CS256478B1 - Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit - Google Patents
Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit Download PDFInfo
- Publication number
- CS256478B1 CS256478B1 CS8510132A CS1013285A CS256478B1 CS 256478 B1 CS256478 B1 CS 256478B1 CS 8510132 A CS8510132 A CS 8510132A CS 1013285 A CS1013285 A CS 1013285A CS 256478 B1 CS256478 B1 CS 256478B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- measuring
- adapter
- measured
- calibration
- inductance
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Adaptor sestává ze základního kvádrového tělesa opatřeného^dvěma konektory propojující střední vodič. Podstatou adaptoru je, že oba kruhové střední vodiče jsou vyústěny nad čelní roviny adaptoru a ukončeny měřícími svorkami, z nichž jedna měřící svorka je horizontálně suvná Při kalibraci jsou měřící svorky spojeny kalibračním středním vodičem upevněným v teflonovém dielektriku v kovovém tělese.
Description
K měření obvodových součástek se v dnešní době používají velmi rozmanité metody a přístroje, které se liší účelem, k němuž jsou určeny i svým provedením. Nejznáraější a nejvíc rozšířené jsou metody a přístroje pro měření prosté hodnoty obvodových součástek, tj» odporu, kapacity a indukčností. Měření se provádí obvykle bučí ss napětím nebo st signálem na poměrně nízkém kmitočtu asi 1 nebo několik kHz. .Metody a přístroje pro měření prostých hodnot odporů, kapacit a indukčností vykazují poměrně velkou přesnost, která činí 1% až 0,1%.
Hodnoty obvodových prvků, naměřené na nízkých kmitočtech však neplatí úplně na kmitočtech vyšších. Obvodové součástky na vyšších kmitočtech svoji hodnotu měni, anebo se u nich uplatňují parasitní složky, které jsou nežádoucí, ale pro navrhování vf obvodů a přesnou znalost funkce je nutné je znát. Proto se obvodové součástky měří na přístrojích, jejichž měrný kmitočet je vyšší anebo se mění do několika MHz nebo stovek MHz.
K tomu slouží různé měřiče impedancí, u nichž se měřená součástka zasouvá bučí přímo do svorek přístroje, nebo se upevňuje na vstup sondy anebo se sondou měří impedance přímo v obvodech. Na nejvyšších kmitočtech v oblasti 500 MHz a výše se měřená součástka vkládá přímo do koaxiálního vedení nebo vysokofrekvenčního vedení a ze změřených napětí a fáze se vypočte její hodnota. Tyto způsoby měření vyhodnocují reálnou i jalovou složku měřeného prvku bučí v kartézkých, nebo polárních souřadnicích. Na rozdíl od měřičů prostých hodnot RLC se na vyšších kmitočtech nedosahuje vysoké
256 478
I přesnosti měření. Jednou z metod měření impedance obvodových součástek RLC je metoda děličové, která vyžaduje zvláštní přípravky - adaptory ke spojení například s analyzátorem obvodů.
Předmětem vynálezu je provedení adaptoru pro měření odporů indukčnostl a kapací^ sestávající ze základního kvádrového tělesa opatřeného dvěma koaxiálními konektory se středními kruhovými vodiči. Podstatou vynálezu je, že kruhové střední vodiče upevněné v teflonovém jádru v základním tělese jsou v pravém úhlu vyústěny nad čelní rovinu adaptoru a zakončeny měřicími svorkami, přičemž první střední vodič s první měřici svorkou připojený k prvnímu konektoru je opatřen kolmo uspořádanou zdířkou, zatímco druhý střední vodič s druhou měřicí svorkou js horizontálně posuvný v první a druhé trubičce spojené s druhým konektorem.
Hlavní předností adaptoru podle vynálezu je vymezení přídavných chyb měření tím, že měřené součástky s drátovými vývody lze přímo vkládat do vysokofrekvenčního vedení do posuvných měřicích svorek, čímž se omezí parazitní indukčnost a dále vyloučí se fázové chyby počáteční kalibrace kalibračním vedením. Další výhodou je rychlá kontrola přizpůsobení ze vstupní strany připojením kalibračního vedení k měřicím svorkám.
Vynález blíže objasni přiložený výkres, kds obr. X, a 3 znázorňuje schéma z objasnění podstaty měření na obr. 4 je v osovém řezu příklad provedení adaptoru, na obr. 5a, 5b osový řez kalibračním vedením V čelním a bočním pohledu, na obr. 6 vodič kalibračního vedení ve svorkách, na obr. 7 řez měřicí svorkou.
Adaptor,jak patrno z obr.4, sestává ze základního tělesa I.» které tvoří vnější vysokofrekvenční vodič vedení (slab-line). V teflonovém dielektriku 2 jsou uloženy kruhové střední vodiče 3, 4 přecházející v úhlu 90° v v měřicí svorky _5 a 5. První měřici svorka 5, je pevná a v jejím ohybu je vytvořena zdířka 7 pro zasunutí sondy A
- 3 256 478 měřicího přístroje. Druhá měřicí svorka 6 je posuvná a sestává ze tří dílů, trubiček 8 a 9 druhé měřicí svorky 6 a druhého kruhového středního vodiče 4. Při zvětšování vzdálenosti měřicích svorek 5 a 6 se druhý kruhový vodič 4 a trubičky 8, 9_ do sebe zasouvají tak, že vytvoří maximální vzdálenost měřicích svorek J5, 6, pro připojení měřeného objektu, nebo kalibračního vedení.
Pro zajištění rychlého a dokonalého spojení měřené součástky s měřícími svorkami 5, 6 jsou tyto opatřeny pružinami 16,
17. Ke kalibraci slouží kalibrační vedení uvedené na obr.
5a. 5b. které sestává z kovového tělesa 11 tvořícího vnější kruhový vodič a S dielektriky 12 z teflonu, ve kterém je umíštěn kalibrační střední vodič 13 na obou koncích zbroušený do pásku pro zasunutí do měřících svorek 5i a Q. Kalibrační vedení je při zasunutí na adaptor zajištěno dvěma pružinami 14, 15, které zapadnou do žlábku v tělese adaptoru.
Měřená součástka Z, jak je patrno z obr. 1, je při měřeni zapojena v sérii s odporovým normálem Zo o známé hodnotě, například s přesným koaxiálním zakončovaCím odporem 50 Ji . Měřicí přístroj zaznamená napětí Ua a Ub před a za součástkou Z a fází mezi nimi, Z naměřených hodnot a známé impedance Zo vypočteme měřenou impedancí Z součástky nebo přímo hodnotu odporu, kapacity, indukčnostl. Při praktickém měření je nutno počítat se vzdáleností měřících bodů (fázový rozdíl % vzdálenost sond měřicího přístroje) a tuto odečíst od fáze naměřené, jak naznačeno na obr. 2. Výsledná fáze je dána rozdílem fáze <x . Počáteční fáze se určí při kalibraci kalibračním vedením. Měřicí pracoviště s adaptorem znázorněné na o.br. 3 tvoří adaptor C spojený prvním konektorem se zdrojem G vysokofrekvenčního signálu a druhým konektorem s adaptorem T, jehož výstup je spojen s odporovým normálem Zo. Měřící přístroj M, například analyzátor obvodů, je spojen s adaptorem C sondou A a rondou E> s adaptorem T. Měřený objekt Z pak mezi měřicí svorky 5, 6, adaptoru C.
256 478
Před počátečním měřením provedeme kalibraci při zasunutém kalibračním vedení na měřicích svorkách J5, Q. Odečteme počáteční fázi a v případě, že měříme s ručně obsluhovaným vektor-voltmetrem, nastavíme plnou výchylku v místech sondy A, B. Pak kalibrační vedení vysuneme a nasuneme měřenou součást Z, Odečteme fázi a vysokofrekvenční napětí UA před měřenou součástkou (je rovno plné výchylce nastavené při kalibraci) a dále napětí υθ za měřeným objektem Z. Z těchto naměřených hodnot podle příslušných vzorců vypočteme odpor, kapacitu nebo indukčnost měřeného objektu Z nebo jeho impedancí či admitanci a jejich fázové úhly.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUAdaptor pro měření odporů, indukčnosti a kapacit s posuvnými svorkami a kalibračním vedením, sestávající ze základního kvádrového tělesa opatřeného dvěma koaxiálními konektory se středními vodiči vyznačený tim, že oba kruhové střední vodiče (3,4) upevněné v teflonovém jádru (2) v základním tělese (1) jsou v pravém úhlu vyústěny nad čelní rovinu adaptoru a ukončeny měřicími svorkami (5,6) opatřenými zářezy se dvěma pružinami (16, 17), přičemž první kruhový střední vodič (3) s první měřicí svorkou (5) je opatřen kolmo uspořádanou zdířkou (7) a spojen s prvním konektorem (10), zatímco druhý kruhový střední vodič (4) s druhou měřicí svorkou (6) je horizontálně suvný v první a druhé trubičce (8,9) spojené s druhým konektorem (20),
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS8510132A CS256478B1 (cs) | 1985-12-30 | 1985-12-30 | Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS8510132A CS256478B1 (cs) | 1985-12-30 | 1985-12-30 | Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS1013285A1 CS1013285A1 (en) | 1987-09-17 |
| CS256478B1 true CS256478B1 (cs) | 1988-04-15 |
Family
ID=5448082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS8510132A CS256478B1 (cs) | 1985-12-30 | 1985-12-30 | Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS256478B1 (cs) |
-
1985
- 1985-12-30 CS CS8510132A patent/CS256478B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS1013285A1 (en) | 1987-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Davidson et al. | LRM and LRRM calibrations with automatic determination of load inductance | |
| KR0173490B1 (ko) | 펄스계 임피던스 측정계기 | |
| Horibe | Performance comparisons between impedance analyzers and vector network analyzers for impedance measurement below 100 MHz frequency | |
| US2329098A (en) | Apparatus for determining the insulating values of dielectrics | |
| Callegaro et al. | Four-terminal-pair impedances and scattering parameters | |
| US20030115008A1 (en) | Test fixture with adjustable pitch for network measurement | |
| US5463323A (en) | Impedance meter | |
| US4241306A (en) | Test fixture having switching means for facilitating transformer turns ratio testing | |
| US20110156730A1 (en) | Chip-based prober for high frequency measurements and methods of measuring | |
| US5627476A (en) | Milliohm impedance measurement | |
| Yamada et al. | Design method for a wideband resistive voltage divider based on average impedance matching with optimal solution methods | |
| US3283242A (en) | Impedance meter having signal leveling apparatus | |
| US4904927A (en) | Method for measuring a characteristic impedance and a propagation constant of a two-port network | |
| CS256478B1 (cs) | Adaptor pro měření odporů indukčnosti a kapacit | |
| US6876935B2 (en) | Method for correcting measurement error, method of determining quality of electronic component, and device for measuring characteristic of electronic component | |
| US11754605B2 (en) | Series tee splitter for impedance measurements | |
| Heuermann et al. | Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques | |
| Zhu et al. | IV method based PDN impedance measurement technique and associated probe design | |
| Besri et al. | Using confidence factor to improve reliability of wide frequency range impedance measurement. Application to HF transformer characterization | |
| CN219935963U (zh) | 一种数字电桥的电压电流测量通道和数字电桥 | |
| JP3421524B2 (ja) | 静電容量の測定方法 | |
| CN212932799U (zh) | 一种测试开关电源纹波噪声的电路工装 | |
| Obrecht | Simple Offset Elimination Technique for Two-Wire Measurements | |
| JP3126220B2 (ja) | フリンジ容量の測定方法 | |
| Obrecht | Measurements of Extremely Small Inductance Values: Offset elimination technique for small inductance measurements using two-wire connection |