DE10019387A1

DE10019387A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Reifen

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Publication number: DE10019387A1
Application number: DE2000119387
Authority: DE
Inventors: Bernward Maehner; Stefan Dengler
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2000-04-19
Filing date: 2000-04-19
Publication date: 2002-03-14
Anticipated expiration: 2020-04-20
Also published as: DE10019387C2

Abstract

Zur Untersuchung von Fahrzeugreifen, insbesondere vor deren Runderneuerung, wird üblicherweise eine Druckprüfung durchgeführt. Der Reifen wird hierzu auf einen hohen Druck aufgepumpt und seine Seitenwände werden vom Puffer auf Schäden hin abgetastet. Diese Vorgehensweise birgt ein hohes Unfallrisiko für den Puffer, da der Reifen während der Prüfung bersten kann. DOLLAR A Die Aufgabe des neuen Verfahrens besteht darin, die Druckprüfung von Reifen vollautomatisch durchzuführen und jegliches Verletzungsrisiko für das Bedienpersonal auszuschließen. Hierzu werden die Seitenwände des Reifens mit einem optischen Streifenprojektionssystem vermessen. Die Form der Seitenwände des Reifens wird mit einem engen Meßpunktraster bei unterschiedlichen Reifendrücken erfaßt und daraus die Formänderung des Reifens bestimmt. DOLLAR A Mit der Erfindung ist somit ein Verfahren geschaffen, das es ermöglicht, die Druckprüfung von Reifen automatisch und gefahrlos durchzuführen. Das neue Verfahren arbeitet flächendeckend, so daß auch kleine Strukturdefekte nicht übersehen werden.

Description

Es ist bekannt, daß zur Prüfung von Reifen auf Strukturdefekte, wie zum Beispiel geris sene Gewebefäden oder verrostete Gürtellagen, Druckprüfmaschinen eingesetzt werden. Dabei wird der Reifen von niedrigem Druck auf hohen Druck aufgepumpt. Der Prüfer tastet mit den Händen Seitenwände und Lauffläche ab, während der Reifen sich dreht. Treten Beulen auf, welche Schädigungen anzeigen, so werden diese vom Prüfer erkannt und der Test abgebrochen. Diese Vorgehensweise birgt ein hohes Unfall- und Ver letzungsrisiko für den Bediener, da der Reifen während des Versuches unter hohem Druck bersten kann, falls der Prüfer die Schadstelle nicht rechtzeitig bemerkt und den Test abbricht.

Diese Gefahr kann durch ein automatisch ablaufendes Prüfverfahren vermieden werden. In der Patentschrift US 5313827 wird beispielsweise vorgeschlagen, die Prüfung derart durchzuführen, daß der Reifen einmal bei niedrigem Druck und ein zweites Mal bei ho hem Druck entlang einer auf der Seitenwand verlaufenden Basislinie vermessen wird. Zum Auffinden der Strukturdefekte werden dann die bei niedrigem und die bei hohem Druck aufgenommene Basislinien verglichen. Die Messung der Basislinie kann dabei durch einen mechanischen Taster oder ein berührungsloses Punktmeßsystem erfolgen, wobei die Messung entlang der Basislinie dadurch erfolgt, daß der Reifen während der Messung kontinuierlich gedreht wird.

Die kontinuierliche Messung entlang einer Basislinie besitzt den Vorteil, daß sie sehr schnell durchführbar ist. Der Nachteil ist allerdings, daß nur ein sehr kleiner Ausschnitt der Oberfläche geprüft wird. Hat ein Defekt einen größeren Abstand zur besagten Basis linie, so wird sich dieser nicht oder nur geringfügig auf die Basislinie auswirken und bleibt somit unerkannt. Ferner wird sich der Reifen durch die Drucksteigerung sowohl in Quer richtung als auch in radialer Richtung ausdehnen, so daß sich die Basislinie bei starrer Befestigung der Sensoren an der Prüfmaschine bezüglich der Reifenoberfläche verschiebt. Durch Unstetigkeiten auf der Reifenoberfläche, z. B. in Form von Fließnähten, Be schriftungsreliefs usw., kann es dann zu Störsignalen bei der Messung kommen, die dann fälschlicherweise als Strukturdefekte eingestuft werden. Die Ausdehnung des Reifens in radialer Richtung kann durch das System nicht gemessen werden.

Die Patentschrift EP 823623 stellt ein interferometrisches Verfahren zum Prüfen von Reifen vor. Das verwendete Shearing Modul wird dabei so justiert, daß die Scherrichtung radial zum Reifen hin ausgerichtet ist. Um die Seitenfläche des Reifens vollständig zu erfassen wird sektorweise gemessen. Da das vorgestellte Meßverfahren interferometrisch arbeitet, muß dabei für die Prüfung jedes einzelnen Sektors jeweils der Reifendruck ge ändert werden. Anschließend kann zum nächsten Sektor übergegangen werden. Die er forderliche Druckänderung ist aufgrund der überaus hohen Meßempfindlichkeit dieses Verfahrens jedoch sehr gering.

Das vorgeschlagene interferometrische Verfahren besitzt den Nachteil, daß die Empfind lichkeit des Shearing Moduls ausschließlich durch Scherrichtung und Scherwinkel und nicht durch die Oberflächenform bestimmt wird. So wird die Dehnung beim Shearing bezüglich des dem Scherwinkel entsprechenden Abstandes der Bildpunkte und nicht be züglich des wahren Abstandes der abgebildeten Oberflächenpunkte gemessen, so daß die Empfindlichkeit in Abhängigkeit vom Abstand des Objektes bezüglich des Shearing Mo duls und in Abhängigkeit von der Neigung der Oberfläche bezüglich der Beobachtungs richtung stark schwankt. Dies führt bei der konvex gekrümmten Außenfläche der Reifen seitenwand in Kombination mit dem divergenten Strahlengang des Shearing Moduls dazu, daß selbst bei völlig gleichmäßiger Ausdehnung des Reifens viele Interferenzlinien in den Interferogrammen des Shearing Moduls sichtbar sind, obwohl die tatsächliche Dehnung des Reifens doch nahezu konstant ist. Ein Auffinden der tatsächlichen Strukturdefekte wird hierdurch stark behindert.

Ausgehend von diesem Stand der Technik ist es Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung anzugeben, die die zuverlässige Ermittlung von Strukturmerkmalen und/oder -defekten in einem Reifen ermöglichen.

Das Verfahren soll darüberhinaus während des Prüfvorganges keiner Interaktion durch den Benutzer bedürfen, so daß ein Unfallrisiko völlig ausgeschlossen werden kann. Diese Aufgabe wird durch das in Patentanspruch 1 angegebene Verfahren und die in Pa tentanspruch 26 angegebene Vorrichtung gelöst.

Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den jeweiligen Unteransprüchen angegeben.

Erfindungsgemäß wird die Formänderung des Reifens aufgrund der Änderung des Rei fendruckes erfaßt, indem Lichtmuster auf die Seitenwand projiziert werden, die auf dem Bildsensor einer Kamera, z. B. einer Videokamera, abgebildet werden. Die auf dem Bild sensor abgebildeten projizierten Lichtmuster werden zur Weiterverarbeitung einem Bild verarbeitungssystem zugeführt, das daraus flächenhafte Tiefendaten erzeugt. Um die bei den gegenüberliegenden Seitenflächen des Reifens zu untersuchen, werden diese er findungsgemäß entweder parallel oder nacheinander geprüft. Die parallele Prüfung beider Seitenwände stellt sicher, daß schwere Defekte bei der Druckprüfung in jedem Fall so rechtzeitig erkannt werden, daß der Test abgebrochen werden kann, bevor der Reifen birst. Es ist aber ein höherer gerätetechnischer Aufwand erforderlich, da mindestens zwei Meßköpfe benötigt werden.

Die flächenhaften Tiefendaten werden jeweils bei unterschiedlichen Reifendrücken ge wonnen, so daß nach Abschluß der Meßdatenerfassung flächenhafte Tiefendaten vom Reifen bei unterschiedlichen Reifendrücken vorliegen. Erfindungsgemäß wird durch Ver gleich der gewonnenen flächenhaften Tiefendaten von unterschiedlichen Reifendrücken das durch Druckänderung hervorgerufene Formänderungsverhalten des Reifens bestimmt. Strukturdefekte können dann dadurch gefunden werden, indem das Formänderungsver halten auf lokale Unstetigkeiten hin untersucht wird. Strukturdefekte werden hierbei ins besondere durch lokal begrenzte, überdurchschnittlich starke Verformung aufscheinen. Da die Tiefendaten durch ein flächenhaft arbeitendes, optisches Meßverfahren erfaßt werden, kann jeweils eine Seitenfläche des Reifens gemäß einem Aspekt der Erfindung in nur einer Gesamtansicht vollständig erfaßt werden und man erhält dennoch ein relativ dichtes Raster an Oberflächenpunkten von der Seitenfläche. Diese Vorgehensweise be sitzt nicht nur den Vorteil, daß das gesamte Prüfsystem hierdurch sehr einfach und kostengünstig zu realisieren ist, sondern auch den Vorteil, daß die Zeit zur Meßdatener fassung minimal ist.

Um die Auflösung des Systems zu steigern werden gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung die Reifenseitenwände abschnittsweise vermessen. Diese Vorgehensweise kann vorteilhafterweise dazu genutzt werden, um zusätzlich zur jeweiligen Seitenwand des Reifens auch die angrenzende Reifenschulter und Teile des Laufflächenbereiches ab schnittsweise mitzumessen. Die Daten von der Reifenschulter sind insbesondere für die Berechnung von radialen Verschiebungen oder Dehnungen nützlich, da sie eine geometrisch markante Ecke aufweisen, deren Verschiebung durch erfolgte Druckänderungen relativ leicht zu verfolgen ist.

Die abschnittsweise Vermessung besitzt aber den Nachteil, daß sie ein vielfaches länger dauert als die Erfassung in einer Gesamtansicht. Ferner ist auch eine Einrichtung zur Ver schiebung des Meßsystems von einem zum nächsten Meßabschnitt erforderlich, die vor teilhafterweise so ausgeführt wird, daß der Reifen in definierten Schritten relativ zum Meßsystem um seine Rollachse gedreht wird.

Um flächenhafte Tiefendaten zu gewinnen, sind mehrere Meßverfahren geeignet. Gemäß unterschiedlichen Aspekten der Erfindung können relative oder absolute Tiefendaten er zeugt werden. Die relativ messenden Verfahren besitzen den Vorteil, daß sie nur wenige verschiedene Lichtmuster benötigen und deswegen schnell sind. Vorteilhafterweise wird als relativ messendes Verfahren entweder ein Phasenshiftverfahren oder ein Hüllkurven verfahren nach Patent DE 197 38 179 eingesetzt. Bei den relativ messenden Verfahren sind die Auswertemöglichkeiten weniger gut und umfangreich als bei den absolut messenden Verfahren. Es besteht zwar die Möglichkeit, die relativen Tiefendaten durch eine De modulation zu Verstetigen, diese Vorgehensweise ist aber immer rechenintensiv und un sicher.

Vorteilhafterweise wird bei relativen Tiefendaten die Bestimmung der Verformung durch Berechnung von Phasendifferenzbildern bestimmt.

Bei absolut messenden Verfahren dauert die Messung zwar deutlich länger, dafür sind die Ergebnisse optimal auswertbar. Als absolut messende Verfahren werden vorteilhafter weise die in Patent DE 197 38 179 offengelegten Verfahren zur Gewinnung absoluter Ob jektkoordinaten verwendet.

Bei den flächenhaft arbeitenden, absolut messenden Verfahren liegen bekanntermaßen die absoluten Koordinaten von Punkten der Objektoberfläche in einem engen Raster vor. Zur Berechnung der Formänderung wird vorteilhafterweise aus dem Punkteraster ein Flächenmodell der Reifenoberfläche generiert. Im einfachsten Fall werden hierzu Drei eckselemente gebildet, deren Eckpunkte benachbarte, gemessene Oberflächenpunkte sind. Das Flächenmodell besitzt den Vorteil, daß Flächennormale und -tangente bestimmt wer den können. Wird gemäß einem Aspekt der Erfindung die Formänderung durch den Ver gleich der Flächenmodelle von der Reifenoberfläche bei unterschiedlichen Reifendrücken bestimmt, so kann diese Formänderung in ihre Komponenten tangential und orthogonal zur Oberfläche zerlegt werden. Dies ist beispielsweise zur Berechnung der wahren Ma terialdehnungen erforderlich.

Gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung kann alternativ die Formänderung des Rei fens aufgrund der Druckänderung auch in ihre axiale und radiale Komponenten bezüglich der Rollachse des Reifens zerlegt werden. Dabei wird vorteilhafterweise die zur berech nenden Komponente jeweils senkrechte Dehnungsänderung rechnerisch eliminiert. Zur Berechnung der axialen Verschiebungen wird demnach die radiale Dehnungsänderung und zur Berechnung der radialen Verschiebungen die axiale Dehnungsänderung elimi niert. Diese Vorgehensweise ist insbesondere dann von Vorteil, wenn die Seitenwände und/oder die Lauffläche des Reifens ein ausgeprägtes Oberflächenrelief aufweisen. Dies ist auf der Seitenfläche wegen der üblichen Beschriftungsreliefs und auf der Lauffläche wegen des Profils praktisch immer der Fall. Durch die Elimination der radialen bzw. axialen Dehnung wird vermieden, daß die Verschiebung des Oberflächenreliefs senkrecht zur untersuchten Verschiebungsrichtung zu lokalen Unstetigkeiten im Verformungsver halten führt.

Da zur Bestimmung des Formänderungsverhaltens erfindungsgemäß flächenhafte Tiefen daten erfaßt werden und die Oberflächengestalt somit mit hoher Ortsauflösung vorliegt, wird gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung die Formgestalt der Reifenoberfläche auch als solche untersucht und nicht nur das Formänderungsverhalten durch Vergleich von zwei oder mehr Oberflächenkonturen bestimmt. Diese Vorgehensweise ermöglicht es, Formfehler insbesondere Beschädigungen der Reifenseitenwand in Form von Materialausbrüchen, Riefen usw. zu lokalisieren. Zur Ermittlung der Formfehler in der Oberflächengestalt kann beispielsweise die Istgeometrie mit einer Sollgeometrie ver glichen werden oder nach Stufen gesucht werden, deren Höhe einen bestimmten Schwellwert überschreitet. Vorteilhafterweise wird die gemessene Oberfläche des Reifens bei einem geringen Anfangsdruck zu Beginn des Prüflaufs auf Formfehler hin untersucht und beim Auffinden schwererer Schäden die eigentliche Druckprüfung nicht mehr durch geführt.

Für die grafische Darstellung und die Schnittlinienberechnung ist es wiederum vorteilhaft, ein generiertes Flächenmodell statt einer einfachen Punktwolke zu verwenden. Zum einen zeigt das Flächenmodell die Ergebnisse als geschlossene Fläche an, zum anderen läßt das Flächenmodell die exakte Berechnung von Schnittlinien zu. Die Ergebnisse können da durch für den Benutzer optimal aufbereitet werden.

Im Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand von Zeichnungen er läutert.

In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 ein System zur Untersuchung von Reifen in der Draufsicht

Fig. 2 das in Fig. 1 gezeigte System zur Untersuchung von Reifen in der Vorderansicht

Fig. 3 das aus absoluten Tiefendaten erzeugte Oberflächenmodell eines Reifens bei einem geringen Reifendruck

Fig. 4 das Oberflächenmodell des Reifens aus Fig. 3 bei einem hohen Reifendruck

Fig. 5 das aus den in Fig. 3 und Fig. 4 gezeigten Oberflächenmodellen entwickelte Er gebnisbild mit den oberflächennormalen Verschiebungen

Die Fig. 1 zeigt eine vereinfachte schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Un tersuchung von Reifen gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Auf einem Traggestell 2 befindet sich eine Wendevorrichtung 5 auf der der Reifen 1 über die Halte vorrichtung 6 gegenüber dem Traggestell 2 um die Hochachse 11 drehbar gelagert ist. Auf dem Traggestell 2 sind ferner über Stativstangen die Projektionseinrichtung 3 und die Kamera 4 befestigt. Die Abbildungsoptiken sowohl der Projektionseinrichtung 3 als auch der Kamera 4 sind so auf ihren durch das Traggestell 2 festgelegten Abstand zum Reifen 1 ausgelegt, daß eine Seitenwand vollständig in einer Gesamtansicht vermessen werden kann. Zur Projektion von unterschiedlichen Lichtmustern auf die Reifenoberfläche besitzt die Projektionseinrichtung 3 ein programmierbares optisches Gitter, das vom Bildverar beitungssystem 9 angesteuert wird. An das Bildverarbeitungssystem 9 ist ferner die Ka mera 4 angeschlossen, so daß die Kamerabilder dem Bildverarbeitungssystem 9 zur Wei terverarbeitung zugeführt werden können. Die zur Bestimmung der Formänderung des Reifens notwendige Druckänderung wird ebenfalls über das Bildverarbeitungssystem 9 gesteuert. Hierzu wird der Druckluftregler 8 vom Bildverarbeitungssystem angesteuert. Nach Beendigung der Messungen auf der ersten Seitenwand des Reifens 1, wird der Rei fen 1 mittels der Wendevorrichtung 5 um 180° um die Hochachse 11 gedreht und an schließend die zweite Seitenwand geprüft.

Die Fig. 2 zeigt das in Fig. 1 dargestellte Prüfsystem in der Vorderansicht. Die optischen Achsen der Projektionseinrichtung 3 und der Kamera 4 liegen in der Triangu lationsebene. Die Haltevorrichtung 6 ist vorzugsweise so ausgebildet, daß kein groß flächiger Bereich auf der Seitenfläche des Reifens 1 abgedeckt wird.

Die Fig. 3 zeigt das Oberflächenmodell einer Seitenfläche des Reifens 1 bei geringem Reifendruck, z. B. 0,5 bar. Das Oberflächenmodell wird vorteilhafterweise so erzeugt, daß aus den flächenhaft erfaßten, absoluten Tiefendaten zunächst alle erfaßten Punkte außer halb des interessierenden Bereiches entfernt und anschließend die Oberflächenpunkte ver netzt werden. Durch diese Flächengenerierung entsteht ein geschlossenes Oberflächen modell der Reifenseitenwand, die gerendert werden kann. Die gerenderte Darstellung vermittelt dem Betrachter eine besonders plastischen Eindruck von den gemessenen Tiefendaten.

Die Fig. 4 zeigt das Oberflächenmodell derselben Seitenfläche wie in Fig. 3 aber bei hohem Reifendruck, z. B. 3 bar. Bei diesem hohen Reifendruck wird auf der rechten Seite am äußeren Rand der Seitenfläche eine kleinere Ausbeulung sichtbar, die durch mehrere gerissene Fäden in diesem Bereich der Seitenwand verursacht wird.

Die Fig. 5 zeigt die flächenhafte Darstellung der oberflächennormalen Verschiebung der Seitenfläche des Reifens 1, die aus den Oberflächenmodellen aus Fig. 3 und Fig. 4 ent wickelt wurde. Hierzu wurden in einem engen Raster die Flächenvektoren des Ober flächenmodells aus Fig. 3 berechnet und daraus die oberflächennormalen Abstandsvekto ren zum Oberflächenmodell aus Fig. 4 berechnet. Der bereits in Fig. 4 zu sehende Struk turdefekt kommt bei dieser Darstellung noch deutlicher zur Geltung, weil in der flächenhaften Darstellung der Formänderung das Oberflächenrelief der Reifenseitenwand nicht mehr aufscheint.

Claims

1. Verfahren zur Untersuchung von Reifen, bei dem der Innendruck des Reifens verändert wird,
die durch die Änderung des Innendruckes hervorgerufene Formänderung des Reifens ermittelt wird
und aus der ermittelten Formänderung Strukturmerkmale und/oder -defekte des Reifens bestimmt werden, dadurch gekennzeichnet,
daß Lichtmuster auf die Seitenwände des Reifens projiziert werden,
die projizierten Lichtmuster auf Bildsensoren abgebildet werden,
die Abbildungen von den projizierten Lichtmustern einem Bildverarbeitungssystem zugeführt werden,
aus den Abbildungen von den projizierten Lichtmustern vom Bildverarbeitungssystem flächenhafte Tiefendaten von der Oberfläche des Reifens gebildet werden,
die Erzeugung von flächenhaften Tiefendaten bei unterschiedlichen Reifendrücken wiederholt wird
und durch Vergleich der flächenhaften Tiefendaten von unterschiedlichen Reifendrücken die Formänderung des Reifens flächenhaft bestimmt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden gegenüberliegenden Seitenflächen des Reifens parallel geprüft werden.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden gegenüberliegenden Seitenflächen des Reifens nacheinander geprüft werden.

4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Reifendruck stufenweise gesteigert wird und die Tiefendaten vom Reifen je weils nach Erreichen der Druckstufen bei konstantem Reifendruck erfaßt werden.

5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Streifenkontrast der auf dem Bildsensor der Kamera abgebildeten, projizierten Streifenmuster mittels des in Patentschrift DE 197 38 480 offengelegten Verfahrens verbessert wird.

6. Verfahren nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die flächenhaften Tiefendaten von jeweils einer Seitenwand des Reifens aus einer Gesamtansicht von dieser Seitenwand des Reifens gewonnen werden.

7. Verfahren nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die flächenhaften Tiefendaten von jeweils einer Seitenwand des Reifens durch abschnittsweises Vermessen dieser Seitenwand gewonnen werden.

8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zu den Abschnitten einer Seitenwand der angrenzende Abschnitt der Reifenschulter und Teile des Laufflächenbereiches des Reifens erfaßt werden.

9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß zur abschnittsweisen Erfassung des Seitenwandbereiches der Reifen gegenüber dem Meßsystem um seine Rollachse gedreht wird.

10. Verfahren nach Anspruch 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die erfaßten Tiefendaten von den einzelnen Abschnitten in ein gemeinsames Koordinatensystem transformiert werden.

11. Verfahren nach Anspruch 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß relative, flächenhafte Tiefendaten von der Reifenoberfläche erzeugt werden.

12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die relativen, flächenhaften Tiefendaten mittels eines Phasenshiftverfahrens erzeugt werden.

13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die relativen, flächenhaften Tiefendaten unter Benutzung eines Hüllkurvenverfahrens gemäß Patentschrift DE 197 38 179 erzeugt werden.

14. Verfahren nach Anspruch 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Bestimmung der Verformung des Reifens durch Berechnung von Phasendifferenzbildern erfolgt.

15. Verfahren nach Anspruch 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die flächenhaften Tiefendaten von der Reifenoberfläche mittels eines absolut messenden Streifenprojektionsverfahren erzeugt werden.

16. Verfahren nach Anspruch 1 S. dadurch gekennzeichnet, daß als absolut messendes Streifenprojektionsverfahren eines der in Patentschrift DE 197 38 179 offengelegten Verfahren verwendet wird.

17. Verfahren nach Anspruch 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bestimmung des Formänderungsverhaltens punktweise die Verschiebungen der Reifenoberfläche in axialer und/oder in radialer Richtung bezüglich der Rollachse des Reifens bestimmt werden.

18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß zur Berechnung der axialen Verschiebungen der Reifenoberfläche aufgrund einer Druckänderung die vorhandenen Dehnungsänderungen in radialer Richtung rechnerisch eliminiert werden.

19. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß zur Berechnung der radialen Verschiebungen der Reifenoberfläche aufgrund einer Druckänderung die vorhandenen Dehnungsänderungen in axialer Richtung rechnerisch eliminiert werden.

20. Verfahren nach Anspruch 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß aus den flächenhaft erfaßten, gemessenen Tiefendaten ein Flächenmodell von der Reifenoberfläche generiert wird.

21. Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß das Verformungsverhalten des Reifens durch Vergleich der generierten Flächenmodelle von unterschiedlichen Reifendrücken bestimmt wird.

22. Verfahren nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß das Verformungsverhalten des Reifens orthogonal und tangential zu den generierten Flächenmodellen bestimmt wird.

23. Verfahren nach Anspruch 1 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß die erfaßte Reifenoberfläche auf äußere Formfehler insbesondere Verletzungen hin untersucht wird.

24. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß die Reifenoberfläche vor Beginn der Drucksteigerung auf äußere Formfehler hin untersucht wird.

25. Verfahren nach Anspruch 20 bis 24, dadurch gekennzeichnet, daß die Berechnung von Querschnitten durch die Reifenoberfläche unter Zuhilfenahme der generierten Flächenmodelle erfolgt.

26. Vorrichtung zur Untersuchung von Reifen,
mit einer Einrichtung (6) zur Aufnahme des Reifens (1), einem Druckluftanschluß (7) und einer Einrichtung (8) zur Änderung des Reifendruckes, dadurch gekennzeichnet,
daß das Prüfsystem wenigstens ein Konturerfassungssystem aufweist, bestehend aus einer Einrichtung (3) zur Projektion von Lichtmustern auf eine Seitenwand des Reifens (1) und einer Kamera (4) zur Beobachtung der projizierten Lichtmuster auf der Seitenwand des Reifens (1),
daß das Prüfsystem ein Bildverarbeitungssystem (9) aufweist, das die mit der Kamera (4) aufgenommenen Bilder weiterverarbeitet,
Mittel zur Gewinnung von flächenhaften Tiefendaten von den Seitenwänden des Reifens,
Mittel zur Gewinnung von flächenhaften Tiefendaten bei unterschiedlichen Reifendrücken,
Mittel zur Ermittlung der Formänderung des Reifens bei Änderung des Reifendruckes,
Mittel zur Ermittlung von Strukturmerkmalen und/oder -defekten des Reifens.

27. Vorrichtung nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Projektionsgitter der Einrichtung (3) zur Projektion von Lichtmustern aus einem programmierbaren optischen Gitter besteht.

28. Vorrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß das programmierbare optische Gitter aus einem LCD Panel besteht.

29. Vorrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß das programmierbare optische Gitter aus einem Micro Mirror Device (MMD) besteht.

30. Vorrichtung nach Anspruch 27 bis 29, dadurch gekennzeichnet, daß das programmierbare optische Gitter durch das Bildverarbeitungssystem (9) angesteuert wird.

31. Vorrichtung nach Anspruch 26 bis 30, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfsystem eine Wendevorrichtung (5) beinhaltet, die den Reifen gegenüber dem Meßsystem um eine Hochachse dreht.

32. Vorrichtung nach Anspruch 26 bis 31, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfsystem zwei oder mehr Konturerfassungssysteme beinhaltet, mit denen die gegenüberliegenden Seitenwände des Reifens (1) erfaßt werden, ohne den Reifen zu wenden.

33. Vorrichtung nach Anspruch 32, dadurch gekennzeichnet, daß das Bildverarbeitungssystem (9) die von den Konturerfassungssystemen gelieferten Bilddaten parallel erfaßt und weiterverarbeitet.

34. Vorrichtung nach Anspruch 26 bis 33, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfsystem eine Einrichtung zum Drehen des Reifens (1) um seine Rollachse (10) gegenüber Projektionseinrichtung (3) und Kamera (4) aufweist.

35. Vorrichtung nach Anspruch 26 bis 34, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (8) zur Einstellung des Reifendruckes eine Stellvorrichtung auf weist die vom Bildverarbeitungssystem (9) angesteuert wird.