CS263733B1 - Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen - Google Patents

Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen Download PDF

Info

Publication number
CS263733B1
CS263733B1 CS877840A CS784087A CS263733B1 CS 263733 B1 CS263733 B1 CS 263733B1 CS 877840 A CS877840 A CS 877840A CS 784087 A CS784087 A CS 784087A CS 263733 B1 CS263733 B1 CS 263733B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
input
resistor
input circuits
terminal
testing
Prior art date
Application number
CS877840A
Other languages
English (en)
Other versions
CS784087A1 (en
Inventor
Milan Ing Stanislav
Zdenek Ing Matusu
Original Assignee
Stanislav Milan
Matusu Zdenek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Stanislav Milan, Matusu Zdenek filed Critical Stanislav Milan
Priority to CS877840A priority Critical patent/CS263733B1/cs
Publication of CS784087A1 publication Critical patent/CS784087A1/cs
Publication of CS263733B1 publication Critical patent/CS263733B1/cs

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovacích ústředen umožňuje periodicky bez vlivu obsluhy v mikroprocesorech řízených ústřednách testovat stav vstupních obvodů na funkci, tj. průchodnost vyhodnocované změny do řídicího mikroprocesoru, a to současně u všech vstupních obvodů ústředny. Současně zapojení řeší odolnost systému proti změnám napájecího napětí a rušení. Účinku je dosaženo obvodovým uspořádáním řízených zdrojů referenčních napětí a souhlasem časových konstant integračních členů v referenčních a vstupních obvodech.

Description

Vynález řeší zapojení zapojení pra testování vstupních abvadů zabezpečovacích ústředen, které umožňuje jednoduše v ústřednách řízených mikrapnacesary periodicky zkoušet správnast funkce vstupních abvadů a průchodnost vyhadnacavanéha signálu da ústředny k dalšímu zpracování, a ta při vysaké přesaasti měření vstupní veličiny i při změnách napájecfha napětí abvadů, bez závislasti na činnasti absluhy,
Dapasud známé metady zjišťování funkčníha stavu vstupních abvadů vyžadují buá aktivní stav všech připadených abvadů, kdy je kantralavána přerušení praudavých akruhů, caž má nevýhaiu ve vysaké spatřebě, nebe jsou vstupní abvady testavány individuálně, caž značně zvyšuje pačet saučástek v obvodech a snižuje spa· lehlivast, nebe je přesnast měření závislá na změnách napájecív ha napětí abvadů, neba je njištsvání funkčníha stavu vázána na ruční obsluhu.
Výše uvedené nedastatky odstraňuje zapájení pra testavání vstupních abvadů zabezpečovacích ústředen padle vynálezu, kde zdraj napájecího napětí je připojen jednak paralelně k děliči napětí sleženému ze sériově spojeného prvního rezistaru,druhého rezistaru a třetího rezisteru, přičemž k prvnímu rezisteru je přes první řízený spínač paralelně připojen čtvrtý rezistar a k třetímu rezisteru je přes druhý řízený spínač paralelně připojen pátý rezistar, jednak ke společné svorce, přitom společný bad prvního a-druhého rezistaru je prvním oddělovacím rezist arem spájen jednak s prvním integračním kondenzátarem, jehož druhý vývod je spájen se spalečnau svorkou, jednak s prvním převodníkem impedance, jehož výstup je spojen s nejméně jedním prvním referenčním vstupem vstupního ksmparátsru, dále společný bad druhého a třetího rezisteru je druhým oddělovacím rezístarem spojen jednak s druhým integračním kondenzát arem,
-z263 733 jehož druhý vývod je spojen se společnou svorkou, jednak a druhým převodníkem impedance, jehož výstup je spojen s nejméně jedním druhým referenčním vstupem vstupníh· komparátoru, který má měřící vstup spojen přes vstupní oddělovací rezistor se vstupní sverkeu a přes vstupní integrační kondenzátor se spelečneu svorkeu a výstup má spojen s výstupní svorkou.
Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovacích ústředen podle vynálezu umožňuje provádět periodické testování všech vstupních komparátorů ústředny najednou, a to a výrazným omezením vlivu změn napájecího napětí na přesnost měření, nezávisle na obsluze ústředen.
Na připojeném výkresu je znázorněno blokové schéma zapojení pro testování vstupních obvoáů zabezpečovacích ústředen.
Ke zdroji napájecího napětí 8 je paralelně připojen dělič napětí tvořený sériovou kombinací prvního rezistoru 2» druhého rezistoru 2 a třetího rezistoru 2» přičemž k prvnímu rezistoru 1 je přes první řízený spínač např, eptron spínaný výstupem mikroprocesoru, paralelně připojen čtvrtý rezistor £, a k třetímu rezistoru 2 5® P**®0 druhý řízený spínač 2. paralelně připojen pátý resistor £ a společný bod zdroje napájecího napětí 8 a třetího resistoru je spojen se společnou svorkou 20. Společný bod prvního rezistoru 1_ a druhého rezistoru 2 je prvním oddělovacím rezistorem 9 spojen jednak s prvním integračním kondenzátorem 12 ““i jehož druhý vývod je spojen se společnou svorkou 20 a jednak se vstupem prvního převodníku impedance 12.» tvořeným např. operačním zesilovačem se zesílením 1, jehož výstup je spojen s prvním referenčním vstupem 151 nejméně jednoho vstupního komparátoru 15 sleženého např. z dvojice operačních zesilovačů. Společný b©d druhého rezistoru 2 a třetího rezistoru 2, je druhým oddělovacím rezistorem 10 spojen jednak s druhým integračním kondenzátorem 1,1. jehož druhý vývod je spojen se společnou svorkou 20 a jednak se vstupem druhého převodníku impedance 14. tvořeným např. operačním zesilovačem se zesílením 1, jehož výstup je spojen s druhým referenčním vstupem 152 nejméně jednoho vstupního komparátoru 15, který má měřicí vstup 153 spojen vstupním oddělovacím rezistorem 16 se vstupní svorkou 18 a vstupním integračním kondenzátorem 17 se společnou svorkou 20. přičemž výstup 154 vstupního komparátoru 15 je spojen s výstupní svorkou 19.
V klidovém stavu vytváří dělič složený z rezistorů 2, 2, 2» připojený paralelně ke zdroji napájecího napětí 8, referenční na
263 755
-3-pěti, která jsou vedena přes integrační členy sležené a edděleva· cích rezistorů j), 10 a integračních kondensátorů .1.1.,/2 na převed niky impedance 13«14. které omezují vliv rušivých signálů na vytvářená referenční napětí. Všechna napětí v obvodu jsou vztažena ke společné sverce obvodu 20. Řízené spínače 6 a 2 spojené do série s rezistery £ a £ a připojené paralelně k rezisterům děliče / a 2. jseu rozepnuty. Výstupy převodníků impedance 13 a 14 jseu připojeny na referenční vstupy 151 a 152 vstupních kemparáterů 15. takže na těchto vstupech i napětí určené velikostí napětí dřoje napájecího napětí 8 a hodnotami režie torů /,2 a /. Na měřící vstupy 153 vstupních kemparáterů 15 jsou přes integrační členy složené z vstupních oddělovacích rezistorů 16 a vstupních integračních kondenzátorů 17 přivedena ze vstupních svorek 18 měřená napětí s hodnotou ležící mezi hodnotami napětí na referenčních vstupech 151.152 vstupních kemparáterů 15. přfčemž tato napětí jsou závislá na stavu k ústředně připojených zabezpečovacích čidel. Integrační člen sležený ze vstupního oddělovacího rezisttru 16 a integračního kondenzátoru 17 je nezbytný pre potlačení rušivých napětí superponovaných na napětí měřená. Tím však při kolísání napětí napájecího zdroje £3 dochází k dynamickým odchylkám a měřená napětí na měřicích vstupech 153 vstupních kemparáterů 15 nestačí tyto změny sledovat a mohou překročit meze určené napětími na referenčních vstupech 151.152 vstupních kemparáterů 15*· což by způsobilo chybnou funkci. Tomu zabraňují integrační členy sležené z oddělovacích rezistorů 9,10 a integračních kondenzátorů 11,12. Je-li zvolena jejich časová konstanta shodně a časovou konstantou integračního členu složeného ze vstupního oddělovacího rezistorů 16 a integračního kondenzátoru 17. s přihlédnutím k vnějším impedancím připojeným ke vstupní svorce 18. je vliv změn napájecího napětí potlačen. Testování funkce vstupních obvodů ústředny provede mikroprocesor ústředny v programově určených okamžicích postupným spínáním a rozpínáním řízených spínačů 6 a 2, čímž změní velikost napětí na referenčních vstupech 151 a 152 vstupních kemparáterů 15 tak, aby tato napětí přešla přes hodnotu napětí na jejich měřících vstupech 153. Tím jsou najednou aktivovány všechny připojené vstupní komparátory 15 a na jejich výstupech 154 a s nimi spojených výstupních svorkách 19 se objeví signál, který řídící mikroprocesor ústředny vyhodnotí.
V případě poruohy vstupního obvody popř. navazujících periferních obvodů, mikroprocesoru se tento signál neobjeví a je vyvolána
263 733 příslušná signalizace závady.
Vynález lze prakticky využít v systémech, zabezpečovací a požární signalizace.

Claims (1)

  1. Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovacích ústředen, vyznačené tím, že zdroj napájecího napětí (8) je připojen jednak paralelně k děliči napětí složenému ze sériově spojeného prvního rezistoru (1), druhého rezistoru (2) & třetího rezistoru (3), přičemž k prvnímu rezistoru (1) je přes první řízený spínač (6) paralelně připojen čtvrtý rezistor (4) a k třetímu rezistoru (3) je přes druhý řízený spínač (7) paralelně připojen pátý rezistor (5)» jednak ke společné svorce (20), přitom společný bod prvního a druhého rezistoru (1 a 2) je prvním oddělovacím rezistorem (9) spojen jednak š prvním integračním kondenzátořem (12), jehož druhý vývod je spojen se společnou svorkou (20), jednak s prvním převodníkem impedance (13)» jehož výstup je spojen s nejméně jedním prvním referenčním vstupem (151) vstupního komparáteru (15), a dále společný bod druhého a třetího rezistoru (2' a .3) je druhým oddělovacím rezistorem (10) spojen jednak s druhým integračním kondenzátořem (11), jehož druhý vývod je spojen se společnou svorkou (20), jednak s druhým převodníkem impedance (14), jehož výstup je spojen s nejméně jedním druhým referenčním vstupem (152) vstupního komparátoru (15)» který má měřící vstup (153) spojen přes vstupní oddělovací rezistor (16) se vstupní svorkou (18) a přes vstupní integrační kondenzátor (17) se společnou svorkou (20) a výstup (154) má spojen s výstupní svorkou (19).
CS877840A 1987-11-02 1987-11-02 Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen CS263733B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS877840A CS263733B1 (cs) 1987-11-02 1987-11-02 Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS877840A CS263733B1 (cs) 1987-11-02 1987-11-02 Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS784087A1 CS784087A1 (en) 1988-09-16
CS263733B1 true CS263733B1 (cs) 1989-04-14

Family

ID=5428280

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS877840A CS263733B1 (cs) 1987-11-02 1987-11-02 Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS263733B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS784087A1 (en) 1988-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4047400B2 (ja) ホール効果装置を有する磁界センサ
US5143452A (en) System for interfacing a single sensor unit with multiple data processing modules
US5499023A (en) Method of and apparatus for automated sensor diagnosis through quantitative measurement of one of sensor-to-earth conductance or loop resistance
CA2898377C (en) Sensor interface circuits
JPH1054851A (ja) 電源出力電流測定装置
EP0144834B1 (en) Load cell type weight-measuring device
US4329641A (en) Analog-to-digital tester
US3450978A (en) Resistive bridge calibration circuit
CS263733B1 (cs) Zapojení pro testování vstupních obvodů zabezpečovaoích ústředen
ES364816A1 (es) Un aparato de medicion de corriente o tensiones continuas.
JPS6145280B2 (cs)
US5382912A (en) Resistance monitors
EP1811276B1 (de) Schaltungsanordnung und Verfahren zur Ermittlung der Temperaturdifferenz zwischen zwei Temperatursensoren
US4361839A (en) Charge source multiplexing
US5068598A (en) Tension potential measuring circuit with selected time constant
SU1746528A1 (ru) Коммутатор с переменой знака выходного напр жени
SU1762247A1 (ru) Мостовое устройство дл измерени параметров трехэлементных двухполюсников
RU2002365C1 (ru) Мостовой преобразователь аналоговой величины во временной интервал
EP3130894B1 (en) Abnormality detection device for sensor and sensor device
SU995025A1 (ru) Устройство дл автоматического контрол сопротивлени изол ции электрических цепей
RU2695498C1 (ru) Устройство приема сигналов от датчиков
SU1638657A1 (ru) Устройство дл измерени сопротивлений
SU750385A1 (ru) Устройство дл контрол сопротивлени изол ции
SU1753307A1 (ru) Многоканальный сигнализатор температуры
GB2250100A (en) Leakage and continuity testing