CZ2010651A3 - Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu - Google Patents
Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu Download PDFInfo
- Publication number
- CZ2010651A3 CZ2010651A3 CZ20100651A CZ2010651A CZ2010651A3 CZ 2010651 A3 CZ2010651 A3 CZ 2010651A3 CZ 20100651 A CZ20100651 A CZ 20100651A CZ 2010651 A CZ2010651 A CZ 2010651A CZ 2010651 A3 CZ2010651 A3 CZ 2010651A3
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- samples
- excess
- strontium
- intensity
- composition
- Prior art date
Links
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 22
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 21
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 21
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 19
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 16
- FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 2,4-difluoro-5-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound NC1=CC(C(F)(F)F)=C(F)C=C1F FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 15
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 70
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 64
- 238000005395 radioluminescence Methods 0.000 description 45
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 30
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 30
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 24
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010431 corundum Substances 0.000 description 12
- IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N strontium oxide Inorganic materials [O-2].[Sr+2] IATRAKWUXMZMIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 9
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 8
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 4
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000737 Duralumin Inorganic materials 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-NJFSPNSNSA-N hydroxyformaldehyde Chemical compound O[14CH]=O BDAGIHXWWSANSR-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000003746 solid phase reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 229910000018 strontium carbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 241000486661 Ceramica Species 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 238000001748 luminescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- UUCCCPNEFXQJEL-UHFFFAOYSA-L strontium dihydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[Sr+2] UUCCCPNEFXQJEL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001866 strontium hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 1
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu, kde jeho složení je nestechiometrické, odpovídá vzorce Sr.sub.m.n.XO.sub.2+m.n., pricemž molární pomer Sr/X = m < 1, kde X = Hf nebo Zr. Zpusob prípravy anorganického scintilátoru spocívá v tom, že se výchozí materiál, smes SrCO.sub.3.n.a HfO.sub.2.n.nebo ZrO.sub.2.n., žíhá pri teplotách v rozmezí 500 .degree.C až 1250 .degree.C, pricemž se žíhání materiálu provádí na podložce z keramiky ZrO.sub.2.n..
Description
Anorganický scintilátor na bázi hafničitanu strontnatého s nadbytkem ha tni a nebo zirkoničitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu
Oblast techniky
Anorganické scintilátory na bázi hafničitanu strontnatého a zirkoničitanu strontnatého nestechiometrického složení s molámím poměrem výchozích oxidů SrO/HfO2 < 1, respektive SrO/ZrO2 < 1.
Dosavadní stav techniky
Anorganické scintilátory na bázi vhodně dopovaných hafničitanu a zirkoničitanů alkalických zemin, ABO3 (A - Ba, Sr, Ca; B - Hf, Zr), jsou zajímavou skupinou materiálů pro scintilační aplikace. Mají vysokou hustotu a efektivní atomové číslo, účinně tedy zachycují vysokoenergetické záření. Vzhledem k vysokým bodům tání těchto materiálů (kolem 2500°C)je příprava jejich monokrystalů obtížná, výzkum se soustřeďuje na přípravu těchto materiálů ve formě prášků s výhledem na přípravu průhledných keramik.
Větší pozornost byla zatím věnována hafničitanům vzhledem k jejich vyššímu atomovému číslu i vzhledem k praktické absenci radioaktivních isotopů hafnia, což umožňuje přípravu sloučenin se zanedbatelnou radioaktivitou, tedy s nízkým pozadím, které je indukováno kromě šumu elektronické detekce především vlastní radioaktivitou scintilačního materiálu.
Y. M. JÍ a spolupracovníci (Materials Research Bulletin 40 (2005) 1521 - 1526) uvádějí, že práškové hafničitany alkalických zemin dopované cérem, MHfO3:Ce (M = Ba, Sr, Ca), mají emisní účinnost srovnatelnou s monokrystaly germaničitanu bismutitého, BÍ4GejOi2 (BGO), které jsou široce užívány jako scintilační detektory v počítačové tomografii i v dalších aplikacích. (Při hodnocení emisní účinnosti scintilačních materiálů je srovnávána výška pásu v emisním luminiscenčním spektru daného materiálu s výškou (intensitou) emisního pásu monokrystalu BGO u 500 nm.)
E. Mihóková a spol. (1EEE Transactions on nudear science 57 (2010) 1245 - 1250) uvádějí, že připravili hafníčitan strontnatý dopovaný cérem, SrHfOjrCe (SHO:Ce). s emisní účinnosti 2x vyšší než má krystal BGO. V této práci je také uvedeno, že emisní účinnost nedopovaného hafničitanu strontnatého, SrHíOj (SHO), jc 5x nižší než u materiálu dopovaného (SHO:Ce) a dosahuje tedy asi 0,4-násobku účinnosti krystalu BGO.
Poznamenejme, že stechiometrickým složením, o které se v zatím citovaných pracích jednalo, je v případě nedopovaného hafničitanu nebo zirkoničitanu strontnatého míněno složení odpovídající vzorci SrXO3 (X = Hf, Zr). U vzorků dopovaných je stechiometrickým složením míněno složení opět odpovídající vzorci SrXO3 s tím, že dopantem D je nahrazena část atomů stroncia (vzorec Sri.yDyXOz), nebo část atomů X (vzorec SrXi.yDy02) případně je při přidávání dopantu zachován molámí poměr hlavních složek (Sr/X = 1), čemuž odpovídá vzorec Srí -ν.'2ΐΧΧ|-ν/2θζ·
M. Villanueva - Ibanez a spol. (Optical Materials 27 (2005) 1541 - 1546) připravili dopované vzorky SHO:Ce, u nichž nalezli účinnost blížící se BGO, jako srovnávací standard však použili prášek BGO, který obvykle dosahuje emisní účinnosti asi 3x vyšší než BGO monokrystal. Připravili též řadu nestechiometrických vzorků (rovněž dopovaných Ce). Nestechiometrické složení charakterizovali molámím poměrem Sr/Hf. Označíme-li číselnou hodnotu tohoto poměru Sr/Hf = m, lze složení příslušného vzorku zapsat v jednoduchém tvaru SrmHfO2+m. Pro hodnoty molámího poměru m v rozmezí od 0,66 do 1,63 autoři zjistili, že nej vyšší emisní účinnosti dosahují vzorky složení stechiometrického (Sr/Hf = m = 1).
V některých pracech byl společně s hafničitany studován i zirkoničitan strontnatý, SrZrO3 (SZO). Jednalo se vesměs o studium vzorků dopovaných. H. Rétot a spol. (Optical Materials * Ύ (2008) 1109 1114) uvádějí, že emisní účinnost práškových vzorků SrZrO3:Ce je přibližně stejná jako účinnost vzorků SrHfO3:Ce. H. Yamamoto a spol. (Joumal of Luminescence 100 (2002) 325 - 332) sice uvádějí, že příměs iontů praseodymitých (Pr3+) nezvyšuje emisní účinnost SZO (ani SHO), emisní účinnost nedopovaného SZO však neuvedli. Junli Huang a spol. (Joumal of Alloys and Compounds 487 (2009) 15 - 17) studovali vzorky SZO dopované europiem. Jejich cílem bylo připravit zdroj červeného záření. Příměs Eu ani v optimální koncentraci 3 % mol^však ke zvýšení emisní účinnosti nevedla.
Při přípravě studovaných práškových materiálů byly kromě klasické metody reakcí v pevné fázi užity další metody, z nichž některé vycházely i z látek organických. Společným rysem všech těchto metod bylo ve finálních krocích žíhání připravovaných materiálů při teplotách nad 900,°C. Pokud jde o podložky či lodičky, na nichž byly vzorky práškových scintilátorů žíhány, byly uvedeny tyto materiály: korundová keramika (AbO3) (Bai Zhaohui a spol., Joumal of rare earths 47 (2007) 147 - 150), platinový plech (Frans Μ. M. Snijkers a spol., Scripta Materialia 51 (2004) 1129 - 1134) a křemenné sklo (SiO2) (H. Rétot a spol., citace viz výše).
T
Doposud byly tedy studovány hafničilany a zirkoničitany strontnaté pouze dopované, ve složení stechiometrickém, s výjimkou citované práce Villanueva-Ibanez a spol., ve které se autoři zabývali i složeními nestechiometrickými, ale zjistili, že jejich materiál. SHO.Ce, dosahuje nejvyšší emisní účinnosti právě ve složení stechiometrickém. Emisní účinnost těchto materiálů však není významně vyšší ve srovnání s krystaly BGO standardně užívanými k detekci záření ve zdravotnictví a v průmyslu.
Podstata vynálezu
Významně vyšší emisní účinnosti a tím i vyšší detekční citlivosti ve srovnání s krystaly BGO, a tedy i s doposud studovanými dopovanými stechiometrickými hafničitany a zirkoničitany strontnatými, lze dosáhnout užitím anorganických scintilátorů na bázi hafničitanu strontnatého s nadbytkem hafhia nebo zirkoničitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu podle předmětu vynálezu, jejichž složení je nestechiometrické s nadbytkem hafhia nebo zirkonu, tedy odpovídá vzorci SrmXO2+m, kde X = Hf nebo Zr, a kde pro molámí poměr platí Sr/X = tn < 1. Při jeho přípravě se žíhání materiálu provádí s výhodou na podložce z keramiky ZrCh.
Podle předmětu vynálezu je tak pro dosažení vysoké emisní účinnosti třeba výše zmíněný nestechiometrický hafničitan nebo zirkoničitan strontnatý chránit před negativním působením obvykle užívaných žíhacích podložek (zhotovených z korundu, křemenného skla, platiny) tím, že jsou tyto materiály během přípravy žíhány na podložkách z keramiky tvořené oxidem zirkoničitým, ZrO2.
Při popisu závislosti emisní účinnosti pojednávaných nestechiometrických materiálů SHO a SZO na složení je vhodné vyjádřit jejich složení symetrickým vzorcem typu Sr].yXi+yO3+y, případně ve složkovém tvaru: (SrO)j.y.(XO2)i+y. (X = Hf, Zr). Pro lepší přehlednost zavedeme parametr složení i = 1 -y, čímž symetrické vzorce přejdou na tvar:
SnHf2Ai = (SrO),.(HfO2h.i (1)
SrlZr2-lO4_i = (SrO)i.(ZrO2)2-i (2)
Hodnotě parametru i < 1 odpovídá nestechiometrické složení SHO s nadbytkem hafnia nebo nestechiometrické složení SZO s nadbytkem zirkonu. Hodnotě i = í odpovídá složení stechiometrické.
Nestechiometrické i stechiometrické práškové materiály SHO a SZO jsme připravovali standardním postupem reakcí v pevné Fázi z výchozích práškových směsí složených z uhličitanu strontnatého a oxidu hafničitého, či oxidu zirkoničitého (výchozí materiály). V rámci této standardní techniky byly výchozí materiály opakovaně žíhány v několika krocích při teplotách v rozmezí 500^ až 1250°C a mezi jednotlivými žíhacími kroky vždy přemíchávány a roztírány na achátové misce. Během tohoto procesu se ze zpracovávaného výchozího materiálu odloučil oxid uhličitý a v materiálu se postupně vytvářela fáze hafničitanu či zirkoničitanu strontnatého.
Po ukončení žíhání bylo u výsledného práškového materiálu provedeno měření scintilační účinnosti: Vzorky byly excitovány rentgenovým zářením, jejich scintilační účinnost byla odvozena ze srovnání výšek jejich emisních pásů (u SHO byl měřen pás u 334 nm, u SZO pás u 353 nm) s výškou maxima RL spektra standardního vzorku germaničitanu vizmutitého, BÍ4Ge3Oi2 (BGO). Výška maxima emisního pásu BGO u 500 nm, intensita /(BGO), je brána jako jednotka pro číselné vyjádření intensity / měřené u vzorků SHO na vlnové délce 334 nm a u vzorků SZO na vlnové délce 353 nm. Vzhledem k vyšším intensitám luminiscence nestechiometrických vzorků SHO a SZO byl ve většině případů místo krystalu BGO užit jako srovnávací standard práškový vzorek sintrátu BGO, jehož intensita RL u 500 nm je 3,3-krát vyšší než intensita na krystalu BGO. RL spektrum práškového standardu BGO je na obrázcích značeno BGOp.
Při měření vzorků SHO různého složení jsme zjistili, že při složení vzorků blízkém stechiometrickému (i = 1) obsahuje RL spektrum dva emisní pásy: užší pás u 334 nm a širší pás u 420 nm (viz obr. 1). Se zvyšováním nadbytku oxidu strontnatého (í > 1) emisní pás u 334 nm mizí a zůstává jen pás u 420 nm (viz RL spektrum vzorku SHO o složení i = 1,05 na obr.2). Naopak, při růstu nadbytku oxidu hafničitého ve vzorcích SHO mizí pás u 420 nm a zůstává pás u 334 nm (viz RL spektrum vzorku SHO o složení i = 0,95 na obr.2).
U vzorků s nadbytkem stroncia (i > 1) intensita emise u 420 nm zůstává na úrovni srovnatelné s intensitou emise standardu BGO u 500 nm. Naproti tomu u vzorků s nadbytkem hafnia (/ < 1) intensita / emise u 334 nm výrazně vzrůstá a mnohonásobně převyšuje intensitu emise standardu BGO (viz závislost intensity l na složení i v tabulce 1 na obrázku 7; viz též graf b na obrázku 6).
.4
Rentgenová difrakční analýza ukázala (viz obr.3), že zkoumané nestechiometrické vzorky SHO obsahují Fázi hafničitan strontnatý (viz spektrum a na obr.3), nebo, v případě nestechiometrických vzorků SHO s nadbytkem hafnia, sc ve spektru kromě hlavní fáze (SHO) objevují i píky patřící fázi HfO? (viz spektra b a c na obr.3).
Pokud by ve vzorcích s výchozím složením nestechiometrickým s nadbytkem hafnia (/ < 1) bylo složení fáze SHO stechiometrické, to jest odpovídalo by vzorci SrHfOj, pak by na přiklad vzorek SHO o složení i = 0,80, jemuž odpovídá na obr. 3 spektrum c, obsahoval 33 % mol< fáze HfO2 (složení vzorku by bylo možno napsat ve tvaru Sro.8Hft.2O37 = (SrHf03)o,8-(Hf02)o,4, což znamená, že molámí podíl fáze HfO2 by byl 0,4/(0,8 + 0,4) = 0,33). Podle kvantitativní fázové analýzy spektra c z obrázku 3 však vzorek obsahuje jen 5 až 10 % mok fáze HfO2. Vyplývá z toho, že fáze SHO ve vzorcích s výchozím složením nestechiometrickým s nadbytkem hafnia je rovněž nestechiometrická s nadbytkem hafnia.
RL spektrum naměřené na práškovém vzorku čisté fáze HfO2 dosahuje podle Havláka a spol. (Opt. Mat. 32 (2010) 1372 - 1374) nejvyšší intensity u 490 nm a tato intensita je jen 0,14-ti násobkem intensity krystalu BGO. Ve vzorcích SHO je obsah fáze HfO2 ještě asi o řád nižší, její příspěvek k RL spektru vzorků SHO můžeme tedy považovat za zanedbatelný.
Vzorky SZO mají v RL spektru intensivní pás u 353 nm, jak lze nahlédnout na obrázku 4, kde jsou uvedena RL spektra dvou vzorků SZO o složení i = 0,85 a i = 1,15. Jak vyplývá z tabulky 2 na obrázku 8, pro vzorky s nadbytkem stroncia (í > 1) dosahuje pás u 353 nm přibližně stejné intensity jako u vzorků složení stechiometrického, u vzorků s nadbytkem zirkonu (i < 1) intensita emise u 353 nm výrazně vzrůstá a mnohonásobně převyšuje intensitu ve vzorku stechiometrickém (viz též obrázek 6, graf a).
Rentgenová difrakční spektra dvou vzorků SZO o složení i - 0,85 a i = 1,15 (jejichž RL spektra jsou na obrázku 4) jsou na obrázku 5. V obou vzorcích dominuje orthorhombická fáze SZO. Drobné píky v obou spektrech pocházejí od té složky, která je v daném vzorku v nadbytku. Ve vzorku o složení i = 1,15 (na obrázku 5 spektrum b) se nadbytek oxidu strontnatého ve výchozím složení vzorku projevuje přítomností uhličitanu a hydroxidu strontnatého, SrCOj, respektive Sr(OH)2.H2O. Ve spektru a (7 = 0,85) se projevuje přítomnost fáze ZrO2. Pokud by ve vzorcích s Z < 1 bylo složení fáze SZO stechiometrické, mohli bychom výchozí složení vzorku s i = 0,85, Srn 35Zr1.15O3.t5, přepsat na tvar (SrZrOOo.ss.ťZrOijo.jo (což znamená molámí podíl fáze ZrO2: 0,30/(0,85 + 0,30) = 0.26), vzorek by tedy obsahoval 26 % mol< fáze ZrO2. Podle kvantitativní fázové analýzy spektra a na obrázku 5 však tento vzorek obsahuje jen 2,4 až 4.7 % tnoL.fáze ZrOi. Odtud vyplývá, že
5' táze SZO ve vzorcích s výchozím složením ncstechiometrickým s nadbytkem zirkonu je rovněž nestechiometrická s nadbytkem zirkonu.
Intensita emise práškového vzorku samotné táze ZrO2 dosahuje maxima u vlnové délky 500 nm a blíží se tam intensitě emise krystalu BGO. Vzhledem k nízkému obsahu fáze ZrO2 ve vzorcích SZO však můžeme její příspěvek k emisi těchto vzorků zanedbat.
K dosažení vysoké emisní účinnosti nestechiometrických fází SHO s nadbytkem haťnia a SZO s nadbytkem zirkonu je podle našeho zjištění třeba zabránit znečištění těchto fází materiálem podložky, ke kterému dochází při žíhání. Zjistili jsme, že materiály užívané jako podložky (korundová keramika, platinový plech, křemenné sklo) výrazně snižují emisní účinnost SHO a SZO a nalezli jsme řešení minimalizující tyto ztráty. Toto řešení spočívá v užití podložek z keramiky ZrO2. Negativní účinek běžně užívaných podložek s podložkami z keramiky ZrO2 vyplývá ze srovnání provedeného v tabulce 3 na obrázku 9 a v tabulce 4 na obrázku 10.
Z našich zjištění vyplývá, že k dosažení nejlepšího účinku je vhodná keramika ZrO2 chemicky co nejčistší a dobře vypálená, aby byla stabilní v oboru teplot užívaných pro žíhání SHO a SZO vzorků.
Anorganické scintilátory podle předmětu vynálezu, nestechiometrický hafničitan strontnatý s nadbytkem hafnia a nestechiometrický zirkoničitan strontnatý s nadbytkem zirkonu, tak při přípravě žíháním na podložkách z keramiky ZrO2, dosahují asi 40x vyšší emisní účinnosti než monokrystaly BGO, a tedy nejméně lOx vyšší emisní účinnosti ve srovnání s dosud známými scintilátory na bázi stechiometrického hafničitanu či zirkoničitanu strontnatého. Při přípravě, kdy jsou materiály žíhány na běžně používaných podložkách (korundová keramika, platinový plech, křemenné sklo) je účinnost materiálů podle předmětu vynálezu až 20x vyšší než emisní účinnost monokrystalu BGO.
Přehled obrázků na výkresech
Obr. I; Radioluminiscenční (RL) spektra vzorků SHO o složení i = 0,995 a i = 1,005 a RL spektrum standardu BGO (monokrystalická destička o průměru 14 mm a tloušťce 1.7 mm).
Obr.2: RL spektra vzorků SHO o složení i = 0,95 a i = 1.05 (intensita emise tohoto vzorku je násobena koeficientem 10); pro srovnání je uvedeno i RL spektrum práškového standardu BGOp (intensita jeho emise je 3,3-násobkem intensity na krystalu BGO).
Á
Obr. 3: Rentgenová difrakční spektra vzorků SHO o složení i ~ 1,08 (spektrum a), i = 0.95 (6) a i = 0,80 (c). Spektrum a odpovídá orthorhombické fázi hafničitanu strontnatého popsané v práci Cuffini a spok, Ceramica (Sao Paulo) 43 (1997) 91. Ve spektru b se kromě píků této hlavní fáze začínají objevovat dva hlavní píky (označené značkou +) spektra odpovídajícího oxidu hafničitému, ve spektru c jsou tyto označené píky mnohem výraznější, kromě nich přibylo ve spektru c v rozsahu úhlů 20 od 17^ do 72° celkem 27 malých píků, všechny lze přiřadit spektru HfCh.
Obr. 4: Radioluminiscenční (RL) spektra vzorků SZO o složení i = 0,85 a i ~ 1,15 a RL spektrum práškového standardu BGOp (jeho intensita je 3,3x vyšší než intensita naměřená na krystalu BGO).
Obr. 5: Rentgenová difrakční spektra dvou vzorků SZO, jejichž RL spektra jsou na obrázku 4. Spektrum a odpovídá složení i = 0,85, spektrum b odpovídá složení i = 1,15. Hlavní píky v obou spektrech odpovídají orthorhombické fázi zirkoničitanu strontnatého. Drobné píky se váží k té složce, která je v daném vzorku v nadbytku (ve spektru a je to oxid zirkoničitý, ve spektru b patří drobné piky uhličitanu nebo hydroxydu strontnatému.
Obr.6: Závislost intensity I radioluminíscence nestechiometrických vzorků SZO (gráfa) a SHO (graf b) na jejich složení vyjádřeném parametrem i. V případě vzorků SZO značí / intensitu emisního pásu u 353 nm, u vzorků SHO značí I intensitu emisního pásu u 334 nm. Jednotkou číselného vyjádření intensity / je intensita /(BGO) naměřená u monokrystalického standardu BGO na vlnové délce 500 nm.
Obr.7 - Tabulka 1: Závislost intensity radioluminíscence / vzorků hafničitanu strontnatého na výchozím složení i vzorků.
Intensita emisního píku u 334 nm, /(334), a emisního pásu u 420 nm, /(420), jsou vyjádřeny v poměru k intensitě /(BGO) emisního pásu u 500 nm monokrystalického vzorku BGO.
Obr.8 - Tabulka 2 : Závislost intensity radioluminíscence / vzorku zirkoničitanu strontnatého na výchozím složení vzorků.
Intensita emisního píku u 353 nm je číselně vyjádřena poměrem k intensitě /(BGO) emisního pásu u 500 nm monokrystalického standardu BGO.
7'
Obr.9 - Tabulka 3 : Srovnání intensit emisního pásu RL u 334 nm naměřených na práškových vzorcích SHO složení stechiometrického (parametr složení i = 1) a složení nestechiometrického s nadbytkem hafnia (í - 0,85).
Vzorky byly žíhány na podložkách z křemenného skla (SiO2), platinového plechu, korundu (AI2O3) a zirkoniové keramiky (ZrO2).
Symbol Pt* značí případ, při němž byl vzorek stejné velikosti (jako u případu s označením Pt - na předcházejícím řádku tabulky) žíhán na větší lodičce z čistého Pt plechu, takže plocha kontaktu mezi vzorkem a podložkou byla v tomto případě třikrát větší.
Symboly AbOj* a AbOj** značí případy, při nichž bylo ke stechiometrickým vzorkům V přimícháno 0,^%jnoU( resp. l%mol< práškového A12O3 a potom byly žíhány na korundové podložce stejně, jako vzorek v řádku označeném A12O3.
Hodnoty intensity /(334) jsou Číselně vyjádřeny poměrem k intensitě /(BGO) naměřené na krystalu BGO.
Obr. 10 - Tabulka 4 : Srovnání intensit emisního pásu RL u 353 nm naměřených na práškových vzorcích SZO složení stechiometrického (parametr složení i = 1) a složení nestechiometrického s nadbytkem zirkonu (i = 0,85).
Vzorky byly žíhány na podložkách z korundu (ALOj) a zirkoniové keramiky (ZrO2).
Hodnoty intensity /(353) jsou číselně vyjádřeny poměrem k intensitě /(BGO) naměřené na krystalu BGO.
Obr.ll - Tabulka 5 : Složení 6 vzorků SZO a naměřené intensity jejich emisního pásu u 353 nm číselně vyjádřené poměrem k intensitě /(BGO) (naměřené u 500 nm v RL spektru monokrystalického vzorku BGO).
Obr.12 - Tabulka 6 : Složení 10 vzorků SHO a naměřené intensity jejich emisního pásu u 334 nm číselně vyjádřené poměrem k intensitě /(BGO) (naměřené u 500 nm v RL spektru monokrystalického vzorku BGO).
Příklady provedení vynálezu
Příklad 1
Pro 5 vzorků SHO o hodnotách parametru složení i : 0,8; 0,95; 0,995; 1,005 a 1,05 bylo určeno složení podle vzorce (1). Směsi výchozích prášků, SrCOj a HfO2, byly žíhány ve třech krocích podle následujících žíhacích programů (3), (4) a (5):
Linflh,), 500 °C(lh»), Lin(6h.), 1100 oC(4h0, Scp
Lin(2hK), 1060 °C(4hť), Lin(lK), 1130 °C(4h*), Scp
Lin(2h<), 1130 °C(8h,), Scp (3) (4) (5)
Lin(lh,) značí postupnou změnu teploty, lineární v čase, na teplotu následujícího kroku (500 °C) za dobu 1 hodiny, Lin(6h0 analogicky. Scp značí spontánní chladnutí pece - to probíhalo zpočátku rychlostí asi 5 °C za minutu, postupně se rychlost chladnutí díky setrvačnosti pece snižovala. Vzorky byly žíhány na podložkách z keramiky ZrO2, mezi jednotlivými kroky žíhání byly vzorky roztírány na achátové misce.
Po ukončení žíhání byly práškové vzorky naneseny na duralové podložky s fixační vrstvou kaučukového lepidla a na takto připravených vzorcích bylo provedeno měření jejich scintilační účinnosti: vzorky byly excitovány rentgenovým zářením (rentgenka s molybdenovou antikatodou, napětí 30 kV) a byla změřena jejich rádio luminiscenční (RL) spektra. Naměřená spektra jsou korigována na spektrální závislost detekční části aparatury.
Scintilační účinnost měřených vzorků byla odvozena ze srovnání výšek jejich emisních pásů (u SHO byl měřen pás u 334 nm) s výškou maxima RL spektra standardního vzorku germaničitanu vizmutitého, Bi4GejOi2 (BGO). Tímto standardem byla monokrystalická destička o průměru 14 mm a tloušťce 1,7 mm, z obou stran leštěná. Výška maxima emisního pásu BGO u 500 nm, intensita /(BGO), je brána jako jednotka pro číselné vyjádření intensity / měřené u vzorků SHO na vlnové délce 334 nm. Vzhledem k vyšším intensitám luminiscence nestechiometrických vzorků SHO byl pro vzorky i = 0,95 a 1,05 místo krystalu BGO užit jako srovnávací standard práškový vzorek sintrátu BGO, jehož intensita RL u 500 nm je 3,3-krát vyšší než intensita na krystalu BGO. RL spektrum práškového standardu BGO je na obrázku 2 značeno BGOp.
.9,
Výsledky měření RL spekter na připravených vzorcích jsou na obrázcích 1 a 2 a v tabulce 1 na obrázku 7, rentgenová difrakční spektra tří z těchto vzorků jsou na obrázku 3. Z měření RL spekter vyplývá, že při složení vzorků blízkém stechiometrickému (Z = l) obsahuje RL spektrum dva emisní pásy: užší pás u 334 iim a širší pás u 420 nm (viz obr. 1). Se zvyšováním nadbytku oxidu strontnatého (Z > 1) emisní pás u 334 nm mizí a zůstává jen pás u 420 nm (viz RL spektrum vzorku SHO o složení i = 1.05 na obr.2). Naopak, při růstu nadbytku oxidu hafničitého ve vzorcích SHO mizí pás u 420 nm a zůstává pás u 334 nm (viz RL spektrum vzorku SHO o složení i - 0,95 naobr.ž).
U vzorků s nadbytkem stroncia (Z > 1) intensita emise u 420 nm zůstává na úrovni srovnatelné s intensitou emise standardu BGO u 500 nm. Naproti tomu u vzorků s nadbytkem hafnia (Z < 1) intensita I emise u 334 nm výrazně vzrůstá a mnohonásobně převyšuje intensitu emise standardu BGO (viz závislost intensity l na složení Z v tabulce 1 na obrázku 7).
Rentgenová difrakční analýza ukázala (viz obr. 3), že zkoumané nestechiometrické vzorky SHO obsahují fázi hafničitan strontnatý (viz spektrum a na obr. 3; spektra a a b jsou na obrázku vertikálně posunuta od úrovně nulové intensity, na které zůstalo spektrum c). V případě nestechiometrických vzorků SHO s nadbytkem oxidu hafničitého, se ve spektru kromě hlavní fáze (SHO) objevují i píky patřící fázi HfO2 (viz spektra b a c na obr. 3). Rentgenová difrakční spektra byla měřena na difraktometru v uspořádání s rovinnou vlnou, s rotující anodou (Cu), zdrojem záření byl rentgenový generátor.
Příklad 2
Pro 3 vzorky SZO o hodnotách parametru složení Z : 0,86; I a 1,15 bylo určeno složení podle vzorce (2). Směsi výchozích prášků, SrCO? a ZrO2 byly žíhány podle programů (3), (4) a (5) na podložkách z keramiky ZrO2, mezi jednotlivými kroky žíhání byly vzorky roztírány na achátové misce.
Po ukončení žíhání byly práškové vzorky naneseny na duralové podložky s fixační vrstvou kaučukového lepidla a na takto připravených vzorcích bylo provedeno měření jejich scintilační účinnosti: Vzorky byly excitovány rentgenovým zářením (rentgenka s molybdenovou antikatodou, napětí 30 kV) a byla změřena jejich radioluminiscenční (RL) spektra. Naměřená spektra jsou korigována na spektrální závislost detekční části aparatury.
Scintilační účinnost měřených vzorků byla odvozena ze srovnání výšek jejich emisních pásů (u SZO pás u 353 nm) s výškou maxima RL spektra standardního vzorku germaničitanu vizmutitého, BÍ4Ge30i2 (BGO). Tímto standardem byla monokrystalická destička o průměru mm a tloušťce 1.7 nim. zobou stran leštěná. Výška maxima emisního pásu BGO u 500 nm, intensita /(BGO), je brána jako jednotka pro číselné vyjádření intensity / měřené u vzorků vzorků SZO na vlnové délce 353 nm. Vzhledem k vyšším intensitám luminiscence nestechiometrických vzorků SZO byl pro i 1,15 a 0,85 místo krystalu BGO užit jako srovnávací standard práškový vzorek sintrátu BGO, jehož intensita RL u 500 nm je 3,3-krát vyšší než intensita na krystalu BGO. RL spektrum práškového standardu BGO je na obrázku 4 značeno BGOp.
Měření ukázalo, že tvar RL spekter u všech tří vzorků je shodný, dominuje v něm emisní pás u 353 nm, naměřené intensity tohoto pásu u 353 nm jsou uvedeny v tabulce 2 na obrázku 8.
RL spektrum naměřené u vzorku o výchozím složení i = 1,15 je uvedeno na obrázku 4 a je tam srovnáno s RL spektrem vzorku o složení i = 0,85, u něhož bylo dosaženo intensity emise rovné 44-násobku intensity emise krystalu BGO (viz obrázek 6). Rentgenová difrakční spektra obou těchto vzorků jsou na obrázku 5 (graf b). Srovnání dokládají přítomnost stejné dominující orthorhombické fáze SZO v obou vzorcích i shodný tvar jejich RL spekter s dominujícím pásem u 353 nm.
Příklad 3
Sedm vzorků SHO o složení i = 1 a čtyři o složení i = 0,85 bylo žíháno podle programu (3) a potom opakovaně, ve dvou krocích podle programu (6):
Lin(2hr), HOO oC(4h,), Lin( 1 hť), 1170 °C(4h(), Scp (6)
Žíhání byla provedena na podložkách z křemenného skla, platiny, korundu a keramiky ZrC>2, Měření scintilační účinnosti vzorků probíhalo stejně jako v příkladu 1.
Z výsledků uvedených v tabulce 3 na obrázku 9 vyplývá, že intensita emise u 334 nm je u vzorků nestechiometrických o složení i = 0,85 výrazně vyšší než u vzorků stechiometrických. Výsledky v tabulce 3 navíc ukazují, že materiály běžně užívaných podložek (křemenné sklo, korundová keramika, platina) vstupují při žíhání do žíhaného materiálu a snižují výrazně jeho emisní účinnost. Uvedený závěr je podpořen zjištěním, že rozšíření kontaktní plochy mezi vzorkem a podložkou v případě podložky platinové, či přimíšení materiálu podložky (ALO3) k žíhanému materiálu v případě podložky korundové, vede k dalšímu snížení intensity emise.
11.
Přiklad 4
Dva vzorky SZO o složení i = l a dva o složení i = 0,85 byly žíhány podle programu (3) a potom v dalších dvou krocích podle programu (7):
Lin(2hr), 1100 °C(0,lh,), Lín(8,8h«), 1170 °C(0,lh,), Scp (7)
Žíhání byla provedena na podložkách z korundu a z keramiky ZrO2 měření scintilační účinnosti vzorků probíhalo stejně jako v příkladu 2.
Výsledky jsou v tabulce 4 na obrázku 10, Vyplývá z nich, že u vzorků nestechiometrických o složení i = 0,85 je intensita emise u 353 nm výrazně vyšší na obou typech podložek než u vzorků o výchozím složení stechiometrickém (/ = 1). Druhým zjištěním je výrazně nižší intensita emise u 353 nm u vzorků žíhaných na běžně užívaných podložkách korundových. Vzhledem k tomu, že materiál podložky z keramiky ZrO2 je shodný s jednou z hlavních složek žíhaného materiálu, nelze se domnívat, že by materiál této podložky nějak zvyšoval intensitu emise materiálu (SZO) na této podložce žíhaného. Z toho vyplývá, že rozdíl mezi výsledky na obou typech podložek je způsoben tím, že materiál podložky korundové vstupuje do žíhaného materiálu a snižuje jeho emisní účinnost.
Příklad 5
Šest vzorků SZO o hodnotách parametru složení i: 0,60; 0.80; 0,85; 0,90; 0,95 a 1,0 bylo žíháno podle programu (3) a potom v dalších dvou krocích žíhání podle programu (7). Vzorky byly žíhány na podložkách z keramiky ZrO2i měření scintilační účinnosti vzorků probíhalo stejně jako v příkladu 2.
Jak ukazují výsledky uvedené na obrázku 6 (graf a) a v tabulce 5 na obrázku I 1, mezi takto připravenými vzorky bylo dosaženo nejvyšší intensity emise u 353 nm (44-násobku intensity emise krystalu BGO) u vzorku o výchozím složení i = 0,85. Jeho RL spektrum na obrázku 4 ukazuje dominanci emisního pásu u 353 nm. Jeho rentgenové difrakční spektrum zobrazené na obrázku 5 (graf a) svědčí o tom, že ve vzorku je přítomno malé množství fáze ZrO2,
Příklad 6
Deset vzorků SHO o hodnotách parametru složení i od 0,35 do 1,0 (viz tabulka 6 na obrázku 12) bylo žíháno podle programu (3), potom ve dvou krocích opakovaně podle programu (6) a nakonec, ve čtvrtém kroku, podle programu (8):
Lin(2h<), 1170 °C(8hf), Scp (8)
Vzorky byly žíhány na podložkách z keramiky Zr()2, měření scintilační účinnosti vzorků probíhalo stejně jako v příkladu 1.
Výsledky, které jsou uvedeny na obrázku 6 (graf b) a v tabulce 6 na obrázku 12, ukazují, že při tomto způsobu žíhání dosahuje emisní účinnost maxima u vzorků, jejichž výchozí složení i je v rozmezí 0,85 až 0,95. Intensita emise u 334 nm se u těchto vzorků blíží hodnotě 40x převyšující intensitu u krystalu BGO.
13,
Průmyslová využitelnost
Anorganické scintilátory na bázi ncstechiometrického hafničitanu strontnatého s nadbytkem hafnia a nestechiometrického ziTkoničitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu lze využit vzhledem k jejich vysoké scintilační účinnosti k detekci záření ve vědeckém výzkumu, ve zdravotnictví i v průmyslu.
Výhodou zirkoničitanu strontnatého je poněkud vyšší emisní účinnost a menši závislost na podmínkách přípravy.
HafniČitan strontnatý, vzhledem k jeho velmi nízké vlastní radioaktivitě, je zvláště vhodný k detekci velmi nízkých úrovní radiace. Ve srovnání se zirkoničitanem má vyšší hustotu a efektivní atomové číslo a tedy účinněji pohlcuje vysokoenergetické záření.
Claims (2)
- PATENTOVÉ NÁROKY1. Anorganický scintilátor na bázi hafničitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkoničitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu, vyznačující se tím, že jeho složení je nestechiometrické, odpovídá vzorci SrmXO2+m, přičemž molární poměr Sr/X m < 1, kde X = Uf nebo Zr.
- 2. Způsob přípravy anorganického scintilátoru podle nároku 1 takový, že se výchozí materiál, směs SrCO? a HfO2 nebo ZrO2, žíhá při teplotách v rozmezí 500 až 1250 °C, vyznačující se tím, že se žíhání materiálu provádí na podložce z keramiky ZrO2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ20100651A CZ2010651A3 (cs) | 2010-08-31 | 2010-08-31 | Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ20100651A CZ2010651A3 (cs) | 2010-08-31 | 2010-08-31 | Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ302687B6 CZ302687B6 (cs) | 2011-08-31 |
| CZ2010651A3 true CZ2010651A3 (cs) | 2011-08-31 |
Family
ID=44506044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ20100651A CZ2010651A3 (cs) | 2010-08-31 | 2010-08-31 | Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CZ (1) | CZ2010651A3 (cs) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ2013393A3 (cs) * | 2013-05-28 | 2015-03-18 | Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i. | Anorganické scintilátory a luminofory na bázi ALnS2 (A = Na, K, Rb; Ln = La, Gd, Lu, Y) dopované Eu2+ s výjimkou KLuS2 a NaLaS2 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6706212B2 (en) * | 2002-04-12 | 2004-03-16 | General Electric Company | Cerium-doped alkaline-earth hafnium oxide scintillators having improved transparency and method of making the same |
| CZ302205B6 (cs) * | 2009-02-18 | 2010-12-15 | Fyzikální ústav AV CR, v.v.i. | Anorganický scintilátor |
-
2010
- 2010-08-31 CZ CZ20100651A patent/CZ2010651A3/cs not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CZ302687B6 (cs) | 2011-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Yanagida | Inorganic scintillating materials and scintillation detectors | |
| CN108139492B (zh) | 缩短发光中心的闪烁响应的方法以及具有缩短的闪烁响应的闪烁体的材料 | |
| De Mesquita et al. | Preparation and cathodoluminescence of Ce3+-activated yttrium silicates and some isostructural compounds | |
| US20150021485A1 (en) | Solid scintillator, radiation detector, and radiation examination device | |
| Orihashi et al. | Resonant energy transfer in (Eu 3+, Bi 3+)-codoped CaZrO 3 red-emitting phosphor | |
| Prusa et al. | Composition tailoring in Ce-doped multicomponent garnet epitaxial film scintillators | |
| Mori et al. | Scintillation and optical properties of Ce-doped YAGG transparent ceramics | |
| CN112390278B (zh) | 一种强吸电子元素掺杂稀土正硅酸盐闪烁材料及其制备方法和应用 | |
| WO2018222078A1 (ru) | Монокристалл со структурой граната для сцинтилляционных датчиков и способ его получения | |
| Wu et al. | Crystal growth, structure, optical and scintillation properties of Ce 3+-doped Tb 2.2 Lu 0.8 Al 5 O 12 single crystals | |
| EP2397453A1 (en) | Method for preparation of synthetic garnets based in luag or yag | |
| CZ2010651A3 (cs) | Anorganický scintilátor na bázi hafnicitanu strontnatého s nadbytkem hafnia nebo zirkonicitanu strontnatého s nadbytkem zirkonu | |
| Pustovarov et al. | Impurity, host and defect-related luminescence of CsLaSiS4 thiosilicate crystals doped with Ce3+ ions | |
| CZ302205B6 (cs) | Anorganický scintilátor | |
| Starzhinskiy et al. | Improving of LSO (Ce) scintillator properties by co-doping | |
| Meng | Development and improvement of cerium activated gadolinium gallium aluminum garnets scintillators for radiation detectors by codoping | |
| Kamada et al. | Crystal growth and scintillation properties of Ce doped (Gd, Y) AlO3 perovskite single crystals | |
| Nikl et al. | Single-crystal scintillation materials | |
| ZHONG et al. | Spectroscopic properties of vacancies and trap levels in Lu3Al5O12: Ce3+ crystals | |
| Dogan et al. | Thermoluminescence properties of Ce-doped MgB4O7 phosphor | |
| Xie et al. | X-ray absorption fine structure analysis of valence state of Ce in polycrystalline Ce: LuAG films | |
| Wu et al. | Can divalent ions co-doping strategy make Lu0. 8Sc0. 2BO3: Ce scintillation materials perform better? | |
| Wongwan et al. | Scintillation and photoluminescence investigations of Gd2MoB2O9: CeF3 phosphors | |
| Banski et al. | Influence of sol-gel matrices on the optical excitation of europium ions. | |
| CN101665694B (zh) | 立方相的固溶体闪烁材料及其制备方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Patent lapsed due to non-payment of fee |
Effective date: 20180831 |