CS226211B1 - Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry - Google Patents
Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry Download PDFInfo
- Publication number
- CS226211B1 CS226211B1 CS118080A CS118080A CS226211B1 CS 226211 B1 CS226211 B1 CS 226211B1 CS 118080 A CS118080 A CS 118080A CS 118080 A CS118080 A CS 118080A CS 226211 B1 CS226211 B1 CS 226211B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- strain gauge
- glued
- type
- structures
- resistance
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000004295 calcium sulphite Substances 0.000 claims 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 8
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Force In General (AREA)
Description
Vynález se ' -fjýká způsobu měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry za vyšších teplot a řeší problém stanovení namáhání s vyšší přesností.
Výroba značně namáhaných součástí a konstrukcí, jakými jsou rotující části leteckých motorů, části vysokotlakých reaktorů a podobněfsi vyžaduje stálé a účinné kontroly jejich pevnostních vlastností. Experimentální stanovení průběhů namáhání je obvykle jedinou vhodnou cestou, jak skutečné namáhání zjistit.
Postup experimentálníhb stanovení namáhání spočívá v tom, še na měřeném předmětu se upevní odporové tenzometry, načež se v modelovaných skutečných podmínkách zjištuje průběh namáhání. Použijí-li se ke stanovení drátkové nebo fóliové odporové tenzometry, pak chyba měření činí desítky procent naměřené hodnoty. Vzniklá chyba je důsledkem skutečnosti, že u připevněného tentometru nelze zjistit jeho reálnou deformační citlivost a je nutné použít tabelovanou a důsledkem chyb v přenosové části měřícího řetězce, protože tyto tenzometry dávají jen malý výstupní signál. Při použití polovodičových odporových tenzometrů k řešení se omezí chyby v přenosové části měrného řetězce, protože ί polovodičové tenzometry mají vyšší deformační citlivost, přibudou zato chyby způsobené lepidlem, použitým k připevnění tenzometrů na měřený předmět. Modul pružnosti aktivní části tenzometrů je podstatně vyšší než modul použitého lepidla, takže deformace přenášená lepidlem z předmětu na tenzometr,je výrazně citlivá na tloušťku lepidla. Stanovení namáhání s polovodičovými tenzometry lze uskutečnit tak, že se použije hodnot deformační citlivosti. · udávaných výrobcem tenzometrů. Postup není příliš přesný, výroba tenzometrů se uskutečznuje v určitých tolerancích, navíc reálné zkušební podmiň ky se mohou dost lišit od atestů výrobce, Zlepšený postup stanovení namáhání spočívá v tom, že tenzometr se přilepí na zkušební nosník, načež se zatěžováním nosníku zjistí deformační citli226 211 vost pro daný druh tenzometru a lepidla· Očekávatelná vyšší přesnost měření se nedostavuje ve znatelné míře, a to v důsledku horší reprodukovatelnosti naměřených hodnot. Výsledná chyba je jen o málo menší než v předešlém případě. Příčina spočívá v tom, že u lepidel s vyšší konzistencí, jakými jsou především tenzometrická lepidla pro vyšší teploty, je prakticky nemožné dodržet stejnou sílu lepidla při standartizaci a při vlastním měření.
Nedostatečná přesnost známých způsobů měření vede ke konstrukčnímu předimenzování součástí a konstrukcí, spojenému nejen se zvýšenou spotřebou nákladných a úzkoprofilových materiálů, ale též ke sníženým technickým parametrům pro zvýšenou váhu.
Uvedené nedostatky zmenšuje způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry podle vynálezu, jehož po.dstata spočívá v tom, že měřený předmět s alespoň jedním nalepeným tenzometrem se ohřeje do oblasti počáteční pracovní teploty, načež se postupně ohřívá až do oblasti konečné pracovní teploty a současně se· vyhodnocuje změna odporu tenzometru na teplotě, pot|<wse měřený předmět podrobí měření v pracovních podmínkách a nalezená změna odporu tenzometru se koreluje se změnou odporu tenzometru/ zjištěnou při tepelném zatěžování.
Způsobem měření podle vynálezu se násobně zvyšuje přesnost nalezených hodnot, chyba při měření za vyšších teplot se pohybuje kolem 5%,
Podstatu vynálezu ozřejmují příklady provedení, na které se vynález nijak neomezuje. t
Příklad 1
Kvasistafrické namáhání v radiálním směru ve vzdálenosti poloviny poloměru disku turbíny ze žárupevné slitiny se stanovovalo v rozmezí od 20 000 otáček dp 40 000 otáček za minutu a v intervalu pracovních teplot od 140' do 2501 °G, přičemž teplota při jednotlivém měření byla stálá. Pro měření byl na disk přilepen univerzální typ polovodičového tenzometru z křemíku typu p- a aktivní částí orientovanou ve směru (1,1,1), s udávaným jmenovitým odporem 120 ohmů a součinitelem deformační citlivosti k rovném + 120. Aktivní část o délce 3 mm byla na disk nalepena epoxidovým lepidlem a vytvrzena při předepsané teplotě. Disk byl ohřát na spodní hranici teplotního interxvalu, následně řízeně ohříván až do konce teplotního intervalu a deformace, vyvolaná rozdílem roztažnosti tenzometru a měřeného disku, byla řegistro- 3 228 211 vána na základ· změny odporu· Následně byly porovnány rozdíly v odporu, registrované u nalepeného tenzometru a tabelované pro nenalepený tenzometi; a jim odpovídající hodnoty deformace.
Z obecného vztahu k _ kde 21 R je poměrná změna odporu, A£ relativní deformace a k koeficient deformační citlivosti, byla vyšetřena skutečná hodnota koeficientu deformační citlivosti nalepeného měřícího tenzometru, a to buá průměrná pro celý sledovaný intervaj, nebo po krocích v intervalu. 0 volbě způsobu vyhodnocení rozhoduje úloha, tj. zda se zjišťuje úhrnná hodnota namáhání nebo jeho průběh· Následně bylo provedeno měření v podmínkách skutečného zatížení a z upřesněného, předem známého vztahu mezi Afc a Δέ by&t stanovena hodnota namáhání· Popsaným způsobem bylo při měření Λσ&κτ' docílit menší chybu než ± 5%.
Příklad 2
Stanovení namáhání disku v podmínkách příkladu 1 se uskutečnilo s tím rozdílem, že při skutečném zatížení byl na disku tepelný spád od okraje ke středu v rozmezí od 160° do 220°C. Na disk byly nalepeny těsně u sebe p-typ polovodičového tenzometru a n-typ polovodičového tenzometru, který měl podélnou osu aktivní části orientovanou ve směru (1,0,0), o jmenovitém odporu 120 ohmů, průměrným teplotním součinitelem elektrického odporu v mezích Ι6θθ až 220°C rovném + 1,2.10“·^ grad“^ a se součinitelem deformační citlivosti - 122, čímž byla zajištěna samokompenzace teplotního posuvu nulové hodnoty v daném teplotním rozmezí. Tenzometr typu p- byl shodný jako v příkladě 1. Následně se provedl ohřev disku do oblasti praoovníoh teplot, obdobně jak je uvedeno v příklad)·* 1, přičemž byla registrována teplem vyvozená změna odporu, a tím i deformace pouze u tenzometru p-typu, z ní vyhodnocen skutečný součinitel deformační citlivosti tenzometru p-typu a podle něj korigována hodnota součinitele deformační citlivosti samokompenzovaného tenzometru n-typu. Následně byl disk podroben skutečnému zatížení a z předem známých a upřesněných vztahů vyhodnocena hodnota namáhání. Chyba měření byla menší než udaná v příkladě 1.
Vynález je určen ke kontrole pevnostních vlastností mechanicky namáhaných součástí a konstrukcí při jejich výrobě a provozu·
Claims (2)
- P Ř S D Μ Β T V Y N Á L E Z U 226 2111. Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry, vyznačený tím, že měřený předmět s alespoň jedním nalepeným tenzometrem se ohřeje do oblasti počáteční pracovní teploty, načež se postupně ohřívá až do oblasti konečné pracovní teploty a současně se vyhodnocuje změna odporu tenzometru na teplotě, potom se měřený předmět podrobí měření v pracovních podmínkách a nalezená změna odporu tenzometru se koreluje se změnou odporu tenzometru, zjištěnou při tepelném zatěžování.
- 2« Způsob měření podle bodu 1, vyznačený tím, že měřený předmět s alespoň jedním nalepeným tenzometrem p-typu a alespoň jedním nalepeným tenzometrem n-typa se samokompenzací teplotního posunu nulové hodnoty?se ohřeje do oblasti pracovních teplot, přičemž se vyhodnocuje změna odporu tenzometru p-typu na teplotě a na jejím základě se koriguje změna odporu tenzometru n-typu.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS118080A CS226211B1 (cs) | 1980-02-20 | 1980-02-20 | Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS118080A CS226211B1 (cs) | 1980-02-20 | 1980-02-20 | Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS226211B1 true CS226211B1 (cs) | 1984-03-19 |
Family
ID=5345536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS118080A CS226211B1 (cs) | 1980-02-20 | 1980-02-20 | Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS226211B1 (cs) |
-
1980
- 1980-02-20 CS CS118080A patent/CS226211B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE70633T1 (de) | Kalibrierverfahren fuer kraft- oder momentmessvorrichtungen. | |
| US4914611A (en) | Force measuring device | |
| CN117553946B (zh) | 一种测力传感器温度补偿方法 | |
| RU2703610C2 (ru) | Торсиометр для измерения деформации | |
| US20190072441A1 (en) | Digital creep and drift correction | |
| CS226211B1 (cs) | Způsob měření statického a dynamického namáhání součástí a konstrukcí lepenými polovodičovými tenzometry | |
| US11287347B2 (en) | Temperature-compensated strain gauge measurements | |
| Kalinin et al. | Development of a calibration procedure for contactless torque and temperature sensors based on SAW resonators | |
| US3559474A (en) | Force transducer load cell | |
| US2486446A (en) | Method of gauging bearing clearance | |
| Iriarte et al. | D-optimal strain sensor placement for mechanical load estimation in the presence of nuisance loads and thermal strain | |
| SU1515035A1 (ru) | Способ измерени деформаций твердых тел | |
| RU2267755C1 (ru) | Способ минимизации аддитивной температурной погрешности тензорезисторных датчиков относительного давления с герметичной внутренней полостью и мостовой измерительной цепью | |
| CS238001B1 (cs) | Způsob experimentálního určení namáhání konstrukční součásti | |
| CS232652B1 (cs) | Způsob zvýšení třídy přesnosti měrného členu snímače mechanické veličiny | |
| SU913140A1 (en) | Device for article mechanical and thermal testing | |
| Andrae | Measurement and calibration using reference and transfer torque flanges | |
| CN107796528B (zh) | 一种能消除分布式光纤光栅受外界应力影响的封装方法 | |
| TN | Strain Gage Thermal Output and Gage Factor Variation with Temperature | |
| Lawton | Use of plastic models to evaluate thermal strains in diesel-engine pistons | |
| PARKINS | Calibration and instrumentation of semiconductor strain gauges | |
| US2904997A (en) | Measuring elements for measuring of forces | |
| SU1415048A1 (ru) | Способ определени деформаций детали | |
| ICE-NPL-INRiM | Carlo Ferrero CNR-IMGC FORCE and LOAD CELLS | |
| Warren | UTILIZATION OF STRAIN GAUGES OVER LONG PERIODS OF TIME AT ELEVATED TEMPERATURES |