CZ304617B6 - Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel - Google Patents

Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel Download PDF

Info

Publication number
CZ304617B6
CZ304617B6 CZ2008-255A CZ2008255A CZ304617B6 CZ 304617 B6 CZ304617 B6 CZ 304617B6 CZ 2008255 A CZ2008255 A CZ 2008255A CZ 304617 B6 CZ304617 B6 CZ 304617B6
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
optical system
light source
shape
image sensor
spherical mirrors
Prior art date
Application number
CZ2008-255A
Other languages
English (en)
Other versions
CZ2008255A3 (cs
Inventor
Miroslav Pech
Dušan Mandát
Petr Schovánek
Original Assignee
Univerzita Palackého
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univerzita Palackého filed Critical Univerzita Palackého
Priority to CZ2008-255A priority Critical patent/CZ304617B6/cs
Publication of CZ2008255A3 publication Critical patent/CZ2008255A3/cs
Publication of CZ304617B6 publication Critical patent/CZ304617B6/cs

Links

Abstract

Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch (2), zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel, založená na principu Hartmannova testu a obsahující světelný zdroj (1) a digitální snímač (4) obrazu, jejíž podstata spočívá v tom, že mezi světelným zdrojem (1) a odraznou plochou (2) je umístěn dělič (3) svazku paprsků, na jehož úrovni je ve směru kolmém na spojnici světelného zdroje (1) a středu křivosti odrazné plochy (2) umístěn digitální snímač (4) obrazu, přičemž mezi dělič (3) a digitální snímač (4) obrazu jsou vloženy prostorový amplitudový modulátor (5) a prostorový filtr (6).

Description

Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel
Oblast techniky
Vynález řešení se týká konstrukce optické soustavy pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel, a to paprskové neinterferometrické optické soustavy využívající principu tzv. Hartmannova testu.
Dosavadní stav techniky
V současné době se k měření tvaru reflexních ploch používá mnoho různých metod, které jsou založeny na kontaktních, optických interferometrických nebo paprskových neinterferometrických principech, přičemž volba metody závisí na velikosti a tvaru měřeného vzorku, požadované přesnosti a požadovaném rozlišení.
Kontaktní metody jsou výhodné pro svůj značný rozsah měření v x-ové, y-ové i v z-tové souřadnici. Jejich nevýhodou je, že při měření dochází ke kontaktu měřené plochy a měřicího nástroje, což může mít za následek poškození měřeného vzorku. Interferometrické metody, publikované např. ve stati „Optical Shop Testing“ (D. Malacara, John Wiley & Sons lne., New York, 1992.) jsou bezkontaktní metody, jimiž se dosahuje velkých přesností měření v řádu i zlomků vlnové délky použitého záření. Jejich nevýhodou je, že vyžadují značné nároky na přesnost nastavení měřicí soustavy a na mechanickou stabilitu soustavy, přičemž rozsah měření je omezen, a to jak omezením plošné velikosti vzorku, tak intervalem měření. Plochy s velkou odchylkou od očekávaného tvaru jsou již těmito metodami neměřitelné.
Neinterferometrické optické metody využívají k určení tvaru odrazné plochy principy paprskové optiky. V určitých speciálních případech pak ideální optická soustava, například sférické zrcadlo, zobrazuje bodový zdroj světla do ideálního bodu. Jestliže optická plocha nemá perfektní tvar, paprsky odražené od různých oblastí odrazné plochy projdou obrazovou rovinou v různých bodech. U těchto měřicích metod se mezi odraznou plochu a vyhodnocovací zařízení, představované lidským okem nebo digitálním snímačem obrazu ve formě počítače vybaveného CCD kamerou, umístí binární maska opatřená sadami otvorů, které vymezují procházející světelné paprsky. Podle místa dopadu paprsků na plochu vyhodnocovacího zařízení je možno vypočítat směrnici normál dané plochy a následně integrací určit tvar plochy. Tyto metody se s úspěchem používají i pro zrcadla do největších teleskopů, jak je např. popsáno v časopise „ West Applied Optics“ (Steven C., Vol. 41, Issue 19, pp. 3781-3789).
Podle pozice a druhu masky, která je vkládána do světelného svazku, jsou známy tři základní neinterferometrické testy, a to Foucaltův test (Z. M. Foucault, C. R. Acad. Sci. Paris, 47, 958 (1858)), Ronchiho test (V Ronchi, Riv. Ottica Mecc. Precis, 2, 9 (1923)) a Hartmannův test (J. Hartmann, Z. Instrumentenkd, 20, 47 (1900)). U Foucaltova testu se binární maska, která je z poloviny průhledná a z poloviny zcela neprůjezdná, vkládá těsně před obrazový snímač. Tímto přechodem masky se pohybuje a podle obrazců, které se promítají při odrazu od zrcadla, se usuzuje na kvalitu tvaru odrazové plochy. U Ronchiho testu se před odrazový snímač vloží tzv. Ronchiho mřížka tvořená soustavou průhledných a neprůhledných pruhů s určitou hustotou. Podle tvaru pruhů, které se promítají od zrcadla, se usuzuje na kvalitu tvaru odrazové plochy. U Hartmannova testu se binární maska, tvořená průhlednými otvory, vkládá těsně před měřenou odraznou plochu. Otvory v masce pak vymezují paprsky, které dopadají na obrazový snímač, a následně se z polohy míst dopadu jednotlivých paprsků určuje tvar odrazné plochy. Původně se tyto metody vyhodnocovaly lidským okem, byly značně subjektivní a závislé na zkušenostech a erudovanosti hodnotitele. V současné době se pak využívají z vyhodnocování digitální snímače obrazu, např. CCD kameiy, jak je např. popsáno v článku „Hartmann Testing with a CCD“
- 1 CZ 304617 B6 (Porter, A. C„ CCDs in Astronomy, A.S.P. Cong. #8, 1990), které jsou umísťovány vesměs poblíž světelného zdroje, což v řadě případů způsobuje technické problémy při instalaci měřicí a vyhodnocovací techniky.
Úkolem předkládaného vynálezu je vytvoření optické soustavy s novým uspořádáním měřicích a s použitím nových prvků. Tato sestava upravuje klasický Hartmannův test a optimalizuje jeho užití pro měření konvexních odrazných ploch různých velikostí a vnáší do měření tvaru těchto ploch zcela nové možnosti.
Podstata vynálezu
Uvedeného cíle jev zásadě dosaženo vynálezem, kterým je optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel, založená na principu Hartmannova testu a obsahující světelný zdroj a digitální snímač obrazu, jejíž podstata spočívá v tom, že mezi světelným zdrojem a odraznou plochou je umístěn dělič svazku paprsků, na jehož úrovni je ve směru kolmém na spojnici světelného zdroje a středu křivosti odrazné plochy umístěn digitální snímač obrazu, přičemž mezi dělič (3) a digitální snímač obrazu jsou vloženy prostorový amplitudový modulátor a prostorový filtr.
Také je podstatou vynálezu, že dělič je tvořen reflexně transparentní fólií nebo dělicí kostkou nebo optickou klínem nebo transparentní skleněnou destičkou.
Konečně je podstatou vynálezu, že prostorový amplitudový modulátor je tvořen v sérii uspořádanými polarizátorem, fázovým modulátorem (52) a analyzátorem.
Nové uspořádání optické soustavy podle vynálezu umožňuje zcela nové využití Hartmannova testu pro kvantitativní měření kvality tvaru odrazných ploch, zejména konvexních velkoplošných zrcadel. Tato soustava poskytuje zcela nové možnosti měření kvantitativních parametrů tvaru odrazné plochy. Užitím nových prvků a změnou geometrie umožňuje soustava přesnější měření, když zapojením aktivního prvku, tedy prostorového amplitudového modulátoru světla, je umožněno proskenovat povrch zrcadla s libovolnou hustotou měřicích bodů.
Přehled obrázků na výkresech
Konkrétní příklad provedení vynálezu je schématický znázorněn na připojených výkresech, kde obr. 1 je základní schéma optické soustavy a obr. 2 až obr. 4 jsou ukázky třech masek postupně zobrazovaných na fázovém modulátoru při měření, čímž dochází ke skenování měřené plochy.
Příklady provedení vynálezu
Základní provedení optické soustavy sestává z bodového světelného zdroje 1 nasměrovaného na střed křivosti konvexní odrazné plochy 2, například segmentu velkoplošného sférického zrcadla. Mezi světelným zdrojem 1 a odraznou plochou 2 je umístěn dělič 3 svazku paprsků, s výhodou reflexně transparentní fólie, jejíž funkční povrch je vzhledem ke směru světelných paprsků vysílaných ze světelného zdroje 1 skloněn pod úhlem 45°. Na úrovni děliče 3 je ve směru kolmém na spojnici světelného zdroje i a středu křivosti odrazné plochy 2 umístěn digitální snímač 4 obrazu, například CCD kamera, přičemž mezi prvky 3 a 4 jsou vloženy prostorový amplitudový modulátor 5 a prostorový filtr 6. Prostorový amplitudový modulátor 5 je pak tvořen v sérii uspořádanými polarizátorem 51, fázovým modulátorem 52 a analyzátorem 53.
V konkrétním případě pro měření tvaru odrazné plochy 2 segmentu sférického zrcadla hexagonnálního tvaru s poloměrem opsané kružnice 310 mm byla jako světelný zdroj 1 použita laserová
-2CZ 304617 B6 dioda, která svítí na vlnové délce 635 nm navázaná do jednobodového vlákna o průměru jádra 5 pm, kde numerická apertura vlákna zaručovala dostatečnou divergenci svazku pro osvětlení celé odrazné plochy 2. Jako dělič 3 byl zvolen blánový dělič tvořený fólii z nitrocelulózy o tloušťce 2 pm, která rozděluje světelný svazek na dvě části s intenzitou v poměru 50 : 50. U průhledového prostorového amplitudového modulátoru 5, nahrazujícího klasickou binární masku používanou běžně u Hartmannova testu, byl jako fázový modulátor 52 použit LCD čip, na který je počítačově zobrazována speciální neprůhledná binární maska tvořená souborem průhledových otvorů 521, jejíž polohu lze počítačově měnit, například pootáčením o určité úhly, jak je znázorněno na obr. 2 až obr. 4, a tím se dá proskenovat celý povrch odrazné plochy 2. Během měření pak lze tuto masku dynamicky měnit, čímž je umožněno podrobně proměřovat pouze zvolenou část odrazné plochy 2.
Při vlastním měření je svazkem paprsků ze světelného zdroje I osvětlována odrazná plocha 2, přičemž při průchodu děličem 3 se světelný paprsek rozdělí na dva svazky s poloviční intenzitou, z nichž jeden děličem 3 prochází směrem k odrazné ploše 2 a druhý se odrazí kolmo ke směru paprsku vycházejícího ze světelného zdroje L Ta část svazku, která projde děličem 3, osvětlí odraznou plochu 2, od níž se odrazí směrem zpět k děliči 3, od jehož povrchu se částečně odrazí k prostorovému amplitudovému modulátoru 5. Po průchodu prostorovým amplitudovým modulátorem 5 je prošlá část svazku filtrována prostorovým filtrem 6, realizovaným například kruhovým otvorem, a následně detekována digitálním snímačem 4 obrazu, tvořeným například monochromatickou CCD digitální kamerou o citlivosti cca 6 Megapixelů. Při měření je na fázovém modulátoru 51, tedy LCD čipu, počítačem zobrazována binární maska, jejíž jednotlivé obrazy vzniklé jejím pootáčením o určitý úhel se ukládají do paměti počítače a ze sejmutých obrázků se speciálním algoritmem zjišťují souřadnice plochy.
Popsané provedení není jediným možným řešením optické soustavy, ale dělič 3 nemusí být blánový a může být tvořen optickým klínem, dělicí kostkou nebo transparentní skleněnou destičkou.
Průmyslová využitelnost
Optickou soustavu podle vynálezu je možno použít v různých odvětvích výzkumu či průmyslu, například v optických dílnách, ve kterých je nutné kontrolovat velké reflexní plochy.

Claims (3)

  1. PATENTOVÉ NÁROKY
    1. Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch (2), zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel, založená na principu Hartmannova testu a obsahující světelný zdroj (1) a digitální snímač (4) obrazu, vyznačující se tím, že mezi světelným zdrojem (1) a odraznou plochou (2) je umístěn dělič (3) svazku paprsků, na jehož úrovni je ve směru kolmém na spojnici světelného zdroje (1) a středu křivosti odrazné plochy (2) umístěn digitální snímač (4) obrazu, přičemž mezi dělič (3) a digitální snímač (4) obrazu jsou vloženy prostorový amplitudový modulátor (5) a prostorový filtr (6).
  2. 2. Optická soustava podle nároku 1, vyznačující se tím, že dělič (3) je tvořen reflexně transparentní fólií nebo dělicí kostkou nebo optickým klínem nebo transparentní skleněnou destičkou.
  3. 3. Optická soustava podle nároků la2, vyznačující se tím, že prostorový amplitudový modulátor (5) je tvořen v sérii uspořádanými polarizátorem (51), fázovým modulátorem (52) a analyzátorem (53).
CZ2008-255A 2008-04-24 2008-04-24 Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel CZ304617B6 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2008-255A CZ304617B6 (cs) 2008-04-24 2008-04-24 Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2008-255A CZ304617B6 (cs) 2008-04-24 2008-04-24 Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CZ2008255A3 CZ2008255A3 (cs) 2009-11-04
CZ304617B6 true CZ304617B6 (cs) 2014-08-06

Family

ID=41254469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ2008-255A CZ304617B6 (cs) 2008-04-24 2008-04-24 Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel

Country Status (1)

Country Link
CZ (1) CZ304617B6 (cs)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10111240A (ja) * 1996-10-03 1998-04-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 分光反射率測定装置
DE19822453A1 (de) * 1998-06-20 1999-12-23 Johannes Schwider Absolutprüfung von asphärischen Flächen unter Zuhilfenahme von diffraktiven Normalelementen und planen sowie sphärischen Referenzflächen
US20020097376A1 (en) * 2000-03-27 2002-07-25 Applegate Raymond A. Methods and systems for measuring local scattering and aberration properties of optical media

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10111240A (ja) * 1996-10-03 1998-04-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 分光反射率測定装置
DE19822453A1 (de) * 1998-06-20 1999-12-23 Johannes Schwider Absolutprüfung von asphärischen Flächen unter Zuhilfenahme von diffraktiven Normalelementen und planen sowie sphärischen Referenzflächen
US20020097376A1 (en) * 2000-03-27 2002-07-25 Applegate Raymond A. Methods and systems for measuring local scattering and aberration properties of optical media

Also Published As

Publication number Publication date
CZ2008255A3 (cs) 2009-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100297262B1 (ko) 마이크로미러를갖는간섭계및빔필터링방법
CA2648305C (en) Geometric measurement system and method of measuring a geometric characteristic of an object
ES2447545T3 (es) Sistema y método de deflectometría de transformada de Fourier
Su et al. SCOTS: a reverse Hartmann test with high dynamic range for Giant Magellan Telescope primary mirror segments
JP2004530898A (ja) 非球面表面および波面に対する干渉計スキャニング
JPH03183904A (ja) 物体の形状の検知
US20220187161A1 (en) Deflectometry Measurement System
US10337953B2 (en) Method and apparatus for determining surface data and/or measurement data relating to a surface of an at least partially transparent object
US8456644B2 (en) Measurement of changes in surfaces of objects
JPH0814852A (ja) 干渉縞による測定方法および装置
JP2003042731A (ja) 形状計測装置および形状計測方法
Daneshpanah et al. Surface sensitivity reduction in laser triangulation sensors
EP1454183B1 (en) Apparatus and process for characterising samples
JP2007298281A (ja) 被検体の面形状の測定方法及び測定装置
US11774236B2 (en) Alignment of a measurement optical system and a sample under test
JP2005201703A (ja) 干渉測定方法及び干渉測定システム
CZ304617B6 (cs) Optická soustava pro měření tvaru konvexních odrazových ploch, zejména segmentů velkoplošných sférických zrcadel
CZ18623U1 (cs) Mechanická bezpečnostní pojistka proti otevření kapoty automobilů
RU2746940C1 (ru) Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей
KR100262683B1 (ko) 마이크로미러를 갖는 간섭계를 포함한 광학 검사 시스템
Lindlein et al. Optical measurement methods for refractive microlenses and arrays
Page Interferometry
TW417016B (en) Common focus error analysis method of the interferometer reference lens
JP2013101054A (ja) 非球面形状計測装置
Schaub et al. Testing Molded Optics

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Patent lapsed due to non-payment of fee

Effective date: 20150424