CZ201384A3 - Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů - Google Patents

Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů Download PDF

Info

Publication number
CZ201384A3
CZ201384A3 CZ2013-84A CZ201384A CZ201384A3 CZ 201384 A3 CZ201384 A3 CZ 201384A3 CZ 201384 A CZ201384 A CZ 201384A CZ 201384 A3 CZ201384 A3 CZ 201384A3
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
input
power
output
inductor
capacitor
Prior art date
Application number
CZ2013-84A
Other languages
English (en)
Other versions
CZ304363B6 (cs
Inventor
Václav Papež
Original Assignee
České vysoké učení technické v Praze - Fakulta elektrotechnická
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by České vysoké učení technické v Praze - Fakulta elektrotechnická filed Critical České vysoké učení technické v Praze - Fakulta elektrotechnická
Priority to CZ2013-84A priority Critical patent/CZ201384A3/cs
Priority to EP14150931.5A priority patent/EP2765428B1/en
Publication of CZ304363B6 publication Critical patent/CZ304363B6/cs
Publication of CZ201384A3 publication Critical patent/CZ201384A3/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/64Testing of capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

U zařízení pro testování výkonových kondenzátorů s velkou kapacitou je testovaný výkonový kondenzátor (1) doplněn na paralelní rezonanční obvod induktorem (3) s malými ztrátami. Velikost indukčnosti induktoru (3) je volena tak, že na zkušebním kmitočtu má stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor (1). Do sériové kombinace s testovaným výkonovým kondenzátorem (1), která je spojena paralelně s induktorem (3), je svými vstupními svorkami zařazen první proudový snímač (2.1). Jeho výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače (9) a jednak s jedním vstupem fázového detektoru (10). Do jednoho z přívodů mezi paralelním rezonančním obvodem a výstupem výkonového zesilovače (6) je zapojen svými vstupními svorkami druhý proudový snímač (4.1), jehož výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru (10). Výstup fázového detektoru (10) je přes integrační zesilovač (11) a napěťově řízený oscilátor (8) spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu (7), na jehož druhý vstup je připojen výstup regulačního zesilovače (9). Výstup řiditelného útlumového členu (7) je spojen přes výkonový zesilovač (6) se společným spojem induktoru (3) a prvního proudového snímače (2.1) a s druhým vstupem druhého proudového snímače (4.1). Pro testování výkonových kondenzátorů s menší kapacitou, je zapojení obdobné s tím, že testovaný výkonový kondenzátor (1) je induktorem (3) doplněn na sériový rezonanční obvod. Induktor (3) je přemostěn prvním napěťovým snímačem (2.2), propojeným se vstupem regulačního zesilovače (9) a s jedním vstupem fázového detektoru (10). Paralelně k sériovému rezonančnímu obvodu je připojen druhý napěťový snímač

Description

Oblast techniky:
Je řešena konstrukce, která umožňuje testovat výkonové kondenzátory v režimu, kdy jimi prochází střídavý proud, obvykle o vysoké frekvenci s velikostí jednotek až desítek A, při minimalizaci potřebného elektrického výkonu a nároků na testovací zařízení.
Dosavadní stav techniky
Měření a testování kondenzátorů ve výrobě je, kromě testování průrazného napětí, obvykle prováděno zejména signály malé úrovně. Postup vychází z předpokladu linearity testovaného kondenzátorů, a tím z možnosti extrapolace závislostí, které byly zjištěny při měřicích signálech malé úrovně i signály vysoké úrovně až k nejvyšším přípustným hodnotám. Takovým způsobem lze mnoha metodami, například měřením impedance nebo admitance, můstkovými měřicími metodami nebo měřením v rezonančních obvodech, měřit kapacitu, teplotní závislost kapacity, závislost kapacity na přiloženém stejnosměrném napětí, ztrátový činitel nebo činitel jakosti kondenzátorů, izolační odpor a efektivní sériový odpor kondenzátorů v širokém rozmezí měřených hodnot i měřicích kmitočtů.
Komplikovanější situace je při ověřování maximálních přípustných hodnot zatížení kondenzátorů, například přiloženým střídavým napětím nebo procházejícím proudem při definovaných frekvencích a teplotách. Zde se testování provádí v individuálně sestavovaných zkušebních obvodech, které jsou konstruovány tak, aby se obvodové parametry při provozu zkušebního obvodu s minimální odchylkou blížily definovaným parametrům testu.
Zkušební obvod musí být konstruován jako výkonové elektrické zařízení, to je s ohledem na elektrické namáhání všech použitých prvků a jejich chlazení, a musí být napájen signálem, který má i velký výkon. Tento výkon je v ideálním případu činný a odpovídá výkonu ztracenému ve všech součástkách zkušebního obvodu a testovaném kondenzátoru. V obecném případě odebírá zkušební obvod též jalový výkon, který je přibližně roven reaktančnímu výkonu kondenzátoru a může být i o tři řády vyšší než výkon činný. Z hlediska napájení zkušebního obvodu pro zdánlivý výkon větší než několik VA je tato situace přípustná jen tehdy, je-li zkušební obvod napájen střídavým napětím s frekvencí rozvodné sítě přímo z rozvodné sítě a jalový výkon je ze sítě buď odebírán, nebo je v síti kompenzován.
Velmi obtížně řešitelné je napájení zkušebních obvodů se zdánlivým výkonem větším než stovky VA a s nízkým účiníkem a na frekvencích odlišných od frekvence síťové, které je obvykle nutno realizovat s použitím lineárního výkonového zesilovače. Zesilovač je při odebírání jalového výkonu silně přetěžován. Pokud proud a napětí v reaktanční zátěži odpovídá předpokládanému proudu a napětí ve jmenovité činné zátěži, ztrátový výkon v zesilovači dosahuje 130 až 150 % odebíraného jalového výkonu. Z toho vyplývá nutnost dimenzovat zesilovač na činný výkon přibližně 2,5 x větší než je výkon jalový, nemá-li být zesilovač jalovým výkonem nevyhnutelně poškozen. V případech, kdy testy jsou prováděny jako dlouhodobé, je významnou nevýhodou i vysoká spotřeba elektrické energie.
Podstata vynálezu
Výše uvedené nevýhody odstraňuje zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů dle vynálezu. Zařízení je provedeno ve dvou variantách, a to pro testování výkonových kondenzátorů s velkou a menší kapacitou. V obou případech je součástí testovacího zařízení výkonový zesilovač, který by měl pro svou funkci mít optimální zatěžovací odpor. V první variantě, tedy u zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů s velkou kapacitou, je podmínkou, aby reaktance na testovacím kmitočtu byla menší než optimální zatěžovací odpor v zařízení zařazeného výkonového zesilovače. Podstatou nového řešeni je, že testovaný výkonový kondenzátor je doplněn induktorem s malými ztrátami, jehož ztrátový činitel je srovnatelný se ztrátovým činitelem testovaného výkonového kondenzátoru nebo menší, na paralelní rezonanční obvod. Velikost indukčnosti induktoru je volena tak, že na zkušebním kmitočtu má stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor. Do sériové kombinace s testovaným výkonovým kondenzátorem, která je spojena paralelně s induktorem, je svými vstupními svorkami zařazen první proudový snímač. Jeho výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače a jednak s jedním vstupem fázového detektoru. Do jednoho z přívodů mezi paralelním rezonančním obvodem, tvořeným testovaným výkonovým kondenzátorem a induktorem, a výstupem výkonového zesilovače je zapojen svými vstupními svorkami druhý proudový snímač. Výstup druhého proudového snímače je spojen s druhým vstupem fázového detektoru. Výstup fázového detektoru je dále přes integrační zesilovač a napěťově řízený oscilátor spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu. Na druhý vstup řiditelného útlumového členu je připojen výstup regulačního zesilovače. Výstup řiditelného útlumového členu je spojen přes výkonový zesilovač se společným spojem induktoru a prvního proudového snímače a s druhým vstupem druhého proudového snímače.
V jednom možném provedení je výkonový zesilovač připojen k paralelnímu rezonančnímu obvodu tvořenému testovaným výkonovým kondenzátorem a induktorem přes přizpůsobovací transformační člen.
Druhá varianta je pro případ, kdy se jedná o testování výkonových kondenzátorů s menší kapacitou, jejíž reaktance na testovacím kmitočtu je větší než optimální zatěžovací odpor v zařízení zařazeného výkonového zesilovače. Zde je testovaný výkonový kondenzátor doplněn na sériový rezonanční obvod, a to induktorem s malými ztrátami, jehož ztrátový činitel je srovnatelný se ztrátovým činitelem kondenzátoru nebo je menší. Velikost indukčnosti induktoru je volena tak, že na zkušebním kmitočtu má stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor. Induktor je zde přemostěn prvním napěťovým snímačem, jehož výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače a jednak s jedním vstupem fázového detektoru. Paralelně k tomuto sériovému rezonančnímu obvodu je připojen druhý napěťový snímač, jehož výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru. Výstup fázového detektoru je přes integrační zesilovač a napěťově řízený oscilátor spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu. Na druhý vstup řiditelného útlumového členu je připojen výstup regulačního zesilovače. Výstup řiditelného útlumového členu je připojen na vstup výkonového zesilovače, jehož výstup je propojen se sériovým rezonančním obvodem. I v tomto provedení lze výkonový zesilovač připojit k vytvořenému sériovému rezonančnímu obvodu přes přizpůsobovací transformační člen.
Výhodou nového řešení je vysoce přesná kompenzace jalového výkonu testovaného kondenzátoru v měřicím obvodu a přizpůsobení měřicího obvodu k budicímu generátoru. Tak je dosaženo stavu, kdy budicím generátorem není dodáván žádný jalový výkon a dodávaný činný výkon, hradící ztráty v prvcích měřicího obvodu a je o 1 až 2 řády menší než jalový výkon testovaného kondenzátoru. Potřebnou přesnou kompenzaci jalového výkonu testovaného kondenzátoru, která může být chápána jako doplnění testovaného kondenzátoru induktorem tak, aby byl vytvořen rezonanční obvod vyladěný na měřicí kmitočet, zajišťuje popisované zařízení automatickou korekcí měřicího kmitočtu podle okamžité hodnoty rezonančního kmitočtu měřicího obvodu. K řízení kmitočtu je použita zpětnovazební smyčka s napětím řízeným oscilátorem, intergrátorem a fázovým detektorem. Signály vedené na vstupy fázového detektoru jsou odebírány z měřicího obvodu, např. jako budící proud paralelního rezonančního obvodu a proud v kapacitní větvi rezonančního obvodu, tak aby při rezonanci odpovídaly dvěma sinusovým signálům s fázovým posunem 90 °. Při rozladění, kdy fázový posuv není 90 °, působí výstupní signál fázového detektoru ve smyčce prostřednictvím integrátoru na napětím řízený oscilátor a způsobuje změnu jím generované frekvence k rezonančnímu kmitočtu měřicího obvodu
Objasnění výkresů
Příklady blokového uspořádání obou variant zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů jsou uvedeny na přiložených výkresech. Varianta s paralelním rezonančním obvodem je na Obr. 1 a varianta se sériovým rezonančním obvodem je na Obr. 2.
Příklady uskutečnění vynálezu
Uspořádání zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů, vhodné zejména pro výkonové kondenzátory s velkou kapacitou, které jsou testovány proudem několika desítek až stovek A, je zobrazeno na Obr. 1. Testovaný výkonový kondenzátor 1 je doplněn induktorem 3 s malými ztrátami, jehož indukčnost je volena tak, aby měl na zkušebním kmitočtu stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor^, na paralelní rezonanční obvod, ve kterém je na rezonančním kmitočtu obvodu kompenzován kapacitní jalový výkon testovaného výkonového kondenzátorů 1 indukčním jalovým výkonem induktoru 3. Do sériové kombinace s testovaným výkonovým kondenzátorem 1, který je spojen paralelně s induktorem 3, je svými vstupními svorkami zařazen první proudový snímač 2.1. Výstup prvního proudového snímač 2.1 je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače 9 a jednak s jedním vstupem fázového detektoru 10. Do jednoho z přívodů mezi vytvořeným paralelním rezonančním obvodem a výstupem výkonového zesilovače 6 je zapojen svými vstupními svorkami druhý proudový snímač 4,1. Jeho výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru 10. Výstup fázového detektoru 10 je přes integrační zesilovač 11 a napěťově řízený oscilátor 8 spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu 7. Na druhý vstup řiditelného útlumového členu 7 je připojen výstup regulačního zesilovače 9. Výstup řiditelného útlumového členu 7 je v základním zapojení spojen přes výkonový zesilovač 6 se společným spojem induktoru 3 a prvního proudového snímače 2,1 a s druhým vstupem druhého proudového snímače 4.1. V zapojení podle Obr. 1 je tento výkonový zesilovač 6 k paralelnímu rezonančnímu obvodu, tvořenému testovaným výkonovým kondenzátorem 1 a induktorem 3, připojen přes přizpůsobovací transformační člen 5.
Testovací signál je generován napěťově řízeným oscilátorem 8, ze kterého je veden na řiditelný útlumový člen 7, výkonový zesilovač 6, v daném příkladu i na přizpůsobovací transformační člen 5 a odtud až na paralelní rezonanční obvod s kondenzátorem 1 a induktorem 3. Ke sledováni stavu vyladění rezonančního obvodu jsou použity proudové snímače, tedy první proudový snímač 2.1 a druhý proudový snímač 4,1, jejichž výstupní signály jsou obrazem proudu v testovaném
- 6 výkonovém kondenzátorů £ a budicího proudu paralelního rezonančního obvodu. Oba tyto signály jsou vedeny na fázový detektor 10, jehož výstupní signál je úměrný odchylce fázového posunu mezi přiváděnými signály od hodnoty 90°. Výstupní signál fázového detektoru 10 je veden na integrační zesilovač £1, který generuje řídicí signál, kterým je automaticky nastavován kmitočet napěťově řízeného oscilátoru 8 na rezonanční kmitočet měřicího obvodu. Výstupní signál prvního proudového snímače
2.1 je dále veden do regulačního zesilovače 9, kde je porovnáván s referenční úrovní a podle rozdílu je generován řídicí signál pro řiditelný útlumový člen 7, kterým je průběžně nastavováno vstupní napětí výkonového zesilovače 6 na hodnotu, při které dosahuje proud ve výkonovém kondenzátorů £ požadovanou hodnotu.
Přizpůsobení rezonančního odporu rezonančního obvodu k optimálnímu zatěžovacímu odporu zdroje signálu je realizováno přizpůsobovacím transformačním členem 5, který je zařazen mezi výkonový zesilovač 6 a měřicí rezonanční obvod. Transformační poměr transformačního členu 5 je volen tak, že jím transformovaný rezonanční odpor rezonančního obvodu v rezonanci odpovídá optimálnímu zatěžovacímu odporu výkonového zesilovače 6.
Uspořádání zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů, vhodné, zejména pro kondenzátory s menší kapacitou, které jsou testovány proudem několika A a při testu je na nich napětí až několik tisíc V, je zobrazeno na Obr. 2. Reaktance kapacity výkonového kondenzátorů £ je na testovacím kmitočtu větší než je optimální zatěžovací odporu výkonového zesilovače 6. Testovaný výkonový kondenzátor £ je v tomto případě doplněn induktorem 3 s malými ztrátami, jehož ztrátový činitel je srovnatelný nebo menší než je ztrátový činitel testovaného výkonového kondenzátorů £ na sériový rezonanční obvod. Indukčnost induktoru 3 je volena tak, aby měl na zkušebním kmitočtu stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor 1. V takto vzniklém sériovém rezonančním obvodu je na rezonančním kmitočtu obvodu kompenzován kapacitní jalový výkon kondenzátorů indukčním jalovým výkonem induktoru. Induktor 3 je přemostěn prvním napěťovým snímačem 2.2, jehož výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače 9 a jednak s jedním vstupem fázového detektoru 10. Paralelně k tomuto sériovému rezonančnímu obvodu je připojen druhý napěťový snímač 4.2, jehož výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru 10. Výstup fázového detektoru 10 je přes integrační zesilovač 11 a napěťově řízený oscilátor 8 spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu 7. Na druhý vstup řiditelného útlumového členu 7 je připojen výstup regulačního zesilovače 9. Výstup řiditelného útlumového členu 7 je připojen na vstup výkonového zesilovače 6, jehož výstup je v uvedeném příkladu připojen k sériovému rezonančnímu obvodu tvořenému testovaným výkonovým kondenzátorem 1 a induktorem 3 přes přizpůsobovací transformační člen 5.
Testovací signál je opět generován napěťově řízeným oscilátorem 8, ze kterého je veden na řiditelný útlumový člen 7, výkonový zesilovač 6, přizpůsobovací transformační člen 5 a dále na sériový rezonanční obvod s výkonovým kondenzátorem 1 a induktorem 3. Ke sledování stavu vyladění sériového rezonančního obvodu jsou použity napěťové snímače, první napěťový snímač 2.2 a druhý napěťový snímač 4.2, jejichž výstupní signály jsou obrazem napětí na testovaném výkonovém kondenzátoru 1 a budicího napětí sériového rezonančního obvodu. Oba tyto signály jsou vedeny na fázový detektor 10, jehož výstupní signál je úměrný odchylce fázového posunu mezi přiváděnými signály od hodnoty 90 °. Výstupní signál fázového detektoru 10 je veden na integrační zesilovač H, který generuje řídicí signál, kterým je automaticky nastavován kmitočet napěťově řízeného oscilátoru 8 na rezonanční kmitočet měřicího obvodu. Výstupní signál prvního napěťového snímače 2.2 je dále veden do regulačního zesilovače 9, kde je porovnáván s referenční úrovní a podle rozdílu je generován řídicí signál pro řiditelný útlumový člen 7, kterým je průběžně nastavováno vstupní napětí výkonového zesilovače 6 na hodnotu, při které dosahuje napětí na kondenzátoru požadovanou hodnotu. Přizpůsobovací transformační člen 5 zde má stejnou úlohu jako v provedení podle Obr. 1.
Podstatou funkce zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů je vybuzení požadovaného velkého jalového výkonu v testovaném výkonovém kondenzátoru 1, který je součástí rezonančního obvodu, působením pouze mnohonásobně menšího činného výkonu, který hradí ztráty ve výkonovém kondenzátoru 1 a v induktoru 3 rezonančního obvodu. Protože moderní a kvalitní kondenzátory s dielektriky z plastových folií vykazují v rozsahu měřicích frekvencí 1 až 100 kHz malý ztrátový činitel řádu 10'3, nepřesahuje ztrátový výkon testovaného kondenzátoru 100 W a ztráty v kondenzátoru obvykle spotřebovávají pouze menší část budicího výkonu. Větší část budicího výkonu, zhruba 60/80 %, je tvořena ztrátovým výkonem induktoru 3, který má obvykle 2 až 3 krát větší ztrátový činitel než testovaný výkonový kondenzátor 1.
Pokud je rezonanční obvod přesně vyladěn na měřicí frekvenci, lze s činným budicím výkonem 100 W vytvořit jalový výkon v testovaném výkonovém kondenzátoru 1 s úrovní 5 až 10 kVAr. Automatické zabezpečení trvalého splnění podmínky vyladění, přizpůsobení rezonančního odporu rezonančního obvodu k optimálnímu zatěžovacímu odporu zdroje signálu a stabilizace úrovně signálu v měřicím obvodu představují základní funkci zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů.
Smyčka automatického dolaďování nastavuje okamžitou hodnotu měřicího kmitočtu na rezonanční kmitočet měřicího obvodu, který se během testování může mírně měnit vlivem stárnutí kondenzátoru, změny jeho kapacity nebo změny indukčnosti induktoru. Vzhledem k činiteli jakosti měřicího rezonančního obvodu, který může dosahovat i hodnot vyšších než 100, způsobí odchylka již rádu desetin % mezi měřicím kmitočtem a rezonančním kmitočtem měřicího obvodu značnou odchylku impedance rezonančního obvodu od reálné hodnoty. Protože automatické elektronické nastavování indukčnosti nebo kapacity v měřicím obvodu by bylo obtížné a nákladné, je na rezonanční kmitočet měřicího obvodu nastavován měřící kmitočet. Pokud je změna měřicího kmitočtu malá, obvykle ne větší než 1 %, jsou i změny podmínek měření jí způsobené, zanedbatelné.
Rezonanční děj v rezonančním obvodu, který je tvořen kondenzátorem 1 a induktorem 3, je sledován prostřednictvím proudových snímačů 2.1, 4.1 nebo napěťových snímačů 2.2, 4.2, jejichž výstupní signály jsou obrazem proudu nebo napětí na testovaném výkonovém kondenzátoru 1 a proudu nebo budicímu napětí rezonančního obvodu. Výstupní signály proudových snímačů 2.1, 4.1 nebo napěťových snímačů 2.2, 4.2 jsou vedeny na fázový detektor 10, který pracuje jako analogová násobička, jeho výstupní napětí je nulové, je-li fázový posuv vstupních signálů 90° a rezonanční obvod je naladěn na kmitočet budicího signálu. Pro odlišné
- 9 ' a malé odchylky fázového posuvu od 90°, není-li rezonanční obvod naladěn na kmitočet budicího signálu, je výstupní napětí úměrné velikosti odchylky skutečného fázového posuvu od 90°, respektive i odchylce rezonančního kmitočtu rezonančního obvodu od kmitočtu budicího signálu. Výstupní signál fázového detektoru 10 je proto použit jako vstupní veličina ve smyčce automatického dolaďování a je veden do integračního zesilovače 11, který generuje řídicí signál, kterým je automaticky nastavován kmitočet napěťově řízeného oscilátoru 8 na rezonanční kmitočet měřicího obvodu.
Smyčka stabilizace úrovně signálu v měřicím obvodu zabezpečuje dlouhodobě konstantní úroveň signálu na testovaném výkonovém kondenzátoru 1 i při nevelkých změnách parametrů měřicího obvodu. Výstupní signál prvního proudového snímače 2.1 respektive prvního napěťového snímače 2.2, který reprezentuje úroveň signálu na testovaném výkonovém kondenzátoru 1, je vyhodnocován a porovnáván s referenční úrovní v regulačním zesilovači 9. Zde je podle rozdílu generován řídicí signál, který je veden na řiditelný útlumový člen 7, jehož útlum se mění podle velikosti řídicího napětí. Tím je průběžně nastavováno vstupní napětí výkonového zesilovače 6 na hodnotu, při které dosahuje proud v testovaném výkonovém kondenzátoru 1 požadovanou hodnotu.
Průmyslová využitelnost
Zařízeni podle uvedeného řešení je zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů, které může být využíváno ve všech případech, kdy jsou jalovým výkonem větším než několik desítek VAr dlouhodobě, např. v rámci životnostních zkoušek, zatěžovány jakostní kondenzátory. Zařízení umožňuje provádět testování s menším výkonem generátoru budicího signálu a s menší spotřebou elektrické energie, než v jiných případech. Kromě toho zařízení umožňuje stabilizovat úroveň zatížení testovaného kondenzátoru během testu.
'e\f . 10 '

Claims (4)

PATENTOVÉ NÁROKY
1. Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů^vyznačující se tím, že pro testování výkonových kondenzátorů s velkou kapacitou, jejíž reaktance na testovacím kmitočtu je menší než optimální zatěžovací odpor v zařízení zařazeného výkonového zesilovače (6), je testovaný výkonový kondenzátor (1) doplněn na paralelní rezonanční obvod induktorem (3) s malými ztrátami, jehož ztrátový činitel je srovnatelný se ztrátovým činitelem testovaného výkonového kondenzátorů (1) nebo menší, kde velikost indukčnosti induktoru (3) je volena tak, že na zkušebním kmitočtu má stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor (1), kde do sériové kombinace s testovaným výkonovým kondenzátorem (1), která je spojena paralelně s induktorem (3), je svými vstupními svorkami zařazen první proudový snímač (2.1), jehož výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače (9) a jednak s jedním vstupem fázového detektoru (10) a kde do jednoho z přívodů mezi paralelním rezonančním obvodem a výstupem výkonového zesilovače (6) je zapojen svými vstupními svorkami druhý proudový snímač (4.1), jehož výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru (10) a výstup fázového detektoru (10) je přes integrační zesilovač (11) a napěťově řízený oscilátor (8) spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu (7), na jehož druhý vstup je připojen výstup regulačního zesilovače (9) a kde výstup řiditelného útlumového členu (7) je spojen přes výkonový zesilovač (6) se společným spojem induktoru (3) a prvního proudového snímače (2.1) a s druhým vstupem druhého proudového snímače (4.1).
2. Zařízení podle nároku 1( vyznačující se tím, že výkonový zesilovač (6) je t
k paralelnímu rezonančnímu obvodu tvořenému testovaným výkonovým kondenzátorem (1) a induktorem (3) připojen přes přizpůsobovací transformační člen (5).
3. Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů,vyznačující se tím, že pro testování výkonových kondenzátorů s menší kapacitou, jejíž reaktance na testovacím kmitočtu je větší než optimální zatěžovací odpor v zařízení zařazeného výkonového zesilovače, je testovaný výkonový *
« lit í
kondenzátor (1) doplněn na sériový rezonanční obvod induktorem (3) s malými ztrátami, jehož ztrátový činitel je srovnatelný se ztrátovým činitelem kondenzátoru (1) nebo menší, kde velikost indukčnosti induktoru (3) je volena tak, že na zkušebním kmitočtu má stejnou reaktanci jako testovaný výkonový kondenzátor (1), kde induktor (3) je přemostěn prvním napěťovým snímačem (2.2), jehož výstup je spojen jednak se vstupem regulačního zesilovače (9) a jednak s jedním vstupem fázového detektoru (10) a paralelně k tomuto sériovému rezonančnímu obvodu je připojen druhý napěťový snímač (4.2), jehož výstup je spojen s druhým vstupem fázového detektoru (10) a výstup fázového detektoru (10) je přes integrační zesilovač (11) a napěťově řízený oscilátor (8) spojen s jedním vstupem řiditelného útlumového členu (7), na jehož druhý vstup je připojen výstup regulačního zesilovače (9) a kde výstup řiditelného útlumového členu (7) je připojen na vstup výkonového zesilovače (6), jehož výstup je propojen se sériovým rezonančním obvodem.
4. Zařízení podle nároku ^vyznačující se tím, že výkonový zesilovač (6) je k sériovému rezonančnímu obvodu tvořenému testovaným výkonovým kondenzátorem (1) a induktorem (3) připojen přes přizpůsobovací transformační člen (5).
ι·ν 1^0
CZ2013-84A 2013-02-07 2013-02-07 Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů CZ201384A3 (cs)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2013-84A CZ201384A3 (cs) 2013-02-07 2013-02-07 Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů
EP14150931.5A EP2765428B1 (en) 2013-02-07 2014-01-13 Device for automatic testing of power capacitors

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2013-84A CZ201384A3 (cs) 2013-02-07 2013-02-07 Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CZ304363B6 CZ304363B6 (cs) 2014-03-26
CZ201384A3 true CZ201384A3 (cs) 2014-03-26

Family

ID=49920216

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ2013-84A CZ201384A3 (cs) 2013-02-07 2013-02-07 Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP2765428B1 (cs)
CZ (1) CZ201384A3 (cs)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110412359A (zh) * 2019-08-29 2019-11-05 日新电机(无锡)有限公司 用于测量金属化膜电容固有电感的试验装置及系统
EP3866329A1 (en) 2020-02-12 2021-08-18 Hamilton Sundstrand Corporation Motor drive
CN115902480B (zh) * 2022-11-29 2023-11-03 西安西电电力电容器有限责任公司 一种集合式电力电容器试验回路及其调谐方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3970925A (en) * 1974-05-10 1976-07-20 Control Data Corporation Direct reading reactance meter
FR2576690B1 (fr) * 1985-01-29 1988-04-01 Veglia Dispositif de mesure de reactance
JPS61266965A (ja) * 1985-05-22 1986-11-26 Sanwa Denki Seisakusho:Kk インピーダンス等の測定装置
JPH06213978A (ja) * 1993-01-19 1994-08-05 Fuji Electric Co Ltd 開閉器の試験回路
GB9316036D0 (en) * 1993-08-03 1993-09-15 Univ Birmingham Measurement apparatus
SE515388C2 (sv) * 1995-09-14 2001-07-23 Abb Research Ltd Anordning för avkänning av elektriska urladdningar i ett provobjekt
DE102004047116A1 (de) * 2004-03-08 2005-10-06 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co Kg Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Drehzahlmessung
US8253426B2 (en) * 2007-10-18 2012-08-28 Pioneer Corporation Capacitance detector
US8351232B2 (en) * 2009-12-28 2013-01-08 Nxp B.V. Power factor corrector with high power factor at low load or high mains voltage conditions
CN202721445U (zh) * 2012-05-23 2013-02-06 杭州晟泰电气有限公司 智能型无功补偿集成模块
CN102736000B (zh) * 2012-07-06 2014-10-08 桂林电子科技大学 电力电容器在线检测方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
CZ304363B6 (cs) 2014-03-26
EP2765428A3 (en) 2018-01-03
EP2765428A2 (en) 2014-08-13
EP2765428B1 (en) 2019-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11277027B2 (en) VAR control for inductive power transfer systems
US10126332B2 (en) Current transducer with fluxgate detector
KR20070042085A (ko) Rf 플라즈마 공급 장치
US5128611A (en) Electronic electricity meter
CN106301224B (zh) 一种晶体振荡器自动温度补偿系统
US8933709B2 (en) Method for determining residual coupling of an inductive conductivity sensor
CZ201384A3 (cs) Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů
US20170205287A1 (en) High-frequency power supply device
CN104089991B (zh) 用于确定电容器装置介电性能的设备
CZ25418U1 (cs) Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů
US9231520B2 (en) Wien-bridge oscillator and circuit arrangement for regulating a detuning
US20200136617A1 (en) Dynamic Sensor for Measurement Device
JP6159472B2 (ja) 圧電トランスを制御する回路装置および方法
KR101834718B1 (ko) 슈퍼커패시터 감시 기능을 갖는 순간정전보상장치
RU2531850C1 (ru) Способ измерения сопротивления постоянному току обмоток электротехнического оборудования
US11239688B2 (en) Power supply unit with adaptive feedback control
RU2410815C1 (ru) Устройство параметрической стабилизации напряжения переменного тока
RU2665753C2 (ru) Устройство измерения давления газа
CN204887662U (zh) 电感耦合等离子炬的自动阻抗匹配装置
CN110268621B (zh) 用于调节不间断电源的输出电压的dc分量的电路
UA116586C2 (uk) Автоматизована система керування пасивним фільтром гармонік струму
CN108226784A (zh) 一种基于spwm自适应变频点的蓄电池阻抗测量方法
KR100636052B1 (ko) 플라즈마 챔버의 부하 측정 장치
RU2419183C2 (ru) Устройство питания гелий-неонового лазера
Sewell et al. Dynamic load impedance matching for induction heater systems

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Patent lapsed due to non-payment of fee

Effective date: 20220207