DD155215A1

DD155215A1 - TEST AND SERVICE DEVICE FOR MICRORECHNER SYSTEMS

Info

Publication number: DD155215A1
Application number: DD22586580A
Authority: DD
Inventors: Peter Hengelhaupt
Original assignee: Peter Hengelhaupt
Priority date: 1980-12-09
Filing date: 1980-12-09
Publication date: 1982-05-19

Abstract

Test- und Servicegeraet fuer Mikrorechnersysteme, die aus einem Mikroprozessor, Speicherbaugruppen und Ein/Ausgabebaugrp. bestehen u. am Mikrorechner-Systemb. angeschlossen sind. Ziel der Erfindung ist ein transportables Geraet zur Durchfuehrung einer Vielzahl von Testfunktionen unter Echtzeitbedingungen und bei Erhaltung der Originalitaet der Recheneinheit des Anwendersystems. Aufgabe der Erfindung ist ein Geraet, bestehend aus test- und servicespezifischen Baugruppen, Bedien- u. Anzeigeelementen und eigener zentralen Recheneinheit, die diese Baugruppen bedient und den Verkehr mit d. Anwendersystem steuert, zur Beeinflussung und Beobachtung des Programmablaufs und des Datenflusses auf allen Leitungen des Mikrorechnersystembusses und zur Ueberpruefung der Hardware. Angeordnet sind: Eine Baugruppe Direkter Zugriff, eine Baugruppe Fremdprogramm, eine Simulationsbaugruppe, ein Archivspeicher, eine Baugruppe Einzelschrittbetrieb, eine Auffrischbaugruppe und eine Baugruppe Testpunkt, die alle ueber einen Koppeladapter mit dem Mikrorechner-Anwendersystembus verbunden sind. Anwendungsgebiet: Test von Mikrorechner-Anwendersystemen zur Prozesssteuerung.Test and service device for microcomputer systems, consisting of a microprocessor, memory modules and input / output module. exist u. on the microcomputer system b. are connected. The aim of the invention is a portable device for performing a variety of test functions under real-time conditions and while maintaining the originality of the computing unit of the user system. The object of the invention is a device consisting of test and service-specific modules, operating u. Display elements and their own central processing unit that operates these modules and the traffic with d. User system controls, for influencing and monitoring the program flow and the data flow on all lines of the microcomputer system bus and to check the hardware. The following components are located: A direct access module, a third-party module, a simulation module, an archive memory, a single-step module, a refresh module and a test point module, all of which are connected to the microcomputer user system bus via a coupling adapter. Application: Test of microcomputer user systems for process control.

Description

Erfinder; Berlin, 1. Dez. 198OInventor; Berlin, Dec. 1, 1980

Dipl.-Ing« Peter Hengelhaupt . P 1162Dipl.-Ing. Peter Hengelhaupt. P 1162

Zustellungsbevollmäciitigte:Zustellungsbevollmäciitigte:

Institut für Regelungstechnik im Kombinat VEBInstitute of Control Engineering in the Kombinat VEB

Elektro-Apparate-Werke Berlin-Treptow "Friedrich Bbert"Elektro-Apparate-Werke Berlin-Treptow "Friedrich Bbert"

1055 Berlin, Storkower Str. 1011055 Berlin, Storkower Str. 101

Pafc.«Ing. Thea KenawiPafc. "Ing. Thea Kenawi

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Test- und Servicegerät für MikrorechnersystemeTest and service device for microcomputer systems

. G 06, G 06

Anwendungsgebiet der Erfindung F 06Field of application of the invention F 06

Die Erfindung betrifft ein Test- und Servicegerät für Mikrorechnersysteme, die .im wesentlichen aus einem Mikroprozessor,, als zentraler Bedieneinheit, Speicher-Baugruppen für Programme und Daten und Ein/Ausgabebaugruppen bestehen, die alle am Mikrorechner-Systembus angeschlossen sind.The invention relates to a test and service device for microcomputer systems, consisting essentially of a microprocessor, as a central operating unit, memory modules for programs and data and input / output modules, which are all connected to the microcomputer system bus.

Charakteristik der bekannten technischen LösungenCharacteristic of the known technical solutions

Mikrorechnersysteme stellen auf Grund der großen Vielfalt der in ihnen mit großer Schnelligkeit ablaufenden. Operationen datenverarbeitenden "Charakters komplizierte technische Systeme dar, die mit einer Vielzahl hochintegrierter mikroelektronischer Bauelemente ausgerüstet sind und ohne spezielle Hilfsmittel weder zu prüfen, in Betrieb zu nehmen, noch zu warten sind.Microcomputer systems make due to the great variety of running in them with great speed. Operations data processing "complex technical systems that are equipped with a variety of highly integrated microelectronic devices and without special tools neither to check, start up, nor are to be maintained.

Hersteller von Mikrorechnersystemen stellen deshalb für diese Zwecke spezielle Prüf-, Test-, Inbetriebnahme- and Servicegeräte zur Verfügung.Manufacturers of microcomputer systems therefore provide special test, test, commissioning and service devices for this purpose.

Die bekannten technischen Lösungen solcher Geräte lassen sich bezüglich ihres.Bedienkomforts und ihrer Reichhaltigkeit im Angebot an Testfunktionen zwei Klassen zuordnen. Die erste Klasse ist charakterisiert durch hardv/aregesteuerte Geräte ohne eigenen Mikrorechner zur Unterstützung der Bedien- und Testfunktionen_e Solche Geräte sind meist robust, einfach zu transportieren und billig. . ' The known technical solutions of such devices can be classified in terms of their. Media comfort and their richness in the offer of test functions two classes. The first class is characterized by hardwire-controlled devices without their own microcomputer to support the operating and test functions. _E Such devices are usually robust, easy to transport and cheap. , '

Ihr Eachteil besteht jedoch darin, .daß sie nur über ein eingeschränktes Angebot an Testfunktionen und über einen geringen Be-. dienkomfort verfügen. Die Ausführung elementarer TestoperationenHowever, their part consists in the fact that they have only a limited range of test functions and a low load. comfort. The execution of elementary test operations

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erfordert meist eine Vielzahl von Bedienhandlungen und die Anzeige der Testergebnisse ist wegen der Vielzahl vorhandener Lampen oder Leuchtdioden unübersichtlich und schwer auswertbar. Ein typischer Vertreter für Geräte der ersten Klasse ist z. B₆ die Bedieneinheit BDB K 7622 des VEB Kombinat Robotron. Dieses Gerät weist hinsichtlich des Bedienkomforts und des Angebots an Testfunktionen nachstehend aufgeführte Nachteile auf. Eingabe und Anzeige der Daten erfolgt in dualer Kodierung, die Adresse wird dual eingegeben, aber hexadezimal angezeigt. Eine effektive Programmtestung setzt aber eine durchgängige hexadezimale Eingabe und Anzeige von Daten und Adressen voraus, weil die Programm-Liste des zu . testenden Programms üblicherweise im Hexadezimal-Kode notiert ist, niemals oder ausgesprochen selten jedoch im Dual-Kode.usually requires a variety of operator actions and the display of the test results is confusing and difficult to evaluate because of the large number of existing lamps or LEDs. A typical representative for first class devices is z. B ₆ the operating unit BDB K 7622 of the VEB Kombinat Robotron. This device has the disadvantages listed below with regard to ease of use and the range of test functions. The data is input and displayed in dual coding, the address is entered in dual format but displayed in hexadecimal format. However, effective program testing requires a continuous hexadecimal input and display of data and addresses, because the program list of the. usually listed in the hexadecimal code, never or rarely, however, in the dual code.

Da ein Programmtest aber aus dem ständigen Vergleich zwischen der Programm-Liste unddem tatsächlichen Verhalten des Mikrorechnersystems, wie es vom Testgerät angezeigt wird, besteht, muß die testende Person ständig Umrechnungen vom Dual - in den Hexadezimal-Kode und umgekehrt ausführen. Hierbei besteht die Gefahr, daJS der testenden Person infolge außerordentlich hoher Beanspruchung ihrer Konzentrationsfähigkeit Fehler unterlaufen.However, since a program test consists of the constant comparison between the program list and the actual behavior of the microcomputer system, as indicated by the tester, the test person must constantly perform conversions from the dual to the hexadecimal code and vice versa. There is a risk here that the test person will make mistakes as a result of extraordinarily high demands on their ability to concentrate.

Ein weiterer Mangel besteht darin, daß die Ausführung elementarer Operationen, wie z. B. Speicher schreiben, eine Vielzahl von Bedienhandlungen verlangt, z. B. Adresse eintasten (16 Tasten bedienen), Daten eintasten (8 Tasten bedienen), Adresse laden, Daten laden^ Schreiben vorbereiten, Schreiben ausführen. Wenn man berücksichtigt, daß Handlungsabläufe dieser Art mehrfach in Folge auszuführen sind, dann ist einleuchtend, daß auch hier die Gefahr von Fehlhandlungen durch die bedienende Person groß ist»Another shortcoming is that the execution of elementary operations such. B. write memory, a variety of operator actions required, for. For example, enter the address (operate 16 keys), key in data (operate 8 keys), load address, load data ^ Prepare writing, execute writing. If one considers that actions of this kind are to be carried out several times in succession, then it is obvious that here, too, the danger of mistreatment by the serving person is great »

Weitere Nachteils des Gerätes bestehen in seinem geringen Angebot von Testfunktionen. So ist ein Setzen von. Testpunkten nur bezüglich der Adresse möglich und eine Einbeziehung einzelner Datenbits und Steuersignale in die Testpunktbedingung kann nicht erfolgen. Von Nachteil ist ferner das Fahlen einer Möglichkeit zur Anzeige von internen Registern des Mikroprozessor-Schaltkreises, und das Fehlen eines Archivspeichers, wie er zurAnother disadvantage of the device is its low supply of test functions. Such is a setting of. Test points only possible with respect to the address and inclusion of individual data bits and control signals in the test point condition can not be done. Another disadvantage is the lack of a way to display internal registers of the microprocessor circuit, and the absence of an archive memory, as he

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ständigen Aufzeichnung von Daten, Adressen und Steuersignalen für die Durchführung von Echtzeittests notwendig ist.continuous recording of data, addresses and control signals is necessary for the performance of real-time tests.

Außer dem "beschriebenen Gerä.t sind weitere vergleichbare Geräte anderer*-Firmen "bekannt, z. B. das „Control-Panel CPLⁿ der. japanischen Firma Toshiba, (Mikrocomputer Applied Components „TOSMIC-12", Ausgabe 78-5 (R) 7804), das „Control-Panel 8021" der schwedischen Firma-Sattco, („DATA BOARD 4680",.Ausgabe Aug. 1979) sowie die „Prüf- und Wartungseinheit C 72 111 - A 103I - A1" der BRD-Firma Siemens_$ (Meßwerterfassung- und Verarbeitungssystem DIGIZET"). Alle diese Geräte weisen ebenfalls im wesentlichen die oben beschriebenen Nachteile auf.In addition to the "described Gerä.t are other comparable devices other * companies" known, for. As the "Control Panel CPL ⁿ the. Japanese company Toshiba, (Microcomputer Applied Components "TOSMIC-12", Issue 78-5 (R) 7804), the "Control Panel 8021" of the Swedish company Sattco, ("DATA BOARD 4680", Issue Aug. 1979) as well as the "Test and Maintenance Unit C 72 111 - A 103I - A1" of the Federal Republic of Germany Siemens _$ (Data Acquisition and Processing System DIGIZET ") All of these devices likewise essentially have the disadvantages described above.

Die zweite Iilasse bekannter technischer Lösungen ist charakte-.risiert durch softwaregesteuerte komfortable Geräte oder Gerätegruppen mit eigenem Mikrorechner zur Unterstützung der Bedien™ und Testfunktionen. Diese Geräte besitzen einen hohen. Bedienkomfort, z. B. alpha-nummerische Tastatur und Bildschirm-Anzei-. ge (Display), ein reichhaltiges Angebot an Programmerstellungsund Testfunktionen und die Möglichkeit des Anschlusses weiterer Geräte der Datenverarbeitungs-Peripherie, wie z. B„ Lochbandleser, Loclibands tanzer, Drucker, Bedienschreibmaschine und Folienspeicher (Floppy Disc). Solche Geräte oder Gerätegruppen sind wegen ihres ümfangs und ihrer Empfindlichkeit gegen mechanische Beanspruchung kaum transportabel und daher für Servicearbeiten vor Ort, z. B. in ausgedehnten Industrieanlagen oder Werkhallen, meist nicht einsetzbar. Geräte dieser Klasse sind bekannt unter dem Kamen Entwicklungssystem . Sie sind sehr teuer und werden aus den angegebenen Gründen insbesondere für die Programmers bellung und die reine Progra.mmtestung genutzt, dagegen seltener für den Test anderer anwendungsspezifischer Mikrorechnersysteme, im folgenden stets mit Anwendersystem bezeichnet.The second aspect of known technical solutions is characterized by software-controlled, comfortable devices or device groups with their own microcomputer for supporting the operating and test functions. These devices have a high. Ease of use, z. As alpha-numeric keypad and screen display. (Display), a wide range of program creation and test functions and the possibility of connecting other devices of the data processing peripherals, such. B "Lochbandleser, Loclibands tanzer, printer, operator typewriter and film storage (floppy disc). Such devices or equipment groups are hardly portable because of their ümfangs and their sensitivity to mechanical stress and therefore for service work on site, eg. B. in extensive industrial plants or workshops, usually not applicable. Devices of this class are known under the Kamen development system. They are very expensive and, for the reasons given, are used in particular for programming and pure program testing, but less frequently for testing other application-specific microcomputer systems, hereinafter referred to as the user system.

Ein typischer Vertreter für Geräte der.zweiten Klasse ist das Mikrorechner-Entwicklungssystem MRES 20 des YEB Kombinat Robotron. Dieses Gerät ist in erster Linie für die Erstellung von Programmen und für den reinen Programmtest konzipiert, besitzt aber auch die Möglichkeit der Kopplung mit Anwendersystemen»A typical representative of second-class devices is the MRES 20 microcomputer development system of the YEB Kombinat Robotron. This device is designed primarily for creating programs and for pure program testing, but also has the option of coupling with user systems »

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?/egen seiner beträchtlichen Größe (Schreibtischgröße) dürfte dieses Gerät normalerweise fest installiert sein, so daß ein zu testendes Anwendersystem zum Testgerät transportiere werden müßte. Das bedeutet, daß dieses Gerät wohl für den Test in Entwicklung befindlicher Prototypen, aber nicht als Servicegerät für bereits installierte Anwendersysteme geeignet ist.Due to its considerable size (desk size), this device should normally be permanently installed, so that a user system to be tested would have to be transported to the test device. This means that this device is probably suitable for testing prototypes under development, but not as a service device for already installed user systems.

Die Kopplung dieses Gerätes mit einem Anwendersystem erfolgt in der Art, daß die zentrale Recheneinheit des Anwendersystems entfernt wird und auf den hierbei entstehenden freien Platz ein spezieller Adapter gesteckt wird, der über ein mehradriges Kabel die Verbindung zum Entwicklungssystem herstellt. Nach Durchführung dieser Kopplung ist das nunmehr als Testgerät fungierende Entwicklungssystem in der Lage, mit Hilfe seiner eigenen zentralen Recheneinheit und der im Entwicklungssystem abgelegten Bedien- und Testprogramme einen Test der im Anwendersystem abgelegten Anwenderprogramme vorzunehmen.The coupling of this device with a user system is done in such a way that the central processing unit of the user system is removed and the resulting free space a special adapter is plugged, which establishes the connection to the development system via a multi-core cable. After carrying out this coupling, the development system now functioning as a test device is able to carry out a test of the user programs stored in the user system with the aid of its own central processing unit and the operating and test programs stored in the development system.

Nachteilig hierbei ist, daß die zentrale Recheneinheit des Testgerätes zusätzlich zur Abarbeitung der im Testgerät abgelegten Programme zur Realisierung von dessen Bedien-, Anzeige- und Testfunktionen auch die Bearbeitung des Anwender-Programms übernimmt. Ein solches Gerät ist für einen Echtzeittest ungeeignet, da der Echtzeitlauf des Anwenderprogramms durch die Bearbeitung von Bedienanforderungen und Testfunktionen des Testgerätes stets unterbrochen wird«,The disadvantage here is that the central processing unit of the test device in addition to the processing of the programs stored in the test device for the realization of its operating, display and test functions and the processing of the user program takes over. Such a device is unsuitable for a real-time test because the user program's real-time operation is always interrupted by the processing of operating requirements and test functions of the test device.

Für den Echtzeittest geeignete Geräte müssen über zwei zentrale Recheneinheiten (ZRE) verfügen, wobei die eine ZRE das Programm des Testgerätes bearbeitet(Bedien-, Anzeige-, Testfunktionen) üiid die andere ZRE ausschließlich das Anwenderprogramm, das im Anwendersystem abgelegt ist, abarbeitet.Devices suitable for the real-time test must have two central processing units (ZRE), one ZRE processing the program of the test device (operating, display, test functions) via which the other ZRE executes exclusively the user program stored in the user system.

Ein weiterer Nachteil eines Tests mit diesem Gerät besteht darin, daß die ZRE des Anwendersystems·nach ihrer Entfernung aus dem Anwendersystem einer Prüfung nicht mehr zugänglich ist und die Testung sich somit nur auf die übrigen Komponenten des Anwendersystems erstrecken kann. Außerdem stellt das Ersetzen der ZRE, die das Kernstück eines jeden Mikrorechnersystems isi^.eine Veränderung in der Originalität des Anwendersystems dar, so daß Aussagen zur Funktion des Anwendersystems, die sich nach solchA further disadvantage of a test with this device is that the ZRE of the user system · after its removal from the user system is no longer accessible to a test and thus the testing can only extend to the other components of the user system. In addition, replacing the ZRE, which is the core of any microcomputer system, represents a change in the originality of the user system, so that statements about the function of the user system that follow such a system can be found

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einem Test ergeben, nicht unbedingt in jedem Fall auch für das Anwendersystem gelten müssen, wenn es mit seiner Original-ZRE ausgerüstet ist.a test, and not necessarily apply to the user system in any case, if it is equipped with its original ZRE.

Außerdem sind vergleichbare Geräte bekannt·, die durch Ausrüstung mit Zusatzeinrichtungen auch für einen Echtzeittest einsetzbar sind. Diese verfügen über eine eigene zentrale Recheneinheit, die die Aufgaben der Anwender-ZRE übernimmt. Obwohl hierdurch der Nachteil einer nicht echtzeitgemäßen Anwendersystem-Testung ausgeräumt werden kann, verbleibt als prinzipiell nicht vermeidbarer Mangel die Unmöglichkeit eines Tests des Anwendersystems mit der eigenen, originalen ZRE, da diese vor Anschluß der Zusatzeinrichtung entfernt werden muß.In addition, comparable devices are known, which can be used by equipment with additional equipment for a real-time test. These have their own central processing unit, which takes over the tasks of the user ZRE. Although this eliminates the disadvantage of non-real-time user system testing, the impossibility of testing the user system with its own original ZRE remains as a principally unavoidable defect, since it must be removed before connecting the attachment.

Ein weiterer Nachteil der beschriebenen Zusatzeinrichtung besteht darin, daß hiermit grundsächlich nur Signale auf den Leitungen beobachtbar und beeinflußbar sind, die dem Mikroprozessorbus angehören und bis zum Mikroprozessor-Schaltkreis geführt sind. Signalleitungen j die zusätzlich hierzu vorhcinden, aber nicht bis an den Mikroprozessor-Schaltkreis geführt sind, und zusammen mit dem Mikroprozessorbus den Mikrorechner-Systembus bilden, lassen sich prinzipiell weder beobachten noch beeinflussen, weil sie nicht durch den Steckadapter der Zusatzeinrichtung erfaßt werden können, der ja auf den Platz des entfernten Mikroprozessors gesteckt wird»Another disadvantage of the accessory described is that hereby basically only signals on the lines are observable and influenced, which belong to the microprocessor bus and are guided to the microprocessor circuit. Signal lines j vorhcinden in addition, but not led to the microprocessor circuit, and form together with the microprocessor bus the microcomputer system bus, can in principle neither observe nor influence, because they can not be detected by the plug adapter of the accessory, the yes, the place of the remote microprocessor is plugged »

Ziel der ErfindungObject of the invention

Das Ziel der Erfindung besteht darin, ein transportables Gerät zu schaffen, das es ermöglicht, eine Vielzahl von Testfimktionen einfach und übersichtlich unter Echtzeitbedintingen und unter Beibehaltung der Originalität der zentralen Recheneinheit des Anwendersystems durchzuführen.The object of the invention is to provide a portable device which makes it possible to carry out a plurality of test functions simply and clearly under real-time conditions while maintaining the originality of the central processing unit of the user system.

Darlegung des Wesens der ErfindungExplanation of the essence of the invention

Aufgabe der Erfindung ist ein transportables Test- und Servicegerät, aufgebaut aus Modulen für die Ein- und Ausgabe von Daten _s Speicherbaugruppens Bedien- und Anzeigeelementen und einer eigenen zentralen Recheneinheit_s die diese Baugruppen bedient und den Verkehr mit dem Anwendersystem steuert, für die Beeinflussung und Beobachtung des Programmablaufs, des Datenflusses aufThe object of the invention is a portable test and service device, constructed from modules for the input and output of data _s memory modules operating and display elements and a separate central processing unit _s which operates these modules and controls the traffic with the user system, for influencing and Observation of the program flow, of the data flow

allen Leitungen des Mikrorechnersystembusses und Überprüfung der Hardware des gesamten Anwendersystems.all lines of the microcomputer system bus and checking the hardware of the entire user system.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß test- und servicespezifische Ein/Ausgabe- und Speicherbaugruppen angeordnet sind, die alle über den Mikrorechnerbus des Test- und Servicegerätes miteinander und über einen Koppeladapter mit dem Mikrorechnerbus des Anwendersystems verkehren, bestehend aus einer Baugruppe für Testpunkte zum Setzen von Testpunkten, insbesondere im Echtzeitbetrieb, einer Fremdprograminbaugruppe mit im wesentlichen einem Nur-Lese-Speicher und einem Schreib-Lese-Speicher zur Testung, sowohl der zentralen Bedieneinheit als auch der Ein/Ausgabebaugruppen des Anwendersystems, einer Baugruppe für den direkten Zugriff auf Speicher und Ein/Ausgabebaugruppen des Anwendersystems, einem Archivspeicher zur echtzeitgetreuen zeitweisen Abspeicherung von 'Adreß-, Daten- und Steuersignalen, einer Simulationsbaugruppe zur Echtzeitsimulation von Eingabewerten des Anwendersystems, im wesentlichen bestehend aus Speichern, die sowohl vom Anwendersystem als auch vom Test- und Servicegerät schreib/lesbar sind, einer Baugruppe für den Einzelschrittbetrieb, um die zentrale Recheneinheit des Anwendersystems in den Wartezustand zu versetzen und einer Auffrischbaugruppe für dynamische Speicher des Anwendersystems und daß das T_est- und Servicegerät für'den bidirektionalen Verkehr von Daten-, Adressen- und Steuersignalen über ein mehradriges Kabel und einen Koppeladapter.mit dem Anwendersystem in der Weise verbunden ist, daß dieser auf einen freien Platz mit Mikrorechiiersystem-Busanschluß im Anwendersystem gesteck ist. Unter dem Begriff Mikrorechner-Systembus ist hier die Gesamtheit aller Signalleitungen zu verstehen, die der Weiterleitung von Daten-, Adressen- und Steuersignalen im Mikrorechnersystem dienen, wobei der Mikrorechnersystembus den kompletten Mikroprozessorbus beinhaltet und zusätzliche Signalleitungen, die für die Funktion des Mikroprozessors selbst ohne Belang .sind und seine Arbeitsweise nicht beeinflussen, aber Bedeutung für die Funktion des Mikrorechnersystems als Gesamtheit besitzen. Systembezogene Steuersignale dieser Art sind z. B. solche, die dazu dienen im Mikrorechner verhandene Speicher- und Ein-Ausgabe-Module z. B. für Testzwecke zu inaktivieren und die ordnungsgemäße Adressierung solcher Module rückzumelden. Die.Erzeugung und Auswertung dieser Signale erfolgt durch dieAccording to the invention the object is achieved in that test and service specific input / output and memory modules are arranged, all of the microcomputer bus of the test and service device with each other and via a coupling adapter with the microcomputer bus of the user system run, consisting of an assembly for test points for Setting of test points, in particular in real-time operation, a foreign program module with essentially a read-only memory and a read-write memory for testing, both the central operating unit and the input / output modules of the user system, a module for the direct access to memory and user system input / output modules, an archive memory for real-time temporary storage of address, data and control signals, a simulation assembly for real-time simulation of user system input values, consisting essentially of memories available from both the user system and the user Test and service unit read / write, a module for single-step operation to put the central processing unit of the user system in the waiting state and a refresh assembly for dynamic memory of the user system and that the T _e st- and service device for 'the bidirectional traffic of data -, Address and control signals via a multi-core cable and a coupling adapter. Is connected to the user system in such a way that it is plugged into a free space with Mikorezeierierbus bus connection in the user system. The term microcomputer system bus is to be understood here as the entirety of all signal lines which serve to forward data, address and control signals in the microcomputer system, the microcomputer system bus including the complete microprocessor bus and additional signal lines which are irrelevant to the function of the microprocessor itself . are and do not affect its operation, but have significance for the function of the microcomputer system as a whole. System-related control signals of this kind are z. For example, those that serve in the microcomputer verhandene memory and input-output modules z. B. inactivate for testing purposes and to confirm the proper addressing of such modules. Die.Erzeugung and evaluation of these signals is carried out by the

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speziellen Baugruppen des Test- und Servicegerätes. Die Baugruppe Koppeladapter ist aufgebaut aus bidirektional wirkenden Speicher-Registern für Daten-, Adressen- und Steuersigncilen. Für die Steuersignale vom Test- und Servicegerät ist dem Speicher-Segister eine Ausgabe-Schaltung vorgeschaltet. Sie ist aufgebaut aus in Reihe geschalteten und vom Systemtakt getriggerten D-Flip-Flops_; zur Nachbildung des Zeitverhaltens der zentralen Recheneinheit des Anwendersystems. Die Speicher-Register sind jeweils mit den Ausgängen von Steuerschaltungen verbunden, die ihrerseits eingangsseitig mit Steuerleitungen des Test- und Servicegerätes und Triggerleitungen des Anwendersystems verknüpft sind. Weiterhin gehört zum Aufbau eine Priori-.tatsauswerteschaltung für den direkten Zugriff (DMA), bestehend aus logischen Verknüpfungselementen und Flip-Flop-Speichern· Sie dient der Einordnung des Test- und Servicegerätes in eine Prioritäts-Durchmusterungsschiene (Daisy Chain) für den direkten Zugriff auf Speicher und Ein/Ausgabebaugruppen. Der Verkehr zwischen diesen speziellen Baugruppen und dem Anwendersystem erfolgt ausschließlich über den Koppeladapter. Die Baugruppe Testpunkt, zum Setzen von Testpmikten insbesondere im Echtzeitbetrieb, ist aufgebaut aus Ausgaberegistern, wobei ein erstes für die Vorgabe der Testpunktkombination, bestehend aus einer Belegung von Adreß-, Daten- und Steuersignalen des Anwendersystems, ein zweites für die Markierung einzelner Adreßtetraden, Datenbits und Steuersignale, ein drittes für die Verknüpfung der Datenbits des Testpunktes als IMD bzw. ODER-Kombination und ein viertes Ausgaberegister für die Vorbereitung der Abgabe entweder eines Wartesignals an das Anwendersystem oder eines Übernahmestoppsignals an einen Archivspeicher, angeordnet sind. Eingangsseitig sind diese an den Mikrorechnersystembus des Test- und Servicegerätes und ausgangsseitig an. einen Vergleicher angeschlossen. Das erste Ausgaberegister ist dabei an eine Äquivalenzschaltung des Vergleichers geführt und dessen weiterer Eingang mit dem Anwendersystem verbunden. Zum. Test- und Servicegerät gehört des weiteren eine Baugruppe zur Aufnahme eines Fremdprogramms. Diese enthält im wesentlichen einen Nur-Lese-Speicher und einen Schreib/Lese-Speicher«special assemblies of the test and service device. The coupling adapter assembly is made up of bidirectional memory registers for data, address and control signals. For the control signals from the test and service device, the memory segister is preceded by an output circuit. It is composed of series-connected and system-clock-triggered D-type flip-flops _; for simulating the time behavior of the central processing unit of the user system. The memory registers are each connected to the outputs of control circuits, which are in turn linked on the input side with control lines of the test and service device and trigger lines of the user system. Furthermore, the structure includes a Priori .tatsauswerteschaltung for direct access (DMA), consisting of logic elements and flip-flop storage · It is used to classify the test and service device in a priority-daisy chain for direct access on memory and input / output modules. The traffic between these special modules and the user system takes place exclusively via the coupling adapter. The module test point, for setting Testpmikten especially in real-time mode, is composed of output registers, with a first for the specification of the test point combination, consisting of an assignment of address, data and control signals of the user system, a second for the marking of individual address tetrads, data bits and control signals, a third one for combining the data bits of the test point as an IMD or OR combination and a fourth output register for preparing the delivery of either a wait signal to the user system or a takeover stop signal to an archive store. On the input side, these are connected to the microcomputer system bus of the test and service device and to the output side. connected to a comparator. The first output register is guided to an equivalent circuit of the comparator and the other input connected to the user system. To the. Test and service device also includes an assembly for receiving an external program. This essentially contains a read-only memory and a read / write memory «

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Ihre Datenleitungen sind mit zwei bidirektionalen Schaltregistern verbunden, die sowohl einen Verkehr mit dem Anwendersystem als auch mit der zentralen Recheneinheit des Test- und Servicegerätes gestatten. Die Adressierung und die Zulieferung der Steuersignale zu den Speichern erfolgt über zwei Weichen, die die Steuersignale und Adressen entweder des Anwendersystems oder der zentralen Recheneinheit des Test- und Servicegerätes an die Speicher anlegen. Die Umschaltung der bidirektionalen Schaltregister und der Weichen und damit die Zuordnung des Schreib/Lese- und Nur-Lese-Speichers erfolgt über eine Umschaltsteuerung. Die Baugruppe für den direkten Zugriff erfüllt die Aufgabe, daß die zentrale Recheneinheit des Test- und Servicegerätes auf die Adreß-, Daten- und Steuerleitungen und damit direkt auf Speicher und Ein/Ausgabe-Baugruppen des Anwendersystems zugreifen kann, um beliebig Daten schreiben oder lesen zu können. Die Baugruppe ist aufgebaut aus bidirektional wirkenden Registern, die sowohl mit den Daten-, Adreß- und Steuersignalleitungen des Anwendersystems als auch mit den Datenleitungen der zentralen Recheneinheit des Test- und Servicegerätes und weiterhin mit einem ersten Decoder verbunden sind. An den Eingängen des Decoders sind die Adreßleitungen der zentralen Recheneinheit des Gerätes geführt. Des weiteren ist ein siebentes Ausgaberegister angeordnet, daß eingangsseitig mit dem Test- und Servicegerät und ausgangsseitig mit dem Anwendersystem verbunden ist. Die Baugruppe Archivspeicher dient der zweitweisen Abspeicherung von Adreß-, Daten- und Steuersignalen für den Echtzeittest des Programmablaufs. Darunter ist hier zu verstehen: Die laufende Bearbeitung eines Anwenderprogramms durch die zentrale Recheneinheit des Anwendersystems wird auf keinerlei V/eise durch das angeschlossene Testgerät beeinflußt sondern nur beobachtet, so daß sich das Anwendersystern mit angeschlossenem Testgerät bezüglich der zeitlichen Bedingungen der Programmabarbeitung genauso verhält, als wäre kein Testgerät angeschlossen. Sie ist aufgebaut aus einem Schreib-Lese-Speicher, an dessen ersten Eingängen die Adreß-, Daten- und Steuerleitungen des Anwendersystems anliegen und dessen Ausgänge mit einem ersten Eingaberegister verbunden sind. Die Ausgänge dieses Registers sind mit den Datenleitungen und ein weiterer Eingang über einen zweitenTheir data lines are connected to two bidirectional switching registers, which allow both a communication with the user system and with the central processing unit of the test and service device. The addressing and the delivery of the control signals to the memories via two switches, which apply the control signals and addresses of either the user system or the central processing unit of the test and service device to the memory. The switching of the bidirectional switching register and the points and thus the assignment of the read / write and read only memory via a switching control. The module for direct access fulfills the task that the central processing unit of the test and service device can access the address, data and control lines and thus directly to memory and input / output modules of the user system to write or read any data to be able to. The module is constructed from bidirectionally acting registers, which are connected both to the data, address and control signal lines of the user system and to the data lines of the central processing unit of the test and service device and further to a first decoder. At the inputs of the decoder, the address lines of the central processing unit of the device are performed. Furthermore, a seventh output register is arranged, which is connected on the input side to the test and service device and on the output side to the user system. The archive memory module is used for the second-wise storage of address, data and control signals for the real-time test of the program sequence. This is to be understood here as meaning that the ongoing processing of a user program by the central processing unit of the user system is not influenced by the connected test device but only observed, so that the user system with connected test device behaves exactly the same with regard to the temporal conditions of the program execution no test device would be connected. It is composed of a read-write memory, at whose first inputs the address, data and control lines of the user system are present and whose outputs are connected to a first input register. The outputs of this register are with the data lines and another input via a second

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Adreßdecoder mit den Adreß- and Steaerleitangen der zentralen Recheneinheit des Test- and Srvicegerätes verknüpft. Zar Adressierung sind -v/eitere Eingänge des RAM mit einem Zähler verbunden, der über ein erstes ODER-Glied angesteuert ist. Die Eingänge des ODER-Gliedes sind ihrerseits geführt an den Adreß-Decoder and an eine Übernahmesteuerung. Die Übernahmesteuerung ist außerdem eingangsseitig mit den Steaerleitangen des Anwendersystems and der Baugruppe Testpuhkt und ausgangsseitig mit einem zweiten Eingaberegister und dem Schreib-Lese-Speicher RAIvI verbunden. Über den Koppeladapter ist ferner eine Baugruppe Simulation angeschlossen. Sie dient der Echtzeitsimulation von Eingabewerten, im'Anwendersystem. Kernstücke dieser Baugruppe sind zwei Schreib/Lese-Speicher, ein Kennungsspeicher und ein Datenspeicher. Über eine Adreßweiche sind beide Speicher entweder mit den Adreßleitungen des Anwendersystems oder des Test- und Servicegerätes verbunden. Ihre Schreib-Lese-Umsteuerung erfolgt über die Steuerleitungen der zentralen Recheneinheit des Gerätes. Der Kennungsspeicher wird auf allen seinen Adressen, die der Gesamtmenge aller möglichen zu simulierenden Eingabe-Adressen entspricht, mit Kodeworten beschrieben, die in verschlüsselter 3?orm die Information enthalten, ob die jeweilige Adresse zu simulieren ist oder nicht und um welchen Eingabetyp es sich bei der jeweiligen Adresse handelt. Der Datenspeicher wird auf allen seinen zu simulierenden Adressen mit den Simulationsdaten beschrieben. Danach veranlaßt die zentrale Recheneinheit des Test- und Servicegerätes, daß die Adressenweiche die Adreßleitungen des Anwendersystems an die beiden Schreib-Lese-Speicher durchschaltet, so daß diese während der Programmabarbeitung im An- '· Wendersystem fortlaufend adressiert und gelesen werden. Eine Simalationssteuerung ist in der Lage_; zusätzlich zu den Daten des Kennungsspeichers die Ausgangsbelegung eines Ausgaberegisters und die Belegung der Steuersignalleitungen des Anwendorsystems auszuwerten und schaltet im Ergebnis dessen die im Datenspeicher adressierten Simulationsdaten über ein Durctischaltteil auf die Datenleitungen des Anwendersystems. Während dieser Zeit gibt die Simulationssteuerung ein Signal ab, daß die Sin/Aasgabebaugruppen des Anwendersystems in den inaktiven Zustand schaltet«Address decoder linked to the address and Steaerleitangen the central processing unit of the test and Srvicegerätes. Zar addressing are -v / eitere inputs of the RAM connected to a counter, which is controlled by a first OR gate. The inputs of the OR gate are in turn fed to the address decoder and to a takeover control. The transfer control is also connected on the input side to the steamer lines of the user system on the module Testpuhkt and on the output side to a second input register and the read / write memory RAIvI. About the coupling adapter a module simulation is also connected. It is used for the real-time simulation of input values, im'User system. At the heart of this module are two read / write memories, a tag memory and a data memory. Via an address switch, both memories are connected either to the address lines of the user system or to the test and service unit. Its read / write reversal takes place via the control lines of the central processing unit of the device. The tag memory is described on all its addresses, which corresponds to the total of all possible input addresses to be simulated, with codewords which contain in encrypted form the information whether the respective address is to be simulated or not and which input type it is the respective address is. The data memory is described on all its addresses to be simulated with the simulation data. Thereafter, the central processing unit of the test and service device causes the address switch to switch the address lines of the user system to the two read-write memories, so that they are addressed and read continuously during program execution in the on-wall system. A Simalationssteuerung is capable _; in addition to the data of the identifier memory to evaluate the output assignment of an output register and the assignment of the control signal lines of the user system and switches as a result of the data addressed in the memory simulation data via a Durctischaltteil on the data lines of the user system. During this time, the simulation controller emits a signal that the Sin / Aasgabebaugruppen the user system in the inactive state switches «

2 2 5 8 6 5 ' - ίο -2 2 5 8 6 5 '- ίο -

Die Baugruppe Einzelschrittbetrieb dient dazu, die zentrale Bedieneinheit des Anwendersystems in den 7/artezustand zu versetzen, von Warte- zu Wartezustand weiterzuschalten und diesen Zustand wieder aufzuheben. Es sind angeordnet- Ausgaberegister, die eingangsseitig mit der zentralen Recheneinheit des Test- und Servicegerätes verbunden sind. Die Ausgänge eines siebenten und achten Ausgaberegisters sind über ein drittes ODER-Glied mit.einem zweiten Eingang eines Flip-Flop-Speichers und der Ausgang eines sechsten Ausgaberegisters ist über ein zweites ODER-Glied an einen ersten Eingang des Flip-Flop-Speichers geführt, dessen Ausgang an das Anwendersystem geführt ist» Der zweite Eingang des zweiten ODER-Gliedes ist mit dem Ausgang einer Binzelschrittsteuerschaltung verbunden, dessen Eingänge mit Steuersignalleitungen des Anwendersystems und dem Ausgang des achten Ausgaberegister-s verknüpft sind.The module single step mode is used to put the central operating unit of the user system in the 7 / artezustand, switch from waiting to wait state and cancel this state again. There are arranged output registers, which are connected on the input side to the central processing unit of the test and service device. The outputs of a seventh and eighth output registers are connected via a third OR gate mit.einem second input of a flip-flop memory and the output of a sixth output register is guided via a second OR gate to a first input of the flip-flop memory, whose output is routed to the user system. The second input of the second OR gate is connected to the output of a bit stepper control circuit whose inputs are connected to user system control signal lines and the eighth output register output.

Die Bedienung des Test- und Servicegerätes erfolgt durch ständige Kommunikation zwischen Bediener und Gerät. Für die Eingabe von Bedienanforderungen und Parametern durch den Bediener in das Test- und Servicegerät ist eine Tastatur vorgesehen, die aus einer Hexadezimal-r und einer Funktionstastatur besteht. Für die Ausgabe vom Gerät an den Bediener steht ein Komplex von Anzeigeelementen zur Verfügung» Diesem Komplex gehören ani Ein alphanumerisches Display für den Dialog zwischen Bediener .und Gerät, eine-.» hexadezimale Anzeige für den jeweils aktuellen Zustand von Adreß- und Datenbus des Anwendersystems ASY und eine Einzelbit-Anzeige des jeweils aktuellen Zustandes aller Steuerbus-Signale des Anwendersystems ASY. Die Kommunikation zwischen Bediener und Gerät sieht prinzipiell so aus, daß der Bediener zuerst durch Betätigung einer Funktionstaste die gewünschte Betriebsart (z. B. Speicher lesen, Speicher schreiben,Einzelschrittbetrieb)aufruft. Hierauf meldet sich das Test- und Servicegerät vermittels einer Ausgabe auf das Display. Hier erscheint eine .'Überschrift, die die aufgerufene Betriebsart charakterisiert sowie ein erster noch unausgefüllter Parameterblock (z. B. Anfangsadresse beim. Speicherschreiben), der durch •sein Erscheinen den Bediener zur Eingabe der gewünschten Parameter veranlaßt. Die Eingabe dieser'Parameter erfolgt vermittels der.Hexadezimaltastatur. Das Ende einer Eingabe teilt derThe operation of the test and service device is done by constant communication between operator and device. For the input of operating requirements and parameters by the operator in the test and service device, a keyboard is provided, which consists of a hexadecimal r and a function keyboard. A complex of display elements is available for output from the device to the operator. »This complex includes an alphanumeric display for operator-to-device interaction, a-.» Hexadecimal display for the current state of the user system address and data bus ASY and a single bit display of the current state of all control bus signals of the user system ASY. In principle, communication between the operator and the device is such that the operator first calls the desired operating mode (eg read memory, write memory, single-step mode) by actuating a function key. The test and service device then reports to the display by means of an output. A '.' Caption is displayed here, which characterizes the operating mode called, as well as a first still unfulfilled parameter block (eg start address during memory write) which, when it appears, causes the operator to enter the desired parameters. The input of these parameters takes place by means of the hexadecimal keypad. The end of an input tells the

2 2 5 8 6 5 __ΛΛ_ 2 2 5 8 6 5 _ _ΛΛ _

Bediener dem Gerät durch Betätigung einer speziell hierfür vorgesehenen Funktionstaste mit. Hierauf meldet sich das Test- und .Servicegerät durch eine weitere Ausgabe auf das Display, es erscheint ej.n zweiter noch nicht ausgefüllter Pararaeterblbck (z. B. Endadresse beim Speicherschreiben), der den Bediener zu einer weiteren Eingabe veranlaßt. Nachdem auf diese Art und Weise alle für die aufgerufene Betriebsart notwendigen Parameter eingegeben^ wurden (z. B. beim Speicherschreiben noch die zwischen Anfangs- und Endadresse zu schreibenden Daten), löst der Bediener durch ein zweites Betätigen derjenigen Funktionstaste, mit der er die Betriebsart aufgerufen hat, die Ausführung dieser Funktion aus, z. B. beim Speicherschreiben das Beschreiben derjenigen Speicherzellen im Anwendersystem, die zwischen vorgegebener Anfangs- und Endadresse liegen mit denjenigen Daten, wie sie bei der Parametereingabe durch den Bediener vorgegeben wurden. Der Aufruf einer anderen Betriebsart kann jederzeit erfolgen, eine eventuell begonnene Parametereingabe wird hierdurch abgebrochen.Operate the device by pressing a dedicated function button. After this, the test and service device returns to the display with another output, and a second pararaeter block (eg end address for memory write), which does not yet appear, appears on the display and causes the operator to make another input. After all the necessary parameters for the called operating mode have been entered in this manner (for example, in the case of memory writing, the data to be written between the start and end addresses), the operator triggers the function key by pressing the function key a second time has called, the execution of this function from, for. For example, in memory writing, describing those memory cells in the user system that are between predetermined start and end addresses with those data, as they were specified in the parameter input by the operator. The call of another operating mode can take place at any time, a possibly started parameter input is thereby aborted.

Ausführungsbeispielembodiment

Die Erfindung wird nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert.The invention will be explained in more detail using an exemplary embodiment.

Fig. 1 zeigt das Blockschaltbild der Zusammenschaltung von Test- und Servicegerät TSG und Anwendersystem ASX. Das Test- und Servicegerät TSG besitzt eine eigene zentrale Piecheneinheit ZET, die über ihren Mikrorechnerbus MBT mit test- und servicespezifischen Ein/Ausgabebaugruppen und Speichern sowie einer Tastatur TAS und Anzeigeelementen ANZ, über die die Kommunikation mit dem Bediener BED erfolgt, verkehrte Das dargestellte Anwendersystem ASY besteht.aus den Systemkomponenten zentrale Recheneinheit ZEA, Speicher Sp und anwenderspezifische Ein/Ausgabebaugruppen EA, wobei der Verkehr untereinander über den Mikrorechnerbus MBA erfolgt. Alle Leitungen für den Signalaustausch zwisehen dem Test- und Servicegerät und dem Anwendersystem werden stets über die Baugruppe Koppeladapter KA geführte Dieser wird auf den Mikrorechnerbus ItBA gesteckt und ist über ein mehradriges Kabel mit dem Test- und Servicegerät verbunden, zu -dem er gerätetechnisch1 shows the block diagram of the interconnection of test and service device TSG and user system ASX. The test and service device TSG has its own central pacing unit ZET, which uses its microcomputer bus MBT with test and service-specific input / output modules and memories as well as a keyboard TAS and display elements ANZ, via which the communication with the operator BED takes place. The illustrated user system ASY consists of the system components central processing unit ZEA, memory Sp and user-specific input / output modules EA, wherein the traffic among each other via the microcomputer bus MBA. All lines for the exchange of signals between the test and service device and the user system are always routed via the module coupling adapter KA. This is plugged into the microcomputer bus ItBA and is connected to the test and service device via a multi-core cable, in addition to the device technology

- 12 -- 12 -

225865 -12-225865 -12-

gehört. Die zentrale Recheneinheit ZBA des Anwendersystems bleibt während des Tests, bis auf einige, noch später zu beschreibende Testfälle, in Funktion. Zu den spezifischen Baugruppen des Test- und Servicegerätes gehören:belongs. The central processing unit ZBA of the user system remains in operation during the test, except for a few test cases to be described later. The specific assemblies of the test and service device include:

- eine Baugruppe für den Testpunkt TP- An assembly for the test point TP

- eine Freradprogrammbaugruppe FPa frerad program module FP

- eine Baugruppe für den direkten Zugriff DZ- An assembly for direct access DZ

- eine Simulationsbaugruppe SI ·a simulation module SI

- eine Baugruppe für den Einzelschrittbetrieb ES- an assembly for single-step operation ES

- ein Archivspeicher ASp undan archive memory ASp and

- eine Auffrischbaugruppe AF.a refresh assembly AF.

In Fig. 2 ist die Baugruppe Koppeladapter als Blockschaltbild dargestellt. Sie dient der übertragung von Signalen. In Richtung vom Test- und Servicegerät werden Signale zur Beeinflussung des Anwendersystems und in Richtung vom Anwendersystem sämtliche Systembus-Signale für Zwecke der internen Steuerung, zur Abspeicherung und Anzeige übertragen. Für Daten-, Adressen- und Steuersignale sind jeweis bidirektional wirkende Speicher-Register Sp-RD, Sp-Ri, Sp-RS angeordnet, mittels derer über die Datenleitungen DLT₅ DLA, über die Adreßleitungen ALT, ALA und über die Steuerleitungen SLT, SLA die Signalankopplung des Test- und Servicegerätes an das Anwendersystem erfolgt. Für die Ausgabe von Steuersignalen auf den Anwendersystembus MRA ist eine Ausgabeschaltung AS angeordnet, die im wesentlichen aus in Reihe geschalteten und vom Systemtakt des AST getriggerten D-Flip-Flop3 besteht_β Vermittels dieser Ausgabeschaltung wird das Zeitverhalten der zentralen Recheneinheit ZRA des Anwendersystems, z. B. für Zwecke des direkten SpeicherZugriffs und des direkten Zugriffs zu Ein/Ausgabebaugruppen nachgebildet. Angeordnet sind ferner Steuerschaltungen STD, STA, STS, zur Richtungsumsteuerung der bidirektionalen Speicherregister SpR. Die Umsteuerung kann sowohl durch Signale erfolgen, die im TSG erzeugt werden als auch durch Signale, die vom Steuersignal-Bus des Anwendersystems ASY abgegriffen v/erden« Weiterhin ist eine Prioritätsauswertungs-Schaltung PAS für den. direkten Zugriff .(DM) angeordnete Sie dient der Einordnung des TSG in eine Prioritätsdurchmusterungsschiene (Daisy Chain) für den direktenIn Fig. 2, the assembly coupling adapter is shown as a block diagram. It is used for the transmission of signals. In the direction of the test and service device, signals for influencing the user system and, in the direction of the user system, all system bus signals are transmitted for purposes of internal control, storage and display. For bidirectionally acting memory registers Sp-RD, Sp-Ri, Sp-RS are arranged for data, address and control signals, by means of which via the data lines DLT ₅ DLA, via the address lines ALT, ALA and via the control lines SLT, SLA the signal coupling of the test and service device to the user system takes place. For outputting control signals to the Anwendersystembus MRA an output circuit AS is arranged, which essentially consists of series-connected and triggered by the system clock of the AST D-type flip-Flop3 is _β means of this output circuit is the timing of the central processing unit ZRA of the user system, eg. For example, for direct memory access and direct access to input / output devices. Also arranged are control circuits STD, STA, STS for direction reversal of the bidirectional storage registers SpR. The reversal can take place both by signals which are generated in the TSG and by signals which are tapped by the control signal bus of the user system ASY. Further, a priority evaluation circuit PAS for the. direct access (DM). It is used to place the TSG in a priority daisy chain for direct access

- 13 -- 13 -

2 2 5 8 6 5, - 13 -2 2 5 8 6 5, - 13 -

Zugriff auf Speicher und Ein/Ausgabebaugruppen des ASY. In Fig. 3 ist dargestellt die funktioneile Baugruppe TP aum Setzen von Testpunkten insbesondere im Echtzeitbetrieb. Unter Testpunkt ist ein ganz bestimmter Zustand des Anwendersystems zu verstehen, der durch die Belegung seiner Adreß-, Daten- und Steuerleitungen charakterisiert ist und der als Ausgangspunkt für einen Test des Anwenderprogramms dient. Die Baugruppe Testpunkt TP gibt die Testpunktbedingungen als Kombination der genannten Signale vor. Während der laufenden Abarbeitung des Anwenderprogramms findet ein ständiger Vergleich dieser Testpunktbedingung mit der Belegung von Adreß-, Daten- und Steuerleitungen des Anwendersystems statt. Die Baugruppe TP ist aufgebaut aus Ausgaberegistern, die eingangsseitig über den Mikrorechnerbus MBT mit der zentralen Bedieneinheit ZET des Test- und Servicegerätes TSG und ausgangsseitig mit einem Vergleicher VG verbunden sind. Der Ausgang des ersten Ausgaberegisters RA1 ist an eine Äquivalenzstufe ÄV des Vergleichers VG geführt, dessen weiterer Eingang mit dem Anwendersystem ASY verbunden ist» Das zweite Ausgaberegister RA2 dient der Markierung jeder Adreßtetrade, jedes Datenbits und jedes Steuersignals. Mit dem dritten Ausgaberegister RA3 wird dem Vergleicher vorgegeben, ob die Datenbits des Testpunktes als UND bzv/. ODER-Funktion zu verknüpfen sind. Das vierte Ausgaberegister RA4 dient der Vorgabe, ob der Vergleicher VG bei Erreichen des Testpunktes entweder ein Wartesignal W1 an das Anwendersystem ASY oder ein Übernähmestoppsi- . gnal Ü an den Archivspeicher ASp ausgibt. Im letzten Fall ver» bleibt das Anwendersystem im Arbeitszustand. Die Baugruppe "Direkter Zugriff¹' DZ ist in Fig. 4- als Blockschaltbild dargestellt. Sie dient dem direkten Zugriff auf Speicher und auf Ein/Ausgabe-Baugruppen des Anwendersystems ASY durch die zentrale Recheneinheit ZRT des Test- und Servicegerätes. Die-.se Baugruppe verfügt über drei bidirektional wirkende Register BRA, BRD und BRS, die auf ihrer einen Seite mit den Adreßleitungen ALA, den Datenleitungen DLA und den Steuerleitungen SLA des Anwendersystems AoY und auf ihrer anderen Seite mit den Datenleitungen DLT der zentralen Recheneinheit' ZRT des Test- und Servicegerätes verbunden sind. Diese Register können von der ZRT vermittels"derer Adreßl'eitungen ALT über einen ersten Adreßdecoder DEC-1 einzeln adressiert und durch Ausgabe entsprechenderAccess to memory and input / output modules of the ASY. FIG. 3 shows the functional assembly TP for setting test points, in particular in real-time operation. By test point is meant a very specific state of the user system, which is characterized by the assignment of its address, data and control lines and which serves as a starting point for a test of the user program. The test point TP module specifies the test point conditions as a combination of the signals mentioned. During the ongoing execution of the user program, a constant comparison of this test point condition with the assignment of address, data and control lines of the user system takes place. The module TP is composed of output registers, which are connected on the input side via the microcomputer bus MBT to the central operating unit ZET of the test and service device TSG and on the output side to a comparator VG. The output of the first output register RA1 is fed to an equivalent stage AV of the comparator VG whose further input is connected to the user system ASY. The second output register RA2 serves to mark each address tetrade, each data bit and each control signal. With the third output register RA3 is given to the comparator, whether the data bits of the test point as AND bzv /. OR function. The fourth output register RA4 is used to specify whether the comparator VG on reaching the test point either a wait signal W1 to the user system ASY or a Überähmestoppsi-. signal Ü to the archive memory ASp. In the latter case, the user system remains in the working state. The module "Direct access ¹ 'DZ is shown as a block diagram in Fig. 4. It is used for direct access to memory and to input / output modules of the user system ASY by the central processing unit ZRT of the test and service device The module has three bidirectionally active registers BRA, BRD and BRS which have on their one side the address lines ALA, the data lines DLA and the control lines SLA of the user system AoY and on the other side the data lines DLT of the central processing unit ZRT of the test These registers can be individually addressed by the ZRT by means of "their address lines ALT via a first address decoder DEC-1 and output by means of a corresponding address

225 865 -^- 225 865 - ^ -

Steuersignale über die Steuerleitung SLT entweder gelesen oder beschrieben v/erden. Die Baugruppe DZ enthält ferner ein Ausgaberegister RA5, das von der zentralen Recheneinheit ZRT beschreibbar ist und dessen Ausgangssignal die zentrale Recheneinheit ZRA des Anwendersystems in einen inaktiven Zustand versetzt. Hiernach kann die zentrale Recheneinheit ZRT über die Register BRA, BRD, BRS Signale auf die Adreß-, Daten- und Steuerleitungen ALA, DLA, SLA des Anwendersystems ausgeben und damit direkt auf seine Speicher und Ein/Ausgabe-Baugruppen zugreifen und beliebige Daten schreiben oder lesen« Die Baugruppe Fremdprogramni FP dient der Aufnahme eines Programms, das dem Anwendersystem ASY zur Abarbeitung aufgezwungen werden kann und nicht Bestandteil des Anwenderprogramms ist* Diese Baugruppe enthält einen Nur-Lese-Speicher und einen Schreib/Lese-Speicher, deren Datenleitungen- mit zwei bidirektionalen Schaltregistern verbunden sind, die einen Datenfluß entweder vom/zum Anwendersystem ASY oder von/zu der zentralen Recheneinheit ZRT des Test- und Servicegerätes gestatten . Die Adressierung und die Zuführung der Steuersignale zu den Speichern erfolgt über Weichen, die entweder Steuersignale und Adressen des Anwendersystems ASY oder Steuersignale und Adressen der zentralen Recheneinheit ZRT an die Speicher anlegen. Die Umschaltung der bidirektionalen Schaltregister und der Weichen und damit die Zuordnung der Schreib/Lese-Speicher und Nur-Lese-Speicher entweder zum Anwendersystem oder zum Test- und Servicegerät erfolgt über eine Umschalsteuerung.Control signals via the control line SLT either read or described v / ground. The assembly DZ further includes an output register RA5 which is writable by the central processing unit ZRT and whose output signal puts the central processing unit ZRA of the user system in an inactive state. After that, the central processing unit ZRT via the registers BRA, BRD, BRS output signals to the address, data and control lines ALA, DLA, SLA of the user system and thus directly access its memory and I / O modules and write any data or read "The module Fremdprogramni FP is used to record a program that can be imposed on the user system ASY for processing and is not part of the user program. * This module contains a read-only memory and a read / write memory whose data lines are provided with two Bidirectional switching registers are connected, which allow a data flow either from / to the user system ASY or from / to the central processing unit ZRT of the test and service device. The addressing and the supply of the control signals to the memories via switches that apply either control signals and addresses of the user system ASY or control signals and addresses of the central processing unit ZRT to the memory. The switching of the bidirectional switching register and the points and thus the assignment of the read / write memory and read-only memory either the user system or the test and service device via a Umschalsteuerung.

In Fig. 5 ist die Baugruppe Archivspeicher ASp als Blockschaltbild dargestellt. Sie dient der zeitweisen Abspeicherung von Adreß-, Daten- und Steuersignalen des Anwendersystems ASY für den Zweck des Echtzeittests des Programmlaufs im Anwendersystem. Kernstück dieser Baugruppe ist ein- Schreib/Lese-Speicher RAM,, dessen Eingänge mit den Adreßleitungen ALA,den Datenleitungen DLA und den Steuerleitungen SLA des Anwendersystems ASY verbunden sind«, Die Ausgänge des Speichers RAM sind mit den Eingängeneines ersten Eingaberegisters RE verbunden, dessen Ausgänge wiederum mit den Datenleitungen der zentralen Recheneinheit ZRT verknüpft sind. Das Eingaberegister RE kann von der ZRT vermittels derer Adreß- und Steuerleitungen ALT, SLT überIn Fig. 5, the assembly archive memory ASp is shown as a block diagram. It serves for the temporary storage of address, data and control signals of the user system ASY for the purpose of the real-time test of the program run in the user system. At the heart of this module is write / read memory RAM whose inputs are connected to the address lines ALA, the data lines DLA and the control lines SLA of the user system ASY. The outputs of the memory RAM are connected to the inputs of a first input register RE whose Outputs are in turn linked to the data lines of the central processing unit ZRT. The input register RE can from the ZRT by means of their address and control lines ALT, SLT via

225885 _ ₁₅ _225885 _ ₁₅ _

einen, zweiten Adreßdecoder DEG 2 'adressiert und gelesen werden. Zur Adressierung des Speichers RAM sind dessen Adreß-Eingänge AO, A1 ... An mit den Ausgängen 2 , 2 ... 2 eines Zählers Z verbunden. Der Eingang des Zählers Z wird über ein erstes ODER-Glied 0D1 angesteuert und zwar beim Beschreiben des Speichers von einer Übernahmesteuerung ÜST und beim Lesen des Speichers vom Adreßdecoder DEG 2. Aufgabe der Übernahmesteuerung ÜST ist es, durch Auswertung der auf den Steuerleitungen SIiA anliegen-.den Steuersignale des Anwendersystems ASX den richtigen Zeitpunkt für eine Fortschaltung des Zählers Z durch ein Ausgangssignal K der "übernahmesteuerung so festzulegen, daß mit jedem neuen Maschinenzyklus der zentralen Recheneinheit ZRA eine neue Zelle des -Speichers RAM adressiert wird, in die dann die jeweils aktuelle Belegung der Adreß-, Daten- und Steuersignale des Anwendersystems ASY eingeschrieben .wird, wobei die Schreib/Lese- Umsteuerung des Speichers RAIvI durch ein weiteres Ausgangssignal I der Übernahmesteuerung erfolgt. Das von der Baugruppe Testpunkt TP (S¹Ig. 3) abgegebene Signal bewirkt in der 'Übernahmesteuerung ÜST, daß das Ausgangssignal K über das ODER-Glied an den'Zähler Z nicht mehr abgegeben wird, und eine weitere Fortschaltung des Zählers Z unterbleibt und daß der Speicher RAM durch das Ausgangssignal I der Übernahmesteuerung auf die Betriebsart Lesen festgelegt v/ird. Dadurch kann keine neue Information mehr in den Speicher RAM eingeschrieben werden und sein Inhalt kann von der zentralen Recheneinheit ZRT über das Eingaberegister RE1 gelesen' werden. Damit die ZRT feststellen kann, ob das Signal von der Baugruppe Testpunkt TP aktiviert und der Speicher RiUi zum Lesen bereit ist, ist ein weiteres Eingaberegister RE2 vorgesehen. Dessen Eingang ist mit einem dritcen Ausgangssignal J der Übernahmesteuerung ÜST und dessen Ausgang mit einer der Datenleitungen DLT der ZRT verbunden. Die ZRT kann so· das Eingaberegister RS2 vermittels ihrer Adreß- und Steuerleitungen ALT, SLT über den Adreßdecoder DEC2 adressieren und lesen. Mit jedem Lesen des Inhaltes einerSpeicherzelle des Speichers RAM über das Eingaberegister RE1 wird die Speicheradresse vom Decoder DEC2 über das ODER-Glied OD-1 und den-Zähler Z um 1 erhöht, so daß durch fortlaufendes Lesen des Eingaberegisters RE1 der gesamte Inhalt des Speichers RAiVl gelesen und dem Bediener zur Anzeige gebracht werden kann.a second address decoder DEG 2 'addressed and read. For addressing the memory RAM whose address inputs AO, A1 ... An are connected to the outputs 2, 2 ... 2 of a counter Z. The input of the counter Z is controlled via a first OR gate 0D1 and indeed while writing to the memory of a transfer control UST and when reading the memory from the address decoder DEG 2. The task of the transfer control UST is, by evaluating the voltage applied to the control lines SIiA- .den the control signals of the user system ASX the correct time for a continuation of the counter Z by an output signal K of the transfer control so that with each new machine cycle of the central processing unit ZRA a new cell of the RAM memory is addressed, in which then the current The read / write reversal of the memory RAIvI is effected by a further output signal I of the transfer control system: the signal output by the test point TP module (S ¹ Ig causes in the 'transfer control ÜST that the output signal K via the OD ER element to the'Zähler Z is no longer delivered, and further indexing of the counter Z is omitted and that the memory RAM is set by the output signal I of the transfer control to the read mode v / ird. As a result, new information can no longer be written into the memory RAM and its contents can be read by the central processing unit ZRT via the input register RE1. In order for the ZRT to determine if the signal from the test point TP module is activated and the memory RiUi is ready for reading, another input register RE2 is provided. Its input is connected to a third output signal J of the transfer control UST and its output to one of the data lines DLT of the ZRT. The ZRT can thus address and read the input register RS2 via its address and control lines ALT, SLT via the address decoder DEC2. With each reading of the contents of a memory cell of the memory RAM via the input register RE1, the memory address of the decoder DEC2 is increased by 1 via the OR gate OD-1 and the counter Z, so that by continuously reading the input register RE1, the entire contents of the memory RAiVl read and displayed to the operator.

In B¹Ig. 6 ist die Baugruppe Einzelschrittbetrieb. ES dargestellt οIn B ¹ Ig. 6 is the module single-step mode. ES shown ο

2 2 5 8 6 52 2 5 8 6 5

Sie dient dazu, die zentrale Recheneinheit des Anwendersystems ASY in den Wartezustand zu versetzen, von Wartezustand zu Wartezustand weiterzuschalten und ihn wieder aufzuheben. Zu diesem Zweck sind drei Ausgaberegister EA6, EA7 und EA8 so angeordnet, daß sie von der zentralen Recheneinheit ZRT des Test- und Servicegerätes beschreibbar sind. Die Ausgangssignale der Ausgaberegister RA6, RA? und RA8 sind über ODER-Glieder 0D2, OD3 mit den beiden Eingängen eines bistabilen Flip-Flop-Speichers FF verbunden und zwar so, daß das Ausgangssignal des Ausgaberegisters über das zweite ODER-Glied 0D2 auf einen ersten Eingang und die Ausgangssignale der Ausgaberegister RA7, RA8 über das dritte ODER-Glied OD3 auf einen zweiten Eingang geführt sind. Außerdem ist das Ausgangssignal von RA8 mit einer Schaltung ESS zur Einzelschrittsteuerung verbunden, an die außerdem die Steuerleitungen SLA des ASY geführt sind. Der Ausgang der Einzelschrittsteuerung ESS ist über das ODER-Glied 0D2 mit dem ersten Eingang des Flip-Flop-Speichers FF verbunden. Das Ausgangssignal .12 dieses .Speichers ist auf das Anwendersystem ASY geführt und bewirkt im Falle seiner Aktivierung, daß dieses in den Warte zustand geht. Der Beginn des Einzelschrittbetriebes wird dadurch ausgelöst, daß das Ausgaberegister RA6 von der zentralen Recheneinheit ZRT so beschrieben wird, daß an seinem Ausgang ein Impuls ansteht, wodurch der Flip-Flop-Speicher FF in den Zustand W2 = aktiv gebracht wird. Das Anwendersystem ASY geht in den Wartezustand. Die Weiterschaltung zum nächstmöglichen Wartezustand erfolgt dadurch, daß das Ausgaberegister RA7 von der ZRT so beschrieben wird, daß dessen Ausgangssignal als Impuls'erzeugt wird. Dadurch wird, der Flip-Flop-Speicher FF in den Zu- ' stand W2 = inaktiv gebracht und das Anwendersystem ASY veranlaßt, den Wartezustand solange zu verlassen, bis infolge einer bestimmten Belegung seiner Steuerleitungen SLA,. die sich in Folge des Verlassens des Wartezustandes einstellt, von der Einzelschrittsteuerung ESS ein Ausgangssignal abgegeben wird, daß den Flip-Flop-Speicher FF wieder in den Zustand V/2 = aktiv bringt. So ist eine sukzessive Fortschaltung von Wartezustand zu Wartezustand möglich. Das endgültige Verlassen des Wartezustandes wird durch das Impulsausgangssignal des Ausgaberegisters RA7 ausgelöst. Der Flip-Flop-Speicher FF geht endgültig in denIt serves to put the central processing unit of the user system ASY into the waiting state, to switch it from wait state to wait state and to release it again. For this purpose, three output registers EA6, EA7 and EA8 are arranged so that they can be written by the central processing unit ZRT of the test and service device. The output signals of the output registers RA6, RA? and RA8 are connected via OR gates 0D2, OD3 to the two inputs of a bistable flip-flop FF so that the output of the output register via the second OR gate 0D2 to a first input and the output signals of the output registers RA7, RA8 are guided via the third OR gate OD3 to a second input. In addition, the output signal of RA8 is connected to a circuit ESS for single-step control, to which also the control lines SLA of the ASY are guided. The output of the single-step control ESS is connected via the OR gate 0D2 to the first input of the flip-flop FF. The output signal .12 of this memory is routed to the user system ASY and, if activated, causes it to go into standby. The beginning of the single step operation is triggered by the fact that the output register RA6 is described by the central processing unit ZRT so that at its output a pulse is present, whereby the flip-flop FF is brought into the state W2 = active. The user system ASY goes into wait state. The switching to the next possible wait state is carried out in that the output register RA7 is described by the ZRT so that the output signal is generated as a pulse '. As a result, the flip-flop FF is brought into the state W2 = inactive and causes the user system ASY to leave the waiting state until, due to a specific occupancy of its control lines SLA,. which sets as a result of leaving the wait state, is issued by the single-step control ESS an output signal that brings the flip-flop FF back to the state V / 2 = active. Thus, a successive switching from the wait state to the wait state is possible. The final exit of the wait state is triggered by the pulse output of the output register RA7. The flip-flop FF is finally in the

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Zustand W2 = inaktiv und der Wartezustand wird verlassen.State W2 = inactive and the wait state is exited.

In Fig. 7 ist die Baugruppe Speicherauffrischung AF als Blockschaltbild dargestellt. Sie dient der ständigen Auffrischung dy- namischer Speicher im Anwendersystem ASY, wenn dieses von der zentralen Recheneinheit ZRT des 'lest- und Servicegerätes für eine Zeitdauer, die großer ist als die Haltezeit der dynamischen Speicher, in den Wartezustand· versetzt-oder ein direkter Zugriff zu den Speicher- bzw. Ein/Ausgabebaugruppen des Anwendersystems ausgelöst wurde. Zu diesem Zweck sind in der Baugruppe Speicherauffrischung AF zwei Durchschaltteile DS und DA so angeordnet, daß sie die für das Auffrischen notwendigen Steuersignale' und Adressen von den Steuer- und Adreßleitungen SM¹, •ALT der ZRT auf die Steuer- und Adreßleitungen SLA, ALA, des Anwendersystems ASY durchschalten können. Weiterhin ist ein von der ZRT beschreibbares Ausgäberegister RA9 vorgesehen, dessen Ausgangsleitung mit dem Anwendersystem äSY und den. Durchschalt- teilen DS, DA verbunden ist.In Fig. 7, the module memory refresh AF is shown as a block diagram. It is used for the continuous refreshing of dynamic memories in the user system ASY when it is put into standby mode or accessed directly by the central processing unit ZRT of the reading and service device for a period of time which is greater than the dynamic memory holding time has been triggered to the memory or input / output modules of the user system. For this purpose, in the module memory refresh AF two switching parts DS and DA are arranged so that they are necessary for the refresh control signals' and addresses from the control and address lines SM ¹ , • ALT of the ZRT on the control and address lines SLA, ALA , through the user system ASY. Furthermore, a ZRT writable Ausgäberegister RA9 is provided, whose output line to the user system äSY and the. Switching parts DS, DA is connected.

Der Vorgang des Auffrischens beginnt damit, daß von der zentralen Recheneinheit das Ausgaberegister RA9 so beschrieben wird, daß dessen Ausgangssignal aktiv wird. Hierdurch wird die zentrale Recheneinheit des Anwendersystems ASY so beeinflußt, daß sie ihre Steuer- und Adreßleitungen SLA, ALA in einen Zustand bringt,der es erlaubt, daß sie mit den Steuer- und Adreßleitungen SLT, ALT über die Durchschaltteile DS, DA verbunden werden. Die von einem von der ZRT bearbeiteten Programm erzeugten zeitlichen Signalverläufe auf den Leitungen SLT, ALT werden jetzt auf die Leitungen SLA₅ ALA des Anwendersystems durchgeschaltet und veranlassen hier das Auffrischen von dynamischen Speichern. Der Vorgang des Auffrischens wird beendet, wenn das Ausgangssignal des Ausgaberegisters RA9 in den inaktiven Zustand geht.The process of refreshing starts with the output register RA9 being written by the central processing unit so that its output signal becomes active. As a result, the central processing unit of the user system ASY is influenced so that it brings their control and address lines SLA, ALA in a state that allows them to be connected to the control and address lines SLT, ALT via the switching parts DS, DA. The time waveforms on the lines SLT, ALT generated by a program processed by the ZRT are now switched through to the lines SLA ₅ ALA of the user system and here cause the refreshing of dynamic memories. The process of refreshing is terminated when the output of the output register RA9 goes to the inactive state.

Die Vorteile des Test- und Servicegerätes sind gemäß:.den vorstehend beschriebenen erfinderischen Merkmalen folgendes "1. Das Anwendersystem wird in bestimmten Betriebsarten auf keinerlei Weise durch das angeschlossene Testgerät beeinflußt, sondern nur beobachtet, so daß sich das Anwendersystem. bezüglich der zeitlichen Bedingungen so verhält, als wäre kein Testgerät angeschlossen.The advantages of the test and service apparatus are as follows: The inventive features described above are as follows: 1. In certain operating modes, the user system is in no way influenced by the connected test apparatus, but is only observed, so that the user system is such with respect to the time conditions behaves as if no test device were connected.

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2. Die Originalität des Prüflings bleibt erhalten.2. The originality of the test object is retained.

3· Es sind alle Mikrorechner-Systenibussignale des Anwendersystems beobachtbar und/oder beeinflußbar, auch jene, die nicht unmittelbar zum Mikroprozessorbus gehören.3 · All microcomputer system bus signals of the user system can be observed and / or influenced, even those not directly belonging to the microprocessor bus.

4-. Das TSG gestattet es, alle nachfolgend aufgeführten Testfunktionen ohne v/eitere Hilfsmittel durchzuführen:4. The TSG allows you to perform all of the following test functions without any additional aids:

- Lesen von Speicherinhalten des Anv/ender syst ems durch direkten Speicherzugriff.- Read memory contents of the Anv / ender syst ems by direct memory access.

- Beschreiben von Speicherzellen des Anwendersystems durch direkten Speicherzugriff.Describe memory cells of the user system by direct memory access.

- Lesen von peripheren Eingabe-Geraten durch direkten Zugriff.- Read peripheral input devices through direct access.

- Beschreiben von peripheren Ausgäbe-Geräten durch direkten Zugriff.- Describe peripheral output devices through direct access.

- Einzelschrittbetrieb, von Wartezustand zu Wartezustand des Prozessors mit Anzeige der jeweiligen Zustände von Adreß-Bus, Daten-Bus und Steuersignal-Bus.- Single-step operation, from wait state to wait state of the processor with display of the respective states of the address bus, data bus and control signal bus.

- Einzelbefehlsabarbeitung mit Anzeige des jeweils aktuellen Inhalts der internen Register des Mikroprozessor-Schaltkreises (z. B. Akku, Flag-Register, Stack-Pointer, ...) und Möglichkeit zur Änderung dieser Registerinhalte.- Single command processing with display of the current content of the internal registers of the microprocessor circuit (eg battery, flag register, stack pointer, ...) and possibility to change this register contents.

- Direkte Eingabe von Daten.und Befehlen per Tastatur auf den Daten-Bus, wenn sich der Prozessor im Wartezustand befindet.Direct entry of data and keyboard commands to the data bus when the processor is in the wait state.

- Sprung zu vorgebbaren Programmadressen.- Jump to predefinable program addresses.

- Setzen von Testpunkten, die vorgebbar sind als Kombination von Adressen-, Daten- und Steuerbussignalen. Das Testgerät vergleicht ständig die Werte des laufenden Programms mit denen des vorgegebenen Testpunktes. Bei -Übereinstimmung der auf Adreß-j. Daten- und Steuersignalbus anliegenden Signale mit vorgegebenem Testpunkt geht der'Prozessor entweder in den Wartezustand oder'es wird die fortlaufende Übernahme aller wesentlichen Bus-Signale in einen speziell hierfür vorgesehenen sogenannten Archiv-Speicher gestoppt. Der Inhalt dieses Speichers kann durch Aufruf des Bedieners auf dem Bildschirm zur Anzeige gebracht werden. Hierdurch ist eine Beobachtung der Programmabarbeitung durch den Mikrorechner im Echtzeitbetrieb möglich.- Setting test points that can be specified as a combination of address, data and control bus signals. The tester constantly compares the values of the current program with those of the given test point. If-match the address-j. Data and control signal bus applied signals with a predetermined test point der'Prozessor either in the waiting state or'es the continuous acquisition of all essential bus signals is stopped in a specially provided for this purpose, so-called archive memory. The contents of this memory can be displayed by calling the operator on the screen. This makes it possible to observe the program execution by the microcomputer in real-time operation.

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Simulation von digitalen, und analogen Prozeßexngabewerten im Echtzeitbetrieb und zeitabhängige Variation dieser Werte _β Simulation of digital and analogue process readings in real time and time dependent variation of these values _β

Programmierung und Laden eines in das Anwendersystem steckbaren schreib/lesbaren Testspeichers,der als Überlagerungsspeicher arbeitet und dessen Adreß-Erkennungsschaltung programmierbar ist. Dadurch können Programme aus nur lesbaren Programmspeichern nach Umladen in diesen Testspeicher getestet und geändert werden, nachdem die Adreßerkennung des ,Testspeichers'so programmiert wurde, daß sie mit der des Nur-Lesespeichers, aus dem das Programm umgeladen wurde, identisch ist.Programming and loading of a read / write test memory which can be plugged into the user system and which operates as overlay memory and whose address detection circuit is programmable. This allows programs to be tested and changed from read-only program stores after being reloaded into that test store after the address tag of the 'test store' has been programmed to be the same as the read-only memory from which the program was reloaded.

Abarbeitung kundenspezifischer Testprogramme, die im Test- und Servicegerät ablegbar sind.Processing customer-specific test programs, which can be stored in the test and service device.

Löschen und Programmieren von Nur-Lesespe.ichern, die durch UV-Licht löschbar sind.Clear and program read only memories which are erasable by UV light.

Auffrischen dynamischer Speicher im Anwendersystem, wenn dieses vom Test- und Servicegerät in den Wartezustand ge*4Refresh dynamic memory in the user system when it is put into standby mode by the test and service device

zwungen wurde oder wenn das Test- und Servicegerät die Bus-Kontrolle übernommen hat und direkt auf den Anwender-Bus zugreift»or if the test and service device has taken over the bus control and accesses the user bus directly »

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Claims

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invention claim

1. Test and service device for microcomputer systems, which consist essentially of a microprocessor as a central operating unit, memory modules for data and programs and user-specific I / O modules, which are all connected to a microcomputer system bus, both operating and display elements and has its own central processing unit, which operates all modules of the test and service device and controls the traffic with the user system, characterized in that. test and service-specific input / output and memory modules are arranged via a microcomputer bus (MBT) with each other and via a coupling adapter (KA) and a multi-core cable to the microcomputer bus (MBA) of the user system (ASY), the service-specific modules consist of a module for test points (TP), in particular for the real-time test, an assembly for Third-party programs (PP), with essentially a Hur-Lese-Speich r and a read / write memory, a module for direct access (DZ) on storage and input / output modules of the user system (aSY), an archive memory (ASp) for real-time, temporary storage of address, data and control signals, a simulation module (SI) for the timely simulation of input values, essentially consisting of memories which can be read / written by both the initiator system and the test and service device, an assembly for single-step operation (ES) and a dynamic memory refresh assembly (AS ¹ ) , and that the test and service device (TSG) for bidirectional. Traffic of data, address and control signals via the cable and coupling adapter (KA) to the user system (ASY) is connected in such a way that the coupling adapter · (KA) plugged into a free space with microcomputer system bus connection (MBA) in the user system is.

2. Test and service device for microcomputer systems according to point Ί, characterized in that the coupling adapter (IvA) is composed of a priority evaluation circuit (PAS) for direct access, bidirectional with both the user system

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and bidirectional memory registers for data (SpE D), addresses (SpR A) and control signals (SpRS), via their corresponding data lines (DLA), address lines (ALA) and, Control lines (SLA) to the user system and via data lines (DLT), address lines (ALT) and control lines (SLi) to the test and service device (TSG) are connected, but in the input control lines (SLT) .A Ausgaheschal-. (AS) is interposed, and that the control lines of the user system (SLA) continue to control circuits for data (STD), address (STA) and control signals (STS) out, at the other inputs each further Steuerleitunigen the test and service device (TSG) are guided and whose • outputs are each linked to the corresponding memory registers.

Test and service unit for microcomputer systems according to Point 1 and 2, characterized in that the module test point is constructed (TP) from output registers (Hai; RA2; RA3; RM) on the input side to the central processing unit (ZRT) of ¹ test and service unit ( TSG) and output side are connected to a digital comparator (VG), at whose one output a takeover stop signal (Ü) is applied, which is led to the archive memory (ASp) and at its other output a wait signal (\ V1) is applied to the User system (ASY) is performed and that the inputs of an equivalent circuit (AV) of the digital comparator (VG) to the user system (ASY) and the first output register (RA1) are connected.

Test and service device for microcomputer systems according to items 1 to 3> characterized in that the module for direct access (DZ) consists of bidirectional registers, one for addresses (BRA), one for data (BHD). and one for control signals (BHS) ₅ a first decoder (DEG 1) and a fifth output register is that address (ALA), data (DLA) and signal lines (SLA) 'of the Ariwendersystems at their respective registers, the data ™ (DLT) and control lines (SLT) of the test and service device (TSG) at the three registers (BRA, BRD, BRS) and the address lines (ALT) of the test and service

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device (TSG) to the decoder (DEG 1) are present, whose outputs are each connected to one of the bidirectional registers and that the output register (RA5) on the input side to the user sys tem and the output side to the central processing unit (ZRT) of the test and service device is guided.

5. Test and service device for microcomputer systems.After the points 1 to 4, characterized in that in the module archival memory (ASp) a read-write memory (PJLM) is arranged, whose inputs with the address, Data and control lines (ALiL, DLA, SLA) of the user system (ASY), the count outputs of a counter (Z) and a transfer control (UST) and whose outputs are linked to an input register (EE1), that the transfer control on the input side with the control signal lines ( SLA) and the module test point (TP) and the output side further with a second input register (RE2) and via a first OR gate (0D1) with the counter (Z) linked. in that the control and address lines (SLT, ALT) of the central processing unit (ZRT) are connected to a second decoder (DEC 2) and the outputs thereof to the OR gate (0D1) and the first input register (RS1) and to the other are connected to the second input register (RE2) and that the outputs of the registers (RE1; RE2) are connected to the data lines (DLT) of the central processing unit,

6. test and service device for microcomputer systems according to the points 1 to 5j, characterized in that in the module single-step mode (ES) a sixth, seventh and eighth output register (RA6; RA7; RA8) are arranged, the input side with the central processing unit (ZRT ), that the outputs of the seventh and eighth output registers are connected via a third OR gate (OD3) to a second input of a flip-flop memory (FF) and the output of the sixth output register via a second OR gate (0D2) is connected to the first input of the flip-flop memory whose output (V / 2) is passed to the user system, wherein the eighth output register (RA8) and the control line (SLA) of the user system are guided to a single-step control circuit (ESS) , which in turn is connected to the second OR gate »