CZ2019727A3 - Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury - Google Patents
Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury Download PDFInfo
- Publication number
- CZ2019727A3 CZ2019727A3 CZ2019727A CZ2019727A CZ2019727A3 CZ 2019727 A3 CZ2019727 A3 CZ 2019727A3 CZ 2019727 A CZ2019727 A CZ 2019727A CZ 2019727 A CZ2019727 A CZ 2019727A CZ 2019727 A3 CZ2019727 A3 CZ 2019727A3
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- layered structure
- interest
- signal
- penetrating radiation
- planar beam
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Technické řešení se týká způsobu nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury, v rámci kterého se zkoumaný objekt (5) v místě zájmu ozařuje rovinným svazkem (4) pronikavého záření s ostrou hranou pod úhlem (α) dopadu v řádech jednotek stupňů, načež se zobrazovací kamerou (3) zaznamenává fluorescenční záření a rozptýlené částice, z jejichž zaznamenaného signálu se vyhledají pasáže (δ) s rostoucí/klesající změnou hodnot signálu, načež je určena tloušťka vrstvy pomocí vztahu tn = δn · tg α.
Description
Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury
Oblast techniky
Vynález se týká způsobu nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury ležící na substrátu, který je vůči vrstevnaté struktuře masivní z hlediska poměru celkové tloušťky vrstevnaté struktury a tloušťky substrátu. Způsob podle vynálezu je zejména určen pro nedestruktivní zkoumání polychromie na cenných uměleckých dílech a památkách, jako jsou středověké malby a sochy, ale lze jej použít i v jiných úlohách zaměřených na nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury.
Dosavadní stav techniky
Nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury (tj. stratigrafíe), která pokrývá masivní a strukturovaný substrát, jako je například dřevo, je poměrně složitou úlohou. Jako příklad takové vrstevnaté struktury můžeme uvést polychromii středověkých deskových maleb a soch. Celková tloušťka polychromie jev řádu desetin milimetru, tloušťka jednotlivých vrstev je pak v řádu od jednotek mikrometrů po desítky mikrometrů. Vzhledem ke značnému nepoměru mezi tloušťkou polychromie a dřevěného substrátu není reálné běžnou metodou počítačové tomografie popsat vrstevnaté složení polychromie s dostatečným rozlišením.
Celková tloušťka vrstevnatého povlaku může být měřena na vybraném místě pomocí ultrazvuku, jak uvádí dokument DOI: 10.4067/S0718-221X2018005041301, avšak stratigrafická data nejsou tímto způsobem získána.
Stratigrafíe se běžně provádí pomocí techniky konfokální rentgenové fluorescence za pomoci kapilární rentgenové optiky, jak je uvedeno v dokumentu DOI: 10.1016/j.radphyschem.2019.05.005. Tato metoda je poměrně časově náročná a je určena především pro měření pouze na vybraných místech zkoumaného objektu, zatímco průzkum větších ploch zkoumaného objektu je z hlediska celkové doby měření problematický.
Další možnou technikou pro zkoumání stratigrafíe je takzvaná Comptonova zobrazovací tomografie, o které je psáno např. v přihlášce vynálezu CZ 2015-623 A3, a dále v článku autora K. Osterloh et. al., X-RAY backscatter imaging with a novel twisted slit collimator (In. ECNDT 2012, NDT.net, 2010). Comptonova zobrazovací tomografie využívá zpětně rozptýlené fotony, pocházející z oblasti ozařované tenkým a rovinným rentgenovým svazkem. Tato metoda byla vyvinuta pro kontrolu dílů, které jsou přístupné pouze z jedné strany, s rozlišením typicky na úrovní stovek mikrometrů. Princip je následující: objekt je ozařován rovinným svazkem rentgenového záření, který prochází povrchem objektu pod zvoleným úhlem dopadu (obvykle 45°); rentgenová kamera sleduje zkoumaný řez ze strany - kolmo k rovině rovinného svazku, čímž se získají informace o struktuře objektu v jednom řezu. Trojrozměrná data se zaznamenávají skenováním zkoumaného objektu řez po řezu s ekvidistantním krokem.
Nevýhody výše uvedené metody spočívají v tom, že pro mikrometrické rozlišení musí být rovinný svazek velmi tenký, zatímco prostorový krok mezi řezy musí být minimalizován. Přesněji musí být tloušťka svazku a velikost obrazových pixelů použité rentgenové kamery srovnatelné s požadovaným rozlišením. To vede k neúnosnému prodloužení celkové doby měření, aby bylo možné analyzovat přiměřeně velkou plochu zkoumaného objektu. Navíc intenzita původního divergentního rentgenového svazku z rentgenky tím dramaticky klesá, když je původní rentgenový svazek přetvořen na tenký rovinný svazek.
V jiném vynálezu, známém z přihlášky vynálezu CZ 2015-27 A3, je pro zkoumání vrstevnaté struktury na uměleckých dílech použit rovinný svazek rentgenového záření, který proniká zkoumanou oblastí zkoumaného objektu pod ostrým úhlem dopadu. Současně s průnikem
- 1 CZ 2019 - 727 A3 rentgenového svazkuje zaznamenáván vystupující rentgenový svazek (transmisní měření), a dále je snímáno fluorescenční záření vystupující z ozařovaného materiálu zkoumané oblasti dvěma způsoby, a to nezakrytým detektorem pro analýzu prvkového složení, a současně zakrytým detektorem, jehož kryt je opatřen dírkou pro geometricky popsatelný prostup a dopad fluorescenčního záření na citlivou plochu detektoru.
Nevýhody výše uvedeného řešení spočívají v tom, že je vynalezený způsob komplikovaný, neboť tloušťka použitého rovinného svazku musí být pro rozlišení mikrometrech rovněž v mikrometrech, čímž je rovinný svazek velmi utlumen, a dále že je potřeba analyzovat data ze třech detektorů, načež je nezbytné dílčí výsledky složit do výsledného výstupu. Komplikovaný způsob měření vyžaduje komplikované zařízení kjeho provádění, což zvyšuje cenu vynálezu, zvyšuje pravděpodobnost poškození, či výpadku funkčnosti.
Úkolem vynálezu je vytvoření způsobu nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury, který by dosahoval vysokého rozlišení v mikrometrech za použití rovinného svazku s tloušťkou v milimetrech, který by byl postupově, a i z hlediska zařízení kjeho provádění konstrukčně jednodušší než známá řešení, a který by optimalizoval rychlost realizace měření do přijatelných hodnot, oproti známým řešením.
Podstata vynálezu
Vytčený úkol je vyřešen způsobem nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury podle níže uvedeného vynálezu.
Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury je složen z postupových kroků:
a) místo zájmu zkoumaného objektu se ozařuje rovinným svazkem pronikavého záření dopadajícím na místo zájmu pod ostrým úhlem dopadu,
b) fluorescenční záření a rozptýlené částice vystupující z ozařovaného místa zájmu zkoumaného objektu se snímají alespoň jednou zobrazovací kamerou pronikavého záření,
c) signál ze zobrazovací kamery se vyhodnocuje pro stanovení výsledků nedestruktivního měření vrstevnaté struktury.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že se pro postupový krok a) vymodeluje alespoň jedna strana rovinného svazku pronikavého záření do ostré hrany použitím štěrbinového kolimátoru s rovinným a hladkým povrchem štěrbiny. Díky ostré hraně je dobře rozpoznatelné rozhraní mezi nezasaženým a zasaženým materiálem rovinným svazkem pronikavého záření.
V rámci pokusných měření bylo zjištěno, že rovinný a hladký povrch skla ve štěrbině kolimátoru má díky odrazu pronikavého záření oproti předpokládanému zeslabení intenzity právě naopak zesilující účinek na pronikavé záření při ostrých hranách rovinného svazku pronikavého záření.
Současně je výhodné, pokud se v rámci postupového kroku a) použije velikost úhlu dopadu v rozmezí od 0° do 10°, neboť je rozlišení v měření tlouštěk vrstev nepřímo úměrné tangentu úhlu dopadu rovinného svazku na povrch místa zájmu zkoumaného objektu. Pokud má úhel dopadu hodnotu jednotek stupňů, můžeme při rozlišení zobrazovací kamery na úrovní desítek mikrometrů měřit tloušťky vrstev s přesností jednotek mikrometrů.
Rovněž se s výhodou v rámci postupového kroku c) v charakteristice celkového signálu vyhledají pasáže signálu s rostoucí a/nebo s klesající změnou hodnot, které se zaregistrovaly pro oblast průniku svazku pronikavého záření u jeho ostré hrany místem zájmu zkoumaného objektu, načež se z jejich počtu a průběhu stanoví počet a tloušťka jednotlivých vrstev vrstevnaté struktury
-2 CZ 2019 - 727 A3 v ozařovaném místě zájmu zkoumaného objektu. Je výhodné, že registrovaný signál obsahující fluorescenční a rozptýlené fotony narůstá postupně, jak hlouběji zasahuje do první vrstvy vrstevnaté struktury, zatímco signál s nárůstem pro následující vrstvu vrstevnaté struktury se neprojevuje do chvíle, než hrana pronikavého svazku prostoupí kompletně první vrstvou. Od konce první vrstvy je možné detekovat další nárůst signálu způsobený průnikem hrany svazku druhou vrstvou. V případě, že se sleduje oblast výstupu hrany svazku pronikavého záření z vrstevnaté struktury, lze analogicky sledovat pokles signálu.
Kromě tlouštěk vrstev vrstevnaté struktury je získána celková informace o stavu a složení povrchových vrstev pomocí analýzy fluorescenčních a rozptýlených fotonů z oblasti materiálu ležící mezi vstupem a výstupem rovinného svazku, kdy jsou povrchové vrstvy kompletně uvnitř tohoto svazku. Šířka svazku pronikavého záření může být libovolně zvolena a může být relativně veliká, typicky o řád větší než u jiných výše popsaných metod.
S výhodou se použije rentgenová zobrazovací kamera citlivá na nízkoenergetické rtg fotony, která má rozlišení na úrovni desítek pm. Lze použít nízkoenergetické rentgenové záření, které zejména u organických substrátů, jako je např. dřevo, nezpůsobuje přílišné generování sekundárního pronikavého záření v materiálu dřeva.
Vynalezený způsob pomáhá urychlit nedestruktivní měření vrstevnaté struktury, nevede k dramatickému poklesu intenzity u rentgenového svazku při jeho formování do rovinného tvaru, neboť velikost tloušťky svazku může být znatelně větší než velikost požadovaného rozlišení, významně zjednodušuje známé postupy a zařízení k provádění nedestruktivní stratigrafíe, a zachovává si vysoké rozlišení měření.
Objasnění výkresů
Uvedený vynález bude blíže objasněn na následujících vyobrazeních, kde:
obr. 1 znázorňuje schematické vyobrazení provádění vynalezeného způsobu měření, obr. 2 zjednodušeně znázorňuje princip stratigrafíckého měření využívajícího ostrou hranu rovinného svazku, obr. 3 graf s charakteristikou signálu z měření testovacího vzorku s dvouvrstvou polychromií.
Příklad uskutečnění vynálezu
Na obr. 1 je schematické vyobrazení způsobu nedestruktivního měření vrstevnaté struktury na povrchu zkoumaného objektu 5, kterým je například malba na dřevěné desce, plátno obrazu atp. Mocnost vrstev vrstevnaté struktury je násobně menší, než mocnost nosného substrátu zkoumaného objektu 5.
Ze zdroje 1 pronikavého záření je vyzařován svazek pronikavého záření, který je v kolimátoru 2 vymodelován do rovinného svazku 4 pronikavého záření s ostrou hranou. Tento rovinný svazek 4 dopadá na místo zájmu zkoumaného objektu 5, kterým začne pronikat. Současně jev materiálu ležícím v průniku rovinného svazku 5 generováno sekundární pronikavé záření složené z fluorescenčního záření a z rozptýlených částic. Toto sekundární záření je registrováno zobrazovací kamerou 3. Signál ze zobrazovací kamery 3 je posléze vyhodnocen.
Princip způsobu je názorně vyobrazen na obr. 2, kde je vidět řez místem zájmu zkoumaného objektu 5, a dále je vidět řez rovinným svazkem 4 pronikavého záření s ostrou hranou. Současně je naznačen směr jeho šíření prostorem. Tloušťka Si rovinného svazku 4 je konstantní. Uhel a
-3 CZ 2019 - 727 A3 dopadu je ostrý o velikosti v jednotkách stupňů. Na zkoumaném objektu 5 leží dvě povrchové vrstvy s tloušťkami ti a Ϊ2.
Jak je z obr. 2 patrno, čím hlouběji zasahuje rovinný svazek 4 do první vrstvy vrstevnaté struktury, tím více se zesiluje měřený signál, jak je vidět na první rostoucí pasáži δπ signálu. Na přechodu mezi první a druhou vrstvou se stává signál z první vrstvy v podstatě konstantním, přičemž je postřehnutelná druhá rostoucí pasáž δι2 signálu pro druhou vrstvu. Obdobné chování platí i v oblasti výstupu rovinného svazku 4 z místa zájmu zkoumaného objektu 5, kde pro první vrstvu je viditelná pasáž δ2ι signálu s klesajícími hodnotami, a následně je patrna druhá pasáž 622 signálu s klesajícími hodnotami pro druhou vrstvu.
Pro názornost a rychlé pochopení vynalezeného způsobu byl růst a/nebo pokles v pasážích δ signálu obou vrstev vyobrazen lineárně, avšak ve skutečných podmínkách lze očekávat nelineární chování signálu. Současně byl pro zjednodušení ukázky zanedbán příspěvek k celkovému signálu ze substrátu.
Co se týče určení tloušťky libovolné první vrstvy je rovnice následující:
ti = διι · tg a
Co se týče určení tloušťky libovolné n-vrstvy je rovnice následující:
tn δΐη ' tg Cl
Co se týče určení celkové tloušťky povrchové struktury je rovnice následující:
T = Σΐη = dm · tg a
Prakticky stejné rovnice jsou platné pro vrstvy v oblasti výstupu rovinného svazku 4 z místa zájmu zkoumaného objektu 5.
Přesnost měření je tedy ovlivněna kvalitou celkového signálu, ve kterém se vyhledávají pasáže δ signálu týkající se prostupu skrz vrstevnatou strukturu.
Zdrojem j. pronikavého záření je rentgenka pracující na napětí 40 kV a proudu 0,5 mA. Svazek pronikavého záření byl pomocí štěrbinového kolimátoru 2 z olověného skla vymodelován na rovinný svazek 4 pronikavého záření o tloušťce 0,5 mm. Plochý zkoumaný objekt 5 byl uspořádán na manipulační stolek a rovinný svazek 4 pronikavého záření dopadal na místo zájmu zkoumaného objektu pod úhlem α dopadu o velikosti 5°.
Jako zobrazovací kamera 3 byla použita dírková XRF kamera orientována kolmo k povrchu zkoumaného objektu, tzn., že detektor XRF kamery byl paralelně orientován s rovinným svazkem 4 pronikavého záření. XRF kamera byla nainstalována na unašeč, který ji naváděl pro nerušený příjem sekundárního záření. XRF kamera byla vybavena Timepix detektorem s tloušťkou křemíkového senzoru 300 pm, jenž měl rozlišení 256x256 čtvercových pixelů s délkou strany 55 pm. Sekundární záření bylo promítáno skrz dírku XRF kamery o průměru 100 pm. Detekční práh XRF kamery byl nastaven na 3 ke V pro odfiltrování šumu detektoru.
Data byla zaznamenávána v čase pro všechny události překonávající práh 3 keV a posléze byla analyzována v rámci metody analýzy po jednotlivých událostech, což poskytlo informaci o energii každé zaznamenané částice.
Pozorovaný povrch místa zájmu zkoumaného objektu 5 byl zvětšen násobkem 1,4 vzhledem k vzdálenosti dírky XRF kamery a zkoumaného objektu 5 pro dosažení poměru, ve kterém jeden pixel detektoru XRF kamery odpovídá 40 pm povrchu místa zájmu zkoumaného povrchu 5.
-4 CZ 2019 - 727 A3
V grafu na obr. 3 se záznamem signálu pro zkušební vzorek s dvouvrstvou polychromií lze spatřit pasáž signálu mezi hodnotami 0,533 mm a 0,943 mm, kde hodnota 0,533 reprezentuje začátek první vrstvy polychromie, jenž začne s prostupujícím rovinným svazkem 4 emitovat sekundární záření reprezentované signálem, a hodnota 0,943 reprezentuje začátek příspěvku k sekundárnímu záření od druhé vrstvy polychromie, z čehož lze úvahou odvodit, že první vrstva skončila.
Další pasáž signálu sekundárního záření je mezi hodnotami 0,943 mm a 1,476 mm, kdy je patrný nárůst intenzity sekundárního záření způsobeného od stále hlouběji pronikajícího rovinného svazku 4 do hloubky druhé vrstvy, načež v hodnotě 1,476 mm dojde k náhlému poklesu, který lze úvahou přisoudit k tomu, že rovinný svazek 4 opustil druhou vrstvu polychromie.
Uhel dopadu při testovacím měření byl 5°. Tangens úhlu o velikosti 5° má hodnotu 0,09.
Pro výpočet celkové tloušťky polychromie v místě zájmu na testovacím vzorku lze použít níže uvedený výpočet s dosazením do vzorce:
tc = (1476 pm - 533 pm) · 0,09 tc = 84 pm
Výpočet tloušťky první vrstvy polychromie je následující:
ti = (943 pm - 533 pm) · 0,09 tz = 37 pm
Výpočet tloušťky druhé vrstvy je jednoduchý rozdíl:
t2 = tc - ti t2 = 84 - 37 t2 = 47 pm
Uvedené výsledky souhlasily s experimentálním měřením kontrolní metodou.
Průmyslová využitelnost
Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury podle vynálezu nalezne uplatnění ve výzkumu a restaurování uměleckých děl, dále v oblasti analýzy kvality povrchové úpravy aplikované na masivním substrátu, např. u měření mocnosti ochranných nátěrů.
Claims (3)
- PATENTOVÉ NÁROKY1. Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury sestávající z postupových kroků:a) místo zájmu zkoumaného objektu (5) se ozařuje rovinným svazkem (4) pronikavého záření dopadajícím na místo zájmu pod ostrým úhlem (a) dopadu,b) fluorescenční záření a rozptýlené částice vystupující z ozařovaného místa zájmu zkoumaného objektu (5) se snímají alespoň jednou zobrazovací kamerou (3) pronikavého záření,c) signál ze zobrazovací kamery (3) se vyhodnocuje pro stanovení výsledků nedestruktivního měření vrstevnaté struktury, vyznačující se tím, že se pro postupový krok a) vymodeluje alespoň jedna strana rovinného svazku (4) pronikavého záření do ostré hrany použitím štěrbinového kolimátoru (2) s rovinným a hladkým povrchem štěrbiny, že se v rámci postupového kroku a) použije velikost úhlu (a) dopadu v rozmezí od 0° do 10°, dále že se v rámci postupového kroku c) v charakteristice celkového signálu vyhledají pasáže (δ) signálu s rostoucí a/nebo s klesající změnou hodnot, které se zaregistrovaly pro oblast průniku rovinného svazku (4) pronikavého záření u jeho ostré hrany místem zájmu zkoumaného objektu (5), načež se z jejich počtu a průběhu stanoví počet a tloušťka (t) jednotlivých vrstev vrstevnaté struktury v ozařovaném místě zájmu zkoumaného objektu (5).
- 2. Způsob podle nároku 1, vyznačující se tím, že se použije rentgenové záření.
- 3. Způsob podle nároku 1 nebo 2, vyznačující se tím, že se použije zobrazovací kamera (3) s rozlišením na úrovní desítek pm.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ2019727A CZ2019727A3 (cs) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury |
| EP20210190.3A EP3828534B1 (en) | 2019-11-28 | 2020-11-27 | X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ2019727A CZ2019727A3 (cs) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ308631B6 CZ308631B6 (cs) | 2021-01-13 |
| CZ2019727A3 true CZ2019727A3 (cs) | 2021-01-13 |
Family
ID=74099624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ2019727A CZ2019727A3 (cs) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP3828534B1 (cs) |
| CZ (1) | CZ2019727A3 (cs) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023072322A2 (en) | 2022-10-25 | 2023-05-04 | Ustav Teoreticke A Aplikovane Mechaniky Av Cr, V.V.I. | Method of accelerated non-destructive measurement of a layered structure on a massive substrate and a device for the implementation of the method |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ201527A3 (cs) * | 2015-01-20 | 2016-07-27 | Pixel R&D S.R.O. | Způsob trojrozměrného skenování pomocí fluorescence vyvolané elektromagnetickým zářením a zařízení k provádění tohoto způsobu |
| CZ2015623A3 (cs) | 2015-09-15 | 2016-10-05 | Advacam S.R.O. | Způsob detekce vad v materiálech s vnitřní směrovou strukturou a zařízení k provádění tohoto způsobu |
| CZ33590U1 (cs) * | 2019-11-28 | 2019-12-30 | Ăšstav teoretickĂ© a aplikovanĂ© mechaniky AV ÄŚR, v.v.i. | Zařízení pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury |
-
2019
- 2019-11-28 CZ CZ2019727A patent/CZ2019727A3/cs unknown
-
2020
- 2020-11-27 EP EP20210190.3A patent/EP3828534B1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CZ308631B6 (cs) | 2021-01-13 |
| EP3828534A1 (en) | 2021-06-02 |
| EP3828534B1 (en) | 2023-01-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Riggio et al. | Application of imaging techniques for detection of defects, damage and decay in timber structures on-site | |
| US4577337A (en) | X-Ray fluorescence testing of laminate structures | |
| KR20100135230A (ko) | 복합 구조물의 비파괴 검사 장치 및 비파괴 검사 방법 | |
| Grünzweig et al. | Quantification of the neutron dark-field imaging signal in grating interferometry | |
| CZ2019727A3 (cs) | Způsob nedestruktivního zkoumání vrstevnaté struktury | |
| CZ201527A3 (cs) | Způsob trojrozměrného skenování pomocí fluorescence vyvolané elektromagnetickým zářením a zařízení k provádění tohoto způsobu | |
| Silva et al. | Tube defects inspection technique by using Compton gamma-rays backscattering | |
| Zhu et al. | X-ray Compton backscattering techniques for process tomography: imaging and characterization of materials | |
| US20190025231A1 (en) | A method of detection of defects in materials with internal directional structure and a device for performance of the method | |
| JP6981998B2 (ja) | パルス中性子により発生し放出される即発ガンマ線による表面欠陥検出および分析システム | |
| Babot et al. | Detection and sizing by X-ray Compton scattering of near-surface cracks under weld deposited cladding | |
| Poranski et al. | X-ray backscatter tomography: NDT potential and limitations | |
| Licata et al. | Fast neutron and γ-ray backscatter radiography for the characterization of corrosion-born defects in oil pipelines | |
| Vavrik et al. | Stratigraphy of a layered structure utilizing XRF and scattered photons | |
| US9921158B2 (en) | Method and apparatus for determining isotopic properties of a sample mass | |
| Sharma et al. | A gamma ray tomographic densitometer system for the investigation of concrete structures | |
| Grubsky et al. | Compton imaging tomography technique for NDE of large nonuniform structures | |
| JP6598205B2 (ja) | 非破壊検査方法および装置 | |
| Stepanov et al. | Application of gamma-ray imager for non-destructive testing | |
| Wieder et al. | A novel multi slit X-ray backscatter camera based on synthetic aperture focusing | |
| Tondon et al. | A Compton scattering technique to determine wood density and locating defects in it | |
| Caamiño et al. | Introduction to non-destructive material characterizations | |
| WO2023072322A2 (en) | Method of accelerated non-destructive measurement of a layered structure on a massive substrate and a device for the implementation of the method | |
| RU2258202C2 (ru) | Неразрушающий способ определения поперечных характеристик слоистой структуры, содержащей слой альфа-радиоактивного материала | |
| Sinha | DIGITAL IMAGING OF NEUTRONS AND ITS APPLICATIONS |