DE10002351A1 - Multiple plug connector for pre-ageing testing has housing section, circuit board with plug strip section and several connector-like electrodes for insertion into connector strip section - Google Patents

Multiple plug connector for pre-ageing testing has housing section, circuit board with plug strip section and several connector-like electrodes for insertion into connector strip section

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DE10002351A1 DE2000102351 DE10002351A DE10002351A1 DE 10002351 A1 DE10002351 A1 DE 10002351A1 DE 2000102351 DE2000102351 DE 2000102351 DE 10002351 A DE10002351 A DE 10002351A DE 10002351 A1 DE10002351 A1 DE 10002351A1
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Yoshiaki Tomita
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    • H01R12/70Coupling devices
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Abstract

The connector (20) has a housing section (21), a circuit board with a plug strip section and several connector-like electrodes (23a,23b,24a,24b) accommodated by the housing section to protrude from the base of the housing section and extend along the insertion direction (22) of the plug strip section. End sections of the electrodes are brought into contact with several electrodes on the connector strip section. An Independent claim is also included for a circuit board for pre-ageing testing.

Description

Die Erfindung betrifft einen Mehrfachanschlußstecker bzw. -verbinder, der für eine elektri­ sche Verbindung zwischen mehreren Signalleitungen und einer hiermit verbindbaren Platine für eine Voralterungsprüfung bzw. einen Voralterungstest genutzt wird.The invention relates to a multiple connector plug or connector that for an electri cal connection between several signal lines and a circuit board that can be connected to them is used for a pre-aging test or a pre-aging test.

In einem abschließenden Schritt eines Herstellungsprozesses eines Halbleiters wird üblicher­ weise ein Voralterungstest bzw. eine Voralterungsprüfung mit Hilfe eines Voralterungstestsy­ stems ausgeführt, wodurch defekte Produkte ausgesondert werden. Bei dem Voralterungstest werden mehrere Halbleitergeräte bzw. -einrichtungen, die jeweils als ein Testuntergerät die­ nen, auf einer Platine für den Voralterungstest montiert. Danach werden eine vorgegebene elektrische Überspannung und eine vorgegebene Temperaturüberlastung auf diese Halbleiter­ geräte für eine vorgegebene Zeitdauer angewendet, um Bedingungen zu beschleunigen, die defekte Produkte erzeugen, wodurch potentiell defekte Produkte ausgesondert werden.In a final step of a semiconductor manufacturing process, it becomes more common a pre-aging test or a pre-aging test using a pre-aging test stems executed, whereby defective products are separated. During the pre-aging test are several semiconductor devices or devices, each as a test sub-device mounted on a board for the pre-aging test. After that, a given one electrical overvoltage and a predetermined temperature overload on these semiconductors  devices for a predetermined period of time to accelerate conditions that generate defective products, whereby potentially defective products are rejected.

In Anbetracht der Tatsache, daß mehrere Signale auf mehrere Halbleitergeräte angewendet werden müssen, die jeweils als ein Testuntergerät auf der Platine für den Voralterungstest montiert sind, wird die Platine für den Voralterungstest mit einem Mehranschlußstecker (Leiterplattensteckleisten-Stecker bzw. -Verbinder) verbunden, wobei die Platine für den Voralterungstest mit Hilfe des Mehrfachanschlußverbinders bzw. -steckers mit einem Voral­ terungstestsystemkörper elektrisch verbunden ist. Die Platine für den Voralterungstest weist einen Platinen- bzw. Leiterplattensteckleistenabschnitt auf, mit welchem der Mehrfachan­ schlußverbinder verbunden ist. Mehrere Sitzzahnprofilelektroden aus Metall sind auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt in einer Spalte in Breiten- bzw. Querrichtung des Leiter­ plattensteckleistenabschnitts ausgebildet.Given that multiple signals are applied to multiple semiconductor devices need to be, each as a test sub-device on the board for the pre-aging test are mounted, the board for the pre-aging test is equipped with a multi-connector (PCB connector plug or connector) connected, the board for the Pre-aging test with the help of the multiple connection connector or plug with a preload The test system body is electrically connected. The board for the pre-aging test points a board or printed circuit board connector section with which the multiple final connector is connected. Several metal tooth profile electrodes are on the PCB header section in a column in the width or cross direction of the conductor plate header section formed.

Der Mehrfachanschlußverbinder bzw. -stecker weist einen Gehäuseabschnitt auf, der mit dem Leiterplattensteckleistenabschnitt der Platine für den Voralterungstest im Eingriff bzw. in Verbindung steht. Mehrere Kontaktelektroden sind in dem Gehäuseabschnitt entlang der Querrichtung des Leiterplattensteckleistenverbinders in einem vorgegebenen regelmäßigen Abstand vorgesehen, so daß sie mit mehreren Sitzzahnprofilelektroden aus Metall in Verbin­ dung gebracht werden, welche auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt ausgebildet sind.The multi-connector or connector has a housing section that with the PCB connector section of the board for the pre-aging test in engagement or in Connection is established. Several contact electrodes are in the housing section along the Transverse direction of the PCB connector in a predetermined regular Distance is provided so that they are connected to a plurality of metal seat tooth electrodes be brought which are formed on the printed circuit board connector section.

Bei herkömmlichen Mehrfachanschlußverbindern bzw. -steckern und einer hiermit verbindba­ ren Platine für einen Voralterungstest besteht jedoch der folgende Nachteil. Jede der auf der Mehrfachanschlußverbinderseite vorgesehenen Kontaktelektroden weist bei einer normalen Rasterabstandsspezifikation der Anzahl von Polen (der Anzahl von Elektroden) etwa 10 Po­ le/Inch (eine Seite; 1 Inch = 2,54 cm) auf. Auch bei einem Typ mit hoher Dichte und halber Rasterabstandsspezifikation der Anzahl der Pole weist jede der auf der Mehrfachanschlußver­ binderseite vorgesehenen Kontaktelektroden lediglich 20 Pole/Inch (eine Seite; 1 Inch = 2,54 cm) auf. Wenn die Anzahl der Pole erhöht wird, ist es notwendig, eine Technik zur Bearbei­ tung der Kontaktelektroden bzw. der Sitzzahnprofilelektroden aus Metall zu entwickeln, um diese zu miniaturisieren. Deshalb ist die Anzahl der Pole auf einer Seite gegenwärtig auch für eine halbe Rasterabstandsspezifikation auf 20 begrenzt. Darüber hinaus ist es schwierig, nicht weniger als 20 Kontaktelektroden zu montieren.With conventional multiple connection connectors and plugs and a herewith connectable Ren board for a pre-aging test, however, has the following disadvantage. Each of the on the Multi-connector connector side provided contact electrodes has a normal Grid spacing specification of the number of poles (the number of electrodes) about 10 Po le / inch (one side; 1 inch = 2.54 cm). Even with a type with high density and half Grid spacing specification of the number of poles each has on the multi-port ver only 20 poles / inch (one side; 1 inch = 2.54 cm) on. If the number of poles is increased, it is necessary to use a technique device to develop the contact electrodes or the seat tooth profile electrodes made of metal  to miniaturize them. Therefore the number of poles on one side is currently also for half a grid spacing specification is limited to 20. Furthermore, it is not difficult to assemble less than 20 contact electrodes.

Aufgabe der Erfindung ist es, einen Mehrfachanschlußstecker bzw. -verbinder, bei dem die Anzahl der Pole vergrößert werden kann, ohne daß Techniken zur Bearbeitung der Kontakte­ lektroden bzw. der Sitzzahnprofilelektroden aus Metall notwendig sind, um diese zu miniatu­ risieren, und eine mit dem Mehrfachanschlußstecker verbindbare Platine für den Voralte­ rungstest zu schaffen.The object of the invention is to provide a multiple connector or connector, in which the Number of poles can be increased without using contact machining techniques electrodes or the seat tooth profile electrodes made of metal are necessary to miniatu Rize, and a board for the Voralte connectable with the multiple connector creation test.

Zur Lösung der Aufgabe weisen der Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralterungstest erfindungsgemäß die folgende Konstruktion auf.To solve the problem, the multiple connector plug and one that can be connected to it Circuit board for the pre-aging test according to the invention the following construction.

Der Mehrfachanschlußstecker weist ein Gehäuse (beispielsweise ein Gehäuseabschnitt) auf und ist mit einer Leiterplatte bzw. Platine (beispielsweise eine Platine bzw. eine Leiterplatte für den Voralterungstest), die einen Leiterplattensteckleistenabschnitt aufweist, mit Hilfe des Eingriffs des Leiterplattensteckleistenabschnitts in dem Gehäuseabschnitt bzw. einer Vebin­ dung zwischen dem Leiterplattensteckleistenabschnitt und dem Gehäuseabschnitt verbindbar. Der Mehrfachanschlußstecker umfaßt weiterhin mehrere anschlußähnliche Elektroden, die von dem Gehäuseabschnitt aufgenommen sind. Der Mehrfachanschlußstecker ist dadurch gekennzeichnet, daß die mehreren anschlußähnlichen Elektroden von einem Boden des Ge­ häuseabschnitts so hervorstehen bzw. hervortreten, daß sie sich entlang einer Eingriffs- bzw. Verbindungsrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts erstrecken, und angeordnet sind, um in einer Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplat­ tensteckleistenabschnitts zueinander benachbart zu sein bzw. gegenseitig aneinander zu gren­ zen, wobei Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden mit mehreren Elektro­ den in Kontakt gebracht werden, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt ausgebildet sind. Des weiteren sind die mehreren anschlußähnlichen Elektroden, beispielsweise Endab­ schnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden in Kontakt mit den Elektroden, die auf beiden Seiten des Leiterplattensteckleistenabschnitts ausgebildet sind, um den Leiterplatten­ steckleistenabschnitt dazwischen sicher bzw. eng zu halten. Darüber hinaus sind die mehreren anschlußähnlichen Elektroden so bearbeitet, daß sie L-förmige Endabschnitte aufweisen.The multiple connector plug has a housing (for example a housing section) and is with a circuit board or circuit board (for example a circuit board or a circuit board for the pre-aging test), which has a PCB connector section, using the Engagement of the PCB connector section in the housing section or a Vebin Extension between the PCB connector section and the housing section connectable. The multiple connector plug further includes a plurality of connector-like electrodes are accommodated by the housing section. This is the multiple connector characterized in that the plurality of terminal-like electrodes from a bottom of the Ge protrude or protrude from the housing section so that they are along an engagement or Extend connection direction of the PCB connector section, and are arranged, to in a direction perpendicular to a surface of the circuit board forming an electrode to be adjacent to one another or to adjoin one another zen, end portions of the plurality of terminal-like electrodes having a plurality of electrical which are brought into contact, which are formed on the printed circuit board header section are. Furthermore, the plurality of connection-like electrodes, for example Endab cuts the multiple lead-like electrodes in contact with the electrodes that are on Both sides of the PCB header section are formed around the PCB  to hold the connector section securely or tightly in between. In addition, the several terminal-like electrodes processed so that they have L-shaped end portions.

Erfindungsgemäß sind zwischen den Elektroden auf der Steckerseite und solchen auf der Leiterplattensteckleistenabschnittsseite Kontaktpunkte entlang der Eingriffsrichtung des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts ausgebildet. Dementsprechend kann die Anzahl der Pole er­ höht werden, ohne daß die Anzahl der Elektroden in Breiten- bzw. Querrichtung des Mehr­ fachanschlußsteckers erhöht wird.According to the invention are between the electrodes on the plug side and those on the PCB header section side contact points along the direction of engagement of the Lei terplattenocket section formed. Accordingly, the number of poles he can be increased without the number of electrodes in the width or cross direction of the more compartment connector is increased.

Weiterhin weist eine Platine für einen Voralterungstest erfindungsgemäß einen Platinen- bzw. Leiterplattensteckleistenabschnitt auf, der in einem Gehäuse (beispielsweise ein Gehäuseab­ schnitt) eines Mehrfachanschlußsteckers im Eingriff steht, wobei auf dem Leiterplattensteck­ leistenabschnitt entlang einer Eingriffsrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts mehre­ re Elektroden ausgebildet sind.Furthermore, a circuit board for a pre-aging test according to the invention has a circuit board or PCB connector section, which in a housing (for example, a housing ab section) of a multiple connector is engaged, being on the PCB connector strip section along an engagement direction of the printed circuit board connector section re electrodes are formed.

Dementsprechend kann die Anzahl der Pole erhöht werden, ohne daß die Anzahl der Elektro­ den in Querrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts erhöht wird.Accordingly, the number of poles can be increased without the number of electrons which is increased in the transverse direction of the PCB connector section.

Die Erfindung wird im Folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf eine Zeichnung näher erläutert. Hierbei zeigen:The invention is explained below using an exemplary embodiment with reference to a drawing explained in more detail. Here show:

Fig. 1 eine Platine für den Voralterungstest nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in Draufsicht; Figure 1 is a circuit board for the pre-aging test according to a preferred embodiment of the invention in plan view.

Fig. 2 eine Querschnittsdarstellung eines Mehrfachanschlußsteckers nach der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung; und Figure 2 is a cross-sectional view of a multi-connector according to the preferred embodiment of the invention. and

Fig. 3 eine Darstellung zur Erläuterung der Verbindung zwischen dem Mehrfachanschluß­ stecker und der Platine für den Voralterungstest. Fig. 3 is an illustration for explaining the connection between the multiple connector and the board for the pre-aging test.

Unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 3 wird im Folgenden ein Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralterungstest nach einer bevorzugten Ausfüh­ rungsform der Erfindung beschrieben.With reference to FIGS. 1 to 3, a multiple connector plug and a circuit board connectable herewith for the pre-aging test according to a preferred embodiment of the invention are described below.

Fig. 1 zeigt eine Platine für den Voralterungstest 10 nach einer bevorzugten Ausführungs­ form der Erfindung. Die Platine 10 weist einen Leiterplattensteckleistenabschnitt 11 auf, der, wie später beschrieben wird, mit einem Mehrfachanschlußstecker 20 verbunden wird. Mehre­ re Metallzahnprofilelektroden 12 sind auf der oberen Oberfläche des Leiterplattenstecklei­ stenabschnitts 11 ausgebildet und entlang der Breiten- bzw. Querrichtung des Leiterplatten­ steckleistenabschnitts 11 in zwei Spalten angeordnet. Die Metallzahnprofilelektroden sind auch auf der unteren Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 ausgebildet. Der Mehrfachanschlußstecker 20 ist an einem Rahmen 30 auf der Seite eines Voralterungstestsy­ stems befestigt. In dem Fall, daß ein Zahnprofilabstandsraster der Zähne 1/10 Inch (1 Inch = 2,54 cm) beträgt, beträgt eine Breite W zwischen einer Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte und einer Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte 1,5 mm. Dement­ sprechend beträgt ein Abstand zwischen der Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte und der Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte 1,04 mm. Andererseits ist ein Verdrahtungs- bzw. Drahtmuster 12c, welches mit der Metallzahnprofilelektrode 12a ver­ bunden ist, in den Metallzahnprofilelektroden 12b, 12b der zweiten Spalte ausgebildet, weil eine Musterbreite des Drahtmusters 12c, welches mit den Metallzahnprofilelektroden 12a und 12b verbunden ist, wenigstens 0,18 mm beträgt. Fig. 1 shows a circuit board for the pre-aging test 10 according to a preferred embodiment of the invention. The circuit board 10 has a printed circuit board connector section 11 which, as will be described later, is connected to a multiple connector plug 20 . More re metal tooth profile electrodes 12 are formed on the upper surface of the PCB plug-in section 11 and arranged along the width or cross direction of the circuit board section 11 in two columns. The metal tooth profile electrodes are also formed on the lower surface of the circuit board header portion 11 . The multiple connector plug 20 is attached to a frame 30 on the side of a Voralterungstestsy stems. In the event that a tooth profile spacing grid of the teeth is 1/10 inch (1 inch = 2.54 cm), a width W between a metal tooth profile electrode 12 a in the first column and a metal tooth profile electrode 12 b in the second column is 1.5 mm . Accordingly, a distance between the metal tooth profile electrode 12 a in the first column and the metal tooth profile electrode 12 b in the second column is 1.04 mm. On the other hand, a wiring or wire pattern 12 c, which is connected to the metal tooth profile electrode 12 a, is formed in the metal tooth profile electrodes 12 b, 12 b of the second column, because a pattern width of the wire pattern 12 c, which with the metal tooth profile electrodes 12 a and 12 b is at least 0.18 mm.

Fig. 2 ist eine Querschnittsdarstellung der Konstruktion des Mehrfachanschlußsteckers 20 gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. Fig. 2 is a cross-sectional representation of the construction of the multi-connector plug 20 according to the preferred embodiment of the invention.

Gemäß derselben Figur, nämlich Fig. 2 ist an dem Mehrfachanschlußstecker 20 ein Gehäu­ seabschnitt 21 vorgesehen, welcher in einer Eingriffs- bzw. Verbindungsrichtung 22 des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts 11 offen ist. Anschlußähnliche Kontaktelektroden 23a, 23b sind an der inneren Oberseite des Gehäuseabschnitts 21 in zwei Schichten so vorgesehen, daß sie in einer Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplat­ tensteckleistenabschnitts 11 aneinander grenzen, während die anschlußähnlichen Kontakte­ lektroden 24a, 24b auf der inneren Unterseite des Gehäuseabschnitts 21 in zwei Schichten vorgesehen sind.According to the same figure, namely FIG. 2, a housing sea section 21 is provided on the multiple connector plug 20 , which is open in an engagement or connection direction 22 of the circuit board section 11 Lei. Terminal-like contact electrodes 23 a, 23 b are provided on the inner top of the housing section 21 in two layers so that they adjoin each other in a direction perpendicular to an electrode-forming surface of the printed circuit board section 11 , while the terminal-like contacts electrodes 24 a, 24 b are provided in two layers on the inner underside of the housing section 21 .

Die mehreren Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b sind ausgebildet, um von dem Boden des Gehäuseabschnitts 21 so abzustehen bzw. hervorzustehen, daß sie sich in der Eingriffsrich­ tung 22 des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 erstrecken, wobei deren Enden so bearbeitet sind, daß sie L-förmig ausgebildet sind, so daß ein Kontakt mit den Metallzahnprofilelektro­ den 12 hergestellt wird, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt 11 ausgebildet sind.The plurality of contact electrodes 23 a, 23 b, 24 a, 24 b are designed to protrude or protrude from the bottom of the housing section 21 so that they extend in the direction of engagement 22 of the PCB connector section 11 , the ends of which are machined, that they are L-shaped, so that a contact with the metal tooth profile electro 12 is made, which are formed on the PCB connector section 11 .

Die mehreren Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b sind so ausgebildet, daß der Leiterplat­ tensteckleistenabschnitt 11, der in dem Gehäuseabschnitt 21 in Eingriff steht, dazwischen sicher bzw. eng gehalten wird. Im Detail bedeutet dies, daß die Kontaktelektroden 23a, 24a in Kontakt mit der Metallzahnprofilelektrode 12a stehen, die auf dem Leiterplattensteckleisten­ abschnitt 11 auf der Vorder- und Rückfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 in der ersten Spalte ausgebildet ist, um sie sicher bzw. eng zu halten, während die Kontaktelektroden 23b, 24b mit der Metallzahnprofilelektrode 12b in Kontakt stehen, die auf dem Leiterplatten­ steckleistenabschnitt 11 auf der Vorder- und Rückfläche in der zweiten Spalte ausgebildet ist, um diese sicher bzw. eng zu halten.The plurality of contact electrodes 23 a, 23 b, 24 a, 24 b are formed such that the printed circuit board plug-in section 11 , which is engaged in the housing section 21 , is held securely or closely therebetween. In detail, this means that the contact electrodes 23 a, 24 a are in contact with the metal tooth profile electrode 12 a, which is formed on the printed circuit board section 11 on the front and rear surfaces of the printed circuit board section 11 in the first column, in order to keep them secure or tight to hold while the contact electrodes 23 b, 24 b are in contact with the metal toothed electrode 12 b, which is formed on the printed circuit board connector section 11 on the front and rear surfaces in the second column in order to hold them securely or closely.

Obwohl in Fig. 2 nur vier Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b gezeigt sind, sind mehrere Kontaktelektroden entlang der Querrichtung (Richtung senkrecht zur Oberfläche des Papiers in Fig. 2) in dem Gehäuseabschnitt 21 des Mehrfachanschlußsteckers 20 in vorgegebenen regelmäßigen Abständen den Metallzahnprofilelektroden 12 entsprechend auf der Platine für den Voralterungstest 10 vorgesehen.Although in Fig. 2 only four contact electrodes 23 a, b 23, 24 a, 24 are shown b, a plurality of contact electrodes are provided along the transverse direction (direction perpendicular to the surface of the paper in Fig. 2) in the housing portion 21 of the multi-connector plug 20 in predetermined regular Clearances according to the metal tooth profile electrodes 12 are provided on the circuit board for the pre-aging test 10 .

Fig. 3 zeigt eine Art der Verbindung zwischen den Mehrfachanschlußsteckern 20a, 20b und einer Platine für den Voralterungstest 10a. Die in Fig. 3 gezeigte Platine 10a weist dieselbe Konstruktion wie die Leiterplattensteckleistenkonstruktion gemäß Fig. 1 auf, während die Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b dieselbe Konstruktion wie die interne Konstruktion des Steckers nach Fig. 2 aufweisen. Fig. 3 shows a type of connection between the multiple connector plugs 20 a, 20 b and a circuit board for the pre-aging test 10 a. The circuit board 10 a shown in FIG. 3 has the same construction as the printed circuit board connector construction according to FIG. 1, while the multiple connector plugs 20 a, 20 b have the same construction as the internal construction of the connector according to FIG. 2.

Gemäß Fig. 3 stehen die Leiterplattensteckleistenabschnitte 11a, 11b der Platine für den Voralterungstest 10a in Gehäusen der Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b nacheinander im Eingriff. Wenn die Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b und die Platine 10a verbunden sind, steht beispielsweise die Kontaktelektrode 23a auf einer Seite des Mehrfachanschlußsteckers 20a in Kontakt mit der Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte, die auf der unteren Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11a in der ersten Spalte ausgebildet ist, wohingegen die Kontaktelektrode 24b mit der Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte in Verbindung steht.Referring to FIG. 3 11 are the card edge connectors portions a, 11 b of the board for the burn-in test 10 a in housings of the multiple connector 20 a, 20 b sequentially engaged. If the multiple connector 20 a, 20 b and the circuit board 10 a are connected, for example, the contact electrode 23 a is on one side of the multiple connector 20 a in contact with the metal toothed electrode 12 a in the first column, which on the lower surface of the printed circuit board section 11 a is formed in the first column, whereas the contact electrode 24 b is connected to the metal tooth profile electrode 12 b in the second column.

Mit einer solchen, der beschriebenen Art und Weise entsprechenden Konstruktion werden die Sitzzahnprofilelektroden aus Metall nacheinander in zwei Spalten auf beiden Seiten des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts der Platine für den Voralterungstest gebildet, und die Kon­ taktelektroden werden auf der inneren Oberseite und der inneren Unterseite in dem Gehäuse­ abschnitt des Mehrfachanschlußsteckers in zwei Schichte gebildet. Die Anzahl der Pole ist verdoppelt, beispielsweise ist es möglich, eine Polanzahl von etwa 40/Inch (1 Inch = 2,54 cm) zu realisieren. Entsprechend ist es möglich, Signale, welche im Vergleich zu herkömmlichen Platinen für den Voralterungstest verdoppelt sind, der Platine für den Voralterungstest zuzu­ führen, ohne daß der Anordnungsrasterabstand der Elektroden verändert wird.With such a construction corresponding to the described manner, the Seated tooth profile electrodes made of metal one after the other in two columns on both sides of the Lei terplatte socket section of the board for the pre-aging test formed, and the Kon Clock electrodes are on the inside top and bottom inside in the case section of the multiple connector plug formed in two layers. The number of poles is doubled, for example it is possible to have a number of poles of about 40 / inch (1 inch = 2.54 cm) to realize. Accordingly, it is possible to use signals that are compared to conventional ones Boards for the pre-aging test are doubled, the board for the pre-aging test lead without changing the grid spacing of the electrodes.

Obwohl der Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralte­ rungstest gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung beschrieben wurde, ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsform beschränkt und umfaßt Modifikationen oder Ver­ änderungen des Designs, welche nicht vom Kern der Erfindung abweichen. Beispielsweise können bei der beschriebenen bevorzugten Ausführungsform die Kontaktelektroden auf der Steckerseite, welche in zwei Schichten ausgebildet sind, und die Sitzzahnprofilelektroden aus Metall auf der Seite des Leiterplattensteckleistenabschnitts, die in zwei Spalten ausgebildet sind, in nicht weniger als drei Schichten und drei Spalten ausgebildet sein. Darüber hinaus können die Kontaktelektroden, obwohl sie den Leiterplattensteckleistenabschnitt auf beiden Seite eng bzw. sicher halten, mit dem Leiterplattensteckleistenabschnitt auf einer Seite in Kontakt stehen.Although the multiple connector and a connectable circuit board for the preliminary tion test according to the preferred embodiment of the invention is The invention is not limited to this embodiment and includes modifications or ver Design changes that do not deviate from the essence of the invention. For example can in the described preferred embodiment, the contact electrodes on the Plug side, which are formed in two layers, and the seat tooth profile electrodes Metal on the side of the PCB header section that is formed in two columns are formed in no less than three layers and three columns. Furthermore  the contact electrodes, although they have the PCB header section on both Hold side tightly or securely with the PCB header section on one side in Are in contact.

Weil die mehreren anschlußähnlichen Kontaktelektroden in dem Gehäuseabschnitt so vorge­ sehen sind, daß sie in einer Richtung im wesentlichen senkrecht zur die Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts gegenseitig aneinander grenzen, ist es bei dem erfindungsgemäßen Mehrfachanschlußstecker möglich, die Montagedichte der Kontakt­ elektroden in Breiten- bzw. Querrichtung und die Anzahl der Pole zu erhöhen. Dementspre­ chend ist es möglich, die Anzahl von Signalen zu erhöhen, ohne daß die Größe der Platine für den Voralterungstest verändert wird, wenn die Platine für den Voralterungstest mit dem Voralterungstestsystem mit Hilfe des Mehrfachanschlußsteckers verbunden ist, so daß ein Voralterungstestsystem, welches viele Kontaktelektroden aufweist, in einem kleinen Raum gefertigt werden kann.Because the plurality of terminal-like contact electrodes are featured in the housing section are seen to be in a direction substantially perpendicular to the one forming the electrode Border the surface of the PCB connector section to each other, it is at the multiple connector according to the invention possible, the mounting density of the contact electrodes in the width or cross direction and the number of poles to increase. Dementia Accordingly, it is possible to increase the number of signals without reducing the size of the board for the pre-aging test is changed if the board for the pre-aging test with the Pre-aging test system is connected using the multiple connector plug, so that a Pre-aging test system, which has many contact electrodes, in a small room can be manufactured.

Weil mehrere Elektroden auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt entlang der Eingriffs­ richtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts in dem Gehäuseabschnitt des Mehrfachan­ schlußsteckers ausgebildet sind, ist es bei der erfindungsgemäßen Platine für den Voralte­ rungstest weiterhin möglich, die Montagedichte der Elektroden in Querrichtung des Leiter­ plattensteckleistenabschnitts zu erhöhen, ohne daß die Notwendigkeit für die Technik zur Bearbeitung der Elektroden besteht, um diese zu miniaturisieren, so daß die Anzahl der Pole erhöht werden kann.Because there are multiple electrodes on the PCB header section along the engagement Direction of the PCB header section in the housing section of the multiple are formed in the circuit board according to the invention for the upstream tion test is still possible, the mounting density of the electrodes in the transverse direction of the conductor panel header section increase without the need for the technology to Machining the electrodes is to miniaturize them so that the number of poles can be increased.

Gemäß der Erfindung ist es deshalb möglich, die Anzahl der Pole pro Raum zu erhöhen, so daß die Erfindung einem kleinen Raum, welcher von dem Design eines Voralterungssystems benötigt wird, oder dem Anstieg der Anzahl von Signalen gewachsen ist.According to the invention, it is therefore possible to increase the number of poles per room that the invention is a small space, which of the design of a pre-aging system is needed, or has grown with the increase in the number of signals.

Claims (4)

1. Mehrfachanschlußstecker (20) mit einem Gehäuseabschnitt (21), wobei der Mehr­ fachanschlußstecker (20) mit einer einen Leiterplattensteckleistenabschnitt (11) aufwei­ senden Platine mit Hilfe des Eingriffs des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) in den Gehäuseabschnitt (21) verbindbar ist, wobei:
  • - der Mehrfachanschlußstecker (20) mehrere anschlußähnliche Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) aufweist, die von dem Gehäuseabschnitt (21) aufgenommen sind;
  • - die mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) von einem Boden des Gehäuseabschnitts (21) hervorstehen, so daß sich die mehreren anschlußähnli­ chen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) entlang einer Eingriffsrichtung (22) des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts (11) erstrecken und in eine Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) benachbart zueinander angeordnet sind; und
  • - Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) in Kontakt mit mehreren Elektroden (12a, 12b) gebracht werden können, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt (11) ausgebildet sind.
1.Multiple connector plug ( 20 ) with a housing section ( 21 ), the multiple connector plug ( 20 ) having a circuit board connector section ( 11 ) having a circuit board can be connected by means of the engagement of the circuit board connector section ( 11 ) in the housing section ( 21 ), wherein:
  • - The multiple connector ( 20 ) has a plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b, 24 a, 24 b) which are received by the housing section ( 21 );
  • - The plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b, 24 a, 24 b) protrude from a bottom of the housing section ( 21 ), so that the plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b, 24 a, 24 b) along an engagement direction ( 22 ) of the Lei terplattensteckleiste section ( 11 ) and in a direction perpendicular to an electrode-forming surface of the printed circuit board section ( 11 ) are arranged adjacent to each other; and
  • - End sections of the plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b, 24 a, 24 b) can be brought into contact with a plurality of electrodes ( 12 a, 12 b) which are formed on the printed circuit board connector section ( 11 ).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) in Kontakt mit den Elektroden (12a, 12b) gebracht wer­ den können, die auf beiden Seiten des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) ausgebil­ det sind, um den Leiterabschnittssteckleistenabschnitt (11) dazwischen sicher zu halten.2. Device according to claim 1, wherein end portions of the plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b, 24 a, 24 b) are brought into contact with the electrodes ( 12 a, 12 b) who can on both sides of the printed circuit board connector section ( 11 ) are trained to hold the conductor section header section ( 11 ) securely therebetween. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die mehreren anschlußähnlichen Elektro­ den (23a, 23b) L-förmige Endabschnitte aufweisen.3. Apparatus according to claim 1 or 2, wherein the plurality of connection-like electrodes ( 23 a, 23 b) have L-shaped end sections. 4. Platine für einen Voralterungstest mit einem Leiterplattensteckleistenabschnitt (11), welcher in einem Gehäuseabschnitt (21) eines Mehrfachanschlußsteckers (20) in Ver­ bindung steht, wobei mehrere Elektroden (12a, 12b) auf dem Leiterplattensteckleitungs­ abschnitt (11) entlang einer Verbindungsrichtung (22) des Leiterplattensteckleistenab­ schnitts (11) ausgebildet sind.4. Board for a pre-aging test with a printed circuit board connector section ( 11 ), which is in a housing section ( 21 ) of a multiple connector plug ( 20 ) in connection, with several electrodes ( 12 a, 12 b) on the printed circuit board section ( 11 ) along a connecting direction ( 22 ) of the PCB connector section ( 11 ) are formed.
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