CS254894B1 - Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů - Google Patents

Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů Download PDF

Info

Publication number
CS254894B1
CS254894B1 CS857495A CS749585A CS254894B1 CS 254894 B1 CS254894 B1 CS 254894B1 CS 857495 A CS857495 A CS 857495A CS 749585 A CS749585 A CS 749585A CS 254894 B1 CS254894 B1 CS 254894B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
layers
crystal
optical thickness
multiples
carried out
Prior art date
Application number
CS857495A
Other languages
English (en)
Other versions
CS749585A1 (en
Inventor
Jiri Jankuj
Jan Doubek
Petr Mlcoch
Original Assignee
Jiri Jankuj
Jan Doubek
Petr Mlcoch
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiri Jankuj, Jan Doubek, Petr Mlcoch filed Critical Jiri Jankuj
Priority to CS857495A priority Critical patent/CS254894B1/cs
Publication of CS749585A1 publication Critical patent/CS749585A1/cs
Publication of CS254894B1 publication Critical patent/CS254894B1/cs

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

Řešení se týká způsobu výroby interferenčních monochromatických filtrů, obsahujících separační dielektrické vrstvy o optické tlouštce \/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/A vrstev. Napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky 4 se provádí na jeden krystal a napařování \/2 vrstev nebo jejich násobků se provádí jiným krystalem, který je uložen předem v krystalové měřicí hlavě, načež je nastaven do pracovní polohy. Po provedení operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.

Description

Vynález se týká způsobu výroby interferenčních monochromatických filtrů obsahujících separační vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/4 vrstev.
Pro vymezení úzké spektrální oblasti procházejícího záření se s výhodou používají interferenční tenkovrstvé systémy klasické konstrukční stavby s dielektrlckou mezivrstvou optické tlouštky λ/2 nebo jejími násobky, kde Xznačí vlnovou.idélku maxima propustnosti filtru. Rovněž mohou být opatřeny několika takovými λ/2 vrstvami nacházejícími se uvnitř soustavy z podstatně většího počtu vrstev o optické tlouštce λ/4. Poloha maxima propustnosti ve spektru tohoto optického prvku je nejvíce ovlivněna skutečně dosaženými optickými tlůuštkami λ/2 vrstev nebo jejich hásobky.
Nejčastěji používaná teohbologie přípravy tenkých vrstev vakuovým napařováním využívá dvě metody pro určování tlouštky vrstev během napařovacího procesu. Jde o fotometrickou kontrolu propustnosti nebo odrazivosti zkušebního skla v jedné nebo více vlnových délkách, současně vrstveného s optickými podložkami nebo nepřímou kontrolou tlouštky vrstev pomocí kmitajícího křemenného krystalu. První způsob kontroly optické tlouštky vrstev neumožňuje vzhledem k nevýraznému extrému propustnosti nebo odrazivosti dosáhnout přesnosti polohy požadovaného maxima propustnosti ve spektru lepšího než - 2 %.
Druhý způsob vrstev pomocí kmitajícího křemenného krystalu rovněž vzhledem k nelineárnímu charakteru závislosti optické tlouštky vrstvy na změně frekvence kmitajícího krystalu i rozdílům v chování různých krystalů neumožňuje získat reprodukovatelnost polohy maxima propustnosti ve spektru větším než ί 1 í pro viditelnou část_spektra. Tato nepřesnost navíc vzrůstá s rostoucím počtem vrstev v použité sestavě a jejich optickou tlouštkou, takže již pro oblast nad 1 ^um dosahuje nepřesnost hodnoty nad ± 2 %.
Vznikl tedy požadavek zvýšit výtěžnost výroby přesně definovaných monochromatických filtrů zpřesněním napařovacího procesu. Tento úkol řeší předmět vynálezu, kterým je způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů obsahujících separační dielektrické vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/4 vrstev.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky λ/4 se provádí na jeden krystal a napařování λ/2 vrstev nebo jeich násobků se provádí jiným krystalem, který se uloží předem v krystalové měřicí hlavě a nastaví do pracovní polohy. Po provedení této operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Hlavní výhoda řešení podle vynálezu spočívá v tom, že nelineární charakter závislosti mezi napařenou optickou tlouštkou a změnou frekvence krystalu je elimován napařováním λ/2 nebo jejich násobků na jiný krystal, než zbývající vrstvy. Tím jsou zaručena, bez korekcí na linearitu přesnost polohy, maxima propustnosti ve spektru i v blízké infračervené oblasti.
Postup výroby interferenčních monochromatických filtrů podle vynálezu je následující.
Do vakuové aparatury se vloží podložky, na které se má nanášet požadovaná sestava vrstev a současně se do krystalové měřicí hlavy vloží dva nebo více křemenných krystalů-. Po vyčerpání vakuového prostoru na hodnotu tlaku menší než 2 x 10-^ mb se provádí napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky ^/4 na jeden krystal. Před napařováním λ/2 vrstev nebo jejich násobků se nastaví do pracovní polohy jiný krystal, na nějž se nanáší uvedená λ/2 vrstva.
Po její přípravě se opět pokračuje vnapařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Tento způsob výroby se vždy opakuje před a při napaření příslušných λ/2 vrstev nebo jejich násobků. Po skončení výroby se zkontroluje požadovaná hodnota vlnové délky maxima propustnosti.
Uvedený způsob vrstvení je vhodný pro všechny podložky, u kterých je požadovaná velká přesnost vytvořených interferenčních vrstev.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů, obsahujících separační dlelektrické vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejich násobku v soustavě ^/4, vyznačující se tím, že napařování jednotlivých· vrstev optické tlouštky ^/4 se provádí na jeden krystal a napařování λ/2 vrstev nebo jejich násobků se provádí jiným krystalem, uloženým předem v krystalové měřicí hlavě a posléze nastaveným do pracovní polohy a po provedení této operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
CS857495A 1985-10-21 1985-10-21 Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů CS254894B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS857495A CS254894B1 (cs) 1985-10-21 1985-10-21 Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS857495A CS254894B1 (cs) 1985-10-21 1985-10-21 Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS749585A1 CS749585A1 (en) 1987-06-11
CS254894B1 true CS254894B1 (cs) 1988-02-15

Family

ID=5424201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS857495A CS254894B1 (cs) 1985-10-21 1985-10-21 Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS254894B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS749585A1 (en) 1987-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5240550A (en) Method of forming at least one groove in a substrate layer
US6700690B1 (en) Tunable variable bandpass optical filter
TWI292856B (en) Method to produce a grating-structure, optical element, evanescent-field-sensor plate, micro-titer-plate and information-technical optical coupler as well as device to suoervise a wavelength
US12345903B2 (en) Photo resist as opaque aperture mask on multispectral filter arrays
CS254894B1 (cs) Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů
US20020027665A1 (en) Optical filter and a method for producing the same
Holah et al. Interference filters for the far infrared
JPH0677301A (ja) 表面処理装置
US20040111856A1 (en) Method of manufacturing MEMS Fabry-Perot device
Bousquet et al. Optical thin film monitoring—recent advances and limitations
CN116520468A (zh) 一种基于微结构阵列的截止滤光片及其制备方法
US4443303A (en) Method of making cold shield and antireflector for infrared detector array and product thereof
US5111168A (en) Real-time, in-situ saw filter delay adjustment
JPS54110787A (en) Method and apparatus for semiconductor element
Erdogan et al. Thin-film filters come of age
Grèzes-Besset et al. Real-time lateral optical monitoring for the production of complex multilayer stacks
CN114136896A (zh) 一种光学薄膜光学常数工艺相关性的实验方法
CN110837145B (zh) 一种窄带滤光片光谱的调控方法
CN111443414A (zh) 一种低敏感度粗波分复用滤光片及其制作方法
JPS63157104A (ja) バンド・パス・フイルタの製造方法
JPH05249312A (ja) 光学多層膜の作製方法
JPH06258512A (ja) 光学フィルター
JPS5812337B2 (ja) ビサイパタ−ンノ トウメイマクノケイセイホウホウホウ
DE102018219778A1 (de) Interferometereinrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines ersten Abstandes zwischen einer ersten Spiegeleinrichtung und einer zweiten Spiegeleinrichtung in einer Interferometereinrichtung
Lardon et al. Thin film production with a new fully automated optical thickness monitoring system