DE10055974C1

DE10055974C1 - Verfahren zur Überwachung von Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtungen und Strahlbildkontrollvorrichtung

Info

Publication number: DE10055974C1
Application number: DE2000155974
Authority: DE
Inventors: Jennifer Schlick
Original assignee: Jennifer Schlick
Current assignee: SCHLICK, JENNIFER, DIPL.-ING. (FH), 33758 SCHLOSS
Priority date: 2000-11-11
Filing date: 2000-11-11
Publication date: 2001-10-31
Anticipated expiration: 2020-11-12
Also published as: WO2002039078A1; DE50111821D1; EP1332348A1; EP1332348B1

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung von Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtungen mit wenigstens folgenden Verfahrensschritten: DOLLAR A a) Positionierung einer Strahlbildkontrollvorrichtung (100) mit einer Referenzplatte (10) im Wirkungsbereich einer Strahlmittelschleudervorrichtung; DOLLAR A b) Strahlen in Richtung eines auf der Vorderseite der Referenzplatte (10) definierten Referenzpunktes; DOLLAR A c) gleichzeitiges Messen der Temperatur der Referenzplatte (10) an einer Vielzahl von in einem Messraster angeordneten Temperaturmessstellen T¶i¶,¶j¶; DOLLAR A d) Bestimmung wenigstens eines lokalen Temperaturmaximums M¶i¶,¶j¶ in der Menge der Temperaturmessstrahlen T¶i¶,¶j¶; DOLLAR A e) Bestimmung eines Strahlmittelwirkungszentrums als Ort des absoluten Temperaturmaximus in dem Messraster oder als Ort der geometrischen Mitte von wenigstens zwei lokalen Temperaturmaxima.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung von Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtun gen und eine Strahlbildkontrollvorrichtung zu dessen Durch führung.

Bei Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungsein richtungen wird, beispielsweise mittels Schleuderrädern, ein Strahlmittel auf eine Werkstückoberfläche gelenkt. Da durch die Verwirbelungen der Strahlmittel im Bereich der Werk stückoberfläche eine visuelle Kontrolle im laufenden Betrieb nicht möglich ist, wird die Lage des Aufprallbereichs des Strahlmittels auf der Werkstückoberfläche, dem sogenannten Hot-Spot, vor Aufnahme der Werkstückbehandlung mit Hilfe von in den Strahlbereich gelegten Probe-Blechabschnitten kon trolliert oder mit einem Farbauftrag, der dann im Bereich des Strahls abgetragen wird. Diese Verfahren zur Strahlbild kontrolle sind jedoch ungenau und verzögern die Arbeitszyklen der Oberflächenbehandlungseinrichtungen, da die Hilfs mittel manuell in den Strahlbereich gebracht und aus diesem wieder entfernt werden müssen.

Weiterhin ist es bekannt, nach ihrem Erfinder benannte Al men-Messstreifen, wie sie auch die US 5 731 509 A be schreibt, für die Strahlbildkontrolle einzusetzen. Diese länglichen Messstreifen bestehen aus Lagen von Federstahl in verschiedenen Dicken und werden an einem Werkstück oder ei ner Referenzplatte befestigt, beispielsweise durch Kleben, und dann mit dem Strahlmittel beaufschlagt. Hierdurch treten Durchbiegungen auf, die nach dem Strahlen gemessen werden. Die Durchbiegung erlaubt einen Rückschluss auf die Strahl- Intensität und damit eine genauere Bestimmung des Hot-Spots, allerdings ist auch hier keine kontinuierliche Überwachung des Strahlbildes möglich. Ein auswandernder Strahl während des laufenden Betriebs der Oberflächenbehandlungseinrichtung wird nicht erfasst, so dass es nur unter sehr großem Aufwand möglich ist, für jedes einzelne Werkstück eine Strahlbild kontrolle vorzunehmen. Ohne eine Einzelstückkontrolle kann die Qualität des Werkstücks nicht garantiert werden, und Zertifizierungsanforderungen, z. B. nach DIN ISO 9001 ff., werden nicht erfüllt.

Es stellt sich daher die Aufgabe, ein Verfahren anzugeben, mit dem eine kontinuierliche Kontrolle von Strahlmittel e mittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtungen gewährleis tet und eine Werkstück-Prüfungsrate von bis zu 100% erreich bar ist.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Verfahren der eingangs genannten Art gelöst, das wenigstens folgende Ver fahrensschritte aufweist:

a) Positionierung einer Strahlbildkontrollvorrichtung mit ei ner Referenzplatte im Wirkungsbereich einer Strahlmittel schleudervorrichtung;
b) Strahlen in Richtung eines auf der Vorderseite der Refe renzplatte definierten Referenzpunktes;
c) gleichzeitiges Messen der Temperatur der Referenzplatte an einer Vielzahl von in einem Messraster angeordneten Tempe raturmessstellen T_i,j;
d) Bestimmung wenigstens eines lokalen Temperaturmaximums M_i,j in der Menge der Temperaturmessstellen T_i,j;
e) Bestimmung eines Strahlmittelwirkungszentrums als Ort des absoluten Temperaturmaximums in dem Messraster oder als Ort der geometrischen Mitte von wenigstens zwei lokalen Temperaturmaxima.

Unter Strahlmittel werden zum einen abrasiv wirkende Parti kel verstanden, insbesondere Quarzsand oder Kohlendioxidpel lets, die lose sitzende Oberflächenschichten wie Rost und Zunder lösen, und zum anderen Partikel, insbesondere Stahl kugeln, die durch ihre kinetische Energie eine Verdichtung von Werkstückoberflächen und damit eine Erhöhung der Ober flächenhärte, z. B. im sogenannten shot-peening Verfahren, bewirken.

Entgegen den bekannten Messmethoden zur Strahlbildkontrolle, die stets die unmittelbare Wirkung des Strahlmittels erfas sen, wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren der Effekt in mittelbarer Weise ausgenutzt, dass gemäß dem Grundsatz der Energieerhaltung eine Umwandlung der kinetischen Energie der anprallenden Partikel des Strahlmediums in Wärmeenergie er folgt und eine lokale Erwärmung der Werkstückoberfläche dort registrierbar ist, wo das Strahlmittel aufprallt.

Durch Messung der Temperatur an einer Vielzahl von über die Fläche verteilten Temperaturmesstellen kann mit einer Aus werteeinrichtung ein zweidimensionales Lagebild des Strahls erstellt werden, sei es in Form eines Datensatzes, der in einer Datenverarbeitungsanlage verarbeitbar ist, oder in Form einer Visualisierung, die für den Bediener der Oberflä chenbehandlungseinrichtung die Lage des Hot-Spots graphisch darstellt. Möglich ist eine polychrome Visualisierung, bei der bestimmte Farbwerte bestimmten Strahlintensitäten zuge ordnet sind.

Durch die Berechnung der lokalen Temperaturmaxima wird die Lage des Zentrum des Hot-Spots auf der Referenzplatte ermit telt. Bei einem auf der Referenzplatte abgelegten Werkstück bildet sich unter diesem ein Strahlmittelschatten auf der Referenzplatte aus, wohingegen dann um das Werkstück herum eine Kette lokaler Temperaturmaxima zu registrieren ist. Der geometrische Mittelpunkt dieses Ringes lokaler Temperaturma xima, der dem Strahlmittelwirkungszentrum entspricht, ist insbesondere durch bekannte iterative mathematische Verfah ren mit der gewünschten Genauigkeit bestimmbar.

Mit dem Verfahren der Erfindung ist es demnach möglich, die Strahllage kontinuierlich und für jedes gestrahlte Werkstück einzeln zu überwachen, zu protokollieren und die Strahlmit telschleudervorrichtung so zu verfahren, dass ein anvisier ter Referenzpunkt auf dem Werkstück oder der Referenzplatte und das verfahrensgemäß ermittelte Strahlmittelwirkungszent rum in Deckung zu bringen sind.

Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus den Merkmalen der Unteransprüche 2 bis 4.

Die Erfindung betrifft weiterhin eine Strahlbildkontrollvor richtung zur Durchführung des Verfahrens, die wenigstens folgende Einzelteile aufweist:

- eine Referenzplatte mit einer mit Strahlmittel beaufschlagbaren Oberseite und einer Vielzahl von in einem Raster angeordneten Temperatursensoren, die an der von der Strahlmittelschleudervorrichtung abgewandten Rückseite angeordnet sind und/oder die in die Referenzplatte integ riert sind, und
- eine Auswertungseinrichtung.

Die Strahlbildkontrollvorrichtung der Erfindung zeichnet sich durch einen einfachen Aufbau auf. Es werden Standard komponenten der Messtechnik miteinander kombiniert. Die Mes sung der Temperatur an einer Messstelle kann mit den bekann ten Techniken erfolgen; hier sind kostengünstige und genaue Temperaturmessgeräte am Markt bereits in großer Anzahl ver fügbar.

Die Übernahme der Messwerte aller Temperatursensoren in die Auswertungseinheit kann gleichzeitig, oder sequentiell mit so kurzen Taktzeiten zwischen den Abfragen der einzelnen Temperaturmessstellen erfolgen, dass sich insgesamt für den Betrachter eine Momentaufnahme der Strahllage in Echtzeit ergibt.

In einer vorteilhaften Ausführungsform einer Strahlbildkon trollvorrichtung sind wenigstens ein Teil der Temperatursen soren Infrarotstrahlungsempfänger, welche beabstandet von der Referenzplatte angeordnet sind und die jeweils auf eine der Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n fokussierbar sind.

Somit kann ein Bild der Infrarotstrahlung der Rückseite der Referenzplatte aufgezeichnet werden. Dieses Infrarotbild kann direkt graphisch dargestellt und mit Bildverarbeitungs algorithmen ausgewertet werden. Ebenso können hieraus ein zelne Temperaturmesswerte des Messrasters ermittelt werden.

Weitere Ausführungsformen der Strahlbildkontrollvorrichtung der Erfindung ergeben sich aus den weiteren Unteransprüchen und der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbei spiels.

Die Erfindung wird mit Bezug auf die Zeichnung näher erläu tert. Die Figuren zeigen im Einzelnen:

Fig. 1 eine schematische, perspektivische Ansicht einer Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungs einrichtung;

Fig. 2 eine Referenzplatte mit einem Referenz-Strahllage bild in Draufsicht;

Fig. 3 eine Referenzplatte mit einem unkorrigierten Strahllagebild in Draufsicht;

Fig. 4 eine Referenzplatte mit einem korrigierten Strahl lagebild in Draufsicht;

Fig. 5 eine ersten Ausführungsform und

Fig. 6 eine zweiten Ausführungsform einer erfindungsgemäß ausgebildeten Referenzplatte in Draufsicht.

Fig. 1 zeigt eine Oberflächenbehandlungseinrichtung, von der mittels eines Schleuderrads 110 ein Strahlmittel auf ein Werkstück geschleudert wird. Das Schleuderrad 110 ist mit tels einer Strahlausrichtungseinrichtung 120 in wenigstens einer Dimension, vorzugsweise zweidimensional, verfahrbar.

Das Werkstück kann auf einer Vorderseite 12 einer Referenz platte 10 positioniert werden. Der Hot-Spot 30, der Bereich der intensivsten Strahlmittelwirkung, ist durch die Ellipse auf der Oberfläche 12 der Referenzplatte 10 dargestellt.

An der Rückseite 14 der Referenzplatte 10 sind eine Vielzahl von Temperatursensoren 15 angeordnet, die in Sackbohrungen in der Referenzplatte 10 eingesetzt sind. Die Temperatursen soren 15 sind je nach Anzahl der Temperaturmessstellen di rekt oder über eine Bündelungseinrichtung 130, beispielswei se einen Multiplexer oder ein Bus-System, an einen Eingang 141 einer Auswertungseinrichtung 140 angeschlossen. Von ei nem Ausgang 142 der Auswertungseinrichtung 140 kann eine Signalleitung mit der Strahlausrichtungseinrichtung 120 ver bunden werden. Bevorzugt ist die Auswertungseinrichtung 140 mit einer Visualisierungseinrichtung 144 versehen, durch die eine direkte Darstellung und Kontrolle des Strahlbildes durch den Bediener möglich ist.

In Fig. 5 ist eine Ausführungsform einer Referenzplatte 10 dargestellt, bei der an deren Rückseite 14 angeordneten Tem peratursensoren 15.1.1. . . . 15.x.y in einem zweidimensionalen kartesischen Koordinatensystem angeordnet sind. Durch das kartesische Messraster ergibt sich eine besonders einfach herzustellende Anordnung der Sensoren und der Vorteil einfa cher mathematischer Berechnungsmethoden.

In Fig. 6 ist eine weitere Ausführungsform einer Referenz platte 10 abgebildet, bei der die Temperatursensoren 15.0.0. . . . 15.r.ϕ in Polarkoordinaten angeordnet sind. Diese Anordnungsweise ist vorteilhaft im Hinblick auf die meist kreisrunde oder ellipsoide Form des sich auf der Referenz platte 10 abbildenden Hot-Spots 30.

In Hinsicht auf eine Ellipsenform des Hot-Spots 30 kann die Anordnung der Temperatursensoren 15.0.0. . . . 15.r.ϕ noch weiter optimiert werden, wenn die Temperaturmessstellen in kon zentrischen Ellipsen angeordnet sind und der Ort einer Tem peraturmessstelle durch Koordinaten r(ϕ), ϕ definierbar ist, so dass die Temperatursensoren 15.0.0. . . . 15.r.ϕ ebenfalls auf ellipsoiden Bahnen angeordnet sind.

Bei dem Verfahren der Erfindung wird eine Referenzplatte 10 im Wirkungsbereich einer Strahlmittelschleudervorrichtung 110 positioniert und in Richtung eines auf der Vorderseite 12 der Referenzplatte 10 definierten Referenzpunktes 37 (vgl. Fig. 2) gestrahlt.

Beim Anprall der Strahlmittelteilchen auf der Oberfläche des Werkstücks und/oder der Referenzplatte 10 wird die kineti sche Energie in Wärmeenergie umgewandelt, wodurch eine loka le Temperaturerhöhung der Referenzplatte 10 je nach Intensi tät der Strahlmittelwirkung bewirkt wird.

An den in Fig. 2 dargestellten Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n werden mittels der dort angeordneten Temperatursensoren 15.i.j die lokalen Temperaturen der Referenzplatte 10 gemes sen und der Auswertungseinrichtung 140 zugeführt. Durch gleichzeitige Abfrage aller Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n oder eine sukzessive Abfrage in kurzem zeitlichen Abstand kann die momentane Temperaturverteilung in der Referenzplat te 10 erfasst werden. Die Temperaturmesswerte können in ei ner Auswertungsmatrix mit einem Speicher abgelegt werden, wobei die Speicherplatzkoordinaten für einen Temperaturmess wert den Koordinaten der entsprechenden Temperaturmessstelle in dem Messraster auf der Referenzplatte 10 entspricht.

Die in der Auswertungsmatrix abgelegten Werte können auch mit an sich bekannten Methoden visualisiert werden, bei spielsweise durch Abbildung unterschiedlicher Temperaturwerte als unterschiedlich gefärbte Bildpunkte in einem Farb bild.

Von allen in dem Messraster ermittelten Temperaturmesswerten wird wenigstens ein lokales Temperaturmaximums M_i,j bestimmt. Vorzugsweise wird als lokales Temperaturmaximum M_i,j ein Tem peraturmesswert θ an einer Temperaturmessstelle T_i,j angese hen, der größer als ein Schwellwert ist, der sich wie nach folgend erläutert errechnet:
Aus den Temperaturmesswerten aller Temperaturmessstellen T_{1,1
.} . . T_m,n wird der arithmetische Temperaturmittelwert T_M und das absolute Temperaturmaximum T_max bestimmt. Als lokales Tempe raturmaximum M_i,j wird dann der Temperaturmesswert θ einer Temperaturmessstelle T_i,j definiert, deren Temperatur

θ(T_i,j) ≧ T_M + (T_M - T_max) . F

ist, wobei vorzugsweise F = 0,5 bis 1 beträgt. Durch diese Gewichtung wird eine ausreichend deutliche Unterscheidung lokaler Temperaturmaxima von sonstigen Temperaturwerten in der Umgebung erreicht.

Fig. 2 zeigt auch schematisch die so gemessene Temperatur verteilung auf der Oberfläche 12 der Referenzplatte 10. Im Bereich des Hot-Spots 30 ist die Temperatur am höchsten, wie durch die dichte Schraffur angedeutet. Die fünf in diesem Bereich liegenden Temperaturmesswerte der Temperatursensoren 15.i.j liegen über dem Schwellwert und sind lokale Tempera turmaxima M_i,j; sie sind in Fig. 2 durch dicke Linien gekenn zeichnet.

Ausgehend vom Hot-Spot 30 nehmen die Temperaturen nach außen kontinuierlich ab. In weiter außen liegenden Temperaturzonen 32, 34 liegen die lokalen Temperaturen bereits unter dem Schwellwert und werden nicht mehr als lokale Temperaturmaxi ma M_i,j erfasst.

Innerhalb der Menge der lokalen Temperaturmaxima M_i,j wird der geometrische Mittelpunkt bestimmt. Dieser entspricht dann dem Strahlmittelwirkungszentrum 36. Bei nur einem loka len Temperaturmaximum M_i,j fällt dessen Ort unmittelbar mit dem Ort des Strahlmittelwirkungszentrums 36 zusammen.

Idealerweise fällt das Strahlmittelwirkungszentrum 36 mit dem Referenzpunkt 37 zusammen, auf welchen der Strahl ur sprünglich ausgerichtet worden war.

Bei den in der Praxis üblicherweise auftretenden Abweichun gen der Strahllage liegen das Strahlmittelwirkungszentrum 36 und der Referenzpunkt 37 jedoch nicht deckungsgleich. Mit dem Verfahren der Erfindung ist es möglich, durch einen wei teren Schritt einen Korrekturvektor 38 (vgl. Fig. 3) zwi schen dem Strahlmittelwirkungszentrum 36 und dem Referenz punkt 37 zu berechnen. Das Schleuderrad 110 kann dann mit der wenigstens eindimensionalen Strahlausrichtungseinrich tung 120 entlang des Korrekturvektors 38 verschoben werden, wo durch sich auch die Lage des Strahlmittelwirkungszentrums 36 gegenüber dem Messraster der Referenzplatte 10 ändert. Der Referenzpunkt 37 und das Strahlmittelwirkungszentrum 36 kön nen so in Deckung gebracht werden. Das Schleuderrad 110 ist damit exakt justiert. Die Nachführung entlang des Korrektur vektors 38 kann im laufenden Betrieb erfolgen. Der Korrektur vektor 38 kann jedoch auch zwischengespeichert werden und dann in einer Rüstzeit, beispielsweise während des Einlegens der Werkstücke in die Strahlkammer der Oberflächenbehandlungs einrichtung 100, abgerufen werden, um eine Nachführung des Schleuderrads 110 mit der Strahlausrichtungseinrichtung 120 durchzuführen.

Das erfindungsgemäße Verfahren wird nachfolgend noch einmal mit Blick auf die Fig. 3 und 4 erläutert.

Ein Werkstück 20 wird auf der Oberseite 12 einer Referenz platte 10 positioniert. Der Strahl einer Strahlmittel emit tierenden Oberflächenbehandlungseinrichtung 100 wird auf den Referenzpunkt 37 ausgerichtet. Die Temperaturen werden wäh rend des Strahlens an den Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n gemessen, wobei lokale Temperaturmaxima M_i,j ermittelt wer den, die in Fig. 3 als Kreise mit dicker Linie gekennzeich net sind. Die von den lokalen Temperaturmaxima M_i,j umfasste, hier schraffiert dargestellte Fläche gibt die Lage und Aus dehnung des Hot-Spots 30 an. Um den Hot-Spot 30 herum nimmt die Temperatur kontinuierlich ab, wie durch die Temperatur zonen 32 und 34 angedeutet.

Durch an sich bekannte iterative Verfahren können die Koor dinaten eines gedachten geometrischen Strahlmittelwirkungs zentrums 36 aus der Menge der lokalen Temperaturmaxima M_i,j mit hinreichender Genauigkeit bestimmt werden.

Der Hot-Spot 30 umschließt jedoch in der in Fig. 3 gewählten Darstellung das Werkstück 20 nicht, und das erfindungsgemä ßen ermittelte Strahlmittelwirkungszentrum 36 liegt insge samt zu weit rechts oberhalb des anvisierten Referenzpunktes 37.

Durch ein Verfahren des Schleuderrads 110 entlang des Kor rekturvektors 38 werden das erfindungsgemäß ermittelte Strahlmittelwirkungszentrum 36 und der ursprünglich anvi sierte Referenzpunkt 37 in Deckung gebracht. Bei einem weiteren Strahlbetrieb mit der so justierten Strahlvorrichtung ergibt sich die optimierte Lage von Hot-Spot 30 und Strahl mittelwirkungszentrum 36, wie sie in Fig. 4 dargestellt ist.

Ebenso kann mit dem Verfahren und der Vorrichtung der Erfin dung die Ausdehnung des Hot-Spots 30 und - bei einem nicht rotationssymmetrischen Hot-Spot 30 - die Ausrichtung seiner Längsachse gegenüber der Referenzplatte 10 ermittelt werden. Hit einem zusätzlichen rotatorischen Freiheitsgrad der Strahlausrichtungseinrichtung 120 kann das Schleuderrad 110 in der Ebene der Referenzplatte 12 und des Werkstücks 20 ge dreht werden, so dass die Winkellage des Hot-Spots 30 opti miert und die Ausnutzung des Strahlbereichs noch weiter ver bessert ist.

Um eine Korrektur vornehmen zu können, müssen Schleuderrad 110 und referenzplatte 10 relativ zueinander verfahrbar sein. Statt einer hier dargestellten Strahlausrichtungsein richtung 120, durch die das Schleuderrad 110 wenigstens eindi mensional verfahrbar ist, kann dazu ebenso vorgesehen sein, das Schleuderrad 110 stationär anzuordnen und eine verfahrbare die Referenzplatte 10 vorzusehen.

Claims

1. Verfahren zur Überwachung von Strahlmittel emittierenden Oberflächenbehandlungseinrichtungen mit wenigstens fol genden Verfahrensschritten:

a) Positionierung einer Strahlbildkontrollvorrichtung (100) mit einer Referenzplatte (10) im Wirkungsbereich einer Strahlmittelschleudervorrichtung;
b) Strahlen in Richtung eines auf der Vorderseite (12) der Referenzplatte (10) definierten Referenzpunktes (37);
c) gleichzeitiges Messen der Temperatur der Referenzplatte (10) an einer Vielzahl von in einem Messraster angeord neten Temperaturmessstellen T_i,j;
d) Bestimmung wenigstens eines lokalen Temperaturmaximums M_i,j in der Menge der Temperaturmessstellen T_i,j;
e) Bestimmung eines Strahlmittelwirkungszentrums (36) als Ort des absoluten Temperaturmaximums in dem Messraster oder als Ort der geometrischen Mitte von wenigstens zwei lokalen Temperaturmaxima.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass nach Schritt e) ein Korrekturvektor (38) ausgehend von dem Strahlmittelwirkungszentrum (36) zu dem Referenzpunkt (37) berechnet wird und die Strahlmittelschleudervorrich tung entlang des Korrekturvektors (38) verfahren wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperaturwerte in eine wenigstens zweidimensio nale Auswertungsmatrix übertragen werden, die entspre chend der Ausdehnung des Messrasters dimensioniert ist und in der jedem Matrizenelement eine Temperaturmessstel le T_i,j zugeordnet ist.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge kennzeichnet, dass aus den Temperaturmesswerten aller Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n der arithmetische Tempera turmittelwert T_M und das wenigstens eine absolute Tempera turmaximum T_max bestimmt werden und dass als lokales Tem peraturmaximum M_i,j eine Temperaturmessstelle T_i,j defi niert wird, deren Temperatur
θ(T_i,j) ≧ T_M + (T_M - T_max) . F
ist, wobei F = 0,5 bis 1 beträgt.

5. Strahlbildkontrollvorrichtung (100) zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4, mit wenigs tens folgenden Einzelteilen:

- eine Referenzplatte (10) mit einer mit Strahlmittel beaufschlagbaren Oberseite (12) und einer Vielzahl von in einem Raster angeordneten Temperatursensoren (15), die an der von der Strahlmittelschleudervorrichtung abgewandten Rückseite (14) angeordnet sind und/oder die in die Referenzplatte (12) integriert sind, und
- eine Auswertungseinrichtung (140).

6. Strahlbildkontrollvorrichtung (100) nach Anspruch 5, da durch gekennzeichnet, dass die Auswertungseinrichtung (140) wenigstens einen Messwertspeicher, eine Mittelwert berechnungseinheit und einen Komparator umfasst.

7. Strahlbildkontrollvorrichtung (100) nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperaturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n in einem kartesischen Messraster angeordnet sind.

8. Strahlbildkontrollvorrichtung (100) nach einem der An sprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Teil der Temperatursensoren (15) Infrarotstrahlungs empfänger sind, welche beabstandet von der Referenzplatte (10) angeordnet sind und die jeweils auf eine der Tempe raturmessstellen T_1,1 . . . T_m,n fokussierbar sind.