CS248696B1 - Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate - Google Patents

Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate Download PDF

Info

Publication number
CS248696B1
CS248696B1 CS111485A CS111485A CS248696B1 CS 248696 B1 CS248696 B1 CS 248696B1 CS 111485 A CS111485 A CS 111485A CS 111485 A CS111485 A CS 111485A CS 248696 B1 CS248696 B1 CS 248696B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
crystal
comparator
regulator
output
electromagnet
Prior art date
Application number
CS111485A
Other languages
Czech (cs)
Inventor
Jiri Horak
Jaromir Matecha
Bohumil Perner
Original Assignee
Jiri Horak
Jaromir Matecha
Bohumil Perner
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiri Horak, Jaromir Matecha, Bohumil Perner filed Critical Jiri Horak
Priority to CS111485A priority Critical patent/CS248696B1/en
Publication of CS248696B1 publication Critical patent/CS248696B1/en

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

Zařízeni pro automatické řízeni hmotnostní rychlosti růstu monokrystalů při taženi z taveniny, umožňující automatizované pěstováni dezdefektnich monokrystalů, sestávající z vážici hlavice, zdroje proudu, obvodu čidla výchylky, tažioí tyče a regulátoru průměru krystalu, kde cíle je dosaženo tim, že vážící hlavice je tvořena cívkou (1) elektromagnetu pro kompenzaci hmotnosti krystalu a tažicí tyčí (3), zakončené jádrem (2) elektromagnetu, v jejím prodloužením umístěnou střední elektrodou čidla (4) výchylky, trefeného diferenciálním kapacitním snímačem, který je propojen se zdrojem vysokofrekvenčního napětí ze stabilního oscilátoru a dále detekčním obvodem, jehož výstup je přes regulátor (28) propojen ne zdrojem proudu elektromagnetu a regulátor (28) průměru krystalu je přes měřici odpor (21) proudu elektromagnetu připojen přes filtrační člen (22) současně s výstupem kompenzačního integrátoru (24) na vstup komparátoru (23), vstup kompenzačního integrátoru (24) je přes jazýčkové relé (25) spojen e výstupem komparátoru (23) a oívky (26) jazýčkového relé (25) je spojena s časovým spínačem (27), přičemž ke komparátoru (23) je dále připojen regulátor (28) teploty v peoi, včetně regulátoru programu růstu krystalu, případně regulátoru rychlosti tažení.Device for automatic control of the mass growth rate of single crystals during pulling from the melt, enabling automated growing of defect-free single crystals, consisting of a weighing head, a current source, a deflection sensor circuit, a pulling rod and a crystal diameter regulator, where the goal is achieved in that the weighing head is formed by a coil (1) of an electromagnet for compensating the mass of the crystal and a pulling rod (3), terminated by a core (2) of the electromagnet, in its extension there is placed the middle electrode of the deflection sensor (4), hit by a differential capacitive sensor, which is connected to a high-frequency voltage source from a stable oscillator and further by a detection circuit, the output of which is connected to the electromagnet current source via a regulator (28) and the crystal diameter regulator (28) is connected via a measuring resistor (21) of the electromagnet current via a filter element (22) simultaneously with the output of the compensation integrator (24) to the input of the comparator (23), the input of the compensation integrator The integrator (24) is connected via a reed relay (25) to the output of the comparator (23) and the output (26) of the reed relay (25) is connected to a timer (27), while the comparator (23) is further connected to a temperature controller (28) in the furnace, including a crystal growth program controller, or a drawing speed controller.

Description

(54) Zařizení pro automatické řizeni hmotnostní rychlosti růstu monokrystalu při taženi z taveniny(54) Apparatus for automatically controlling the single crystal growth rate during melt drawing

Zařízeni pro automatické řízeni hmotnostní rychlosti růstu monokrystalů při taženi z taveniny, umožňující automatizované pěstováni dezdefektnich monokrystalů, sestávající z vážici hlavice, zdroje proudu, obvodu čidla výchylky, tažioí tyče a regulátoru průměru krystalu, kde cíle je dosaženo tim, že vážící hlavice je tvořena cívkou (1) elektromagnetu pro kompenzaci hmotnosti krystalu a tažicí tyčí (3), zakončené jádrem (2) elektromagnetu, v jejím prodloužením umístěnou střední elektrodou čidla (4) výchylky, trefeného diferenciálním kapacitním snímačem, který je propojen se zdrojem vysokofrekvenčního napětí ze stabilního oscilátoru a dále detekčním obvodem, jehož výstup je přes regulátor (28) propojen ne zdrojem proudu elektromagnetu a regulátor (28) průměru krystalu je přes měřici odpor (21) proudu elektromagnetu připojen přes filtrační člen (22) současně s výstupem kompenzačního integrátoru (24) na vstup komparátoru (23), vstup kompenzačního integrátoru (24) je přes jazýčkové relé (25) spojen e výstupem komparátoru (23) a oívky (26) jazýčkového relé (25) je spojena s časovým spínačem (27), přičemž ke komparátoru (23) je dále připojen regulátor (28) teploty v peoi, včetně regulátoru programu růstu krystalu, případně regulátoru rychlosti tažení.Apparatus for automatically controlling the mass growth rate of single crystals during melt drawing, allowing automated cultivation of low-quality single crystals, consisting of a weighing head, current source, displacement sensor circuit, rod rod and crystal diameter regulator where the target is achieved by (1) a crystal mass compensation solenoid and a draw bar (3), terminated by a solenoid core (2), with an elongated displacement center electrode (4) displaced by a differential capacitance sensor connected to a high-frequency stable voltage oscillator source; a detection circuit, the output of which is connected via a regulator (28) to the electromagnet current source and the crystal diameter regulator (28) is connected via the electromagnet current measuring resistor (21) via a filter element (22) simultaneously with the output of the compensating integrator (24) to the comparator input (23), the input of the compensating integrator (24) is connected via the reed relay (25) to the comparator (23) output and the reed (26) of the reed relay (25) is connected to the timer (27); 23) is further connected to a temperature regulator (28), including a crystal growth program regulator or a drawing rate regulator.

248 696248 696

- i 248 698- i 248 698

Vynález se týká zařízení pro automatické řízení hmotnostní rychlosti růstu monokrystalu při tažení z taveniny.BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for automatically controlling the single crystal growth rate during melt drawing.

Taženi monokrystalů z taveniny se v různých modifikacích používá>v současné době nejčastěji k průmyslové připravě různých’ druhů monokrystalů, jako např. polovodivých látek (křemík, galiumarsenid, galiumfosfid, germanium.··), nebo látek aieíekťřlckých kysličnikového typu (safír, rubín, granáty ytrito hlinité, galito gadolinité, alumináty vzácnýchSingle-crystal drawing from melt is used in various modifications at present> most often for industrial preparation of various single-crystal types, such as semiconducting substances (silicon, gallium arsenide, gallium phosphide, germanium) or aluminum oxide-like substances (sapphire, ruby, aluminum yttrium garnets, gadolinium galito, rare aluminates

V zemin s perevskitovou strukturou, niobáty, tantaláty, germanáty, wolframáty.··). Růst probíhá obecně takovým způsobem, že zárodek monokrystalu daného materiálu ve formě orientované tyčinky upevněný na tažici zařízeni, rotující okolo své osy se při rovnovážné teplotě dotkne taveniny výchozího materiálu, umístěné většinou v kelímku, a potom se vytahuje rychlostí optimální pro daný materiál za současného snižování teploty taveniny. Tím dochází k pozvolnému narůstáni krystalů na žádaný průměr, který je potom zapotřebí zachovat co nejvíce konstantní. Růst probíhá často v prostoru s definovanou ochrannou atmosférou nebo ve vakuu. Pokud se pěstováni provádí na zařízeni s manuální kontrolou růstu krystalů a ručním ovládáním teploty taveniny a rychlosti tažení, jako prostředků pro ovládáni rychlosti růstu krystalu, mají vypěstované krystaly řadu strukturních poruch, optických defektů a nepravidelný tvar, protože pozorováním krystalu nelze včas a dosti citlivě zaznamenat změny v růstu krystalu a včas na ně reagovat zásahy do teploty a rychlosti taženi. Navíc vyžaduje ruční způsob pěstováni velice pečlivou obsluhu a vyšší počet pracovníků.In soils with perevskite structure, niobates, tantallates, germanates, tungstates. ··). The growth generally proceeds in such a way that a single crystal seed of the material in the form of an oriented rod mounted on a drawing device rotating about its axis at equilibrium temperature touches the melt of the starting material, mostly in the crucible, and then withdraws at the optimum for the material while decreasing temperature of the melt. This leads to a gradual growth of the crystals to the desired diameter, which must then be kept as constant as possible. Growth often takes place in a space with a defined protective atmosphere or in a vacuum. If cultivation is carried out on a device with manual crystal growth control and manual control of melt temperature and drawing rate as a means of controlling crystal growth rate, the grown crystals have a number of structural defects, optical defects and irregular shape, since crystal observation cannot be detected changes in crystal growth and respond in time to interventions in temperature and drawing speed. In addition, manual cultivation requires very careful operation and a higher number of workers.

248 «Μ248 «

Z těchto důvodů jsou v posledních letech vyvíjeny různé typy pěstovacich zařízeni vybavených různými systémy, které umožňují automatickou kontrolu rychlosti růstu krystalu, tim snižuji potřebnou pracnost a zvyšují podstatně celkovou efektivnost přípravy krystalů.For this reason, various types of cultivation equipment equipped with different systems have been developed in recent years, which allow automatic control of the crystal growth rate, thus reducing the labor required and substantially increasing the overall efficiency of the crystal preparation.

Zařízeni jsou konstruována zejména na těchto priclpech: optické snímání průměru krystalu, snímání poklesu úrovně hladiny taveniny v kelímku, rentgenografické měření průměru krystalu, snímáni úbytku hmotnosti taveniny v kelímku a snímáni přírůstku hmotnosti krystalu. Snímané veličiny se zpracovávají v elektronických regulátorech a po porovnáni s naprogramovanými hodnotami se diferenční signál používá k ovládání teploty taveniny nebo rychlosti taženi, někdy obojího. Oednotlivé principy mají své přednosti a nedostatky, liší se v citlivosti a některé jsou specificky vhodné pro určité druhy monokrystalů·The devices are constructed in particular on the following approaches: optical crystal diameter sensing, sensing a drop in the level of the melt in the crucible, an X-ray measurement of the crystal diameter, sensing the weight loss of the melt in the crucible, and sensing the weight gain of the crystal. The measured values are processed in electronic controllers and, when compared to the programmed values, the differential signal is used to control the melt temperature or the drawing speed, sometimes both. Individual principles have their advantages and disadvantages, differ in sensitivity and some are specifically suitable for certain types of single crystals ·

Předmět tohoto vynálezu se týká zařízeni založeného .na principu snímáni přírůstku hmotnosti krystalu. Dosud popisovaná zařízení byla založena na odlišném způsobu a konstrukci snímání hmotnosti krystalu. Používá se např. různých typů tenzometrů, na které působí hmotnost krystalu. Tento způsob je konstrukčně komplikovanější, vyžaduje termostatovánl citlivého elementu a jeho citlivost je nižši než zde popisovaného zařízení. Další způsob je konstrukčně založen na principu minclře, kdy rotující krystal je zavěšen navinuté pružině, která ee protahuje narůstající hmotnosti krystalu, její protažení snímané např. indukčním snímačem se využívá jako vstupní signál do regulátoru růstu. Nevýhodou takto konstruovaného zařízeni je jednak to ,že růst neprobíhá v konstantní poloze, ale jak se pružina protahuje, krystal se posunuje směrem dolů proti směru taženi, dále pak nižši citlivost snímačů polohy.měřicích posun, proti snímačům pracujícím v jednom bodě.The present invention relates to an apparatus based on the principle of sensing the crystal weight gain. The devices described so far have been based on a different method and design of crystal weight sensing. For example, various types of strain gauges on which the crystal weight acts are used. This method is more structurally complicated, requires a thermostatic element of the sensitive element and its sensitivity is lower than the device described herein. Another method is structurally based on the mintrra principle, where the rotating crystal is suspended by a coiled spring that ee stretches the increasing weight of the crystal, its elongation sensed e.g. by an inductive sensor is used as an input signal to the growth regulator. The disadvantage of such a device is that the growth does not take place in a constant position, but as the spring stretches, the crystal moves downwards against the pulling direction, and the lower sensitivity of the displacement transducers relative to the sensors operating at one point.

248248

Tyto potíže a nevýhody v podstatné míře odstraňuje zařízení pro automatické řízení hmotnostní rychlosti růstu monokrystalů při tažení z taveniny, sestávající z vážící hlavice, zdroje proudu, obvodu čidla výchylky, tažicí tyče a regulátoru průměru krystalu, jehož podstata spočívá v tom, že vážící hlavice sestává z cívky elektromagnetu pro kompenzaci hmotnosti krystalu a tažidí tyče zakončené jádrem elektro magnetu, v jejímž prodloužení je umístěna střední elektroda čidla výchylky, tvořeného diferenciálním kapacitním snímačem, který je propojen se zdrojem vysokofrekvenčního napětí ze stabilního oscilátoru a dále s detekčním obvodem, jehož výstup je přes regulátor propojen se zdrojem proudu elektromagnetu a regulátor průměru krystalu je přes měřicí odpor proudu elektromagnetu připojen přes filtrační obvod současně s výstupem kompenzačního integrátoru na vstup komparátoru, vstup kompenzačního integrátoru je přes jazýčkové relé spojen s výstupem komparátoru a cívka jazýčkového relé je spojena s časovým spínačem, přičemž ke komparátoru je dále připojen regulátor teploty v peci, včetně programu růstu, a případně regulátor rychlosti tažení.These difficulties and drawbacks are substantially eliminated by a device for automatically controlling the mass growth rate of single crystals during melt drawing, consisting of a weighing head, a power source, a displacement sensor circuit, a draw bar, and a crystal diameter regulator. from a solenoid coil to compensate for the mass of the crystal and a tension rod terminated by an electro magnet core, in the extension of which the central electrode of the displacement sensor consisting of a differential capacitive sensor is connected, connected to a high-frequency voltage source from a stable oscillator; the regulator is connected to the electromagnet current source and the crystal diameter regulator is connected via the filter resistance of the electromagnet current through the filter circuit simultaneously with the compensator integrator output to the comparator input, compensator input The reed integrator is connected to the comparator output via a reed relay, and the reed relay coil is connected to a timing switch, wherein a furnace temperature controller, including a growth program, and optionally a drawing rate controller, are connected to the comparator.

V dalším, ve spojení s připojenými výkresy, je vynález jako konkrétní provedení, blíže popsán.In the following, in conjunction with the accompanying drawings, the invention is described in more detail as a specific embodiment.

Na obr. 1 je schematicky znázorněna konstrukce zařízení a na obr. 2 je blckové schéma regulačních prvků.Fig. 1 schematically illustrates the construction of the device; and Fig. 2 is a schematic diagram of the control elements.

Na obr. 1 je znázorněna tažící tyč J , na jejím horním konci jádro 2 elektromagnetu a v prodloužení tažící tyče J čidlo £ výchylky. Dále je znázorněna cívka J elektromagnetu, nosné těleso 8, planžety J unašeče 6, vnější trubice χ, ložiska J, skleněná trubice 1J. a horní část pece 10.FIG. 1 shows the drawing rod J, at its upper end the electromagnet core 2 and in the extension of the drawing rod J the displacement sensor 6. Further shown is a solenoid coil J, a support body 8, a carrier plate 6 of a carrier 6, an outer tube χ, a bearing J, a glass tube 11. and the top of the furnace 10.

Na obr. 2 je znázorněn měřicí odpor 21, filtrační člen 22 komparátor 2J, integrátor '24, relé 2j>, cívka 26, časový spínač 27 a regulátor 28.FIG. 2 shows a measuring resistor 21, a filter member 22 a comparator 20, an integrator 24, a relay 26, a coil 26, a timer 27, and a controller 28.

Dále je popsána činnost tohoto zařízení.The operation of this device is described below.

Hmotnost taženého krystalu, rostoucího na spodním komci tažicí tyče J včetně její hmotnosti, je kompenzována silou elektromagnetu, kde jádro 2 elektromagnetu upevněné na tažící tyčí J má menší průměr než vnitřní průměr skleněné trubice 11.» čímž je umožněn volný vertikální pohyb jádra 2The weight of the drawn crystal growing on the lower portion of the draw bar J, including its weight, is compensated by the electromagnet force, where the electromagnet core 2 mounted on the draw bar J has a smaller diameter than the inner diameter of the glass tube 11.

IAND

- ‘t 248 898 elektromagnetu. Cívka 1, elektromagnetu je upevněna na nosném tělese 8 . Kapacitní čidlo 4 výchylky umístěné nad elektromagnetem je konstruováno tak, že svou střední elektrodou, upevněnou v prodloužení tažící tyče ^vymezuje její maximální vertikální pohyb. Tažící tyč 2 je souose fixována vůči/vnější i- 248 t 248 898 electromagnet. The solenoid coil 1 is mounted on the support body 8. The capacitive displacement sensor 4 located above the electromagnet is designed such that its central electrode, fixed in the extension of the draw bar, limits its maximum vertical movement. The draw bar 2 is coaxially fixed with respect to the outside

trubici 2 pomocí planžet vetjknutých do unasečů 6 a je upevněha pomocí ložisek 2 v nosném tělese 8 a umožňuje přenos rotace, která se dále přenáší pomocí unašeců 6 a planžet % ha tažící tyč 2· Vážící hlavice je upravena tak, že její jednotlivé prvky jsou vate/átěsně uzavřeny pomocí O-kroužků a gufer, takže je zajištěna vakietěsnost pěst ovací aparatury,- číwíje umožněno pěstování monokrystalů jak ve vakuu, tak v ochranné atmosféře. Cívka 2 elektromagnetu je napájena zdrojem proudu přes měřicí odpor 21 a zdroj je ovládán upraveným napětím z čidla 4 výchylky, jehož statická citlivost je 10“θ m.the tube 2 by means of the foils fixed in the retainers 6 and is fixed by means of bearings 2 in the support body 8 and allows the transmission of rotation which is further transmitted by the carriers 6 and the foils. / sealed by means of O-rings and seals, so as to ensure the leakproofness of the growing apparatus, - the clearing allows the cultivation of single crystals in both vacuum and protective atmosphere. The solenoid coil 2 is supplied by a current source through a measuring resistor 21 and the source is controlled by a modified voltage from a displacement sensor 4 having a static sensitivity of 10 m.

Tím je udržována konstantní vertikální poloha tažící tyče 2· Signál odpovídající hmotnosti pěstovaného krystalu je odebírán jako napiti z měřícího odporu 21. Signál po fiífaiaci rušivých napětí ve filtračním členu 22 je přiveden na vstup komparátoru 23. Vstup komparátoru 23 je dále spojen s výstupem kompenzačního integrátoru 24. Výstup komparátoru 23 je přes jazýčkové relé 2j> připojen na vstup integrátoru 24. Při sepnutí jazýčkového relé 25 98 uzavře smyčka záporné zpětné vazby, výstupní napětí z integrátoru 24 vykompenzuje napětí přivedené na vstup komparátoru 2£. Periodickým spínáním jazýčkového relé 22 cívkou 26 a časovým spínačem 27 se provádí regulace hmotnosti krystalu na regulaci přírůstku hmotnosti.Thus, a constant vertical position of the drawbar 2 is maintained. The signal corresponding to the weight of the grown crystal is taken as a voltage from the measuring resistor 21. The signal after the disturbing voltage is applied in the filter element 22 is connected to the comparator input 23. 24. The output of comparator 23 is connected to the input of integrator 24 via reed relay 24. When the reed relay 25 98 is closed, the negative feedback loop closes, the output voltage from integrator 24 compensates for the voltage applied to comparator input 24. By periodically switching the reed relay 22 through the coil 26 and the timer 27, the crystal weight control is performed to control the weight gain.

Ke komparátoru 2£ je dále připojen regulátor 28, případně programátor růstu krystalu a regulátor teploty v peci.A comparator 28, optionally a crystal growth programmer and a furnace temperature regulator are connected to the comparator.

Claims (1)

PŘEDMĚT VYNÁLEZUSUBJECT OF THE INVENTION 248 696248 696 Zařízení pro automatické řízení hmotnostní rychlosti růstu monokrystalů při tažení z taveniny, sestávající z vážící hlavice, zdroje proudu, obvodu čidla výchylky, tažící tyče a regulátoru průměru krystalu, vyznačené tím, že vážící hlavice je tvořena cívkou (1) elektromagnetu pro kompenzaci hmotnosti krystalů a tažící tyčí (3), zakončené jádrem (2) elektromagnetu, v jejím prodloužení umístěnou střední elektrodou čidla (4) výchylky, tvořeného diferenciálním kapacitním snímačem, který je propojen se zdrojem vysokofrekvenčního napětí ze stabilního oscilátoru a dále detekčním obvodem, jehož výstup je přes regulátor (28) propo jen se zdrojem proudu elektromagnetu, regulátor (28) průměru krystalu je přes měřící odpor (21) proudu elektromagnetu připojen přes filtrační člen (22) současně s výstupem kompenzačního integrátoru (24) na vstup komparátoru (23), vstup kompenzačního integrátoru (24) je přes jazýčkové relé (25) spojen s výstupem komparátoru (23) a cívka (26) jazýčkového relé (25) je spojena s časovým spínačem (27), přičemž ke komparátoru (23) je dále připojen regulátor (28) teploty v peci, včetně regulátoru programu růstu krystalu,případně regulátoru rychlosti tažení.Apparatus for automatically controlling the mass growth rate of single crystals during melt drawing, comprising a weighing head, a current source, a displacement sensor circuit, a draw bar and a crystal diameter regulator, characterized in that the weighing head is formed by a solenoid coil (1) a pulling rod (3) terminated by a solenoid core (2) in its extension by the central electrode of the displacement sensor (4) consisting of a differential capacitive sensor connected to a high-frequency voltage source from a stable oscillator and a detection circuit (28) only with the electromagnet current source, the crystal diameter regulator (28) is connected via the electromagnet current measuring resistor (21) via the filter element (22) simultaneously with the compensator integrator output (24) to the comparator input (23), the compensator integrator input (24) is via a reed relay (25) connected to the output of the comparator (23) and a coil (26) of the reed relay (25) is connected to a timer (27), the comparator (23) being further connected to an oven temperature controller (28) including a crystal growth program regulator, or a drawing rate regulator.
CS111485A 1985-02-18 1985-02-18 Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate CS248696B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS111485A CS248696B1 (en) 1985-02-18 1985-02-18 Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS111485A CS248696B1 (en) 1985-02-18 1985-02-18 Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS248696B1 true CS248696B1 (en) 1987-02-12

Family

ID=5344684

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS111485A CS248696B1 (en) 1985-02-18 1985-02-18 Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS248696B1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5009865A (en) Bar and crucible magnetic suspension for a crystal-growing apparatus
US3980438A (en) Apparatus for forming semiconductor crystals of essentially uniform diameter
EP0428415A1 (en) A method for controlling specific resistance of single crystal
US3958129A (en) Automatic crystal diameter control for growth of semiconductor crystals
JPS6424089A (en) Device for adjusting initial position of melt surface
JPS6483595A (en) Device for measuring crystal diameter
CN101701356A (en) A Down Weighing Method Used for Equal-diameter Growth of Photoelectric Crystals
US4239583A (en) Method and apparatus for crystal growth control
KR950004788B1 (en) Control system of tubular crystal growth apparatus
CN112857297A (en) Single crystal rod diameter measuring device, single crystal rod growth system and method
CS248696B1 (en) Apparatus for automatically controlling the melt crystal single crystal mass growth rate
US4058429A (en) Infrared temperature control of Czochralski crystal growth
US3259467A (en) Apparatus for pulling rod-shaped crystals of semiconductor material from a melt in acrucible
US5725660A (en) Semiconductor single crystal growing apparatus
RU85904U1 (en) DEVICE FOR GROWING SINGLE CRYSTALS
CN105780111B (en) Polycrystalline silicon ingot casting furnace superintendent crystalline substance speed self-operated measuring unit
KR101528483B1 (en) A weight measuerment device for a growing crystal of crystal growth furmace
CS209134B1 (en) A device for detecting crystal mass during its cultivation
CN113897672A (en) Single crystal growth diameter control device suitable for Czochralski method
RU2184803C2 (en) Technique controlling process of growth of monocrystals from melt and device for its realization
CS232993B1 (en) Pulling device for automatic growth of single crystals
US4267151A (en) Apparatus for crystal growth control
JP2789064B2 (en) Single crystal pulling method and pulling apparatus
JP4541236B2 (en) Single crystal pulling apparatus, silicon single crystal pulling apparatus, and silicon single crystal pulling method
RU16553U1 (en) DEVICE FOR DETERMINING WEIGHT OUT OF THE REQUIRED FOR DIRECT MEASUREMENT OF VOLUME