CS254894B1 - Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů - Google Patents
Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů Download PDFInfo
- Publication number
- CS254894B1 CS254894B1 CS857495A CS749585A CS254894B1 CS 254894 B1 CS254894 B1 CS 254894B1 CS 857495 A CS857495 A CS 857495A CS 749585 A CS749585 A CS 749585A CS 254894 B1 CS254894 B1 CS 254894B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- layers
- crystal
- optical thickness
- multiples
- carried out
- Prior art date
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Abstract
Řešení se týká způsobu výroby interferenčních monochromatických filtrů, obsahujících separační dielektrické vrstvy o optické tlouštce \/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/A vrstev. Napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky 4 se provádí na jeden krystal a napařování \/2 vrstev nebo jejich násobků se provádí jiným krystalem, který je uložen předem v krystalové měřicí hlavě, načež je nastaven do pracovní polohy. Po provedení operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Description
Vynález se týká způsobu výroby interferenčních monochromatických filtrů obsahujících separační vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/4 vrstev.
Pro vymezení úzké spektrální oblasti procházejícího záření se s výhodou používají interferenční tenkovrstvé systémy klasické konstrukční stavby s dielektrlckou mezivrstvou optické tlouštky λ/2 nebo jejími násobky, kde Xznačí vlnovou.idélku maxima propustnosti filtru. Rovněž mohou být opatřeny několika takovými λ/2 vrstvami nacházejícími se uvnitř soustavy z podstatně většího počtu vrstev o optické tlouštce λ/4. Poloha maxima propustnosti ve spektru tohoto optického prvku je nejvíce ovlivněna skutečně dosaženými optickými tlůuštkami λ/2 vrstev nebo jejich hásobky.
Nejčastěji používaná teohbologie přípravy tenkých vrstev vakuovým napařováním využívá dvě metody pro určování tlouštky vrstev během napařovacího procesu. Jde o fotometrickou kontrolu propustnosti nebo odrazivosti zkušebního skla v jedné nebo více vlnových délkách, současně vrstveného s optickými podložkami nebo nepřímou kontrolou tlouštky vrstev pomocí kmitajícího křemenného krystalu. První způsob kontroly optické tlouštky vrstev neumožňuje vzhledem k nevýraznému extrému propustnosti nebo odrazivosti dosáhnout přesnosti polohy požadovaného maxima propustnosti ve spektru lepšího než - 2 %.
Druhý způsob vrstev pomocí kmitajícího křemenného krystalu rovněž vzhledem k nelineárnímu charakteru závislosti optické tlouštky vrstvy na změně frekvence kmitajícího krystalu i rozdílům v chování různých krystalů neumožňuje získat reprodukovatelnost polohy maxima propustnosti ve spektru větším než ί 1 í pro viditelnou část_spektra. Tato nepřesnost navíc vzrůstá s rostoucím počtem vrstev v použité sestavě a jejich optickou tlouštkou, takže již pro oblast nad 1 ^um dosahuje nepřesnost hodnoty nad ± 2 %.
Vznikl tedy požadavek zvýšit výtěžnost výroby přesně definovaných monochromatických filtrů zpřesněním napařovacího procesu. Tento úkol řeší předmět vynálezu, kterým je způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů obsahujících separační dielektrické vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejím násobku v soustavě λ/4 vrstev.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky λ/4 se provádí na jeden krystal a napařování λ/2 vrstev nebo jeich násobků se provádí jiným krystalem, který se uloží předem v krystalové měřicí hlavě a nastaví do pracovní polohy. Po provedení této operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Hlavní výhoda řešení podle vynálezu spočívá v tom, že nelineární charakter závislosti mezi napařenou optickou tlouštkou a změnou frekvence krystalu je elimován napařováním λ/2 nebo jejich násobků na jiný krystal, než zbývající vrstvy. Tím jsou zaručena, bez korekcí na linearitu přesnost polohy, maxima propustnosti ve spektru i v blízké infračervené oblasti.
Postup výroby interferenčních monochromatických filtrů podle vynálezu je následující.
Do vakuové aparatury se vloží podložky, na které se má nanášet požadovaná sestava vrstev a současně se do krystalové měřicí hlavy vloží dva nebo více křemenných krystalů-. Po vyčerpání vakuového prostoru na hodnotu tlaku menší než 2 x 10-^ mb se provádí napařování jednotlivých vrstev optické tlouštky ^/4 na jeden krystal. Před napařováním λ/2 vrstev nebo jejich násobků se nastaví do pracovní polohy jiný krystal, na nějž se nanáší uvedená λ/2 vrstva.
Po její přípravě se opět pokračuje vnapařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Tento způsob výroby se vždy opakuje před a při napaření příslušných λ/2 vrstev nebo jejich násobků. Po skončení výroby se zkontroluje požadovaná hodnota vlnové délky maxima propustnosti.
Uvedený způsob vrstvení je vhodný pro všechny podložky, u kterých je požadovaná velká přesnost vytvořených interferenčních vrstev.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUZpůsob výroby interferenčních monochromatických filtrů, obsahujících separační dlelektrické vrstvy o optické tlouštce λ/2 nebo jejich násobku v soustavě ^/4, vyznačující se tím, že napařování jednotlivých· vrstev optické tlouštky ^/4 se provádí na jeden krystal a napařování λ/2 vrstev nebo jejich násobků se provádí jiným krystalem, uloženým předem v krystalové měřicí hlavě a posléze nastaveným do pracovní polohy a po provedení této operace se pokračuje v napařování λ/4 vrstev na původním krystalu.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS857495A CS254894B1 (cs) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS857495A CS254894B1 (cs) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS749585A1 CS749585A1 (en) | 1987-06-11 |
| CS254894B1 true CS254894B1 (cs) | 1988-02-15 |
Family
ID=5424201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS857495A CS254894B1 (cs) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS254894B1 (cs) |
-
1985
- 1985-10-21 CS CS857495A patent/CS254894B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS749585A1 (en) | 1987-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5240550A (en) | Method of forming at least one groove in a substrate layer | |
| US6700690B1 (en) | Tunable variable bandpass optical filter | |
| TWI292856B (en) | Method to produce a grating-structure, optical element, evanescent-field-sensor plate, micro-titer-plate and information-technical optical coupler as well as device to suoervise a wavelength | |
| US12345903B2 (en) | Photo resist as opaque aperture mask on multispectral filter arrays | |
| CS254894B1 (cs) | Způsob výroby interferenčních monochromatických filtrů | |
| US20020027665A1 (en) | Optical filter and a method for producing the same | |
| Holah et al. | Interference filters for the far infrared | |
| JPH0677301A (ja) | 表面処理装置 | |
| US20040111856A1 (en) | Method of manufacturing MEMS Fabry-Perot device | |
| Bousquet et al. | Optical thin film monitoring—recent advances and limitations | |
| CN116520468A (zh) | 一种基于微结构阵列的截止滤光片及其制备方法 | |
| US4443303A (en) | Method of making cold shield and antireflector for infrared detector array and product thereof | |
| US5111168A (en) | Real-time, in-situ saw filter delay adjustment | |
| JPS54110787A (en) | Method and apparatus for semiconductor element | |
| Erdogan et al. | Thin-film filters come of age | |
| Grèzes-Besset et al. | Real-time lateral optical monitoring for the production of complex multilayer stacks | |
| CN114136896A (zh) | 一种光学薄膜光学常数工艺相关性的实验方法 | |
| CN110837145B (zh) | 一种窄带滤光片光谱的调控方法 | |
| CN111443414A (zh) | 一种低敏感度粗波分复用滤光片及其制作方法 | |
| JPS63157104A (ja) | バンド・パス・フイルタの製造方法 | |
| JPH05249312A (ja) | 光学多層膜の作製方法 | |
| JPH06258512A (ja) | 光学フィルター | |
| JPS5812337B2 (ja) | ビサイパタ−ンノ トウメイマクノケイセイホウホウホウ | |
| DE102018219778A1 (de) | Interferometereinrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines ersten Abstandes zwischen einer ersten Spiegeleinrichtung und einer zweiten Spiegeleinrichtung in einer Interferometereinrichtung | |
| Lardon et al. | Thin film production with a new fully automated optical thickness monitoring system |