DE10041182A1 - Optoelektronische Vorrichtung - Google Patents
Optoelektronische VorrichtungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vorrichtung (1) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich mit einem einen Sendelichtstrahlen emittierenden Sender (3) und einem Empfangslichtstrahlen empfangenden Empfänger (5) aufweisenden Distanzsensor und mit einer Ablenkeinheit (8), mittels derer die Sendelichtstrahlen innerhalb des Überwachungsbereichs geführt sind. Erfindungsgemäß emittiert der Sender (3) Sendelichtstrahlen in Form einer Folge von Sendelichtimpulsen (2). An wenigstens einer Referenzposition sind Sendelichtimpulse (2) als Referenz-Sendelichtimpulse in eine ein Referenzobjekt bildende Lichtleitfaser (14) eingekoppelt, wobei die in der Lichtleitfaser (14) geführten Referenz-Sendelichtimpulse zumindest teilweise als Referenz-Empfangslichtimpulse zum Empfänger (5) geführt sind. Zur Durchführung einer Referenzmessung werden die Laufzeiten der Referenz-Empfangslichtimpulse bestimmt.
Description
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vorrichtung gemäß dem Ober
begriff des Anspruchs 1.
Eine derartige optoelektronische Vorrichtung ist aus der DE 42 19 260 C2 be
kannt. Die optoelektronische Vorrichtung weist zur Ortung von Objekten in
einem Überwachungsbereich einen Sendelichtstrahlen emittierenden Sender
und einen als ortsauflösenden Detektor ausgebildeten Empfangslichtstrahlen
empfangenden Empfänger auf, welche in einem gemeinsamen Gehäuse integ
riert sind. Die Sendelichtstrahlen werden über eine Ablenkeinheit abgelenkt
und so periodisch innerhalb eines Überwachungsbereichs geführt.
Außerhalb des Überwachungsbereichs ist im Innern des Gehäuses ein Testob
jekt angeordnet. Die vom Testobjekt als Empfangslichtstrahlen zum Empfänger
zurückreflektierten Sendelichtstrahlen werden in einer Auswerteeinheit zur
Funktionsüberprüfung der optoelektronischen Vorrichtung hinsichtlich ihrer
Amplitude ausgewertet.
Damit ist beispielsweise überprüfbar, ob der Sender oder der Empfänger funk
tionsfähig sind. Auch können aufgrund von Alterungen oder Verschmutzungen
von Bauteilen hervorgerufene Störungen mit der Testmessung gegen das Test
objekt erfasst werden.
Jedoch gibt die Testmessung gegen das Testobjekt keinen Aufschluss darüber,
ob die Distanzmessung zur Ortung der Objekte im Überwachungsbereich feh
lerfrei erfolgt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde eine optoelektronische Vorrichtung
der eingangs genannten Art so auszubilden, dass deren Funktionsfähigkeit
möglichst genau und umfassend überprüfbar ist.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen.
Vorteilhafte Ausführungsformen und zweckmäßige Weiterbildungen der Erfin
dung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Die erfindungsgemäße optoelektronische Vorrichtung weist einen nach dem
Impulslaufzeitverfahren arbeitenden Distanzsensor auf. Mittels einer Ablenk
einheit werden die vom Sender des Distanzsensors emittierten Sendelichtim
pulse vorzugsweise periodisch innerhalb eines Überwachungsbereichs geführt.
Durch die Bestimmung der Laufzeit der von Objekten innerhalb des Überwa
chungsbereichs auf den Empfänger des Distanzsensors zurückreflektierten
Empfangslichtimpulse werden die Distanzen der Objekte zur optoelektroni
schen Vorrichtung bestimmt.
An wenigstens einer Referenzposition werden Sendelichtimpulse als Referenz-
Sendelichtimpulse in eine im Referenzobjekt bildende Lichtleitfaser eingekop
pelt.
Die in der Lichtleitfaser geführten Referenz-Sendelichtimpulse sind zumindest
teilweise zum Empfänger geführt. Zur Durchführung einer Referenzmessung
werden die Laufzeiten der Referenz-Empfangslichtimpulse bestimmt.
Der Grundgedanke der Erfindung besteht somit darin, die Distanzmessungen
zur Bestimmung der Positionen von Objekten oder Personen im Überwa
chungsbereich durch eine Referenzmessung zu überprüfen, die ebenfalls als
Distanzmessung erfolgt.
Insbesondere bei dem Einsatz einer derartigen optoelektronischen Vorrichtung
im Bereich der Sicherheitstechnik und des Personenschutzes ist der Überwa
chungsbereich durch eine vorgegebene Maximaldistanz begrenzt, wobei die
Maximaldistanz typischerweise von der Reflektivität der zu erfassenden Ob
jekte abhängt
In einer vorteilhaften Ausführungsform ist die Länge der Lichtleitfaser so di
mensioniert, dass die Laufzeit eines in der Lichtleitfaser geführten Referenz-
Sendelichtimpulses, der am Ende der Lichtleitfaser als Referenz-Empfangs
lichtimpuls zurück zum Empfänger reflektiert wird, gerade der Maximaldistanz
entspricht.
Zudem sind vorteilhaft über die Länge der Lichtleitfaser verteilte Reflexions
stellen vorgesehen, an welchen jeweils ein Teil eines Referenz-
Sendelichtimpulses als weiterer Referenz-Empfangslichtimpuls zurück zum
Empfänger reflektiert wird.
Durch die Bestimmung der Distanzen aus den Laufzeiten der einzelnen Refe
renz-Empfangslichtimpulse kann damit die mit der optoelektronischen Vor
richtung durchgeführte Distanzmessung über den gesamten Überwachungsbe
reich genau überprüft werden.
Zudem kann eine zusätzliche Überprüfung der Amplituden der Referenz-
Empfangslichtimpulse erfolgen, wodurch insbesondere Alterungseffekte oder
Ausfälle einzelner Bauteile der Vorrichtung überprüft werden. Desweiteren
können Nichtlinearitäten und Nullpunktsfehler von Bauelementen auf diese
Weise erfasst und kompensiert werden. Schließlich können zur Korrektur von
Messfehlern anhand der Referenzmessungen Korrekturtabellen für die gemes
senen Distanzen erstellt werden.
Vorteilhafterweise werden dabei die bei der Referenzmessung ermittelten Dis
tanzwerte und Amplitudenwerte jeweils mit abgespeicherten Sollwerten vergli
chen.
Die Lichtleitfaser befindet sich zweckmäßigerweise außerhalb des Überwa
chungsbereichs, jedoch innerhalb des Gehäuses der optoelektronischen Vor
richtung. Auf diese Weise ist eine reproduzierbare Durchführung der Refe
renzmessung gewährleistet, ohne dass dadurch die Ortung von Objekten im
Überwachungsbereich beeinträchtigt wird.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung kann die
Lichtleitfaser und/oder wenigstens eine weitere Lichtleitfaser zur Kontrolle der
Verschmutzung eines im Gehäuse integrierten Austrittsfensters verwendet wer
den, wodurch der Umfang der Testmessungen weiter erhöht wird.
Die Erfindung wird im nachstehenden anhand der Zeichnungen erläutert. Es
zeigen:
Fig. 1: Längsschnitt durch die erfindungsgemäße optoelektronische Vor
richtung.
Fig. 2: Querschnitt durch die optoelektronische Vorrichtung gemäß
Fig. 1.
Fig. 3: Längsschnitt durch das Austrittsfenster der Vorrichtung gemäß
Fig. 1 und 2 mit einer Anordnung zur Verschmutzungskontrolle.
Fig. 4: Projektion des Austrittsfensters gemäß Fig. 3 in eine Ebene mit
der Anordnung zur Verschmutzungskontrolle.
In Fig. 1 ist schematisch der Aufbau eines Ausführungsbeispiels der erfin
dungsgemäßen optoelektronischen Vorrichtung 1 zur Erfassung von Objekten
in einem Überwachungsbereich dargestellt. Als Objekte im Überwachungsbe
reich werden neben Gegenständen insbesondere auch in den Überwachungsbe
reich eindringende Personen erfasst.
Die optoelektronische Vorrichtung 1 weist einen nach dem Impulslaufzeitver
fahren arbeitenden Distanzsensor mit einem Sendelichtimpulse 2 emittierenden
Sender 3 und einem Empfangslichtimpulse 4 empfangenden Empfänger 5 auf.
Der Sender 3 ist beispielsweise von einer Laserdiode gebildet. Als Empfänger
5 ist eine Fotodiode oder dergleichen vorgesehen.
Dem Sender 3 ist zur Strahlformung der Sendelichtimpulse 2 eine Sendeoptik 6
nachgeordnet. Zur Fokussierung der Empfangslichtimpulse 4 auf den Empfän
ger 5 ist diesem eine Empfangsoptik 7 vorgeordnet. Der Sender 3 und der Emp
fänger 5 sind an eine nicht dargestellte Auswerteeinheit angeschlossen, die von
einem Mikroprozessor oder dergleichen gebildet ist.
Zur Bestimmung der Distanzen von Objekten im Überwachungsbereich wird
die Laufzeit der auf ein Objekt geführten und als Empfangslichtimpulse 4 zu
rück zum Empfänger 5 reflektierten Sendelichtimpulse 2 bestimmt. Aus den
Laufzeiten werden in der Auswerteeinheit die entsprechenden Distanzwerte
berechnet.
Die Sendelichtimpulse 2 und die von einem Objekt zurück zur optoelektroni
schen Vorrichtung 1 reflektierten Empfangslichtimpulse 4 sind über eine Ab
lenkeinheit 8 geführt. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die Sende
lichtimpulse 2 über einen stationären Spiegel 9 auf die Ablenkeinheit 8 geführt.
Die Ablenkeinheit 8 besteht im vorliegenden Beispiel aus einem Umlenkspie
gel 10, der auf einem um eine in vertikaler Richtung verlaufende Drehachse D
drehbaren Sockel 11 aufsitzt. Der Sockel 11 wird mittels eines nicht darge
stellten Motors in eine Drehbewegung mit konstanter Drehzahl versetzt.
Sowohl die vom Sender 3 emittierten Sendelichtimpulse 2 als auch die von
einem Objekt reflektierten Empfangslichtimpulse 4 sind über den Umlenkspie
gel 10 geführt. Prinzipiell kann die Ablenkeinheit 8 auch mehrere Umlenkspie
gel 10 aufweisen, wobei insbesondere die Sendelichtimpulse 2 und Empfangs
lichtimpulse 4 über separate Umlenkspiegel 10 geführt sein können.
Die optoelektronische Vorrichtung 1 ist in einem Gehäuse 12 integriert, wel
ches an seiner Frontseite ein Austrittsfenster 13 aufweist, durch welches die
Sendelichtimpulse 2 in den Überwachungsbereich geführt sind und durch wel
ches die Empfangslichtimpulse 4 zurück zur optoelektronischen Vorrichtung 1
geführt sind.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, verläuft das Austrittsfenster 13 in Umfangsrich
tung des Gehäuses 12 längs eines Kreisbogens und erstreckt sich über einen
Winkelbereich von Δα = 180°. Die an der Ablenkeinheit 8 abgelenkten Sende
lichtimpulse 2 sind periodisch innerhalb des vollen Winkelbereichs von 360°
geführt. Dabei sind die Sendelichtimpulse 2 innerhalb des Winkelbereichs Δα
zwischen 0° und 180° durch das Austrittsfenster 13 in den in einer horizontalen
Ebene liegenden Überwachungsbereich geführt. Innerhalb des Winkelbereichs
zwischen 180° und 360° sind die Sendelichtimpulse 2 dagegen im Innern des
Gehäuses 12 geführt.
Der von den Sendelichtimpulse 2 überstrichene Überwachungsbereich ist zu
großen Distanzen hin durch eine vorgegebene Maximaldistanz begrenzt. Insbe
sondere bei einem Einsatz der optoelektronischen Vorrichtung 1 im Bereich der
Sicherheitstechnik und des Personenschutzes ist diese Maximaldistanz durch
die mit dem Distanzsensor erzielbare Messgenauigkeit vorgegeben. Im Bereich
sicherheitstechnischer Anwendungen ist diese Maximaldistanz üblicherweise
durch die Distanz definiert, bei welcher die Distanz eines Objekts mit einer
einen sehr geringen Remissionsgrad aufweisenden Oberfläche, beispielsweise
einer Oberfläche aus schwarzem Cordsamt mit einem Remissionsgrad von et
wa 1,8%, mit einer vorgegebenen Genauigkeit noch bestimmt werden kann.
Für einen Einsatz der optoelektronischen Vorrichtung 1 im Bereich des Perso
nenschutzes kann die Hard- und Software der Auswerteeinheit redundant auf
gebaut sein, um die Auswertung der Messergebnisse des Distanzsensors über
prüfbar zu gestalten.
Zudem werden die einzelnen Komponenten der optoelektronischen Vorrich
tung 1, insbesondere die Komponenten des Distanzsensors, durch Referenz
messungen zyklisch überprüft.
Erfindungsgemäß ist bei der optoelektronischen Vorrichtung 1 eine Referenz
messung vorgesehen, durch welche die Distanzmessung innerhalb des gesam
ten Überwachungsbereichs überprüfbar ist.
Zur Durchführung der Referenzmessung ist eine Lichtleitfaser 14 mit einer
vorgeordneten Optik 15 vorgesehen. Die Lichtleitfaser 14 und die Optik 15
sind im Innern des Gehäuses 12, jedoch außerhalb des Überwachungsbereichs
so angeordnet, dass in einer eine Referenzposition bildenden vorgegebenen
Winkelposition der Ablenkeinheit 8, wie in Fig. 2 schematisch dargestellt, die
an der Ablenkeinheit 8 reflektierten Sendelichtimpulse 2 über die Optik 15 in
eine Lichteintrittsfläche der Lichtleitfaser 14 als Referenz-Sendelichtimpulse
eingekoppelt werden. Diese Referenz-Sendelichtimpulse verlaufen in der
Lichtleitfaser 14, die im vorliegenden Ausführungsbeispiel in Form einer Spule
ausgebildet ist. Die am anderen Ende der Spule austretenden Referenz-
Sendelichtimpulse werden an einem Reflektor 16 reflektiert und verlaufen in
der Lichtleitfaser 14 zurück bis sie an der Lichteintrittsfläche ausgekoppelt
werden und über die Optik 15 auf die Ablenkeinheit 8 geführt werden. Von
dort werden die Referenz-Empfangslichtimpulse auf den Empfänger 5 reflek
tiert. Die in der Lichtleitfaser 14 geführten Sendelichtimpulse 2 und Emp
fangslichtimpulse 4 bilden Referenz-Sendelichtimpulse bzw. Referenz-
Empfangslichtimpulse, welche zur Distanz-Referenzmessung herangezogen
werden. In einer alternativen Ausführungsform ist die Lichtleitfaser 14 in Form
einer Schleife ausgebildet. In diesem Fall wird ein Referenz-Sendelichtimpuls
über eine Lichteintrittsfläche an einem Ende der Lichtleitfaser 14 eingekoppelt
und über eine separate Lichtaustrittsfläche am anderen Ende der Lichtleitfaser
14 als Referenz-Empfangslichtimpuls ausgekoppelt.
Die Referenzmessung ist erfindungsgemäß auch als Distanzmessung ausgebil
det. Hierzu ist die Länge der Lichtleitfaser 14 an die Maximaldistanz des Ü
berwachungsbereichs derart angepasst, dass die Laufzeit eines in die Lichtleit
faser 14 eingekoppelten und an dem Ende der Lichtleitfaser 14 als Referenz-
Empfangslichtimpuls 4 reflektierten und zurück zum Empfänger 5 geführten
Referenz-Sendelichtimpuls gerade der Maximaldistanz entspricht.
Dabei ist insbesondere berücksichtigt, dass innerhalb der Lichtleitfaser 14 auf
grund ihres Brechungsindexes die Lichtgeschwindigkeit gegenüber der Licht
geschwindigkeit in Luft reduziert ist. Da die Maximaldistanz des Überwa
chungsbereichs typischerweise mehrere Meter beträgt, muss die Lichtleitfaser
14 eine entsprechenden Länge aufweisen. Um eine platzsparende Unterbrin
gung der Lichtleitfaser 14 zu gewährleisten, ist diese vorzugsweise hinter der
Optik 15 in mehreren Windungen aufgewickelt oder gerollt.
Auf diese Weise ist mittels der Referenzmessung überprüfbar, ob die Distanz
messung auch in der kritischen Maximaldistanz fehlerfrei durchgeführt wird.
Da die Sendelichtimpulse 2 über die Ablenkeinheit 8 pro Umdrehung einmal in
die Lichtleitfaser 14 eingekoppelt werden, ist eine zyklische Überprüfung der
Distanzmessung gewährleistet.
In einer besonders vorteilhaften Ausführungsform sind über die gesamte Länge
der Lichtleitfaser 14 in vorgegebenen, vorzugsweise äquidistanten Abständen
nicht dargestellte Reflexionsstellen in die Lichtleitfaser 14 eingearbeitet, wobei
an den Reflexionsstellen jeweils ein vorgegebener Teil der Lichtmenge eines
Referenz-Sendelichtimpulses als weiterer Referenz-Empfangslichtimpuls zum
Empfänger 5 zurückreflektiert wird. Die Reflexionsstellen können beispiels
weise durch ein definiertes Einritzen der Lichtleitfaser 14 erzeugt werden.
Auf diese Weise wird für einen in der Lichtleitfaser 14 eingekoppelten Refe
renz-Sendelichtimpuls nicht nur der am Ende der Lichtleitfaser 14 reflektierte
Referenz-Empfangslichtimpuls erhalten, zudem zusätzlich eine Folge von den
an den Refelxionsstellen reflektierten Referenz-Empfangslichtimpulse.
In der Auswerteeinheit werden diese Referenz-Empfangslichtimpulse nachein
ander registriert und in entsprechende Distanzwerte umgerechnet. Die so er
mittelten Distanzwerte werden zur Überprüfung der Distanzmessung mit in der
Auswerteeinheit abgespeicherten Sollwerten verglichen. Dadurch kann die
Distanzmessung nahezu lückenlos über den gesamten Distanzbereich der op
toelektronischen Vorrichtung 1 überprüft werden.
Zur Vervollständigung der Referenzmessung werden vorzugsweise auch die
Amplituden der einzelnen Referenz-Empfangslichtimpulse registriert und mit
vorgegebenen Sollwerten verglichen. Damit kann insbesondere überprüft wer
den, ob die Funktionsfähigkeit einzelner Komponenten der optoelektronischen
Vorrichtung 1, insbesondere des Distanzsensors, aufgrund von Alterungsef
fekten oder dergleichen beeinträchtigt ist.
In einer vorteilhaften Ausführungsform wird die Lichtleitfaser 14 und/oder
wenigstens eine zweite Lichtleitfaser 14 für eine Kontrollmessung verwendet,
mittels derer die Verschmutzung des Austrittsfensters 13 zyklisch überwacht
wird.
Für den Fall, dass die Verschmutzungskontrolle mit derselben Lichtleitfaser 14
wie die Referenzmessung erfolgt, ist die Lichtleitfaser 14 in einen ersten und
zweiten Abschnitt unterteilt. Der erste an die Optik 15 anschließende Teil der
Lichtleitfaser 14 enthält die Reflexionsstellen zur Durchführung der Referenz
messung. Daran schließt der zweite Abschnitt der Lichtleitfaser 14 an, der zur
Verschmutzungskontrolle des Austrittsfensters 13 verwendet wird.
Ein Ausführungsbeispiel einer Messanordnung zur Kontrolle der Verschmut
zung des Austrittsfensters 13 ist in den Fig. 3 und 4 dargestellt.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich, ist das Austrittsfenster 13 nicht exakt senkrecht zur
Strahlachse der Sendelichtimpulse 2 und Empfangslichtimpulse 4 ausgerichtet,
sondern verläuft etwas geneigt. Alternativ kann das Austrittsfenster 13 auch
eine Wölbung aufweisen.
Die Lichtleitfaser 14 zur Kontrolle des Austrittsfensters 13 verläuft dicht ober
halb des oberen Randes des Austrittsfensters 13 über dessen gesamte Länge, ist
dann längs eines seitlichen Randes des Austrittsfenster 13 geführt und verläuft
dann dicht unterhalb des unteren Randes des Austrittsfensters 13 wieder über
dessen gesamte Länge.
Im Bereich des am oberen Randes des Austrittsfensters 13 geführten Abschnitts
der Lichtleitfaser 14 sind vorzugsweise in äquidistanten Abständen Lichtaus
trittsöffnungen 17 in die Lichtleitfaser 14 eingearbeitet. Entsprechend sind im
Bereich des am unteren Randes des Austrittsfensters 13 geführten Abschnitts
der Lichtleitfaser 14 ebenfalls vorzugsweise äquidistant angeordnete Lichtein
trittsöffnungen 18 in die Lichtleitfaser 14 eingearbeitet. Die Lichtaustrittsöff
nungen 17 und Lichteintrittsöffnungen 18 sind jeweils paarweise gegenüberlie
gend angeordnet.
Ein in die Lichtleitfaser 14 eingekoppelter Sendelichtimpuls 2 verläuft in dem
am oberen Rand des Austrittsfensters 13 anliegenden Abschnitt der Lichtleitfa
ser 14. An jeder Lichtaustrittsöffnung 17 wird ein Teil des Sendelichtimpulses
2 aus der Lichtleitfaser 14 ausgekoppelt. Wie in den Fig. 3 und 4 darge
stellt, verlaufen die ausgekoppelten Teile des Sendelichtimpulses 2 senkrecht
nach unten, durchsetzen dabei das geneigt oder gewölbt verlaufende Austritts
fenster 13 und werden dann in die jeweils gegenüberliegenden Lichteintritts
öffnungen 18 des am unteren Rand des Austrittsfenster 13 anliegenden Ab
schnitts der Lichtleitfaser 14 eingekoppelt. Von dort verlaufen diese Sende
lichtimpulse 2 in der Lichtleitfaser 14 zurück zum Empfänger 5. Da die Paare
von Lichtaustritts- und Lichteintrittsöffnungen 17, 18 längs der Lichtleitfaser
14 hintereinander liegen, treffen die über die einzelnen Lichteintrittsöffnungen
18 eingekoppelten Sendelichtimpulse 2 nacheinander auf den Empfänger 5 auf
und können zeitlich nacheinander ausgewertet werden.
Damit der Anteil des Sendelichtimpulses 2, der nicht über die Lichtaustrittsöff
nungen 17 ausgekoppelt wird und über die gesamte Lichtleitfaser 14 läuft,
nicht die das Austrittsfenster 13 durchsetzenden Sendelichtimpulse 2 überla
gert, kann die Lichtleitfaser 14 im Bereich des längsseitigen Randes eine Ver
zögerungsstrecke in Form einer Verlängerung der Lichtleitfaser 14 aufweisen.
In der Auswerteeinheit werden die Amplituden der über das Austrittsfenster 13
geführten Sendelichtimpulse 2 registriert und mit vorgegebenen Sollwerten
verglichen. Stimmen die Amplituden mit den Sollwerten innerhalb einer vor
gegebenen Genauigkeit überein, so liegt keine Verschmutzung des Austritts
fensters 13 vor.
Bei einer Verschmutzung des Austrittsfensters 13 werden jedoch die Sende
lichtimpulse 2 bei Durchgang durch das Austrittsfenster 13 gedämpft, so das
dann die Amplituden der Sendelichtimpulse 2 unterhalb der Sollwerte liegen.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß den Fig. 3 und 4 verlaufen die das
Austrittsfenster 13 durchsetzenden Sendelichtimpulse 2 in vertikaler Richtung,
während das Austrittsfenster 13 geneigt verläuft. Alternativ kann das Austritts
fenster 13 in vertikaler Richtung verlaufen, während die Strahlachsen der Sen
delichtimpulse 2 hierzu geneigt verlaufen.
1
Optoelektronische Vorrichtung
2
Sendelichtimpulse
3
Sender
4
Empfangslichtimpulse
5
Empfänger
6
Sendeoptik
7
Empfangsoptik
8
Ablenkeinheit
9
stationärer Spiegel
10
Umlenkspiegel
11
Sockel
12
Gehäuse
13
Austrittsfenster
14
Lichtleitfaser
15
Optik
16
Reflektor
17
Lichtaustrittsöffnung
18
Lichteintrittsöffnung
D Drehachse
D Drehachse
Claims (18)
1. Optoelektronische Vorrichtung zur Erfassung von Objekten in einem
Überwachungsbereich mit einem einen Sendelichtstrahlen emittierenden
Sender und einen Empfangslichtstrahlen empfangenden Empfänger auf
weisenden Distanzsensor und mit einer Ablenkeinheit, mittels derer die
Sendelichtstrahlen innerhalb des Überwachungsbereichs geführt sind, da
durch gekennzeichnet, dass der Sender (3) Sendelichtstrahlen in Form ei
ner Folge von Sendelichtimpulsen (2) emittiert, dass an wenigstens einer
Referenzposition Sendelichtimpulse (2) als Referenz-Sendelichtimpulse
in eine ein Referenzobjekt bildende Lichtleitfaser (14) eingekoppelt sind,
und dass die in der Lichtleitfaser (14) geführten Referenz-Sende
lichtimpulse zumindest teilweise als Referenz-Empfangslichtimpulse
zum Empfänger (5) geführt sind, wobei zur Durchführung einer Refe
renzmessung die Laufzeiten der Referenz-Empfangslichtimpulse be
stimmt werden.
2. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, dass die Länge der Lichtleitfaser (14) an die mit dem Distanzsensor
erfassbare Maximaldistanz angepasst ist.
3. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfaser (14) mehrere über deren
Länge verteilte Reflexionsstellen aufweist, an welchen jeweils ein Teil
der Referenz-Sendelichtimpulse reflektiert wird.
4. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, dass die an den Reflexionsstellen reflektierten Referenz-Empfangslichtimpulse
während der Referenzmessung einzeln nacheinander erfasst
und ausgewertet werden.
5. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch
gekennzeichnet, dass diese eine Auswerteeinheit aufweist, in welcher aus
den Laufzeiten der Referenz-Empfangslichtimpulse Distanzwerte be
rechnet und mit vorgegebenen Sollwerten verglichen werden.
6. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich
net, dass in der Auswerteeinheit die Amplituden der Referenz-
Empfangslichtimpulse bestimmt und mit vorgegebenen Sollwerten ver
glichen werden.
7. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-6, dadurch
gekennzeichnet, dass diese in einem Gehäuse (12) integriert ist, wobei
die Lichtleitfaser (14) vollständig im Innern des Gehäuses (12) liegt.
8. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-7, dadurch
gekennzeichnet, dass die Referenzposition außerhalb des Überwachungs
bereichs liegt.
9. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich
net, dass die Ablenkeinheit (8) wenigstens einen rotierenden Umlenk
spiegel (10) aufweist, über welchen die Sendelichtimpulse (2) und von
einem Objekt reflektierte Empfangslichtimpulse (4) geführt sind, wobei
die innerhalb eines vorgegebenen Winkelbereichs Δα über den Umlenk
spiegel (10) geführten Sendelichtimpulse (2) den Überwachungsbereich
überstreichen und wobei in einer außerhalb des Winkelbereichs Δα lie
genden Referenzposition die am Umlenkspiegel (10) reflektierten Sende
lichtimpulse (2) als Referenz-Sendelichtimpulse in die Lichtleitfaser (14)
eingekoppelt werden.
10. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeich
net, dass die aus der Lichtleitfaser (14) ausgekoppelten Referenz-
Empfangslichtimpulse über den Umlenkspiegel (10) zum Empfänger (5)
geführt sind.
11. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet, dass in der Frontwand des Gehäuses (12) ein
Austrittsfenster (13) vorgesehen ist, welches sich über den Winkelbereich
Δα erstreckt.
12. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeich
net, dass zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters (13) die
Lichtleitfaser (14) und/oder wenigstens eine zweite Lichtleitfaser im
Randbereich des Austrittsfensters (13) geführt ist, dass die oder jede
Lichtleitfaser (14) Lichtaustrittsöffnungen (17) und Lichteintrittsöffnun
gen (18) aufweist, wobei die aus jeweils einer Lichtaustrittsöffnung (17)
ausgekoppelten Sendelichtimpulse (2) das Austrittsfenster (13) durchset
zen und in wenigstens eine Lichteintrittsöffnung (18) als Empfangs
lichtimpulse (4) eingekoppelt werden.
13. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich
net, dass zur Kontrolle der Verschmutzung des Austrittsfensters (13) die
Amplituden der über die Lichteintrittsöffnungen (18) in die Lichtleitfaser
(14) eingekoppelten und zum Empfänger (5) geführten Empfangslichtim
pulse (4) bewertet werden.
14. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeich
net, dass die Amplituden der Empfangslichtimpulse (4) mit vorgegebenen
Sollwerten verglichen werden.
15. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12-14, da
durch gekennzeichnet, dass der von den Sendelichtimpulsen (2) überstri
chene Überwachungsbereich in einer horizontal verlaufenden Ebene liegt,
und dass das Austrittsfenster (13) im Wesentlichen senkrecht zu der hori
zontal verlaufenden Ebene ausgerichtet ist.
16. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeich
net, dass das Austrittsfenster (13) geneigt oder gewölbt ist, so dass dieses
von den aus den Lichtaustrittsöffnungen (17) der Lichtleitfaser (14) aus
gekoppelten, in vertikaler Richtung verlaufenden Sendelichtimpulsen (2)
durchsetzt wird.
17. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 15 oder 16,
dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtleitfaser (14) zur Kontrolle der
Verschmutzung des Austrittsfensters (13) entlang des längsseitigen obe
ren und des längsseitigen unteren Randes des Austrittsfensters (13) ge
führt ist, dass im Bereich der an einem längsseitigen Rand des Austritts
fensters (13) anliegenden Abschnitt der Lichtleitfaser (14) die Lichtaus
trittsöffnungen (17) angeordnet sind, und dass im Bereich des zweiten
längsseitigen Rands des Austrittsfensters (13) anliegenden, auf den Emp
fänger (5) zulaufenden Abschnitt der Lichtleitfaser (14) die Lichtein
trittsöffnungen (18) angeordnet sind.
18. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeich
net, dass jeweils einer Lichtaustrittsöffnung (17) eine Lichteintrittsöff
nung (18) gegenüber liegt.
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