere zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier
Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen verwendet werden kann, in bequemer Weise
erfolgen kann.
Bei Bedarf kann die erfindungsgemässe Vorrichtung auch dazu herangezogen werden, die
Relativlage von Gehäuse 105 zu der Kombination aus den Dachkantprismen oder -spiegeln
300, 330 betreffend einer 5. Koordinate zu bestimmen. Diese Koordinate betrifft nämlich
einen Verdrehwinkel dieser Komponenten bezüglich der Verbindungslinie, welche in etwa mit
der Richtung der Strahlen 12, 14, 22, 24 übereinstimmt.
Die in Fig. 2 gezeigte Ausgestaltung der Erfindung gestattet einen extendierten
Arbeitsbereich. Dieser wird dadurch ermöglicht, daß ein teildurchlässiger Umlenk Reflektor
18 vorgesehen ist. Der Abstand der Lichtquellen 10, 20 ist dabei auf den Abstand der
Reflektor-Elemente abgestimmt. Damit können zwei im wesentlichen parallel gerichtete
Laserlichtstrahlen 12, 22 auf die Reflektoren emittiert werden, so daß diese Strahlen bei
idealem Ausrichtzustand von Sender und Reflektor auch als parallele Laserlichtstrahlen 14,
24 bzw. 14; 24' in Richtung des Detektors 200 reflektiert werden. Sie treffen dort als
Lichtpunkte 214, 224 auf. Dieser Lösung haftet jedoch der Nachteil an, daß Anteile des
Laserlichts sowohl beim ersten als auch beim zweiten Auftreffen auf den teildurchlässigen
Reflektor 18 verloren gehen, was durch entsprechend stärkere Lichtquellen kompensiert
werden kann.
In Fig. 3 wird gezeigt, daß die Lichtstrahlen 14; 24' auch auf einen semitransparenten
Projektionsschirm oder eine Mattscheibe 218 gerichtet werden können. Die dort
(wechselweise) in Erscheinung tretenden Lichtpunkte 214, 224 können dann mittels einer
abbildenden Optik 210 auf den Detektor oder Sensor 200 projiziert werden. Dies ist
deswegen von Vorteil, weil die Dimensionen einer Empfangsfläche eines kostengünstigen
Sensors 200 typischerweise kleiner sind als die Abmessungen einer für die Praxis
bevorzugten Target Fläche für die Lichtstrahlen 14; 24'.
Gemäß Fig. 4 können die Anforderungen an die Optik dadurch geringer gehalten werden,
daß der Projektionsschirm in zwei Hälften aufgeteilt wird. Jede dieser Hälften wird dann mit
einer separaten Optik 210; 210" auf die Anteile 200, 200' des Sensors projiziert.
In Fig. 5 wird der Strahlengang näher dargestellt, wie er den Fig. 1 und 2 zugrundegelegt ist.
Wie bereits erwähnt, wird bei Verwendung von Dachkantprismen ein einfallender Lichtstrahl
12, 22 nach Maßgabe jeweils nur einer Winkelauslenkung und nur einer translatorischen
Auslenkung des Reflektors 400 in definierter Weise zurückgeworfen. Veränderungen der
Lage des Reflektors hinsichtlich der restlichen Koordinaten bleiben ohne meßtechnischen
Effekt, wie dies nach dem Stand der Technik an sich bekannt ist.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung wird in Fig. 6 gezeigt, wie ein Teil der
Lichtverluste am teildurchlässigen Reflektor 18 sinnvoll und vorteilhaft genutzt werden
können. Diese werden nämlich durch ein farbfilterndes Fenster 106 im Gehäuse 105 des
Sendeteils gestreut und treten dann aus dem Gehäuse in den umgebenden Raum aus. Auf
diese Weise können die Lichtstrahlen gleichzeitig als Informationsträger dienen, und zwar
zum Zwecke der Datenübertragung der optoelektronisch erfaßten Signal Größen, welche die
translatorischen und angularen Versatzmaße repräsentieren. Es bietet sich an, eine solche
Datenübertragung in codierter Form durchzuführen. Hierzu ist vorgesehen, daß die
Lichtstrahlen von den Lichtquellen 10, 20 nicht kontinuierlich emittiert werden, sondern in
pulsförmiger Weise, und daß weiterhin die pulsförmige Emission nach Maßgabe aktueller
und zu übertragender Informationswerte stattfindet. Die Informationswerte können dabei
neben den genannten optoelektronisch erfaßten Signal Größen auch z. B. Drehlagen
umfassen. Die genannten Drehlagen werden bevorzugt mittels Inclinometern sensiert.
Auf diese Weise kann ein erzeugter Lichtstrahl also zur Ausführung zweier Funktionen
herangezogen werden: zum einen zu meßtechnischen Zwecken, und zum anderen zu Zwecken
der Signalübertragungstechnik. Eine solche Signalübertragungstechnik mit zeitlich seriell
codierten Signalen kann auf synchroner oder asynchroner Datenübertragungstechnik
basieren. Zur Erzeugung entsprechender Serialdaten ist vorgesehen, daß ein Rechner 101
zunächst die gemessenen Positions-Signale mittels geeigneter, an sich bekannter
Verstärkungs-, Umrechnungs- und Serialdatenwandlungsstufen (nicht näher ausgewiesen) in
Serialdaten konvertiert, so daß mit diesen die Lichtemission von zumindest einer der
Lichtquellen 10, 20 zeitlich moduliert werden kann.
In Fig. 7 wird als Beispiel dargestellt, wie die aus Fenster 106 austretenden Licht-Impulse
byteweise in an sich bekannter asynchroner Datenübertragung codiert sind. Der Block STA
bezeichnet dabei ein oder mehrere sog. Start Bits eines zu sendenden Bytes, während die
Ruhephase STO ein oder mehrere sog. Stop-Bits symbolisiert, und die einzelnen Bits mit den
Ziffern 1 bis 9 bezeichnet sind. Die Verwendung übergeordneter Transmissionsmechanismen
in Hard- und Software sind dem Fachmann bekannt und werden daher an dieser Stelle nicht
näher rezitiert. - Da die Erfindung zwei lichtemittierende Vorrichtungen vorsieht, ist es von
Vorteil, wenn beide nach Art der besagten Pulscodemodulation betrieben werden. Dabei
stehen vielerlei Möglichkeiten offen. Beispielsweise können die einzelnen zu übertragenen
Bits in jeweils abwechselnder Folge von der einen und der anderen lichtemittierenden
Vorrichtung gesendet werden. Oder es wird in jeweils abwechselnder byteweisen Folge
gesendet. (Der Parallelbetrieb der lichtemittierenden Vorrichtungen ist wegen der
Grundidee der Erfindung weniger vorteilhaft. Dieser ist zwar nicht ausgeschlossen, läßt
dann aber keine gleichzeitige Datenerfassung zu). Insgesamt steht wegen der Existenz von
zwei lichtemittierenden Vorrichtungen eine erhöhte optische Ausgangsleistung zur
Verfügung, was größere Übertragungsdistanzen zu einem zugehörigen Empfangs- und
Auswerteeinrichtung (nicht gezeigt) zuläßt und somit ein vorteilhafter Nebeneffekt der
Erfindung ist. Als zugehörige Empfangseinrichtungen zum Empfang und zur Aufbereitung
des signalmodulierten Lichtes stehen an sich bekannte Subsysteme zur Verfügung. - Bei der
Ausführungsform nach Fig. 6 ist es von Vorteil, einen pixelorientierten Sensor 200 zu
verwenden. Auf diese Weise ist es möglich, daß in das Gehäuse eintretende Anteile von
Tageslicht als solche erkannt und in Abzug gebracht werden können. Eine Verfälschung der
Meßresultate durch Fremdlicht wird damit verhindert.
Claims (7)
1. Vorrichtung zur Vermessung oder Beurteilung der Relativlage zweier Maschinenteile,
Werkzeuge, oder Werkstücke, gekennzeichnet durch
ein erstes Gehäuse, welches umschliesst:
eine Einrichtung zur Erzeugung mindestens zweier Lichtstrahlen schmalen Querschnitts, enthaltend mindestens zwei separate Lichtquellen
eine Multiplexeinrichtung zur wechselweisen Bestromung der mindestens zwei Lichtquellen
mindestens einen lichtempfindlichen Sensor, mit dem der Schwerpunkt einfallender Lichtstrahlen nach zwei kartesischen Koordinaten registriert werden kann
eine Auswerteeinheit zur Auswertung der Signale des lichtempfindlichen Sensors und eines vom Multiplexer abgegebenen Synchronisationssignals
in einem zweiten Gehäuse angebrachte Reflektorkombination, enthaltend eine Kombination aus zwei reflektierenden Elementen, welche aus der Menge der Planspiegel, der Tripelspiegel, der Tripelprismen, der Dachkantspiegel, oder der Dachkantprismen ausgewählt sind.
ein erstes Gehäuse, welches umschliesst:
eine Einrichtung zur Erzeugung mindestens zweier Lichtstrahlen schmalen Querschnitts, enthaltend mindestens zwei separate Lichtquellen
eine Multiplexeinrichtung zur wechselweisen Bestromung der mindestens zwei Lichtquellen
mindestens einen lichtempfindlichen Sensor, mit dem der Schwerpunkt einfallender Lichtstrahlen nach zwei kartesischen Koordinaten registriert werden kann
eine Auswerteeinheit zur Auswertung der Signale des lichtempfindlichen Sensors und eines vom Multiplexer abgegebenen Synchronisationssignals
in einem zweiten Gehäuse angebrachte Reflektorkombination, enthaltend eine Kombination aus zwei reflektierenden Elementen, welche aus der Menge der Planspiegel, der Tripelspiegel, der Tripelprismen, der Dachkantspiegel, oder der Dachkantprismen ausgewählt sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Reflektorkombination aus zwei Dachkantspiegeln
oder zwei Dachkantprismen besteht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Reflektorkombination aus einem Planspiegel und
einem Tripelprisma besteht.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ein
Austrittsfenster, durch welches ein Anteil des von den wechselweise bestromten Lichtquellen
erzeugten Lichtes aus dem Gehäuse austreten kann.
5. Verfahren zum Betrieb einer Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Lichtquellen wechselweise und nach Maßgabe eines Signalcodes bestromt werden, welcher
die translatorischen und angularen Versatzmaße repräsentiert, wie sie vom
optoelektronischen Empfangsbaustein (200) sensiert werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, wobei die Lichtquellen nach Maßgabe eines asynchronen
Serialdatenübertragungsverfahrens bestromt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 5, wobei die Lichtquellen nach Maßgabe eines synchronen
Serialdatenübertragungsverfahrens bestromt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10122321A DE10122321A1 (de) | 2000-05-09 | 2001-05-08 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20008228U DE20008228U1 (de) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke o.dgl. |
DE10122321A DE10122321A1 (de) | 2000-05-09 | 2001-05-08 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10122321A1 true DE10122321A1 (de) | 2002-04-11 |
Family
ID=7941184
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE20008228U Expired - Lifetime DE20008228U1 (de) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke o.dgl. |
DE10122321A Withdrawn DE10122321A1 (de) | 2000-05-09 | 2001-05-08 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen |
DE50115116T Expired - Lifetime DE50115116D1 (de) | 2000-05-09 | 2001-05-09 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE20008228U Expired - Lifetime DE20008228U1 (de) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke o.dgl. |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE50115116T Expired - Lifetime DE50115116D1 (de) | 2000-05-09 | 2001-05-09 | Vorrichtung zur quantitativen Beurteilung der fluchtenden Lage zweier Maschinenteile, Werkstücke oder dergleichen |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1154229B1 (de) |
AT (1) | ATE443844T1 (de) |
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