DD277122A1 - Verfahren zur analyse von polarisationseigenschaften optischer baugruppen - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse von Polarisationseigenschaften optischer Baugruppen, mit dem gleichzeitig geometrische Abmessungen von mechanischen Spannungen unterschieden und die Auswirkungen auf die Polarisationseigenschaften analysiert werden koennen. Erfindungsgemaess werden relativ zur optischen Baugruppe gleichzeitig mit einem Polarisator ein Analysator mit einer von der ersten Winkelgeschwindigkeit des Polarisators abweichenden zweiten Winkelgeschwindigkeit gedreht und durch einen Vergleich des Verlaufes der Intensitaet des die Anordnung und die optische Baugruppe durchdringenden Lichtes in Abhaengigkeit von Drehwinkel mit einem idealen Verlauf der Intensitaet die Polarisationseigenschaften und mechanische Spannungen einschliesslich ihrer Auswirkungen gleichzeitig ermittelt. Fig. 2

Description

Hierzu 2 Seiten Zeichnungen

Anwendungsgebiet der Erfindung

Die Erfindung betrifft ein Vorfahren zur Analyse von Faktoren, die die Polarisationseigenschaften optischer Baugruppen beeinflussen. Neben der Materialart sind es insbesondere die Geometrie der optischen Baugruppe und mechanische Spannungen im optischen Material, die die Polarisationseigenschaften und damit die Qualität optischer Baugruppen bestimmen. So können optische Baugruppen beispielsweise eine polarisationsabhängige Dämpfung aufweisen, ein Drehen der Polarisationsebene bewirken oder die Art der Polarisation des geführten Lichtes verändern.

Das Verhalten optischer Baugruppen, wie beispielsweise Abzweiger, Koppler, Dämpfungsglieder und Lichtwellenleiter im polarisierten Licht gewinnt insbesondere im Zusammenhang mit dem optischen Überlagerungsempfang an Bedeutung. Bei diesem Übertragungsverfahren ist das optische Empfangssignal polarisationsrichtig mit dem Licht eines starken Lokaloszillaiors zu mische n, um den gewünschten Effekt - Verstärkung bei gleichzeitiger Frequenzumsetzung - zu erreichen. Die Empfangsbaugruppe enthält dazu notwendigerweise einen optischen Abzweig, der in Form eines Schmelzkopplers ausgeführt sein kann.

Bedingt durch die Herstellungstechnologie können bei Schmelzkopplern und anderen im allgemeinen isotropen optischen Baugruppen insbesondere durch Spannungsanisotropie und Formanisotropie nach eilige Polarisationseigenschaften auftreten. Mechanische Spannungen im optischen Material beeinflussen darüber hinaus die Lebensdauer, die Betriebssicherheit und die Qualität optischer Baugruppen. Die von mechanischen Spannungen im optischen Material ausgehende Spannungsdoppelbrechuny führt ihrer Charakteristik entsprechend zum Drehen der Polarisationsebene oder partiell zirkulär odor elliptisch polarisiertem Licht. Während das Drohen dor Polarisationsebene kompensierbar ist, sind Veränderungen der Art dor Polarisation temperatur- beziehungsweise zeitabhängig und doshalb nur mit unvertretbar hohem Aufwand für kurze Zeit konstant.

Die übertragungstochnischon Eigenschafton und die mechanische Qualität optischer Baugruppen vorzugsweise in einem Verfahrensschritt seloktiv zu ermitteln ist deshalb für dio Praxis der optischen Nachrichtentechnik von besonderer Bedeutung. Dioso Qualitätsparametor optischer Baugruppen können mit geringem Aufwand in kurzer Zeit ermittelt und unmittelbar Rückschlüsse auf zu boeinflussondo Parameter dor Horstellungstechnologie abgeleitet werden. Das Ergebnis der Qualitätsprüfung ist für dio Verwendbarkeit der optischen Baugruppe zur Übertragung von polarisiertem Licht von ausschlaggebender Bedeutung.

Charakteristik des bekannten Standes der Technik

Bekannt istßin Meßverfahren zur Bestimmung optischer oder elektromagnetischer Eigenschaften von Meßobjekten, vgl. DE-OS 3117687, G 01N 21 /21. Dabei wird die Polarisationsrichtung der einfallenden Strahlung oder das Meßobjekt um eine in Strahlrichtung laufende Drehachse gedreht und die Strahlungsleistung in Abhängigkeit vom Drehwinkel gemessen und eine Ausgleichskurve geeigneten mathematischen Typs mit einer vorgegebenen Anzahl von Koeffizienten angesetzt und zur Bestimmung der Koeffizienten an die Meßwerte angepaßt. Durch Messungen derTransmission in Abhängigkeit vom Drehwinkel bei unterschiedlichen Wellenzahlen können die Formanisotropie des Meßobjektes und die Eigenpolarisation als Form der Materialanisotropie in Abhängigkeit von der Wellenzahl beziehungsweise Wellenlänge des verwendeten Lichtes ermittelt werden. Erkenntnisse über Änderungen der Richtung oder der Art der Polarisation sowie über mechanische Spannungen in der optischen Baugruppe sind nicht analysierbar.

Zur integralen optischen Prüfung schädlicher mechanischer Spannungen im Bodenteil von Flaschen und Hohlgläsern sind ein Verfahren und eine Vorrichtung bekannt, vgl. DE-OS 37 05143, G 01N 21 /17. Dem Verfahren entsprechend werden die Gläser mit Lichtimpulsen von linear polarisiertem Licht durchstrahlt und das Licht über ein Polarisationsfilter einem Photodetektor zugeführt. Die Durchlaßrichtung des Polarisationsfilters ist dabei senkrecht zur Polarisationsrichtung eingestellt, so daß bei einem spannungsfreien Glas kein Licht zum Photodetektor gelangt. Bei einem mechanische Spannungen aufweisenden Glas wird dagegen das auf das Polarisationsfilter fallende Licht elliptisch polarisiert sein und vom Photodetektor festgestellt. Der Ausgang des Photodetektors ist mit einer Datenverarbeitungsanlage verbundon, in der ein auf die Modulationsfrequenz der Lichtintensität abgestimmtes Bandfilter angeordnet ist, dessen Ausgangssignal nach erfolgter Integration unter Anwendung einer Spannungsmeßmethode festgestellt wird und das Beurteilen der Qualität der geprüften Gläser ermöglicht. Das für optische Baugruppen der Nachrichtentechnik bedeutungsvolle Analysieren der Faktoren, die die Polarisationseigenschaften beeinflussen, kann nur hinsichtlich des Vorhandenseins oder Nicht-Vorhandenseins mechanischer Spannungen durchgeführt werden.

Bereits 1974 wurde eine Vorrichtung zur Bestimmung des Anisotropiezustandes durch Messen der Orientierungsdoppelbrechung gefunden, vgl. DE-PS 2449475, G01 N 21/23.

Sie besteht aus einem Polarimeter, das eine Lichtquelle, einen Polarisator, einen Analysator und einen Photoempfänger aufweist und bei dem zwischen Polarisator und Analysator außer der Probe noch ein Keilkompensator angeordnet ist, der den zum Bestimmen der Doppelbrechung notwendigen Gangunterschied liefert. Die Vorrichtung ist insbesondere dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung vorgesehen ist, die aufgrund der Signale des Photodetektors kontinuierlich den Ort maximaler Helligkeit beziehungsweise Dunkelheit des Interferenzfarbbildes bestimmt, der den Gangunterschied repräsentiert. Zur Anpassung an den Meßbereich des Kompensationskeiles wird darüber hinaus eine anisotrope Platte mit definiertem Gangunterschied in den Strahlengang eingefügt. Der mit der Vorrichtung bestimmbare Anisotropiograd setzt jedoch voraus, daß die funktionalen Zusammenhänge zwischen Doppelbrechung und Anisotropie oder zwischen Doppelbrechung und Orientierungsgrad beziehungsweise Orientierungsgrad und Anisotropie physikalischer Eigenschaften bekannt sind. Eine über die allgemeine Bestimmung der Anisotropie hinausgehende Analyse ist somit nicht möjlich.

Zur Messung physikalischer Größen auf der Grundlage von Doppelbrechungs-Phaseiid'fferenze ι ist eine Meßvorrichtung bekannt, bei der Laserlicht mit zwei Komponenten einer ersten und einer zweiten ^Freque^fiz vnv\.':det wird, vgl. DE-OS 33 26555, G 01 N 21/21. Die Komponenten sind in Richtungen senkrecht zueinander polarisiert, mit einem Analysator wird eine Komponente des optischen Ausgangs herausgefiltert und mit einer Auswerteeinrichtung die Phasendifferenz im doppelbrechenden Element gemäß einer zu messenden Größe festgestellt. Dadurch wirken sich insbesondere Abweichungen der Umsetzungseigenüchaften der fotoelektrischen Umsetzer und Übertragungsverluste des Laserlichtes nicht nachteilig auf da j Meßergebnis aus, welches speziell die Veränderungen der Polarisationsrichtung durch Doppelbrechung in optischen Baugruppen repräsentiert. Zur Analyse von Faktoren, die insgesamt das Verhalten optischer Baugruppen im polarisierten Licht charakterisieren, ist dieses Meßverfahren ebenfalls nicht geeignet, da weder die Auswirkungen der Formanisotropie noch Veränderungen der Art der Polarisation erfaßt werden können.

Zum Messen der von optischer Doppelbrechung ausgehenden Veränderung der Art der Polarisation sind ein Verfahren und eine Vorrichtung bekannt, bei denen eine von der Doppelbrechung herrührende elliptisch-polarisierte Welle mit einer Viertelwellenlängen-Platte in eine gedrehte, linear-polarisierte Welle überführt wird, vgl. DE-OS 3407162, G01 N 21/23. Während bei der üblichen Meßmethode die Gangdifferenz durch eine gleichgroße, entgegengesetzt gerichtete wieder rückgängig gemacht wird, wird bei dieser Meßmethode mit einer Viertelwellenlängen-Platte das elliptisch polarisierte Licht zunächst in linear polarisiertes Licht, jedoch mit entsprechend gedrehter Polarisationsrichtung überführt und die Drehung der Polarisationsebene gemessen.

Die für Kerreffektmessungen benötigten Teile - Hochspannungsgerät mit Spannungsmesser, Kerrzelle, Temperiervorrichtung, Viertelwellenlängenplatte und eventuell Faraday-Kompensator und Faraday-Modulator mit Servomechanismus und Registriereinheit - können zwar als Zusatzgerät zum Einsatz in vorhandene Präzisionspolarimeter ausgeführt werden, stellen jedoch insgesamt einen hohen Aufwand dar. Darüber hinaus können Messungen des Drehens der Polarisationsebene von linear polarisiertem Licht mit einem Polarimeter und Kerreffektmessungen mit Zusatzgeräten zum Polarimeter nur unabhängig voneinander beziehungsweise nacheinander nach unterschiedlichen Verfahren und mit sich unterscheidenden Anordnungen durchgeführt werden.

Bekannt sind weiterhin ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen der Anisotropie von lichtdurchlässigen Flächengobilden als Proben, vgl. DE-OS 3644705, G 01N 21/21. Die Oberfläche einer Probe wird dabei mit polarisiertem Licht sonkrocht zur Oberfläche bestrahlt und das durch die Probe durchgegangene Licht auf eine Analysiereinrichtung gelenkt. Die Polarisierungsebone dor Analysiereinrichtung ist auf jene des abgebenden polarisierten Lichtes abgestimmt oder bleibt in einer vorbestimmten Winkelboziohung hierzu, währenddem eine relative Drehung zwischen der Probe und der Analysiereinrichtung mit dioser Polarisierungsebene orfolgt. Das analysierte Licht wird zu einer Lichtsensoreinheit geleitet und die optische Anisotropie der Probe nach Maßgabe des Zusammenhangs zwischen den Daten der elektrischen Signale und des Winkels der rolativen Drehung bostimmt. Auch bei stationärer Probe wird durch synchronen Antrieb von Polarisator und Analysator zwischen ihnon stets eine konstante Winkelboziehung realisiert. Die Anisotropie ist durch ^A'" 'ntansitätsmessung in Abhängigkeit vom

Drehwinkel in ihrer Gesamtheit meßbar. Ob es sich dabei um Form- oder Spannungsanisotropie handelt und ob die Spannungsanisotropie ein Drehen der Polarisationsebene oder eine Veränderung der Polarisationsart bewirkt ist nicht analysierbar.

Zur Untersuchung des Reflexions- und/oder Transmissionsverhaltens eines Prüflings sind auch ein ellipsometrisches Verfahren und ein Eilipsometer bekannt, vgl. DE-OS 3708148, G01 N 21/17. Verwendet wird dabei eine Einrichtung, die linear polarisierte Strahlung mit veränderbarer, meßbarer Polarisierungsebene erzeugt und eine Analyseeinrichtung, die die auftreffende Strahlung in zwei senkrecht zueinander linear polarisierte, räumlich getrennte Strahlen teilt, wobei die Schwingungsebenen dieser Teilstrahlen nicht senkrecht zur Einfallsebene liegen, und die einzelnen Strahlen auf je wenigstens einen photoelektrischen Detektor auftreffen.

Dadurch können systematische und statistische Fehler, die durch zeitliche Schwankungen der Konstanz der Intensität der Lichtqueiie und einen Offset des Azimuts der Vorzugsrichtungen polarisationsoptischer Elemente bedingt sind, kompensiert werden. Obwohl mit der Ellipsometrie ein Phasenunterschied für Strahlung parallel und senkrecht zur Einfalbebene über Intensitätsmessungen der Teilstrahlen bestimmt wird, ist es ohne eine zusätzliche Messung mit einem Kempen sator nicht möglich zu analysieren, ob ausschließlich die Rotationsdispersion beziehungsweise ein Drelien der Polarisationsebene oder auch Veränderungen in partiell zirkuläre oder elliptische Polarisation als Urjache der Phasenunterschiede anzusehen sind. Dies ist dadurch bedingt, daß die Größen Psi und Delta im allgemeinen nicht direkt meßbar sind, vgl. Potsdamer Forschungen, Wissenschaftliche Schriftenreihe, Reihe B, 1988, Heft 53, S.75. Auch der Einfluß der Formanisotropie, die insbesondere im Zusammenhang mit einem polarisationsabhängigen Teilverhältnis bei Schmelzkopplern von Bedeutung ist, findet keine Berücksichtigung.

Ziel der Erfindung

Es ist das Ziel dor Erfindung, mechanische, optische und übertragungstechnische Qualitätsparameter von Baugruppen zur optischen Nachrichtenübertragung in kurzer Zeit mit geringem Aufwand zu analysieren.

Darlegung des Wesens der Erfindung

Aufgabe der Erfindung ist es, übertragungstechnische Parameter und mechanische Spannungen einschließlich ihrer Auswirkungen auf die Übertragung von polarisiertem Licht von optischen Baugruppen zur Nachrichtenübertragung nur unter Verwendung eines einheitlichen Verfahrens in einer Anordnung zu analysieren, so daß gleichzeitig ein polarisationsabhängiges Teilverhältnis, eine Rotationsdispersion und Veränderungen der Polarisationsart feststellbar sind. Erfinriungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß in einer bekannten Polarimeteranordnung relativ zur zu analysierenden Baugruppe gleichzeitig mit dem Polarisator der Analysator mit einer von einer ersten Winkelgeschwindigkeit des Pclarisators abweichenden zweiten Winkelgeschwindigkeit gedreht wird. Eine mit der zwischen dem Polarisator und dem Anaiysator angeordneten optischen Baugruppe hinter dem Analysator gemessene Intensität des Lichtes in Abhängigkeit vom Drehwinkel während mindestens eines Umlaufes des mit der geringeren der Winkelgeschwindigkeiten drehenden Polarisationsprismas wird dann mit dem Verlauf der Intensität des Lichtes bei einer vergleichsweise idealen optischen Baugruppe verglichen. Durch einen Vergleich der die Maximalwerte der Intensitäten verbindenden Hüllkurven wird ein durch die Geometrie der optischen Baugruppe bedingtes polarisationsabhängiges Teilverhältnis ermittelt und durch einen Vergleich einer Phasenverschiebung zwischen den Verlaufen der Intensitäten sowie durch einen Vergleich der die Minimalwerte der Intensitäten verbindenden Hüllkurven können mechanische Spannungen in der optischen Baugruppe ermittelt und die γοη ihnen ausgehende Art der Beeinflussung der Polarisation bestimmt werden. Dadurch können sowohl ein Drehen der Polarisationsebene als auch eine Veränderung der Art der Polarisation durch Umwandlung von linear polarisiertem Licht in teilweise zirkulär oder elliptisch polarisiertes Licht analysiert werden.

Der Verlauf der Intensität des Lichtes in Abhängigkeit vom Drehwinkel für eine vergleichsweise ideale Baugruppe kann entweder berechnet oder durch Einfügen eines isotropen Dämpfungsgliedes anstelle der optischen Baugruppe gemessen werden. Durch eine Modulation des zur Analyse verwendeten Lichtes, die durch relative Rotation des Analysators zum rotierenden Polarisator erzeugt wird, gelingt es in vorteilhafter Weise mit einem einheitlichen Verfahren in einer Anordnung übertragungstechnische Parameter, die von der Geometrie und von mechanischen Spannungen der optischen Baugruppe ausgehen, zu unterscheiden und darüber hinaus den Einfluß mechanischer Spannungen auf Veränderungen der Polarisation zu analysieren. Es gelingt dabei, in einem Meßvorgang gleichzeitig ein Drehen der Polarisationsebene und eine Veränderung der Art der Polarisation zu analysieren. Dies ist insbesondere für die Beurteilung der Qualität optischer Baugruppen und die zu erwartende Stabilität der Übertragung von polarisiertem Licht von ausschlaggebender Bedeutung. Die Anwendung des Verfahrens führt sowohl zu einer Verringerung der Meßzeit als auch zu einem verringern..· Aufwand an Meßmitteln.

Ausführungebeispiel

Die Erfindung wird anhand eines AusfüdrLngsbeispiels in Zeichnungen näher erläutert. Eszoigon:

Fig. 1: oino Prinzipskizzo einer Anordnung zur Analyse von Polarisationseigenschaften und Fig.2: Takt-undSignaldiagramme.

Entsprechend Fig. 1 besteht eine Anordnung zur Analyse von Polarisationseigenschaften oines Schmelzkopplers, der hier die zu analysierende optische Baugruppe 1 darstellt, aus einer Lumineszenzdiode 2, Polarisationsprismen in R)<rn eines Polarisators 3 und eines Analysators 4, einer Photodiode 5, einer Steuer- und Auswerteeinheit 6 und Linsen 7 zum Ein- und Auskoppeln des von der Lumineszenzdiode 2 erzeugten Lichts. Der Polarisator 3 und der Analysator 4 sind bezüglich ihrer Polarisationsebene drehbar gelagert und werden jew jils mittels eines Zahnradgetriebes 8 von einem Motor 9 angatrieben. Je Umdrehung liefert jeweils eine Lichtschranke 10 einen Impuls T1, T2 an die Steuer und Auswertee nheit 6, die zugleich die Lumineszenzdiode 2 mit Strom versorgt. Die Lumineszenzdiode 2 emittiert unpolarisiertes Licht, das mittels Linsen 7 in den Schmelzkoppler eingekoppelt wird. Der Polarisator 3 ist ein Glan-Thompson-Polarisationsprisma, welches das Licht vollständig linear polarisiert. Aus dem Schmelzkoppler austretendes Licht wird von der Linse 7 durch den Analysator 4 auf der Photodiode 5 abgebildet. Zur Durchführung des Verfahrens rotieren der Polarisator 3 und der Analysator 4 gegenläufig mit unterschiedlichen Winkelgeschwindigkeiten w 1, w2. Die Winkelgeschwindigkeit w2 des Analysators 4 ist dabei ein ganzzahliges Vielfaches der Winkelgeschwindigkeit w 1 des Polarisators 3. Bei einem Verhältnis der Drehzahlen von 9:1 werden dann entsprechend Fig. 2a und Fig. 2b während einer Zeit t von den Lichtschranken 10 jeweils Impulse T1 und T2 im Abstand einer Umdrehung der Polarisationsprismen der Steuer- und Auswerteeinheit 6 zugeführt.

Demzufolge stehen während einer Umdrehung des mit der qeringern Winkelgeschwindigkeit w 1 drehende Polarisators 3 die Positionen von Polarisator 3 und Analysator 4 21 mal deranc zueinander, daß theoretisch beziehungsweise ohne optische Baugruppe 1 oder mit einer idealen optischen Baugruppe 1 kein Licht von der Lumineszenzdiode 2 bis zur Photodiode S gelangt. Der Crund dafür ist, daß mit dem Polarisator 3 linear polarisiertes Licht vom Analysator 4 nicht durchgelassen wird, wenn ihre Polariautionsebenen im Winkel von 90 Grad zueinander gedreht sind

Die Anordnung weist insgesamt eine Transmission T entsprechend nachfolgender Gleichung auf.

T=sin(w1+w2)t (1)

Deshalb wird mit der Photodiode 5 eine Intensität I des Lichtes gemessen, deren Verlauf während einer Zeit t Fig. 2c entspricht.

Die Hüllkurven der Maxima und Minima der Intensität I sind dann Geraden. Weist die optische Baugruppe 1 beziehungsweise der Schmelzkoppler Störstellen oder mechanische Spannungen auf, sind Abweichungen vom in Fig. 2 c dargestellten idealen Ve. lauf der Intensität I festzustellen.

Ist beispielsweise das Teilverhältnis des Schmelzkopplers polarisationsabhängig,zeigt sich ein Fig.2d entsprechender intensitä'smodulierter Verlauf der Intensität I. Ein polarisationsabhängiges Teilverhältnis des Schmelzkopplers, welches von der Geomeirie des Schmelzkoppiers beziehungsweise der optischen Baugruppe 1 abhängig ist, ist folglich durch Abweichungen der Hüllkurve der Maximalwerte der Intensitäten I von einer Geraden feststellbar.

Liegt von mechanischen Spannungen ausgehende SpannungsiJoppelbrechung vor, die zu Rotationsdispersion beziehungsweise zum Drehen der Polarisationsebene führt, sind die Phasenlagen der Nullstellen der Intensitäten I periodisch verschoben. Der Verlauf der Intensität I für diesen Fall ist in Fig. 2 e dargestellt.

Handelt es sich um einen Schmelzkoppler, der sowohl ein polarisationsabhängiges Teilverhältnis als auch zum Drehen der Polarisationsebene führende Spannungsdoppelbrechung aufweist, ist der Verlauf der Intensität I Fig. 2 f entsprechend phasen- und intensitätsmoduliert.

Tritt durch die Spannungsdoppelbrechung zusätzlich eine Veränderung der Art der Polarisation auf, sind sowohl die Phasenlagen der Nullstellen der Intensität I verschoben als auch von einer Intensität! gleich Null abweichende Nullstellen feststellbar, wie in Fig. 2g dargestellt. Eine die Minimalwerte der Intensitäten I verbindende Hüllkurve weist dann einen von einer Geraden abweichenden Verlauf auf.

Wird bei einem Schmelzkoppler ein Verlauf der Intensität I ermittelt, der phasenmoduliert ist und dessen Hüllkurven der Maximalwerte und Minimalwerte der Intensitäten I einen von einer Geraden abweichenden Verlauf aufweisen, wie er in Fig.2h dargestellt ist, ist bezüglich dieses Schmelzkopplers mit einem Verfahren ermittelt, daß er ein polarisationsabhängiges Teilverhältnis und Spannungsdoppelbrechung aufweist, die sowohl zum Drehen der Polarisationsebene als auch zu Veränderungen von linear polarisiertem Licht in teilweise zirkulär oder elliptisch polarisiertes Licht führt. Die Polarisationseigenschaften optischer Baugruppen einschließlich der Auswirkungen mechanischer Spannungen auf die Polarisationseigenschaften können somit durch Anwendung des Verfahrens in einer Anordnung gleichzeitig ermittelt werden.

Die mechanischen, optischen und übertragungstechnischen Qualitätsparameter von Baugruppen zu ° optischen Nachrichtenübertragung, die sowohl für Rückschlüsse auf die Herstellungstechnologie als auch für die Verwendbarkeit der optischen Baugruppe von Bedeutung sind, werden somit in kurzer Zeit mit geringem Aufwand feststellbar.

Zur Auswertung des Verlaufes der Intensität I während einer Zeit t weist die Steuer- und Auswerteeinheit 6 Sample- and HoId-Schaltungen auf, die in den Minimalwerten und Maximalwerten der Intensität I getriggert werden. Aus den Hüllkurven und Phasenlagen resultierende Meßergebnisse stellen dann analysierte Polarisationseigenschaften des Schmelzkopplers beziehungsweise der optischen Baugruppe 1 dar.

Claims (3)

1. Verfahren zur Analyse von Polarisationseigenschaften optischer Baugruppen, mit dem gleichzeitig geometrische Abmessungen von mechanischen Spannungen unterschieden und die Auswirkungen auf die Polarisationseigenschaften analysiert werden können, bei dem in die optische Baugruppe linear polarisiertes Licht eingekoppelt wird, dessen Polarisationsebene durch einen mit einer ersten Winkelgeschwindigkeit um die optische Achse umlaufenden Polarisator gedreht und bei dem die Intensität des Lichtes nach Durchdringen der optischen Baugruppe und eines Analysators in Abhängigkeit vom Drehwinkel gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, daß relativ zur optischen Baugruppe (1) gleichzeitig mit dem Polarisator (3) der Analysator (4) mit einer von einer ersten Winkelgeschwindigkeit (w 1) des Polarisators (3) abweichenden zweiten Winkelgeschwindigkeit (w2) gedreht und durch einen Vergleich eines bei der optischen Baugruppe (1) in Abhängigkeit vom Drehwinkel während mindestens eines Umlaufes des mit der geringeren der Winkelgeschwindigkeiten (w1 oderw2) drehenden Polarisationsprismas (3 oder 4) gemessenen Verlaufes einer Intensität (I) des Lichtes mit einem Verlauf der Intensität (I) des Lichtes bai einer vergleichsweise idealen optischen Baugruppe (1) ein durch die Geometrie der optischen Baugruppe (1) bedingtes polarisationsabhängiges Teilverhältnis aus einer die Maximalwerte der Intensität (I) verbindenden ersten Hüllkurve und sowohl ein von mechanischen Spannungen in der optischen Baugruppe (1) ausgehendes Drehen der Polarisationsebene aus einer Phasenverschiebung zwischen den Verlaufen der Intensität (I) als auch eine Veränderung der Art der Polarisation aus einer die Minimalwerte der Intensitäten (I) verbindenden zweiten Hüllkurve analysiert werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Verlauf der Intensität (I) des Lichtes in Abhängigkeit vom Drehwinkel für eine vergleichsweise ideale optische Baugruppe (1) berechnet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Verlauf der Intensität (I) des Lichtes in Abhängigkeit vom Drehwinkel für eine ideale optische Baugruppe (1) durch Einfügen eines isotropen Dämpfungsgliedes anstelle der optischen Baugruppe (1) gemessen wird.