CS235800B1 - Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku - Google Patents

Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku Download PDF

Info

Publication number
CS235800B1
CS235800B1 CS833695A CS369583A CS235800B1 CS 235800 B1 CS235800 B1 CS 235800B1 CS 833695 A CS833695 A CS 833695A CS 369583 A CS369583 A CS 369583A CS 235800 B1 CS235800 B1 CS 235800B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
electron
shaping
output
deflection
amplifiers
Prior art date
Application number
CS833695A
Other languages
English (en)
Other versions
CS369583A1 (en
Inventor
Armin Delong
Karel Hladil
Vladimir Kolarik
Tomas Papirek
Original Assignee
Armin Delong
Karel Hladil
Vladimir Kolarik
Tomas Papirek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Armin Delong, Karel Hladil, Vladimir Kolarik, Tomas Papirek filed Critical Armin Delong
Priority to CS833695A priority Critical patent/CS235800B1/cs
Publication of CS369583A1 publication Critical patent/CS369583A1/cs
Publication of CS235800B1 publication Critical patent/CS235800B1/cs

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

Podstatou zapojení je řídicí systém spojený prvním výstupem přes zatemňovací a tvarovací zesilovače s tvarovacím a zatemňovacím systémem a druhým výstupem přes vychylovací zesilovače elektronově Optického zařízení s vychylovacím systémem elektronově optického zařízení a druhým výstupem ještě přes vychylovací zesilovače monitoru s vychylovacím systémem monitoru, dále třetím výstupem spojený přes časovou základnu s horizontálním vychylovacím systémem osciloskopu. Detektor elektronů nebo iontů je spojen přes videozesilovače se vstupem pro řízení jasu monitoru a s vertikálním vychylovacím systémem osciloskopu. Zapoje- ■ ní je určeno pro elektronově optická zatřízení zejména pro elektronové nebo iontové litografy.

Description

Vynález se týká zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronových nebo iontových litografech.
Průběžná a přehledné kontrola činnosti tvarovacího, zatemňovacího a vychylovacího systému je problematická vzhledem k tomu, že při práci litografu se elektronový nebo iontový svazek zatemňuje, tvaruje a vychyluje několik setkf&át až miliónkrát za sekundu. Kontrola se doposud prováděla až na exponovaných a vyvolaných resistech. Tím vznikla v případě poruchy značná časová a finanční ztráta·
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronovém nebo iontovém litografu, jehož podstatou je, že řídicí systém opatřený třemi výstupy je prvním výstupem spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače se zatemňovacím a tvarovacím systémem, druhým výstupem je spojen přes vychylovací zesilovače elektronově optického zařízení s vychylovacím systémem elektronově optického zařízení a zároveň je spojen přes vychylovací zesilovač monitoru s vychylovacím systémem monitoru, přičemž detektory elektronů nebo iontů jsou spojeny s videozesilovači, jejichž první výstup je spojen se vstupem monitoru a druhý výstup s vertikálním vychylovacím systémem osciloskopu, jehož horizontální vychylovací systém je spojen s výstupem časové základny, jejíž vstup je spojen s řídicím syetémem.
Předností tohoto zapojení je, že umožňuje průběžnou a přehlednou kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatem- * ňovéní a vychylování elektronového svazku na obrazovkách
-z238 MM během exponování mikrostruktur. Další výhodou je, že systém indikuje některé další závady,, například poruchy elektronové nebo iontové trysky, vysokonapěíového zdroje nebo zdrojů pro čočky, stigmátory a centrovací cívky.
Vynález blíže objasní přiložený výkres zapojení v blokovém uspořádání.
Zjednodušeně zakreslené elektronově optické zařízení 1 jehož středem prochází elektronový nebo iontový svazek 2 obsahuje mimo jiné zatemňovací a tvarovací systém 2 vychylovací systém £ elektronově optického zařízení, pod nímž jsou uspořádány detektory £ elektronů nebo iontů v blízkosti nad substrátem 6. Řídicí systém 10 se třemi výstupy, z nichž první dva výstupy jsou spojeny s elektronově optickým zařízením 1, a to první výstup je spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače J se zatemňovacím a tvarovacím systémem 2· Druhý výstup řídicího systému 10' je spojen přes vychylovací zesilovače 8 elektronově optického zařízení s vychylovacim systémem £ elektronově optického zařízení a zároveň přes vychylovací zesilovače 11 monitoru s vychylovacím systémem 12 monitoru 13. Třetí výstup řídicího systému 10 je spojen přes časovou základnu 14 s horizontálním vychylovacim systémem 16 osciloskopu 15. Detektor £ elektronů nebo iontů je spojen s videozesilovači 9, jejichž první výstup je spojen se vstupem 18 pro řízení jasu mo- 1 nitoru 13. Druhý výstup videozesilovače £ je spojen s vertikálním vychylovacim systémem 17 osciloskopu 15.
Zapojení pro kontrolu činnosti tvarování zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku pracuje za provozu takto:
Elektronový nebo iontový svazek 2: je upraven v zatemňovacím a tvarovacím systému 2 řízeném zatemňovacími a tvarovacími zesilovači 2· Upravený svazek je’vychylován vychylovacim systémem £ elektronově optického zařízení, který je ovládán vychylovacími zesilovači 8 elektronově optického zařízení a dopadá na substrát 6 s resistem.
Odražené nebo sekundární elektrony dopadají na detektor % elektronů nebo iontů, vybuzený signál je zesilován videozesilovači Výstupní signál z prvního výstupu řídí jas monitoru 13 přes vstup 18. Výstupní signál z druhého výstupu řídí vertikální vychylovací systém 17 osciloskopu 15 Informace pro tvarování zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku 2t pro časovou základnu 14 a pro vychylovací zesilovače 11 monitoru dodává řídicí systém 10.
Během činnosti elektronového nebo iontového litografu je elektronový svazek v obrazovce monitoru 13 vektorově vychylován v souhlase s vychylováním elektronového svazku v elektronově optickém systému 1.
Na stínítku paměióyé obrazovky nebo obrazovky s dlouhým dosvitem monitoru 13 ee kontroluje pomocí jfcsové modulace správné pokrývání plochy čipů na substrátu 6 exponovanými mikrostrukturami. Na obrazovce osciloskopu 15 se kontroluje činnost tvarovacího a zatemňovacího systému Systém pro kontrolu činnosti indikuje i jiné závady, napři klad poruchy vysokonapělového zdroje nebo elektronové případně iontové trysky, dále poruchy zdrojů pro čočky, s£gmá tory a centrovaoí cívky nebo závady na detekčním systému.
Hlavní využití tohoto vynálezu jev elektronových a iontových litografech pro průběžnou rychlou a přehlednou kontrolu činnosti systémů pro vychyloyání, tvarování a zatemňování elektronového nebo iontového svazku.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    23S aaa
    Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronovém nebo iontovém litografu, vyznačené tím, že řídicí systém (10) opatřený třemi výstupy je prvním výstupem spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače (7) se zatemňovacím a tvarovacím systémem (3) , druhým výstupem je spojen přes vychylovací zesilovače (8) s vychylovacím systémem (4) elektronově optického zařízení a zároveň je spojen přes vychylovací zesilovač (11) moniéc^í'1vychylovacím systémem (12) monitoru, přičemž detektory (5) elektronů nebo iontů jsou spojeny s videozesilovači (9), jejichž první výstup je spojen se vstupem,(18) monitoru (13) a druhý výstup s vertikálním vychylovacím systémem (17) osciloskopu (15), jehož horizontální vychylovací systém (16) je spojen s výstupem časové základny (14), jejíž vstup je spojen s řídicím systémem (10).
CS833695A 1983-05-25 1983-05-25 Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku CS235800B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS833695A CS235800B1 (cs) 1983-05-25 1983-05-25 Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS833695A CS235800B1 (cs) 1983-05-25 1983-05-25 Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS369583A1 CS369583A1 (en) 1984-02-13
CS235800B1 true CS235800B1 (cs) 1985-05-15

Family

ID=5377757

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS833695A CS235800B1 (cs) 1983-05-25 1983-05-25 Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS235800B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS369583A1 (en) 1984-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100280164B1 (ko) 전자 빔을 이용한 검사방법 및 그 장치
US4939371A (en) Charged particle beam device
JP5033310B2 (ja) 検査装置
US3715580A (en) Multi electron beam apparatus
JPH11326247A (ja) 基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法
JPS61248346A (ja) 集束イオンビーム処理装置
US3833811A (en) Scanning electron microscope with improved means for focusing
JPH0286036A (ja) イオンマイクロアナライザ
US3753034A (en) Electron beam apparatus
US6730906B2 (en) Method and apparatus for testing a substrate
US3723801A (en) Measuring the beam landing characteristic of a shadow-mask cathode-ray tube
US20150155130A1 (en) Drawing apparatus, drawing method, and method for manufacturing article
JPS6047417A (ja) 光電陰極型電子線リソグラフィー装置
US4385238A (en) Reregistration system for a charged particle beam exposure system
US6011262A (en) Object observing apparatus and method for adjusting the same
CS235800B1 (cs) Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku
US4804851A (en) Charged particle sources
GB1537478A (en) Electron beam apparatus
US3849647A (en) Scanning electron microscope
US3854071A (en) Exposure regulated scanning illumination means for electron projection systems
GB1561133A (en) Corpuscular beam microscopes
US2348031A (en) Method of focusing electron microscopes
JPS63266754A (ja) パターン検査方法およびその装置
US3872351A (en) Electron guns
JPH01100919A (ja) 電子ビーム加工装置