DE10024476A1

DE10024476A1 - Device for testing an electrical circuit

Info

Publication number: DE10024476A1
Application number: DE2000124476
Authority: DE
Inventors: Roderick Mcconnell; Ulrich Reichert
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Infineon Technologies AG
Priority date: 2000-05-18
Filing date: 2000-05-18
Publication date: 2001-12-20
Also published as: WO2001088559A1

Abstract

Die beschriebene Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung zeichnet sich dadurch aus, daß sie während des Testens der zu testenden elektrischen Schaltung zumindest einen Teil derselben durch Rückkopplung eines Ausgangssignals des betreffenden Schaltungsteils auf einen Eingangsanschluß des betreffenden Schaltungsteils zum Oszillieren bringt. Dadurch läßt sich mit minimalem Aufwand schnell und zuverlässig die Arbeitsgeschwindigkeit der zu testenden elektrischen Schaltung ermitteln.The described device for testing an electrical circuit is characterized in that, during the testing of the electrical circuit to be tested, it causes at least part of it to oscillate by feeding back an output signal of the relevant circuit part to an input terminal of the relevant circuit part. This allows the operating speed of the electrical circuit to be tested to be determined quickly and reliably with minimal effort.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, d. h. eine Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung.The present invention relates to a device according to the Preamble of claim 1, d. H. a device for Testing an electrical circuit.

Zu den zu testenden Eigenschaften einer elektrischen Schal tung gehört unter anderem die Geschwindigkeit, mit welcher diese arbeitet.On the properties to be tested of an electrical scarf among other things, the speed at which this works.

Die Ermittlung der Arbeitsgeschwindigkeit ist insbesondere bei integrierten Schaltungen, aber auch bei anderen elektri schen Schaltungen mit einem hohen Aufwand verbunden und dem entsprechend teuer.The determination of the working speed is special with integrated circuits, but also with other electri circuits connected with a lot of effort and the accordingly expensive.

Aus der US 5,099,196, der US 5,619,463 und der US 5,818,250 sind bereits einige Möglichkeiten bekannt, durch welche sich der Aufwand, der getrieben werden muß, um die Arbeits geschwindigkeit einer integrierten Schaltung zu testen, einigermaßen in Grenzen halten läßt. Dabei wird auf dem Chip, der die zu testende integrierte Schaltung enthält, außer der zu testenden Schaltung ein sogenannter Ringoszillator unter gebracht. Der Ringoszillator besteht aus einer ungeradzahli gen Vielzahl von hintereinander geschalteten Invertern, die während des Tests zu einem geschlossenen Kreis verschaltet werden, wodurch von jedem der vorhandenen Inverter der Ein gangsanschluß mit dem Ausgangsanschluß des in der Inverter- Kette vor ihm angeordneten Inverters, und der Ausgangs anschluß mit dem Eingangsanschluß des in der Inverter-Kette hinter ihm angeordneten Inverters verbunden ist. Bei so ver schalteten Invertern ändern sich ununterbrochen die den Eingangsanschlüssen zugeführten und die aus den Ausgangs anschlüssen ausgegebenen Signale. Die Inverter oszillieren dadurch, wobei die Frequenz, mit welcher dies geschieht, darauf schließen läßt, wie schnell die zu testende Schaltung arbeiten kann. Zwar ist die Inverter-Kette nicht Bestandteil der eigentlich zu testenden Schaltung, doch läßt die Oszilla tionsfrequenz der Inverter-Kette darauf schließen, wie schnell die eigentlich zu testende Schaltung arbeitet. Dem liegt die Erkenntnis zugrunde, daß die Arbeitsgeschwindigkeit einer integrierten Schaltung maßgeblich von den Eigenschaften der zur Herstellung der integrierten Schaltung verwendeten Materialien, von der Art der Herstellung der integrierten Schaltung und von den Umgebungsbedingungen und der Präzision bei der Herstellung der integrierten Schaltung beeinflußt wird. Diese Faktoren und deren Einfluß auf die Arbeits geschwindigkeit sind innerhalb einer integrierten Schaltung überall gleich, so daß auf die beschriebene Art und Weise relativ zuverlässig die Arbeitsgeschwindigkeit der eigentlich zu testenden Schaltung ermittelt werden kann.From US 5,099,196, US 5,619,463 and US 5,818,250 are already known some ways through which the effort that needs to be driven to get the work done test the speed of an integrated circuit, can be kept within limits. Thereby on the chip, that contains the integrated circuit to be tested, except for the circuit to be tested under a so-called ring oscillator brought. The ring oscillator consists of an odd number against a large number of inverters connected in series, the connected to a closed circuit during the test which means that the In output connection with the output connection of the in the inverter Chain inverter in front of him, and the output connection with the input connection of the in the inverter chain inverters arranged behind it is connected. With so ver switched inverters continuously change the Input connections fed and those from the output output signals. The inverters oscillate thereby, the frequency at which this happens indicates how fast the circuit to be tested can work. The inverter chain is not part of it the circuit to be actually tested, but the Oszilla frequency of the inverter chain indicate how the circuit to be tested works quickly. The is based on the knowledge that the speed of work of an integrated circuit largely depends on the properties that used to manufacture the integrated circuit Materials, from the way of manufacturing integrated Switching and environmental conditions and precision influenced in the manufacture of the integrated circuit becomes. These factors and their impact on work speed are within an integrated circuit everywhere the same, so that in the manner described the working speed of the actually relatively reliable circuit to be tested can be determined.

Allerdings ist auch diese Art des Testens mit einem nicht unerheblichen Aufwand verbunden. Der Grund hierfür liegt ins besondere darin, daß die Oszillationsfrequenz der Inverter- Kette üblicherweise sehr hoch ist. Dies hat zur Folge, daß es schwierig und aufwendig ist, diese zu ermitteln. Zwar läßt sich die Oszillationsfrequenz der Inverter-Kette durch Vor sehen einer entsprechend großen Anzahl von Invertern reduzie ren, doch wird dadurch der die zu testende elektrische Schal tung enthaltende Chip größer.However, this type of testing with one is not insignificant effort. The reason for this is ins special in that the oscillation frequency of the inverter Chain is usually very high. As a result, it it is difficult and expensive to determine. Although leaves the oscillation frequency of the inverter chain by forward see a correspondingly large number of inverters ren, but this will make the electrical scarf to be tested device containing chip larger.

Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß sich die Arbeitsgeschwindigkeit einer elektrischen Schaltung mit minimalem Aufwand schnell und zuverlässig testen läßt.The present invention is therefore based on the object the device according to the preamble of claim 1 to train such that the working speed an electrical circuit quickly with minimal effort and can be tested reliably.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das im kennzeichnen den Teil des Patentanspruchs 1 beanspruchte Merkmal gelöst.According to the invention, this object is characterized by the solved the part of claim 1 claimed feature.

Gemäß dem kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 zeichnet sich die erfindungsgemäße Vorrichtung dadurch aus, daß sie während des Testens der zu testenden elektrischen Schaltung zumindest einen Teil derselben durch Rückkopplung eines Aus gangssignals des betreffenden Schaltungsteils auf einen Ein gangsanschluß des betreffenden Schaltungsteils zum Oszillie ren bringt.According to the characterizing part of claim 1 the device according to the invention is characterized in that it while testing the electrical circuit under test at least part of it by feedback of an off output signal of the circuit part concerned to an gear connection of the relevant circuit part to the oscillation ren brings.

Die Oszillationsfrequenz des zum Oszillieren gebrachten Schaltungsteils ist ein Maß für die zu ermittelnde Arbeits geschwindigkeit der zu testenden elektrischen Schaltung.The oscillation frequency of the oscillated Circuit part is a measure of the work to be determined speed of the electrical circuit to be tested.

Dadurch, daß die zu testende elektrische Schaltung oder ein Teil derselben zum Oszillieren gebracht wird, entfällt die Notwendigkeit, auf dem die zu testende Schaltung enthaltenden Chip zusätzlich einen Oszillator vorsehen zu müssen. Es müs sen lediglich einige wenige Schaltelemente zum Umschalten der elektrischen Schaltung zwischen der Normalbetriebsart und der Testbetriebsart und gegebenenfalls einige wenige weitere Ele mente vorgesehen werden, durch welche die rückgekoppelten Signale so modifiziert werden, daß der zum Oszillieren zu bringende Schaltungsteil tatsächlich zum Oszillieren gebracht wird,.The fact that the electrical circuit to be tested or a Part of the same is made to oscillate, the Need to be on the circuit containing the circuit under test Chip must also provide an oscillator. It has to sen only a few switching elements for switching the electrical circuit between the normal operating mode and the Test mode and possibly a few more el elements are provided by which the feedback Signals are modified so that the to oscillate too bringing circuit part actually oscillated becomes,.

Die beanspruchte Vorrichtung ermöglicht es damit, die Arbeitsgeschwindigkeit der zu testenden elektrischen Schal tung mit minimalem Aufwand schnell und zuverlässig zu testen.The claimed device thus enables the Working speed of the electrical scarf to be tested test quickly and reliably with minimal effort.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind den Unter ansprüchen, der folgenden Beschreibung und den Figuren ent nehmbar.Advantageous developments of the invention are the sub claims, the following description and the figures ent acceptable.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispie len unter Bezugnahme auf die Figuren näher erläutert. Es zeigenThe invention is described below with reference to exemplary embodiments len explained with reference to the figures. It demonstrate

Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel der nachfolgend be schriebenen Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung, und Fig. 1 shows a first embodiment of the device described below for testing an electrical circuit, and

Fig. 2 ein zweites Ausführungsbeispiel der nachfolgend be schriebenen Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung. Fig. 2 shows a second embodiment of the device described below for testing an electrical circuit.

Die beschriebene Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung ist eine Vorrichtung zum Ermitteln der Arbeits geschwindigkeit der elektrischen Schaltung.The described device for testing an electrical Circuit is a device for determining the work speed of the electrical circuit.

Bei der zu testenden elektrischen Schaltung handelt es sich um auf einem Halbleiterchip untergebrachte integrierte Schal tung. Allerdings besteht hierauf keine Einschränkung. Bei der zu testenden elektrischen Schaltung könnte es sich auch um eine "normale" (nicht integrierte) elektrische Schaltung han deln.The electrical circuit to be tested is around integrated scarf housed on a semiconductor chip tung. However, there is no restriction to this. In the electrical circuit to be tested could also be a "normal" (not integrated) electrical circuit han deln.

Die zu testende elektrische Schaltung ist im betrachteten Beispiel ein Mikrocontroller. Es kann sich aber auch um eine beliebige andere elektrische Schaltung handeln; der Aufbau und die Funktion der elektrischen Schaltung sind grundsätz lich keinen Einschränkungen unterworfen.The electrical circuit to be tested is considered Example a microcontroller. But it can also be a act any other electrical circuit; the structure and the function of the electrical circuit are fundamental no restrictions.

Die Vorrichtung zum Testen der elektrischen Schaltung ist im betrachteten Beispiel auf dem die zu testende elektrische Schaltung enthaltenden Halbleiter-Chip untergebracht. Auch hierauf besteht jedoch keine Einschränkung. Zumindest Teile der Vorrichtung zum Testen der elektrischen Schaltung können auch außerhalb des Chips vorgesehen sein.The device for testing the electrical circuit is in considered example on which the electrical to be tested Circuit containing semiconductor chip housed. Also however, there is no restriction. At least parts of the device for testing the electrical circuit can also be provided outside the chip.

Die betrachtete Vorrichtung zum Testen der elektrischen Schaltung zeichnet sich dadurch aus, daß sie während des Testens der zu testenden elektrischen Schaltung zumindest einen Teil derselben durch Rückkopplung eines Ausgangssignals des zu testenden Schaltungsteils auf einen Eingangsanschluß des betreffenden Schaltungsteils zum Oszillieren bringt. The device under consideration for testing the electrical Circuit is characterized in that during the At least test the electrical circuit to be tested part of it by feedback of an output signal of the circuit part to be tested to an input terminal brings the relevant circuit part to oscillate.

Das auf den Eingangsanschluß des zum Oszillieren zu bringen den Schaltungsteils rückgekoppelte Signal ist ein Signal, durch welches der betreffende Schaltungsteil veranlaßt wird, den Pegel eines der von ihm erzeugten Ausgangssignale oder eines der intern erzeugten und/oder verwendeten Signale wiederholt zu verändern.To bring that to the input port of the oscillate the circuit feedback signal is a signal by which the relevant circuit part is caused, the level of one of the output signals generated by it or one of the internally generated and / or used signals to change repeatedly.

Sofern das rückzukoppelnde Signal diese Bedingung nicht er füllt, wird es durch eine oder mehrere Inverter oder sonstige Elemente in ein geeignetes Signal umgewandelt.Unless the signal to be fed back does not meet this condition fills, it is replaced by one or more inverters or other Elements converted into a suitable signal.

Der zum Oszillieren zu bringende Schaltungsteil wird während des Testens der elektrischen Schaltung so betrieben, daß der betreffende Schaltungsteil durch die durchgeführte Rückkopp lung dazu veranlaßt wird, den Pegel eines der von ihm erzeug ten Ausgangssignale oder eines der intern erzeugten und/oder verwendeten Signale wiederholt zu verändern.The circuit part to be oscillated is during the testing of the electrical circuit operated so that the relevant circuit part by the feedback performed tion is caused to generate the level of one of it output signals or one of the internally generated and / or change signals used repeatedly.

Bei Bedarf kann vorgesehen werden, den betreffenden Schal tungsteil im Testbetrieb der zu testenden Schaltung anders zu betreiben als im Normalbetrieb.If necessary, the scarf in question can be provided tion part in test operation of the circuit to be tested differently operate than in normal operation.

Der Schaltungsteil, dessen Ausgangssignal beim Testen auf den Eingang rückgekoppelt wird, kann ein beliebiger Teil der zu testenden Schaltung sein. Es muß sich insbesondere nicht um einen Schaltungsteil handeln, der auch im normalen Betrieb der zu testenden elektrischen Schaltung oszilliert oder wie im Testbetrieb oszilliert. Der zum Oszillieren zu bringende Schaltungsteil kann auch durch eine Zusammenschaltung von im Normalbetrieb der zu testenden elektrischen Schaltung nicht so verschalteten Komponenten der zu testenden elektrischen Schaltung gebildet werden.The circuit part, the output signal when testing for Any part of the input can be fed back test circuit. In particular, it does not have to be about act a circuit part that is also in normal operation of the electrical circuit to be tested oscillates or how oscillates in test mode. The one to be made to oscillate Circuit part can also by interconnection in the Normal operation of the electrical circuit to be tested is not thus interconnected components of the electrical to be tested Circuit are formed.

In dem nun unter Bezugnahme auf Fig. 1 beschriebene ersten Ausführungsbeispiel der Vorrichtung zum Testen einer elektri schen Schaltung ist der Schaltungsteil, dessen Ausgangssignal beim Testen auf den Eingang rückgekoppelt wird, eine so genannte arithmetisch-logische Einheit (ALU).In the first exemplary embodiment of the device for testing an electrical circuit, which is now described with reference to FIG. 1, the circuit part whose output signal is fed back to the input during testing is a so-called arithmetic-logic unit (ALU).

Diese ALU ist in der Fig. 1 mit dem Bezugszeichen 1 bezeich net. Sie weist erste Eingangsanschlüsse IN11 bis IN1x, zweite Eingangsanschlüsse IN21 bis IN2y, und Ausgangsanschlüsse OUT1 bis OUTz auf; die ALU unterzieht die ihr über die ersten und/oder zweiten Eingangsanschlüsse IN11 bis IN1x und/oder IN21 bis IN2y zugeführten Daten einer wählbaren arithmeti schen und/oder logischen Operation und gibt das Ergebnis über die Ausgangsanschlüsse OUT1 bis OUTz aus.This ALU is designated by the reference numeral 1 in FIG. 1. It has first input connections IN11 to IN1x, second input connections IN21 to IN2y, and output connections OUT1 to OUTz; the ALU subjects the data supplied to it via the first and / or second input connections IN11 to IN1x and / or IN21 to IN2y to a selectable arithmetic and / or logical operation and outputs the result via the output connections OUT1 to OUTz.

Die in der Fig. 1 gezeigte Anordnung enthält neben der ALU1 einen Inverter 2, einen Multiplexer 3, und einen Zähler 4; diese weiteren Komponenten sind im betrachteten Beispiel nicht Bestandteil der zu testenden elektrischen Schaltung, sondern sind speziell zum Testen vorgesehene Elemente.The arrangement shown in FIG. 1 contains, in addition to the ALU1, an inverter 2 , a multiplexer 3 , and a counter 4 ; in the example under consideration, these further components are not part of the electrical circuit to be tested, but are elements intended specifically for testing.

Der Multiplexer 3 ist im betrachteten Beispiel einem der er sten Eingangsanschlüsse, genauer gesagt dem für das höchst wertige Bit (MSB) bestimmten Eingangsanschluß IN1x vor geschaltet. Der Multiplexer hat zwei Eingangsanschlüsse I1 und I2. Am ersten Eingangsanschluß I1 ist die Leitung an geschlossen, über welche der ALU die im normalen Betrieb der selben zuzuführenden Daten zugeführt werden; am zweiten Ein gangsanschluß I2 ist eine Leitung angeschlossen, über welche der ALU im Testbetrieb besondere Testdaten zugeführt werden. Der Multiplexer 3 wird durch ein Steuersignal C so gesteuert, daß er im normalen Betrieb der zu testenden Schaltung die seinem Eingangsanschluß I1 zugeführten Daten, und im Test betrieb der zu testenden Schaltung die seinem Eingangs anschluß I2 zugeführten Daten durchschaltet.The multiplexer 3 is in the example considered one of the first input connections, more precisely the input connection IN1x intended for the most significant bit (MSB). The multiplexer has two input connections I1 and I2. At the first input connection I1, the line is closed, via which the data to be supplied to the ALU during normal operation are supplied to the ALU; A line is connected to the second input connection I2, via which special test data are fed to the ALU in test mode. The multiplexer 3 is controlled by a control signal C so that it switches the data supplied to its input terminal I1 during normal operation of the circuit to be tested, and switches through the data supplied to its input terminal I2 during test operation of the circuit to be tested.

Die dem Eingangsanschluß I2 des Multiplexers 3 zugeführten besonderen Testdaten stammen vom Inverter 2. The special test data supplied to the input terminal I2 of the multiplexer 3 originate from the inverter 2 .

Der Inverter 2 ist mit einem der Ausgangsanschlüsse der ALU, genauer gesagt mit dem für das höchstwertige Bit (MSB) be stimmten Ausgangsanschluß OUTz verbunden. Er invertiert die aus diesem Ausgangsanschluß ausgegebenen Daten und führt die invertierten Daten dem Eingangsanschluß I2 des Multiplexers 3 zu.The inverter 2 is connected to one of the output connections of the ALU, more specifically to the output connection OUTz determined for the most significant bit (MSB). It inverts the data output from this output connection and feeds the inverted data to the input connection I2 of the multiplexer 3 .

Durch diesen Aufbau wird in der Testbetriebsart eines der Ausgangssignale der ALU auf einen der Eingangsanschlüsse der ALU zurückgeführt (rückgekoppelt).This structure makes one of the test modes Output signals of the ALU to one of the input connections of the ALU fed back (fed back).

Die Rückkopplung des aus dem Ausgangsanschluß OUTz ausgegebe nen Ausgangssignals der ALU auf den Eingangsanschluß IN1x derselben bewirkt eine Veränderung des Pegels des dem Ein gangsanschluß IN1x zugeführten Signals.The feedback of the output from the output terminal OUTz NEN output signal of the ALU to the input terminal IN1x the same causes a change in the level of the one signal input IN1x.

Die ALU 1 arbeitet im Testbetrieb so, daß eine Änderung des Pegels des in den Eingangsanschluß IN1x eingegebenen Signals eine Änderung des Pegels des aus dem Ausgangsanschluß OUTz ausgegebenen Signals zur Folge hat. Sofern die ALU nicht schon von Haus aus so arbeitet, kann vorgesehen werden, die ALU durch das Steuersignal C oder auf andere Art und Weise dazu zu veranlassen.In test mode, the ALU 1 operates in such a way that a change in the level of the signal input into the input connection IN1x results in a change in the level of the signal output from the output connection OUTz. If the ALU is not already operating in this way, it can be provided that the ALU is triggered by the control signal C or in some other way.

Dies hat zur Folge, daß sich in der Testbetriebsart der Pegel des dem Eingangsanschluß IN1x zugeführten Signals und des aus dem Ausgangsanschluß OUTz ausgegebenen Signal ständig ändern. Die Pegel der genannten Signale oszillieren regelrecht, wobei die Oszillationsfrequenz ein Maß für die Arbeitsgeschwindig keit der ALU ist und ferner Rückschlüsse auf die Arbeits geschwindigkeit der restlichen Komponenten der zu testenden Schaltung erlaubt.As a result, the level changes in the test mode of the signal supplied to the input terminal IN1x and the out constantly change the signal output from the output terminal OUTz. The levels of the signals mentioned oscillate properly, whereby the oscillation frequency is a measure of the working speed of the ALU and also conclusions about the work speed of the remaining components of the device under test Switching allowed.

Die Pegel-Wechsel des vom Ausgang auf den Eingang der ALU rückgekoppelten Signals werden durch den Zähler 4 gezählt. Der Inhalt des Zählers kann zur Auswertung über einen oder mehrere Ausgabeanschlüsse der integrierten Schaltung aus die ser ausgegeben werden.The level changes of the signal fed back from the output to the input of the ALU are counted by counter 4 . The content of the counter can be output from the water for evaluation via one or more output connections of the integrated circuit.

Bei einem Testen der Arbeitsgeschwindigkeit einer elektri schen Schaltung auf die vorstehend beschriebene Art und Weise, also unter Miteinbeziehung der zu testenden Schaltung selbst, ist es - anders als beim Testen der Schaltung mittels eines Ringoszillators - nicht erforderlich, eine große Anzahl von Invertern vorzusehen. Die Verarbeitung der der ALU zuge führten Daten dauert wegen der Komplexität der ALU von Haus aus relativ lange, so daß keine Notwendigkeit besteht, die Oszillationsfrequenz durch Vorsehen zusätzlicher Inverter zu reduzieren.When testing the working speed of an electri circuit in the manner described above and Way, including the circuit under test itself, it is - unlike when testing the circuit using a ring oscillator - not required a large number provided by inverters. The processing of the ALU Due to the complexity of the ALU, data that is carried out by house from relatively long, so there is no need to Oscillation frequency by providing additional inverters to reduce.

Wenn das rückzukoppelnde Signal von Haus aus schon einen die ALU zum Oszillieren bringenden Pegel oder Pegelverlauf auf weist, kann sogar gänzlich auf das Vorsehen von Invertern verzichtet werden.If the signal to be fed back is already a ALU to oscillate level or level curve points, can even entirely refer to the provision of inverters to be dispensed with.

Nichtsdestotrotz ist es natürlich auch möglich, mehr als einen Inverter im Rückkopplungszweig vorzusehen. Die Anzahl der Inverter muß im betrachteten Beispiel jedoch eine un gerade Zahl sein.Nevertheless, it is of course also possible to do more than to provide an inverter in the feedback branch. The number in the example considered, however, the inverter must have an un be an even number.

Es besteht selbstverständlich auch keine Einschränkung darauf, das aus dem Ausgangsanschluß OUTz der ALU 1 aus gegebene Signal auf den Eingangsanschluß IN1x rückzukoppeln. Die Rückkopplung kann prinzipiell von einem beliebigen Aus gangsanschluß auf einen beliebigen Eingangsanschluß erfolgen.Of course, there is no restriction to feed back the signal output from the output connection OUTz of the ALU 1 to the input connection IN1x. In principle, the feedback can take place from any output connection to any input connection.

Es besteht ferner keine Notwendigkeit, einen Zähler zum Zäh len der Oszillationen (den Zähler 4) in die integrierte Schaltung zu integrieren. Statt dessen kann vorgesehen wer den, die Leitung, über welche die Rückkopplung erfolgt, zu einem Ausgangsanschluß der integrierten Schaltung oder zu einer Stelle, an welcher sie zu Meßzwecken abgegriffen werden kann, zu verlängern. Dann können die Oszillationen durch einen außerhalb der integrierten Schaltung vorgesehenen Zäh ler gezählt werden.There is also no need to integrate a counter for counting the oscillations (the counter 4 ) into the integrated circuit. Instead, it can be provided to extend the line via which the feedback takes place to an output connection of the integrated circuit or to a point at which it can be tapped for measurement purposes. Then the oscillations can be counted by a counter provided outside the integrated circuit.

Es wird nun unter Bezugnahme auf Fig. 2 ein zweites Ausfüh rungsbeispiel der vorliegend betrachteten Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung beschrieben. Bei diesem weiteren Ausführungsbeispiel besteht der in den Test ein bezogene Teil der zu testenden elektrischen Schaltung aus einer oder mehreren (im betrachteten Beispiel aus drei) I/O- Zellen.A second exemplary embodiment of the device for testing an electrical circuit under consideration here will now be described with reference to FIG. 2. In this further exemplary embodiment, the part of the electrical circuit to be tested, which is related to the test, consists of one or more (in the example considered, three) I / O cells.

I/O-Zellen sind die Teile der elektrischen Schaltung, die Anschlüssen (Pins) vorgeschaltet sind, über welche Daten in der elektrischen Schaltung (in die diese enthaltende inte grierte Schaltung) eingegeben, und über welche Daten aus der elektrischen Schaltung (aus der integrierten Schaltung) aus gegeben werden können.I / O cells are the parts of the electrical circuit that Connections (pins) are upstream via which data in the electrical circuit (into the inte grierte Circuit) entered, and what data from the electrical circuit (from the integrated circuit) can be given.

Die I/O-Zellen sind in der Fig. 2 mit dem Bezugszeichen IO1, IO2, und IO3 bezeichnet; die Anschlüsse (Pins) der integrier ten Schaltung, über welche die I/O-Zellen Daten ausgeben und Daten erhalten, sind mit P1, P2, und P3 bezeichnet.The I / O cells are designated in FIG. 2 with the reference symbols IO1, IO2, and IO3; the connections (pins) of the integrated circuit, via which the I / O cells output data and receive data, are designated P1, P2, and P3.

Jede I/O-Zelle enthält einen Ausgangstreiber AT, über welchen aus der integrierten Schaltung auszugebende Daten aus dieser ausgegeben werden, und einen Eingangstreiber IT, welche dem zugeordneten I/O-Pin der integrierten Schaltung von außen zu geführte Daten entgegennimmt und nach einer geeigneten Ver stärkung weiterleitet.Each I / O cell contains an output driver AT, via which Data to be output from the integrated circuit are output, and an input driver IT, which the assigned I / O pin of the integrated circuit from the outside received data and after a suitable ver strengthening.

Die in der Fig. 2 gezeigte Anordnung enthält neben den I/O- Zellen noch Multiplexer MUX1, MUX2, und MUX3, einen Inverter I, und einen Zähler Z.In addition to the I / O cells, the arrangement shown in FIG. 2 also contains multiplexers MUX1, MUX2, and MUX3, an inverter I, and a counter Z.

Die Multiplexer MUX1, MUX2, und MUX3 sind jeweils den Ein gangsanschlüssen der Ausgangstreiber AT vorgeschaltet. The multiplexers MUX1, MUX2, and MUX3 are each the on upstream output connections of the output driver AT.

Die Multiplexer MUX1, MUX2, und MUX3 haben jeweils zwei Ein gangsanschlüsse I1 und I2. Am ersten Eingangsanschluß I1 ist die Leitung angeschlossen, über welche den Ausgangstreibern AT die im normalen Betrieb derselben zuzuführenden Daten zu geführt werden; am zweiten Eingangsanschluß I2 ist eine Leitung angeschlossen, über welche den Ausgangstreibern AT im Testbetrieb besondere Testdaten zugeführt werden. Die Multi plexer MUX1, MUX2, und MUX3 werden durch ein Steuersignal C so gesteuert, daß sie im normalen Betrieb der zu testenden Schaltung die ihren Eingangsanschlüssen I1 zugeführten Daten, und im Testbetrieb der zu testenden Schaltung die ihren Ein gangsanschlüssen I2 zugeführten Daten durchschalten.The multiplexers MUX1, MUX2, and MUX3 each have two ones port connections I1 and I2. At the first input terminal I1 the line connected through which the output drivers AT the data to be supplied during normal operation of the same be led; at the second input terminal I2 is one Line connected via which the output drivers AT in Test operation special test data are supplied. The multi plexers MUX1, MUX2, and MUX3 are controlled by a control signal C controlled so that they are tested during normal operation Circuit the data supplied to their input terminals I1, and in the test mode of the circuit to be tested their on Switch through the data supplied to the I2.

Die dem Eingangsanschluß I2 des zweiten Multiplexers MUX2 zugeführten besonderen Testdaten sind die Daten, die der Eingangstreiber IT der ersten I/O-Zelle IO1 ausgibt; die dem Eingangsanschluß I2 des dritten Multiplexers MUX3 zugeführten besonderen Testdaten sind die Daten, die der Eingangstreiber IT der zweiten I/O-Zelle IO2 ausgibt; die dem Eingangs anschluß I2 des ersten Multiplexers MUX1 zugeführten be sonderen Testdaten stammen vom Inverter I.The input terminal I2 of the second multiplexer MUX2 Special test data supplied are the data that the Output driver IT of the first I / O cell IO1 outputs; the the Input terminal I2 of the third multiplexer MUX3 supplied special test data is the data that the input driver IT of the second I / O cell IO2 outputs; the entrance connection I2 of the first multiplexer MUX1 supplied special test data comes from inverter I.

Der Inverter I ist mit dem Ausgangsanschluß des Eingangstrei bers IT der dritten I/O-Zelle IO3 verbunden. Er invertiert die aus diesem Ausgangsanschluß ausgegebenen Daten und führt die invertierten Daten dem Eingangsanschluß I2 des Multi plexers MUX1 zu.The inverter I is with the output terminal of the input strip connected via IT of the third I / O cell IO3. He is inverting the data output from this output connection and carries the inverted data to the input terminal I2 of the Multi plexers MUX1 too.

Darüber hinaus sind auch die Ausgangstreiber und die Ein gangstreiber der jeweiligen I/O-Zellen IO1 bis IO3, genauer gesagt die Ausgangsanschlüsse der Ausgangstreiber AT und die Eingangsanschlüsse der Eingangstreibers IT der jeweiligen I/O-Zellen über die jeweils zugeordneten I/O-Pins P1 bis P3 der integrierten Schaltung miteinander verbunden.In addition, there are also the output drivers and the on gear driver of the respective I / O cells IO1 to IO3, more precisely said the output connections of the output drivers AT and the Input connections of the input driver IT of the respective I / O cells via the assigned I / O pins P1 to P3 the integrated circuit interconnected.

Durch diesen Aufbau sind im Testbetrieb der Anordnung der Ausgangstreiber AT der ersten I/O-Zelle IO1, der Eingangstreiber IT der ersten I/O-Zelle IO1, der Ausgangstreiber AT der zweiten I/O-Zelle IO2, der Eingangstreiber IT der zweiten I/O-Zelle IO2, der Ausgangstreiber AT der dritten I/O-Zelle IO3, der Eingangstreiber IT der dritten I/O-Zelle IO3 und der Inverter I in Reihe zu einem geschlossenen Kreis verschaltet; dabei wird das Ausgangssignal der die in Reihe geschalteten I/O-Zellen IO1 bis IO3 umfassenden I/O-Zellen-Kette (das Aus gangssignal des Eingangstreiber IT der dritten I/O-Zelle IO3) über den Inverter I auf den Eingang der I/O-Zellen-Kette (den Eingangsanschluß des Ausgangstreibers AT der ersten I/O-Zelle IO1) zurückgeführt (rückgekoppelt).Due to this structure, the arrangement of the Output driver AT of the first I / O cell IO1, the input driver IT of the first I / O cell IO1, the output driver AT the second I / O cell IO2, the input driver IT the second I / O cell IO2, the output driver AT of the third I / O cell IO3, the input driver IT of the third I / O cell IO3 and Inverter I connected in series to form a closed circuit; the output signal of the connected in series I / O cells IO1 to IO3 comprising I / O cell chain (the Aus output signal of the input driver IT of the third I / O cell IO3) via the inverter I to the input of the I / O cell chain (the Input connection of the output driver AT of the first I / O cell IO1) fed back (fed back).

Dies hat zur Folge, daß sich in der Testbetriebsart die Pegel des der I/O-Zellen-Kette zugeführten Signals und des aus der I/O-Zellen-Kette ausgegebenen Signals ständig ändern. Die Pegel der genannten Signale oszillieren regelrecht, wobei die Oszillationsfrequenz ein Maß für die Arbeitsgeschwindigkeit der I/O-Zellen-Kette ist und ferner Rückschlüsse auf die Arbeitsgeschwindigkeit der restlichen Komponenten der zu testenden Schaltung erlaubt.As a result, the levels change in the test mode of the signal supplied to the I / O cell chain and that from the I / O cell chain continuously change the signal output. The Levels of the signals mentioned oscillate properly, the Oscillation frequency a measure of the working speed of the I / O cell chain and further conclusions about the Working speed of the remaining components of the testing circuit allowed.

Die Pegel-Wechsel des vom Ausgang auf den Eingang der I/O- Zellen-Kette rückgekoppelten Signals werden durch den Zähler Z gezählt. Der Inhalt des Zählers kann zur Auswertung über einen oder mehrere Ausgabeanschlüsse der integrierten Schal tung aus dieser ausgegeben werden.The level changes of the from the output to the input of the I / O Cell chain feedback signals are through the counter Z counted. The content of the counter can be used for evaluation one or more output ports of the integrated scarf tion can be output from this.

Bei einem Testen der Arbeitsgeschwindigkeit einer elektri schen Schaltung auf die vorstehend beschriebene Art und Weise, also unter Miteinbeziehung der zu testenden Schaltung selbst, ist es - anders als beim Testen der Schaltung mittels eines Ringoszillators - nicht erforderlich, eine große Anzahl von Invertern vorzusehen. Die Verarbeitung der der I/O- Zellen-Kette zugeführten Daten dauert wegen der Vielzahl der darin zu durchlaufenden Treiber von Haus aus relativ lange, so daß keine Notwendigkeit besteht, die Oszillationsfrequenz durch Vorsehen zusätzlicher Inverter zu reduzieren. When testing the working speed of an electri circuit in the manner described above and Way, including the circuit under test itself, it is - unlike when testing the circuit using a ring oscillator - not required a large number provided by inverters. The processing of the I / O Data supplied to the cell chain takes time because of the multitude of Drivers to be traversed in it are relatively long, so there is no need the oscillation frequency by providing additional inverters.

Wenn das rückzukoppelnde Signal von Haus aus schon einen die I/O-Zellen-Kette zum Oszillieren bringenden Pegel oder Pegel verlauf aufweist, kann sogar gänzlich auf das Vorsehen von Invertern verzichtet werden.If the signal to be fed back is already a I / O cell chain oscillating level or level course, can even be entirely based on the provision of Inverters can be dispensed with.

Es besteht ferner keine Notwendigkeit, einen Zähler zum Zählen der Oszillationen (den Zähler Z) in die integrierte Schaltung zu integrieren. Statt dessen kann vorgesehen wer den, die an den I/O-Pins P1 bis P3 der integrierten Schaltung zu beobachtenden Pegelwechsel durch einen außerhalb der inte grierten Schaltung vorgesehenen Zähler zu zählen.There is also no need to add a counter Count the oscillations (the counter Z) in the integrated Integrate circuit. Instead, who can be provided the one on the I / O pins P1 through P3 of the integrated circuit level change to be observed by an outside of the inte counted circuit provided counter.

Eine Vorrichtung, mit Hilfe welcher sich eine zu testende Schaltung wie vorstehend beschrieben testen läßt, kann denk bar einfach realisiert werden und ermöglicht dennoch ein schnelles und sicheres Testen der zu testenden Schaltung. Trotz des einfacheren Aufbaus der Testvorrichtung ist die Zuverlässigkeit des Tests sogar höher zu bewerten als die Zuverlässigkeit von Tests, die unter Verwendung herkömmlicher Testvorrichtungen durchgeführt werden. Die Einbeziehung von Teilen der zu testenden Schaltung in die zum Oszillieren ge brachte Anordnung liefert ein zuverlässigeres Ergebnis als wenn die zu testende Schaltung beim Test völlig unberücksich tigt bleibt. A device with which one can be tested Can test circuit as described above, think bar can be easily realized and still enables a quick and safe testing of the circuit under test. Despite the simpler structure of the test device, the To rate the reliability of the test even higher than that Reliability of tests using conventional Test devices are performed. The inclusion of Divide the circuit under test into the ge for oscillation brought arrangement provides a more reliable result than if the circuit under test is completely unrelated to the test remains.

Reference list

11

ALU
ALU

22

Inverter
Inverter

33rd

Multiplexer
multiplexer

44

Zähler
AT Ausgangstreiber
C Steuersignal für counter
AT output driver
C control signal for

33rd

und MUXx
I Inverter
Ix Eingangsanschlüsse von and MUXx
I inverter
Ix input connections from

33rd

INx Eingangsanschlüsse von INx input connections from

11

IOx I/O-Zellen
IT Eingangstreiber
MUXx Multiplexer
OUTx Ausgangsanschlüsse von IOx I / O cells
IT input driver
MUXx multiplexer
OUTx output connections from

11

Px I/O-Pins
Z Zähler
Px I / O pins
Z counter

Claims

1. An apparatus for testing an electrical circuit, characterized in that the device during testing of the electrical circuit to be tested brings at least a portion thereof by feedback of an output signal of the relevant device to an input connection of the relevant device for oscillation.

2. Device according to claim 1, characterized, that that brin to the input port of the to oscillate signal which is part of the circuit is a signal, by which the relevant circuit part is caused, the level of one of the output signals generated by it or one of the internally generated and / or used signals to change repeatedly.

3. Device according to claim 1 or 2, characterized, that the circuit part to be made to oscillate during of testing the electrical circuit is operated so that the circuit part in question by the performed return coupling is caused to increase the level of one of it by him generated output signals or one of the internally generated and / or change signals used repeatedly.

4. Apparatus according to claim 2 or 3, characterized, that at least one of the signals due to the by guided feedback repeatedly change their level, one Output connection of the electrical circuit to be tested or a place where it can be tapped for measurement purposes can be fed.

5. Device according to one of claims 2 to 4, characterized, that the number of level changes in the signal due to the feedback performed repeats its level än is counted by a counter.

6. The device according to claim 5, characterized, that the counter within an electrical to be tested Circuit containing integrated circuit is provided.

7. Device according to one of the preceding claims, characterized, that the feedback of the output signal to oscillate circuit part to be brought to its input via a or more inverters provided in the feedback branch or other elements that change the output signal occur.

8. Device according to one of the preceding claims, characterized, that the input terminal of the one to be oscillated Circuit part is connected upstream of a multiplexer, via wel chem the input port optionally that of the output port returned signal or another signal can be fed.

9. Device according to one of the preceding claims, characterized, that the circuit part to be brought to oscillate through an interconnection of those to be tested in normal operation electrical circuit not interconnected components of the electrical circuit to be tested is formed.

10. Device according to one of the preceding claims, characterized, that the circuit part to be brought to oscillate in nor paint operation of the circuit to be tested a not or not as in the test mode oscillating circuit part.