CS245629B1 - Platinum layers etching bath - Google Patents

Platinum layers etching bath Download PDF

Info

Publication number
CS245629B1
CS245629B1 CS847285A CS728584A CS245629B1 CS 245629 B1 CS245629 B1 CS 245629B1 CS 847285 A CS847285 A CS 847285A CS 728584 A CS728584 A CS 728584A CS 245629 B1 CS245629 B1 CS 245629B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
bath
parts
volume
platinum
etching bath
Prior art date
Application number
CS847285A
Other languages
Czech (cs)
Other versions
CS728584A1 (en
Inventor
Ivan Dobes
Petr Kurka
Original Assignee
Ivan Dobes
Petr Kurka
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ivan Dobes, Petr Kurka filed Critical Ivan Dobes
Priority to CS847285A priority Critical patent/CS245629B1/en
Publication of CS728584A1 publication Critical patent/CS728584A1/en
Publication of CS245629B1 publication Critical patent/CS245629B1/en

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

Řešení se týká lázně pro leptání vrstev platiny z povrchu křemíkových desek. Podstatou řešení je lázeň sestávající z 400 až 600 objemových dílů koncentrované kyseliny chlorovodíkové, 350 až 450 objemových dílů vody a 20 až 50 objemových dílů peroxidu vodíku 30 %. Lázeň je používána při teplotách 70 až 95 °C po dobu několika minut.The invention relates to a bath for etching layers platinum from the surface of the silicon wafers. The essence of the solution is a bath consisting of 400 to 600 parts by volume concentrated hydrochloric acid, 350 to 450 vol parts of water and 20 to 50 parts by volume hydrogen peroxide 30%. The bath is used at temperatures of 70 to 95 ° C for several minutes.

Description

Vynález se týká lázně pro leptání vrstev platiny z povrchu křemíkových desek.The invention relates to a bath for etching layers of platinum from the surface of silicon wafers.

Dosavadní složení lázní bylo založeno na směsích kyseliny dusičné a chlorovodíkové /lučavka královská/. Při odleptávání vrstev platiny v této směsi docházelo k provozním potížím, hlavně z důvodu nerovnoměrného leptáni.The current composition of the baths was based on mixtures of nitric acid and hydrochloric acid (royal meadow grass). The etching of the platinum layers in this mixture caused operational difficulties, mainly due to uneven etching.

Manipulace s lázní byla obtížná a nebezpečná, nebot uvedená činidla jsou agresivní a silně korozivní a způsobují vznik korozivních a toxických exhalátů. Práce bylo nutno provádět v digestoři.Handling of the bath has been difficult and dangerous since the agents are aggressive and strongly corrosive and cause corrosive and toxic fumes. Work had to be done in a fume cupboard.

Výše uvedené nevýhody odstraňuje lázeň pro leptání vrstev platiny podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že lázeň je složena zThe above-mentioned disadvantages are eliminated by the etching bath of the platinum layers according to the invention, which is based on the fact that the bath consists of:

400 až 600 objemových dílů koncentrované kyseliny chlorovodíkové,400 to 600 parts by volume of concentrated hydrochloric acid,

350 až 450 objemových dílů vody a 20 až 50 objemových dílů 30% peroxidu vodíku·.350 to 450 parts by volume of water and 20 to 50 parts by volume of 30% hydrogen peroxide.

Lázeň se používá při teplotách 70 až 95 °C a doba leptání je závislá na tlouštce leptaných vrstev platiny, obvykle několik minut.The bath is used at temperatures of 70 to 95 ° C and the etching time is dependent on the thickness of the etched layers of platinum, usually several minutes.

Lázeň podle vynálezu má dobré leptaoí vlastnosti. Leptání je pravidelné a vyhovuje požadavkům polovodičové technologie. Vznik korozivních exhalátů je omezen na minimum. Používané chemikálie jsou k dispozici ve vysokém stupni čistoty /kvalita p.p./ a neobsahují žádné kovové nečistoty ani alkálie nebo ionty s vysokou mobilitou, např. sodík, draslík, lithium, vápník, hořčík, baryum a další.The bath according to the invention has good adhesive properties. The etching is regular and meets the requirements of semiconductor technology. The formation of corrosive pollutants is minimized. The chemicals used are available in a high degree of purity (p.p. quality) and do not contain any metallic impurities or alkalis or ions with high mobility, such as sodium, potassium, lithium, calcium, magnesium, barium and others.

Pro názornost lze uvést příklad složení lázhě:For example, the bath composition is as follows:

500 ml koncentrované kyseliny chlorovodíkové p.p.,500 ml concentrated hydrochloric acid p.p.,

400 ml demineralizované vody a 25 ml 30% peroxidu vodíku p.p.400 ml of demineralized water and 25 ml of 30% hydrogen peroxide p.p.

Směs se použije při teplotě 85 °C a doba leptání trvá cca 5 minut.The mixture is used at 85 ° C and the etching time is about 5 minutes.

Lázeň lze čtyři až. osmkrát regenerovat přídavkem dalších 25ml dávek 30% peroxidu vodíku.Bath can be four to. regenerate eight times by adding another 25 ml portions of 30% hydrogen peroxide.

Claims (2)

1. Lázeň pro leptání vrstev platiny, vyznačená tím, že je složena zA bath for etching layers of platinum, characterized in that it comprises: 400 až 600 objemových dílů koncentrované kyseliny chlorovodíkové,400 to 600 parts by volume of concentrated hydrochloric acid, 350 až 450 objemových dílů vody a 20 až 50 objemových dílů 30% peroxidu vodíku.350 to 450 parts by volume of water and 20 to 50 parts by volume of 30% hydrogen peroxide. 2. Lázeň podle bodu 1, vyznačená tím, že je používána při teplotách 70 až 95 °c.2. A bath according to claim 1, characterized in that it is used at temperatures of 70 to 95 [deg.] C.
CS847285A 1984-09-27 1984-09-27 Platinum layers etching bath CS245629B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS847285A CS245629B1 (en) 1984-09-27 1984-09-27 Platinum layers etching bath

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS847285A CS245629B1 (en) 1984-09-27 1984-09-27 Platinum layers etching bath

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS728584A1 CS728584A1 (en) 1985-07-16
CS245629B1 true CS245629B1 (en) 1986-10-16

Family

ID=5421703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS847285A CS245629B1 (en) 1984-09-27 1984-09-27 Platinum layers etching bath

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS245629B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
CS728584A1 (en) 1985-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0311954A3 (en) Use of sulfamic acid to inhibit phosphonate decomposition by chlorine-bromine mixtures
DE3367503D1 (en) Concentrate of disinfecting agent
US4040863A (en) Method of treating surface of copper and its alloys
US4032621A (en) Preparation of hydrogen fluoride with low levels of arsenic, iron and sulfite
IE42398L (en) Composition for pickling metals
JP5845501B2 (en) Etching solution for transparent conductive thin film laminate
US4849124A (en) Copper etching solution
SE8206447D0 (en) METAL STRIPPING COMPOSITION AND PROCESS
JPS5943879A (en) Composition for etching print circuit using hydrogen peroxide-containing sulfuric acid solution and method therefor
EP0353084A2 (en) Stabilized hydrogen peroxide compositions
JPS6354077B2 (en)
DE50202924D1 (en) Corrosion protection method for metal surfaces
US3137600A (en) Dissolution of copper
JP4367816B2 (en) Surface treatment method for quartz glass
JP4471094B2 (en) Titanium or titanium alloy etchant
EP0430685B1 (en) Process for production of a highly pure silicic acid aqueous solution
CS245629B1 (en) Platinum layers etching bath
KR100734163B1 (en) Etchants, Etching Methods and Semiconductor Silicon Wafers
US4875973A (en) Hydrogen peroxide compositions containing a substituted aminobenzaldehyde
EP0257671B1 (en) Process for removing niobium-containing coatings from a substrate
JP2545094B2 (en) Photoresist stripping solution, method for producing the same, and method for removing photoresist
WO2019090855A1 (en) Copper-molybdenum titanium alloy etching solution
JPH01240683A (en) Composition of etching solution for copper and etching method
JPS55109498A (en) Silicic acid scale removing agent
JP2005146358A (en) Titanium or titanium alloy etchant