DD215867A1 - PRÜFADAPTER FÜR LITERPLATTEN - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen universell einsetzbaren Pruefadapter fuer bestueckte, teilweise bestueckte oder unbestueckte durchkontaktierte Leiterplatten, der es gestattet, gleichzeitig mehrere Pruefstellen mittels Kontaktnadeln zu kontaktieren und mittels einer daran angeschlossenen Pruef- oder Messanordnung die gewuenschte Pruefung bzw. Messung durchzufuehren. Dies wird erfindungsgemaess dadurch erreicht, dass Kontaktnadeln 6 im gewuenschten Rastermass und erforderlicher Anzahl bzw. Anordnung in einem Gehaeuse 1 vorhanden sind, die nach unten durch im Querschnitt bzw. Durchmesser etwas groessere Fuehrungsloecher 7 herausragen und in die Loetaugen 9 der zu pruefenden Leiterplatte 8 einsetzbar sind. Mittels einer abgeflachten Walze 5 sind die Kontaktnadeln 6 bedarfsweise nach aussen spreizbar, so dass ein fester Sitz in den Loetaugen 9 erreicht wird. Der Pruefadapter ist ueberall dort einsetzbar, wo gedruckte Leiterplatten geprueft bzw. gemessen werden muessen, z. B. in der Elektro- bzw. elektronischen Industrie.The invention relates to a universally applicable Pruefadapter for stocked, partially stocked or unpopulated plated-through printed circuit boards, which allows to simultaneously contact several test points by means of contact pins and perform the desired test or measurement by means connected to a test or measurement arrangement. This is inventively achieved in that contact needles 6 are available in the desired grid size and required number or arrangement in a housing 1, which protrude downwards by cross-section or diameter slightly larger Fuehrungsloecher 7 and in the Loetaugen 9 to be tested circuit board 8 are. By means of a flattened roller 5, the contact needles 6 are, if necessary, spread outwards, so that a tight fit in the eyes 9 Lo is achieved. The test adapter can be used anywhere where printed circuit boards must be checked or measured, eg. B. in the electrical or electronic industry.
Description
Titel der Erfindung Prüfadapter für Leiterplatten Anwendungsgebiet der Erfindung Title of the invention Test adapter for printed circuit boards Field of application of the invention
Die Erfindung betrifft einen Adapter mit Kontaktnadeln zum Prüfen von bestückten, teilweise bestückten oder unbestückten Leiterplatten, die zweiseitig kaschiert und durchkontaktiert sind. Der Adapter kann auch so gestaltet werden,. daß er an Stelle von elektronischen Bausteinen, insbesondere integrierten Schaltkreisen, in die Leiterplatte einsetzbar ist und über eine daran angeschlossene elektrische Prüf- bzw. Meßanordnung eine externe Punktionsprüfung bzw. Inbetriebnahme der teilweise bestückten Leiterplatte bzw. des elektronischen Bausteins erfolgen kann.The invention relates to an adapter with contact pins for testing populated, partially populated or unpopulated printed circuit boards, which are laminated on two sides and plated through. The adapter can also be designed so. in that instead of electronic components, in particular integrated circuits, it can be inserted into the printed circuit board and an external puncture test or commissioning of the partially populated printed circuit board or of the electronic component can take place via an electrical test or measuring arrangement connected thereto.
Es sind verschiedene Adapter bzw. Prüfeinrichtungen zur Prüfung von bestückten, teilweise bestückten und unbestückten Leiterplatten bekannt. Ihnen ist gemeinsam, daß die jeweiligen Prüfstellen auf den Leiterplatten mittels vertikal bewegbarer federnder Kontaktnadeln bzw. Kontaktstifte angetastet werden und letztere über Kabel mit' elektrischen Prüf- bzw. Meßanordnungen verbunden sind.There are various adapters or test equipment for testing populated, partially populated and unpopulated printed circuit boards known. They have in common that the respective test centers are touched on the circuit boards by means of vertically movable resilient contact pins or pins and the latter are connected via cables with 'electrical test or measuring arrangements.
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Meist sind diese Adapter bzw. Prüfeinrichtungen relativ kompliziert aufgebaut. Sie sind besonders dann ungeeignet oder zu aufwendig, wenn eine manuelle Prüfung erwünscht ist. Most of these adapters or test equipment are relatively complicated. They are particularly unsuitable or too expensive if a manual test is desired.
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Ziel der ErfindungObject of the invention
Ziel der Erfindung ist ein einfacher und leicht einsetzbarer Prüfadapter, der für eine manuelle Prüfung der Leiterplatten geeignet und vielseitig einsetzbar ist.The aim of the invention is a simple and easy-to-use test adapter, which is suitable and versatile for manual testing of printed circuit boards.
Der Erfindung liegt.die Aufgabe zu Grunde, einen Prüfadapter für bestückte, teilweise bestückte oder unbestückte Leiterplatten zu schaffen, der mit einer elektrischen Prüf- bzw. Meßanordnung verbunden ist und es gestatten soll, gleichzeitig mit mehreren Prüfstellen, die vorzugsweise in einem bestimmten Rastermaß angeordnet sind, mittels Eontaktnadeln eine Kontaktierung durchzuführen.It is the object of the invention to provide a test adapter for assembled, partially populated or unpopulated printed circuit boards, which is connected to an electrical test or measuring arrangement and should allow it to be arranged simultaneously with a plurality of test points, which are preferably arranged in a certain pitch are to perform contacting by means of Eontaktnadeln.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß in einem vorzugsweise quaderförmigen Gehäuse aus Isoliermaterial Kontaktnadeln im gewünschten Hastermaß und erforderlicher Anzahl reihenweise vertikal stehend und parallel im Abstand gegenüberliegend angeordnet sind. Die Kontaktnadeln ragen durch die mit durchgehenden, im Querschnitt bzw. Durchmesser etwas größeren, Pührungslöchern versehene Grundplatte des'Gehäuses nach unten heraus. Sie steckenThis object is achieved in that are arranged in a preferably cuboid housing made of insulating contact pins in the desired Hastermaß and the required number in rows vertically standing and parallel spaced apart. The contact pins protrude through the base plate of the housing, which is provided with through holes which are slightly wider in cross-section or diameter and somewhat larger. They are stuck
JO bei, der. Prüfung in den auf der zu prüfenden Leiterplatte vorhandenen durchkontaktierten Lötaugen, z. B. für die später einzusetzenden integrierten Schaltkreise. Die Führungslöcher können als Langloch ausgebildet sein bzw.. im Durchmesser zur Leiterplatte hin konisch abnehmen bzw. stufenweise abgesetzt gebohrt sein, wobei ihr kleinsterJO, who. Test in the existing on the printed circuit board through-plated pads, z. B. for the later to be used integrated circuits. The guide holes can be formed as a slot or .. in diameter to the circuit board conically decrease or be stepped discontinuously drilled, with their smallest
Durchmesser etwas größer als der der Lötaugen in der Leiterplatte sein muß. Die entgegengesetzten Enden der Kontaktnadeln ragen durch die Deckplatte oder eine parallel dazu angeordnete Zwischenplatte, in der sie "5 straff geführt sind, nach oben heraus, wobei vorzugsweise an diesen Enden die erforderlichen Leitungen zuDiameter must be slightly larger than that of the pads in the circuit board. The opposite ends of the contact pins protrude upwards through the cover plate or an intermediate plate arranged parallel thereto, in which they are guided tightly, preferably at these ends, the required lines
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der Prüf- bzw. Meßanordnung angeschlossen sind.the test or measuring arrangement are connected.
Parallel zwischen der Grund- und Deck- bzw. Zwischenplatte und zwischen den Kontaktnadeln ist eine an sichParallel between the base and cover or intermediate plate and between the contact pins is a per se
bekannte Walze aus Isoliermaterial in den beiden Stirn--ν wänden des Gehäuses gelagert, die vorzugsweise mittels eines Hebels um ihre Achse drehbar und im Querschnitt so gestaltet ist, daß je nach Stellung der Schaltwalze die Kontaktnadeln quer zu ihrer Längsrichtung nach außen gewölbt werden oder gerade bleiben.known roller of insulating material in the two end - ν walls of the housing mounted, which is preferably rotatable about its axis by means of a lever and designed in cross section so that depending on the position of the shift drum, the contact pins are curved transversely to its longitudinal direction to the outside or straight stay.
Vorzugsweise ist dazu die Walze axial über ihre Länge im Bereich der Kontaktnadeln abgeflacht oder von elliptischem Querschnitt. Zweckmäßigerweise ist die Walze zum Ausgleich von Toleranzen und zum Zweck der Selbstzentrierung leicht schwimmend gelagert.Preferably, the roller is flattened axially over its length in the region of the contact needles or of elliptical cross section. Conveniently, the roller is easily floating to compensate for tolerances and for the purpose of self-centering.
Ss ist vorteilhaft, die Kontaktnadeln am unteren Ende S25 mit Spitzen zu versehen, welche aus Gründen der Verletzungsgefahr leicht abgestumpft sein können.It is advantageous to provide the contact needles at the lower end S 25 with tips which may be slightly blunted for reasons of risk of injury.
Die Kontaktnadeln bestehen vorteilhafterweise aus federndem Rundmaterial. Zur einwandfreien Kontaktgabe können sie ganz oder teilweise versilbert und/oder vergoldet sein.The contact needles are advantageously made of resilient round material. For perfect contact, they can be completely or partially silvered and / or gold plated.
Zur Vermeidung des Verdrehens und des axialen Zurückgleitens der Kontaktnadeln können sich im Raum zwischen Deckplatte und Zwischenplatte Streifen aus elastischemTo avoid twisting and the axial sliding back of the contact needles can in the space between cover plate and intermediate plate strips of elastic
Material, ζ. B. Silikoiigummi, befinden, welche unter Druck auf den oberen Enden der Kontaktnadeln mit den daran angeschlossenen Leitungen aufliegen«Material, ζ. Silicone rubber, which are under pressure on the upper ends of the contact pins with the leads connected thereto. "
Das Gehäuse des Prüfadapters oder Teile davon können auch als eine Einheit aus Plast gespritzt sein.The housing of the test adapter or parts thereof may also be molded as a unit of plastic.
Auaführungsbeispiel . . . Example . , ,
Der erfindungsgemäße Prüfadapter soll nachstehend näher erläutert werden. Die zugehörige Zeichnung zeigt eine prinzipielle perspektivische Darstellung mit Prüfling im teilweise eingesteckten Zustand, wobei zur besseren Übersicht die Stirnwand weggelassen worden ist. Er besteht im wesentlichen aus einem quaderförmigen Gehäuse 1 mit dazugehöriger Grundplatte 2, Zwischenplatte 3> Deckplatte 4 sowie einer Walze 5 und einer bestimmten Anzahl von Kontaktnadeln. Diese Kontaktnadeln 6 sind entsprechend dem gewünschten Rasterabstand in der Zwischenplatte 3 straff geführt und ragen nach unten durch in der Grundplatte 2 vorhandene abgestufte Pührungslöcher 7 heraus. Zur besseren Einführung der Kontaktnadeln 6 in die auf der zu prüfenden Leiterplatte 8 im Rastermaß vorhandenen Lötaugen 9 weisen die nach unten herausragenden Enden der Kontaktnadeln 6 Spitzen auf. Diese sind zur Vermeidung von Verletzungen abgestumpft. Am oberen Ende der Kontaktnadeln 6 sind Leitungen 10 angeschlossen, die zu einer elektrischen Prüfanordnung führen.The test adapter according to the invention will be explained in more detail below. The accompanying drawing shows a schematic perspective view with test specimen in the partially inserted state, for better clarity, the end wall has been omitted. It consists essentially of a cuboid housing 1 with associated base plate 2, intermediate plate 3> cover plate 4 and a roller 5 and a certain number of contact pins. These contact pins 6 are guided tightly according to the desired grid spacing in the intermediate plate 3 and protrude down through existing in the base plate 2 stepped Pührungslöcher 7 out. For better introduction of the contact pins 6 in the existing on the circuit board 8 to be tested pads 9, the downwardly projecting ends of the contact pins 6 tips. These are dulled to avoid injury. At the upper end of the contact pins 6 lines 10 are connected, which lead to an electrical test arrangement.
über der Zwischenplatte 3 ist im Abstand die Deckplatte 4 angeordnet. In dem dazwischen liegenden Raum befinden sich die oberen Enden der Kontaktnadeln β mit den Lötanschlüssen für die Leitungen-10 sowie zwei darauf drückende Streifen 11 aus Silikongummi, die ein Verdrehen der Kontaktnadeln 6 und damit der angelöteten Leitungen 10 . ' . ' ν ·over the intermediate plate 3, the cover plate 4 is arranged at a distance. In the intervening space are the upper ends of the contact pins β with the solder terminals for the lines-10 and two pressing thereon strips 11 of silicone rubber, the twisting of the contact pins 6 and thus the soldered lines 10th '. 'ν ·
sowie ein asiales Zurückgleiten der Kontaktnadeln 6 verhindern sollen.and should prevent asiales sliding back the contact pins 6.
Die Walze 5 ist in den beiden Stirnwänden des Gehäuses leicht schwimmend gelagert und über ihre ganze Länge beiderseitig iia Bereich der Kontaktnadeln β abgeflacht. Mittels eines Hebels 12 kann die Walze 5 in Pfeilrichtung gedreht werden.The roller 5 is mounted slightly floating in the two end walls of the housing and β flattened over its entire length on both sides iia region of the contact pins. By means of a lever 12, the roller 5 can be rotated in the direction of the arrow.
Die Wirkungsweise des -Prüfadapters ist folgende:The mode of operation of the test adapter is the following:
Der Prüfadapter wird mit den unten herausragenden > angespitzten Kontaktnadeln β in die durchkontaktiertenThe test adapter is inserted into the through-contacted with the below-pointed> pointed contact needles β
-:; Lötaugen 9 in der Leiterplatte 8 bis Anschlag eingesteckt. Diese Lötaugen 9 entsprechen ebenso wie die Anordnung der Kontaktnadeln β dem Hastermaß des später in die Leiterplatte .8 einzusteckenden bzw. einzulötenden integrierten Schaltkreises. Die Walze 5 befindet sich dabei in der Stellung, daß die abgeflachten Flächen den Kontaktnadeln 6 gegenüber stehen. Mittels des Hebels 12 wird die Walze 5 so in Pfeilrichtung gedreht, daß sich die Kontaktnadeln 6 durch die Hundung der Walze 5 geringfügig über das Rastermaß hinaus in Pfeilrichtung spreizen und sich damit eine sichere'Kontaktgabe mit den Lötaugen 9 ' in der Leiterplatte 8 ergibt. Dies ist dadurch möglich, "25 weil die Pührungslöcher 7 im Durchmesser zur Leiterplatte hin stufenweise abgesetzt gebohrt sind und ihr kleinster Durchmesser etwas größer als der der Lötaugen 9 in der Leiterplatte 8 i3t. Die Kontaktnadeln β bestehen aus Pederstahl und sind versilbert und. an den Spitzen vergoldet, um eine elektrisch einwandfreie Kontaktgabe zu sichern.- :; Pads 9 in the circuit board 8 inserted to stop. These pads 9 as well as the arrangement of the contact needles β correspond to the Hastermaß of later inserted into the printed circuit board .8 or einzulötenden integrated circuit. The roller 5 is in the position that the flattened surfaces are the contact pins 6 opposite. By means of the lever 12, the roller 5 is rotated in the direction of arrow, that the contact needles 6 spread through the Hundung of the roller 5 slightly beyond the grid in the direction of arrow and thus a sicher'Kontaktgabe with the pads 9 'in the circuit board 8 results. This is possible because the pitch holes 7 are drilled stepwise in diameter toward the board and their smallest diameter is slightly larger than that of the lands 9 in the board 8. The contact pins β are made of peder steel and are silver plated and Gilded tips to ensure a perfect electrical contact.
Uach Abschluß des PrüfVorganges wird der Hebel 12 in die Ausgangslage zurückgeführt, wodurch sich der Prüfadapter wieder leicht vom Prüfling entfernen läßt.After completion of the test procedure, the lever 12 is returned to the starting position, as a result of which the test adapter can be easily removed again from the test object.
Claims (9)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD25129983A DD215867A1 (en) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | PRÜFADAPTER FÜR LITERPLATTEN |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD25129983A DD215867A1 (en) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | PRÜFADAPTER FÜR LITERPLATTEN |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DD215867A1 true DD215867A1 (en) | 1984-11-21 |
Family
ID=5547597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DD25129983A DD215867A1 (en) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | PRÜFADAPTER FÜR LITERPLATTEN |
Country Status (1)
Country | Link |
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DD (1) | DD215867A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2631659A2 (en) | 2012-02-27 | 2013-08-28 | Göpel electronic GmbH | Contacting assembly for the electrical contacting of test points |
EP3716409A1 (en) * | 2019-03-28 | 2020-09-30 | Yamaichi Electronics Deutschland GmbH | Contactor, contactor system and method for electrically contacting a circuit board and/or a module |
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1983
- 1983-05-27 DD DD25129983A patent/DD215867A1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP2631659A2 (en) | 2012-02-27 | 2013-08-28 | Göpel electronic GmbH | Contacting assembly for the electrical contacting of test points |
DE102012101556A1 (en) | 2012-02-27 | 2013-08-29 | Göpel electronic GmbH | Contacting arrangement for the electrical contacting of test points |
EP3716409A1 (en) * | 2019-03-28 | 2020-09-30 | Yamaichi Electronics Deutschland GmbH | Contactor, contactor system and method for electrically contacting a circuit board and/or a module |
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