CS258769B1 - Zapojeni pro měření pamětív pracovním režimu typu modifikovaně 6ten(—zápis - Google Patents

Abstract

Zapojení řeší problém testování pamětí v modifikovaném pracovním režimu na zkoušečích, které jsou vybavené pouze jednoduchými testovacími vzorky typu normální zápis a čtení. Funkce zapojení spočívá v rozšíření počtu testovacích fází a nahrávání v každé fázi vždy doplňkové informace oproti informaci čtené, přičemž ve všech fázích testování režimu modifikované čtení - zápis je nastaven jeho časový diagram průběhu signálů a přitom nahrávání obsahu do testované paměti v první fázi následuje po čtení s potlačenou kontrolou podle datového vzorku. Podstata zapojení spočívá v tom, že blok řízené negace je vložen do signálové cesty obsahového vzorku ze zkoušeče tak, že je možné vzájemně zaměňovat komplementárnost signálů k vyhodnocovacímu obvodu a zvlášť komplementárnost signálů k testované paměti vzhledem k obsahovému vzorku. Zapojení je také rozšířeno o řídicí obvod a blok řízení vyhodnocení. Zapojení může být využito při testování v oborech výpočetní techniky, automatizace a regulace.

Description

Vynález, se týká zapojení pro měření pamětí v pracovním režimu typu modifikované čteni-zápis při testování pamětí na zkoušečich vybavených zkušebními programy, realizující měření normálního pracovního režimu paměti a dále se týká zapojení pro provádění tohoto způsobu měření.

Dosud užívaný způsob měření pracovního režimu typu modifikované čtení-zápis při testování pamětí na zkoušečich vybavených zkušebními programy realizující měření prostého režimu zápisu a čtení paměti vycházel z testovacího programu generovaného zkoušečem. Byl proto zjednodušen tak, že v prvé fázi měření, které odpovídá v normálním pracovním režimu zápisu do paměti byla při měření pracovního režimu typu modifikované čtení-zápis podle příslušného časového diagramu nahrána data bez kontroly čtených dat, protože obsah testované paměti nebyl definován a postupně se překryl nahráním užitého datového vzorku testovacího programu.

V druhé fázi měření, které odpovídá v normálním pracovním režimu čtené z paměti, byl při měření režimu typu modifikované čtení-zápis podle příslušného časového diagramu čten a kontrolován obsah podle datového vzorku testovacího programu a znovu se zapisovala ta samá nezměněná informace, která se po ukončení druhé fáze měřeni paměti již nekontrolovala. To znamenalo, že se při dosud užívaném měření pracovního režimu typu modifikované čtení-zápis nikdy důsledně netestovala schopnost zápisu změněného obsahu do čtené buňky paměti.

K tomuto nedostatku docházelo proto, že nikdy nebyla pamět čtena při současném zápisu změněné informace do kontrolované buňky a tedy měření neověřovalo podstatu modifikovaného režimu čtení-zápis, ale pouze předpokládalo správnou činnost paměti v neověřených částech pracovního režimu na základě celkově bezchybné funkce.

Navíc se tím znesnadňovala detekce vzájemného ovlivňováni pamětových buněk v modifikovaném režimu čtení-zápis.

Tyto nedostatky odstraňuje zapojení pro měření paměti v pracovním režimu modifikované čtení,-zápis podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že první datový výstup až p-ý datový výstup testovacího budiče jsou připojeny k testované paměti, jejíž první datový výstup až p-ý datový výstup jsou připojeny k testovacímu komparátoru, jehož první datový výstup až m-tý datový výstup jsou připojeny k vyhodnocovacímu obvodu, přičemž první vzorková svorka až p-tá vzorková svorka zapojení jsou připojeny k prvnímu vzorkovému vstupu až p-tému vzorkovému vstupu bloku řízené negace, jehož první vzorkový výstup až m-tý vzorkový výstup jsou připojeny k vyhodnocovacímu obvodu, jehož výstup je připojen k výstupní svorce zapojení, přičemž první řídicí svorka, druhá řídicí svorka a třetí řídicí svorka jsou připojeny k řídicímu obvodu, jehož první ovládací výstup až 1-tý ovládací výstup jsou připojeny k bloku řízení vyhodnocení a jehož první řídicí výstup až k-tý řídicí výstup jsou připojeny k bloku řízené negace, jehož první datový výstup až m-tý datový výstup jsou připojeny k testovacímu budiči.

Zapojení pro měření pamětí v pracovním režimu typu modifikované čtení-zápis má tyto výhody:

Dochází k měření testované paměti ve všech částech pracovního režimu typu modifikované čtení-zápis a její. činnost je tímto způsobem explicitně ověřována. Způsob měření usnadňuje detekci chyby vzniklé vzájemným ovlivněním pamětových buněk testované paměti v pracovním režimu typu modifikované čtení-zápis. Nadto zapojení provádějící tento způsob měření umožňuje měřit pracovní režim modifikované Čtení-zápis na všech vestavěných lineárních testovacích vzorcích uvažovaného zkoušeče, které mají vlastnost totožnosti v blocích testovací sekvence vzniklých dělením modulu nejvyšší adresový řád. Konečně uvedený způsob měření qvěří schopnost všech buněk paměti, když v pracovním režimu modifikované čtení-zápis zapíše z datové logické jedničky logickou nulu a zpětně logickou jedničku s následující kontrolou zápisu.

Na připojených výkresech je na obr. 1 znázorněn časový diagram měřicích fází a příkladný průběh řídicích signálů zapojení provádějící měření podle vynálezu, na obr. 2 je zobrazeno příkladné zapojení pro měření pamětí v pracovním režimu typu modifikované čtení-zápis podle předmětu vynálezu a na obr. 3 je nakresleno konkrétní příkladné zapojení pro provádění měření pamětí.

časový diagram průběhu řídicích signálů v zapojení pro provádění způsobu měření podle vynálezu uvedený na obr. 1 znázorňuje rozděleni na jednotlivé fáze a činnost v uvažované fázi. Měření v pracovním režimu typu modifikované čtení-zápis probíhá ve čtyřech fázích a je rozšířeno oproti měření pracovního režimu prostého zápisu a čtení, které je zabudované v uvažovaném zkoušeči. K rozšíření počtu fází dochází jejich rozlišením podle vyššího adresovacího řádu než je adresovací rozsah měření paměti, přičemž v jednotlivých fázích měření je vždy nahráván doplňkový obsah oproti obsahu nahrávaném v předcházející fázi.

V první fázi měření určené řídicími signály na první až třetí řídicí svorce v úrovni logické jedničky, jedničky a nuly probíhá nahrávání obsahu ve tvaru odpovídajícím datovému vzorku ze zkoušeče do celé kapacity paměti. K nahrávání dochází v modifikovaném režimu po čtení obsahu každé buňky paměti, jehož kontrola je v první fázi měřeni potlačena.

Ve druhé fázi měření určené řídicími signály na první až třetí řídicí svorce v úrovni logických jedniček probíhá do celé paměti nahrávání obsahu v komplementárním tvaru datového vzorku zkoušeče. Přitom k nahrávání dochází v modifikovaném režimu vždy po čtení a kontrole obsahu každé buňky paměti podle přímého datového vzorku. Ve třetí fázi měření určené řídicími signály ha první až třetí svorce v úrovni logické jedničky, nuly a nuly je opět testovací paměť čtena při současné kontrole čteného obsahu komplementárním datovým vzorkem zkoušeče a do každé přečtené báňky je v zápětí zapisován obsah odpovídající přímému datovému vzorku zkoušeče.

Konečně ve čtvrté fázi měření určené řídicími signály na první až třetí řídicí svorce v úrovni logické jedničky, nuly a jedničky je testovaná paměť čtena při současné kontrole obsahu přímým datovým vzorkem zkoušeče, zatímco vzápětí je do čtené buňky nahráván obsah odpovídající komplementárnímu datovému vzorku. Z popsaného časového diagramu je patrna polarita nahrávané a čtené inforamce z paměti i způsob kontroly a potlačení kontroly.

Přitom znázorněný signál na první řídicí svorce odpovídá v úrovni logické jedničky nastavení pracovního režimu typu modifikované čtení-zápis.

Signály na následujících řídicích svorkách odpovídají vyššímu adresovacímu řádu užitému k rozšíření počtu fází a signálu určujícího zápis nebo čtení normálního režimu zápisu a čtení. Signál na výstupu obvodu řízení vyhodnocení v úrovni logické nuly blokuje vyhodnocová ní čtené informace z paměti.

Na obr. 2 je nakresleno zapojení pro měření pamětí. První datový výstup 211 až p-tý datový výstup 21P testovacího budiče 200 jsou připojeny k testované paměti 100, jejíž první datový výstup 111 až p-tý datový výstup IIP jsou připojeny k testovacímu komparátorů 300, jehož první datový výstup 311 až m-tý datový výstup 31M jsou připojeny k vyhodnocovacímu oLvodu 600, přičemž první vzorková svorka 01 až p-tá vzorková svorka OP zapojení jsou připojeny k prvnímu vzorkovému vstupu 501 až p-tému vzorkovému vstupu 509 bloku 500 řízené negace, jehož první vzorkový výstup 511 až m-tý vzorkový výstup 51M jsou připojeny k vyhodnoco vacímu obvodu 600, jehož výstup 620 je připojen k výstupní svorce 020 zapojení, přičemž první řídicí svorka 11, druhá řídicí svorka 12 a třetí řídicí svorka 13 jsou připojeny k řídicímu obvodu '400, jehož první ovládací výstup 431 až 1-tý ovládací výstup 43L jsou připojeny k bloku 700 řízeni vyhodnocení, a jehož první řídicí výstup 421 až k-tý řídicí výstup 42K jsou připojeny k bloku 500 řízené negace, jehož první datový výstup 531 až m-tý datový výstup 53M jsou připojeny k testovacímu budiči 200.

Konkrétní příkladné zapojení pro měření pamětí v modifikovaném režimu čtení-zápis podle předmětu vynálezu je uvedeno na obr. 3. Naznačuje možné řešeni zapojení pro jeden bit vstupního datového vzorku.

Funkci zapojení podle-vynálezu je následující:

Na první vstupní řídicí svorku kl je přiváděn signál určující typ pracovního režimu buč pro normální zápis čtení nebo pro modifikované čtení-zápis. Na druhou vstupní řídicí svorku 12 je přiváděn signál zápisu nebo čtení vysílaný souběžně s datovým vzorkem pro normální pracovní režim z uvažovaného zkoušeče.

Na třetí vstupní řídicí svorku 13 je přiváděn signál od rozšířeného řádu ležícího mimo rozsah vlastní adresace testované paměti. Podle přiváděné signální kombinace je v řídicím obvodu 400 určeno odpovídající přiřazení signálů na výstupy řídicího obvodu 400 tak, aby v normálním pracovním režimu přes řídicí výstupy 421, ... 42K, byl ovládán blok 500 řízené negace, který na své svorkové výstupy 511, .... 51M a na své datové výstupy 531, .... 53M připojí signály na vstupních vzorkových svorkách Ol, .... OP. Naproti tomu v pracovním režimu typu modifikovaného čtení-zápisu ovládá řídicí obvod 400 blok 500 řízené negace podle jednotlivých fází řízení tak, aby v prvé a ve třetí fáli byla na datových výstupech 531, ... 53M bloku 500 řízené negace informace shodná s informaci přiváděnou na vlastní vzorkové svorky Ol, ... OP a na vzorkových výstupech 511, .... 51M bloku 500 řízené negace byla komplementární informace k přiváděné informaci na vstupní vzorkové -svorky Ol, .... OP.

Naopak ve druhé a čtvrté fázi je z datových výstupů 531, ... 53M bloku 500 řízené negace vysílána komplementární a ze vzorkových výstupů 511, .... 51M přímá informace přiváděná na vstupní vzorkové svorky. Řídicí obvod 400 pomocí signálů z ovládacích výstupů 431,...

43L přes ovládací vstupy 701, .... 7OL obvodu 700 řízené vyhodnoceni ovládá kontrolu čtení informace. Ovládání v pracovním režimu typu normálního zápisu a čtení povoluje kontrolu informace čtené z testované paměti ve fázi čtení. Naopak v pracovním režimu typu'modifikovaného čtení-zápisu ovládání potlačuje kontrolu v prvé fázi a ve zbývajících třech fázích je kontrola povolena.

Další části obvodu fungují při modifikovaném pracovním režimu i při normálním pracovním režimu shodně a umožňují provádět způsob měření popsaný v souvislosti s časovým diagramem uvedeným na obr. 1. Signál TOFF strobuje měření doby uvolněni a signál TAC strobuje měření doby vybavení obsahu z výstupu testované paměti IOOí

Vynález je možné aplikovat na úplnou adresovací kapacitu uvažovaného zkoušeče jednoduchým rozšířením adresových řádů jednobitovým čítačem, umístěným v adaptéru.

Uvedený vynález je určen pro užití ve zkoušeČích pamětí.

Claims (1)

1. Zapojení měření pamětí v pracovním režimu typu modifikované čtení-zápis, vyznačené tím, že první datový výstup (211) až p-tý datový výstup (21P) testovacího budiče (200) jsou připojeny k testované’ paměti (100), jejíž první datový výstup (111) až p-tý datový výstup (IIP) jsou připojeny k testovacímu komparátoru (300), jehož první datový výstup (311) až m-tý datový výstup (31M) jsou připojeny k vyhodnocovacímu obvodu (600), přičemž první vzorková svorka (01) až p-tá vzorková (OP) zapojení jsou připojeny k prvnímu vzorkovému vstupu (501) až p-tému vzorkovému vstupu (50P) řízené negace, jehož první vzorkový výstup (511) až m-tý vzorkový výstup (51M) jsou připojeny k vyhodnocovacímu obvodu (600), jehož výstup (620) je připojen k výstupní svorce (020) zapojení, přičemž první řídicí svorka (11), druhá řídicí svorka (12) a třetí řídicí svorka (13) jsou připojeny k řídicímu obvodu (400), jehož první ovládací výstup (431) až 1-tý ovládací výstup (43L) jsou připojeny k bloku (700) řízení vyhodnoceni, a jehož první řídicí výstup (421) až k-tý řídicí výstup (42K) jsou připojeny k bloku (500) řízené negace, jehož první datový výstup (531) až m-tý datový výstup (53M) jsou připojeny k testovacímu budiči (200).