CS235800B1 - Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku - Google Patents
Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku Download PDFInfo
- Publication number
- CS235800B1 CS235800B1 CS833695A CS369583A CS235800B1 CS 235800 B1 CS235800 B1 CS 235800B1 CS 833695 A CS833695 A CS 833695A CS 369583 A CS369583 A CS 369583A CS 235800 B1 CS235800 B1 CS 235800B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- electron
- shaping
- output
- deflection
- amplifiers
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
Podstatou zapojení je řídicí systém spojený prvním výstupem přes zatemňovací a tvarovací zesilovače s tvarovacím a zatemňovacím systémem a druhým výstupem přes vychylovací zesilovače elektronově Optického zařízení s vychylovacím systémem elektronově optického zařízení a druhým výstupem ještě přes vychylovací zesilovače monitoru s vychylovacím systémem monitoru, dále třetím výstupem spojený přes časovou základnu s horizontálním vychylovacím systémem osciloskopu. Detektor elektronů nebo iontů je spojen přes videozesilovače se vstupem pro řízení jasu monitoru a s vertikálním vychylovacím systémem osciloskopu. Zapoje- ■ ní je určeno pro elektronově optická zatřízení zejména pro elektronové nebo iontové litografy.
Description
Vynález se týká zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronových nebo iontových litografech.
Průběžná a přehledné kontrola činnosti tvarovacího, zatemňovacího a vychylovacího systému je problematická vzhledem k tomu, že při práci litografu se elektronový nebo iontový svazek zatemňuje, tvaruje a vychyluje několik setkf&át až miliónkrát za sekundu. Kontrola se doposud prováděla až na exponovaných a vyvolaných resistech. Tím vznikla v případě poruchy značná časová a finanční ztráta·
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronovém nebo iontovém litografu, jehož podstatou je, že řídicí systém opatřený třemi výstupy je prvním výstupem spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače se zatemňovacím a tvarovacím systémem, druhým výstupem je spojen přes vychylovací zesilovače elektronově optického zařízení s vychylovacím systémem elektronově optického zařízení a zároveň je spojen přes vychylovací zesilovač monitoru s vychylovacím systémem monitoru, přičemž detektory elektronů nebo iontů jsou spojeny s videozesilovači, jejichž první výstup je spojen se vstupem monitoru a druhý výstup s vertikálním vychylovacím systémem osciloskopu, jehož horizontální vychylovací systém je spojen s výstupem časové základny, jejíž vstup je spojen s řídicím syetémem.
Předností tohoto zapojení je, že umožňuje průběžnou a přehlednou kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatem- * ňovéní a vychylování elektronového svazku na obrazovkách
-z238 MM během exponování mikrostruktur. Další výhodou je, že systém indikuje některé další závady,, například poruchy elektronové nebo iontové trysky, vysokonapěíového zdroje nebo zdrojů pro čočky, stigmátory a centrovací cívky.
Vynález blíže objasní přiložený výkres zapojení v blokovém uspořádání.
Zjednodušeně zakreslené elektronově optické zařízení 1 jehož středem prochází elektronový nebo iontový svazek 2 obsahuje mimo jiné zatemňovací a tvarovací systém 2 vychylovací systém £ elektronově optického zařízení, pod nímž jsou uspořádány detektory £ elektronů nebo iontů v blízkosti nad substrátem 6. Řídicí systém 10 se třemi výstupy, z nichž první dva výstupy jsou spojeny s elektronově optickým zařízením 1, a to první výstup je spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače J se zatemňovacím a tvarovacím systémem 2· Druhý výstup řídicího systému 10' je spojen přes vychylovací zesilovače 8 elektronově optického zařízení s vychylovacim systémem £ elektronově optického zařízení a zároveň přes vychylovací zesilovače 11 monitoru s vychylovacím systémem 12 monitoru 13. Třetí výstup řídicího systému 10 je spojen přes časovou základnu 14 s horizontálním vychylovacim systémem 16 osciloskopu 15. Detektor £ elektronů nebo iontů je spojen s videozesilovači 9, jejichž první výstup je spojen se vstupem 18 pro řízení jasu mo- 1 nitoru 13. Druhý výstup videozesilovače £ je spojen s vertikálním vychylovacim systémem 17 osciloskopu 15.
Zapojení pro kontrolu činnosti tvarování zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku pracuje za provozu takto:
Elektronový nebo iontový svazek 2: je upraven v zatemňovacím a tvarovacím systému 2 řízeném zatemňovacími a tvarovacími zesilovači 2· Upravený svazek je’vychylován vychylovacim systémem £ elektronově optického zařízení, který je ovládán vychylovacími zesilovači 8 elektronově optického zařízení a dopadá na substrát 6 s resistem.
Odražené nebo sekundární elektrony dopadají na detektor % elektronů nebo iontů, vybuzený signál je zesilován videozesilovači Výstupní signál z prvního výstupu řídí jas monitoru 13 přes vstup 18. Výstupní signál z druhého výstupu řídí vertikální vychylovací systém 17 osciloskopu 15 Informace pro tvarování zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku 2t pro časovou základnu 14 a pro vychylovací zesilovače 11 monitoru dodává řídicí systém 10.
Během činnosti elektronového nebo iontového litografu je elektronový svazek v obrazovce monitoru 13 vektorově vychylován v souhlase s vychylováním elektronového svazku v elektronově optickém systému 1.
Na stínítku paměióyé obrazovky nebo obrazovky s dlouhým dosvitem monitoru 13 ee kontroluje pomocí jfcsové modulace správné pokrývání plochy čipů na substrátu 6 exponovanými mikrostrukturami. Na obrazovce osciloskopu 15 se kontroluje činnost tvarovacího a zatemňovacího systému Systém pro kontrolu činnosti indikuje i jiné závady, napři klad poruchy vysokonapělového zdroje nebo elektronové případně iontové trysky, dále poruchy zdrojů pro čočky, s£gmá tory a centrovaoí cívky nebo závady na detekčním systému.
Hlavní využití tohoto vynálezu jev elektronových a iontových litografech pro průběžnou rychlou a přehlednou kontrolu činnosti systémů pro vychyloyání, tvarování a zatemňování elektronového nebo iontového svazku.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZU23S aaaZapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vychylování elektronového nebo iontového svazku například v elektronovém nebo iontovém litografu, vyznačené tím, že řídicí systém (10) opatřený třemi výstupy je prvním výstupem spojen přes zatemňovací a tvarovací zesilovače (7) se zatemňovacím a tvarovacím systémem (3) , druhým výstupem je spojen přes vychylovací zesilovače (8) s vychylovacím systémem (4) elektronově optického zařízení a zároveň je spojen přes vychylovací zesilovač (11) moniéc^í'1vychylovacím systémem (12) monitoru, přičemž detektory (5) elektronů nebo iontů jsou spojeny s videozesilovači (9), jejichž první výstup je spojen se vstupem,(18) monitoru (13) a druhý výstup s vertikálním vychylovacím systémem (17) osciloskopu (15), jehož horizontální vychylovací systém (16) je spojen s výstupem časové základny (14), jejíž vstup je spojen s řídicím systémem (10).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS833695A CS235800B1 (cs) | 1983-05-25 | 1983-05-25 | Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS833695A CS235800B1 (cs) | 1983-05-25 | 1983-05-25 | Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS369583A1 CS369583A1 (en) | 1984-02-13 |
| CS235800B1 true CS235800B1 (cs) | 1985-05-15 |
Family
ID=5377757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS833695A CS235800B1 (cs) | 1983-05-25 | 1983-05-25 | Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS235800B1 (cs) |
-
1983
- 1983-05-25 CS CS833695A patent/CS235800B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS369583A1 (en) | 1984-02-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100280164B1 (ko) | 전자 빔을 이용한 검사방법 및 그 장치 | |
| US4939371A (en) | Charged particle beam device | |
| JP5033310B2 (ja) | 検査装置 | |
| US3715580A (en) | Multi electron beam apparatus | |
| JPH11326247A (ja) | 基板検査装置およびこれを備えた基板検査システム並びに基板検査方法 | |
| JPS61248346A (ja) | 集束イオンビーム処理装置 | |
| US3833811A (en) | Scanning electron microscope with improved means for focusing | |
| JPH0286036A (ja) | イオンマイクロアナライザ | |
| US3753034A (en) | Electron beam apparatus | |
| US6730906B2 (en) | Method and apparatus for testing a substrate | |
| US3723801A (en) | Measuring the beam landing characteristic of a shadow-mask cathode-ray tube | |
| US20150155130A1 (en) | Drawing apparatus, drawing method, and method for manufacturing article | |
| JPS6047417A (ja) | 光電陰極型電子線リソグラフィー装置 | |
| US4385238A (en) | Reregistration system for a charged particle beam exposure system | |
| US6011262A (en) | Object observing apparatus and method for adjusting the same | |
| CS235800B1 (cs) | Zapojení pro kontrolu činnosti systému pro tvarování, zatemňování a vyohýlování elektronového nebo iontového svazku | |
| US4804851A (en) | Charged particle sources | |
| GB1537478A (en) | Electron beam apparatus | |
| US3849647A (en) | Scanning electron microscope | |
| US3854071A (en) | Exposure regulated scanning illumination means for electron projection systems | |
| GB1561133A (en) | Corpuscular beam microscopes | |
| US2348031A (en) | Method of focusing electron microscopes | |
| JPS63266754A (ja) | パターン検査方法およびその装置 | |
| US3872351A (en) | Electron guns | |
| JPH01100919A (ja) | 電子ビーム加工装置 |