CS218116B1 - Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot - Google Patents
Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot Download PDFInfo
- Publication number
- CS218116B1 CS218116B1 CS50279A CS50279A CS218116B1 CS 218116 B1 CS218116 B1 CS 218116B1 CS 50279 A CS50279 A CS 50279A CS 50279 A CS50279 A CS 50279A CS 218116 B1 CS218116 B1 CS 218116B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- measuring
- frequency
- load current
- transient
- direct current
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Měření přechodových odporů malých hodnot podle vynálezu používá obvodu se zdrojem zatěžovacího proudu, k němuž je přes oddělovací odpor připojena sada zkoušených prvků, na jejíž výstup je připojeno vazební vinutí, jehož druhý konec je přes oddělovací kondenzátor připojen k zemi, přičemž druhé vinutí indukčnosti je připojeno přes ladící kondenzátor jednak ke kmitočtovému generátoru, jednak k měřicí jednotce. Na stejnosměrný zatěžovací proud měřených kontaktů se superponuje střídavé napětí o velikosti 3 až 35 °/o stejnosměrné složky na přechodovém odporu o kmitočtu rovném rezonančnímu kmitočtu laděného obvodu měřicího zařízení.
Description
Vynález se týká způsobu měření přechodových odporů malých hodnot stejnosměrným proudem, při němž sada zkoušených prvků je připojena k ladicímu obvodu spojenému s kmitočtovým generátorem a s měřicí jednotkou.
Způsob měření přechodových odporů malých hodnot stejnosměrným proudem je vhodný k automatickému měření a kontrole tohoto parametru u kontaktních spínačů. Měření je důležité pro přesnější výběr kontaktních slitin podle požadavků na spínače. Rozsáhlejší práce v tomto oboru vyžaduje velmi početná měření což nelze uskutečnit bez automatizace. Dosavadní způsoby měření neumožňují dosažení potřebné přesnosti v dnes požadované oblasti velmi malých stejnosměrných proudů a napětí a jsou ovlivněny parazitními vlivy přepínacího pole.
Dosavadní způsob měření přechodových odporů kontaktů při stejnosměrné proudové zátěži, používají při automatickém statistickém měření se zápisem naměřených hodnot, například s použitím integračního číslicového voltmetru pozůstává v tom, že se přechodový odpor určuje nepřímo z úbytku stejnosměrného napětí na přechodovém odporu Rx při sepnutém kontaktu, při průtoku stejnosměrného proudu Im, přiváděného na kontakt proudovými vodiči 1, 2.
Rozsah měření dosavadním způsobem je omezen relativně malou citlivostí stejnosměrných integračních voltmetrů s minimálním rozsahem 100 nebo 10 mV. Při malých hodnotách přechodového odporu, například 1 mQ, a zatěžovacího proudu, například 5 mA, je úbytek napětí na kontaktu v uvedeném případě pouze 5 μν stejnosměrných, což je hodnota na uvedených rozsazích neměřitelná. Řešení problému zesílením· tohoto napětí nepřichází v úvahu, neboť i citlivost stejnosměrných zesilovačů je pro napětí řadu 10~6 V nedostatečná.
Tyto nevýhody jsou odstraněny způsobem měření přechodových odporů malých hodnot stejnosměrným aatěžovacím proudem podle vynálezu, jehož podstatou je, že na stejnosměrný zatěžovací proud měřených kontaktů se superponuje střídavé napětí o velikosti 3 až 35 % stejnosměrné složky na přechodovém odporu o kmitočtu rovném resohančními kmitočtu laděného obvodu měřícího zařízení.
Vyšší účinek -měření přechodových odporů podle vynálezu proti dosavadním používaným postupům spočívá v tom, že určování přechodového odporu se provádí měřením střídavého napětí. Pro tato měření jsou k dispozici mnohem citlivější měřicí přístroje než pro měření stejnosměrných napětí řádu ΙΟ-6 V. Kromě toho hlavní výhodou je, že měřená napětí podle vynálezu jsou o tři řády vyšší než při dosavadních měřicích postupech. Současně požadovaný charakter zatížení kontaktů stejnosměrným proudem zůstává zachován.
Způsob měření přechodového odporu podle vynálezu bude dále popsán vzhledem k připojenému vyobrazení, kde. Rx je přechodový odpor sepnutého· kontaktu, C je kapacita a L je indukčnost sériově laděného obvodu, Lv je vazební vinutí, Cv je izolační kondenzátor, R; je vnitřní odpor zdroje stejnosměrného zatěžovacího proudu.
Přechodovým odporem Rx prochází stejnosměrný zatěžovací proud Im, přiváděný ze zdroje proudovými vodiči 1 a 2. Střídavé napětí UG z vysokofrekvenčního generátoru se přivádí na sériově laděný resonanční obvod LC. Vysokofrekvenční napětí UG se z vazebního vinutí Lv přivádí napěťovými vodiči 3 a 4 na přechodový odpor Rx kontaktu zatížený stejnosměrným proudem Im.
Izolační kondenzátor Cv odděluje obvod střídavého napětí od stejnosměrného. Přechodový odpor Rx ovlivňuje v tomto případě činitel jakosti laděného obvodu a tím i velikost měřeného· vysokofrekvenčního napětí UL na indukčnosti L. Velikost napětí UL je přímo úměrná velikosti přechodového odporu Rx, což vyplývá z obecně známých rovnic. Například při podmínkách UG = 0,6 mV při kmitočtu f = 5 kHz, C = = 101,327 nF, L — 0,01 H a při dvou přepínatelných převodech
L : Lv = 792 : 1 pro rozsah Pí... 1 až 15 ιηΩ a
L : Lv — 205 : 1 pro rozsah Pn... 15 až 225 ιηΩ se pohybuje napětí UL v každém rozsahu od 1,2 do 18 mV, přičemž složka střídavého· napětí na kontaktu činí 1,516 μν až 22,7 μν na prvním rozsahu a 5,8 až 87,8 μν na druhém rozsahu, což odpovídá při stejnosměrné proudové zátěži kontaktu 5 mA velikosti superpozice 30,3 % na prvním rozsahu a
7,73 % na druhém rozsahu. Při vyšší proudové zátěži je procentuálně superpozice menší.
Měření podle vynálezu lze použít i pro měření přechodového odporu během zátěže kontaktů střídavým proudem pokud bude zaručeno oddělení kmitočtu zatěžovacího proudu a kmitočtu měřicího napětí.
Claims (1)
- Způsob měření přechodových odporů malých hodnot stejnosměrným zatěžovacím proudem vyznačený tím, že na stejnosměrný zatěžovací proud měřených kontaktů se superponuje střídavé napětí o velikosti 3VYNÁLEZU až 35 % stejnosměrné složky na přechodovém odporu o kmitočtu rovném resonančnímu kmitočtu laděného obvodu měřicího zařízení.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS50279A CS218116B1 (cs) | 1979-01-23 | 1979-01-23 | Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS50279A CS218116B1 (cs) | 1979-01-23 | 1979-01-23 | Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS218116B1 true CS218116B1 (cs) | 1983-02-25 |
Family
ID=5337218
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS50279A CS218116B1 (cs) | 1979-01-23 | 1979-01-23 | Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS218116B1 (cs) |
-
1979
- 1979-01-23 CS CS50279A patent/CS218116B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3873911A (en) | Electronic battery testing device | |
| KR930700855A (ko) | 전자 소자 테스트및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템 및 그 방법 | |
| EP0003433A1 (en) | Improvements in or relating to the location of contact faults on electrically conductive cables | |
| Cutkosky | An ac resistance thermometer bridge | |
| US3227953A (en) | Bridge apparatus for determining the input resistance and beta figure for an in-circuit transistor | |
| US3448378A (en) | Impedance measuring instrument having a voltage divider comprising a pair of amplifiers | |
| US3283242A (en) | Impedance meter having signal leveling apparatus | |
| US2649571A (en) | Bridge for resistance measurement | |
| US3028539A (en) | Current transformer | |
| US3842344A (en) | Bridge circuit for measuring dielectric properties of insulation | |
| US4777430A (en) | Circuit for determining the effective series resistance and Q-factor of capacitors | |
| CS218116B1 (cs) | Způsob měřeni přechodových odporů malých hodnot | |
| US3350641A (en) | Transistor testing apparatus for measuring the beta, leakage and cutoff current parameters | |
| CN205920176U (zh) | 任意交流载波下的电容特性测量设备 | |
| Reynolds et al. | DC insulation analysis: A new and better method | |
| CN106199285A (zh) | 任意交流载波下的电容特性测量设备及其测量方法 | |
| US3363178A (en) | Bridge apparatus for determining the hybrid parameters of a transistor under test | |
| SU712775A1 (ru) | Автоматический измеритель составл ющих комплексного сопротивлени | |
| US3452274A (en) | Apparatus for measuring loss characteristics of dielectric test specimens including an electrical bridge with sine to square wave conversion means and integration means | |
| US3422347A (en) | Comparator circuit having a hall generator for measurement of d.c. magnetic fields | |
| Kabele | A fast microcomputer-controlled admittance bridge | |
| US3510775A (en) | In-circuit semiconductor leakage testing means and method | |
| SU1049829A1 (ru) | Устройство дл измерени добротности катушек индуктивности | |
| Arnold | Alternating-current-instrument testing equipment | |
| US2779922A (en) | Transistor test set |