CS213638B1

CS213638B1 - A method for determining the degree of sclerosis of superficial tissues of plants

Info

Publication number: CS213638B1
Application number: CS319979A
Authority: CS
Inventors: Jiri Ponert; Jan Uhlik
Original assignee: Jiri Ponert; Jan Uhlik
Priority date: 1979-05-10
Filing date: 1979-05-10
Publication date: 1982-04-09

Abstract

Vynález se týká způsobu stanovení stupně sklerifikaoe povrchových tkání rostlin, při němž se rostlinný povrch bombarduje elektrony a vznikající rentgenovo záření se měří při vlnové délce od 0,3il0-’^m do 80.10-1θπι. Pokud se vznikající rentgenovo záření měří plošně v místech výskytu sklerifikovanýoh struktur, jsou hodnoty stupně sklerifikaoe nižší než hodnoty maximálního stupně sklerifikaoe zjištěné měřením rentgenová záření podél mikroprofilu procházejícího vrcholem sklerifikovanýoh struktur. Vynález využívá nového zjištění 0 komplementárnosti obsahu křemíku a draslíku ve sklerifikovaných povrchových tkáních rostlin. Stanovení stupně sklerifikaoe povrchových tkání rostlin má význam pro,, identifikaci rostlinných drog a pro charakterizování rostlinných surovin z hlediska jejich působení na opotřebení sklizňových zemědělských strojů, mlýnů a homogenizátorů rostlinných surovin.The invention relates to a method for determining the degree of sclerification of plant surface tissues, in which the plant surface is bombarded with electrons and the resulting X-rays are measured at a wavelength from 0.310-10

Description

K* stanovení stupně aklerifikaee povrchových tkání rostlin, například obilí, rostlin čeledí POaoeae n Equiootaoeao, zejména jejioh mikroskopických struktur, nebyla 'zatím znána vhodná metoda. Přitom stanovení etopně aklerifikaee ná význam jak analytický, tak identifikační /například při ověření pravosti drog nebo pro jojioh identifikaci/ i technologie* ký /například při rozmělňování drog nebo pre stanovení rizika a stupně opotřebení zemědělských strojů i pro jojioh seřízení/·A suitable method has not yet been known to determine the degree of aclerification of surface tissues of plants, for example, cereals, plants of the POaoeae n Equiootaoeao family, particularly its microscopic structures. At the same time, the determination of the aclerification is of both analytical and identification importance (for example in drug authentication or for jojioh identification (s) technology (for example in drug pulverization or for determining the risk and degree of wear on agricultural machinery and for jojioh adjustment)

Stupeň aklerifikaee je novým kriteriem, která v technických oborech využívajících oThe degree of aklerifikaee is a new criterion, which in technical fields using o

rostlinná suroviny nebylo dooud užíváno· Doposud byl stanovován otupoň abraoo, který charakterizuje intensitu opotřebení materiálu technologického zařísení či sklizňových strojů. Naproti tomu stupeň sklerifikaee je přímo charakteristikou rostlinné suroviny.vegetable raw materials were not used till now · So far abrasion abraoo, which characterizes the intensity of wear of material of technological equipment or harvesting machines, has been determined. On the other hand, the degree of sclerification is directly a characteristic of the plant raw material.

Stupeň eklorifikaeo jo podle hlavní varianty tohoto vynálezunrčován ponooí stanovení obsahu křemíku v povrchové vrstvě rostlinných tkání. S ohledem na nerovnoměrný obsah křemíku v povrchových vrstvách rostlin jo výhodná stanovit jeho obsah v závislosti na povrchových strukturách roetlin, v nej tvrdších povrchových átvarooh, jakýsi jsou například sklerifikovaaé papily. Jak bylo nevš zjištěno, zvýšený obsah křemíku v povrchových vrstvách rostlin jo doprovázen sníženým obsahom draslíku ve sklerifikovaných tkáních, přičemž platí, žo čím jo vyšší obsah křemíku, tím nižší jo obsah draslíku v povrchové nikrostruktuře rostlinné tkáni. Zjištění této nová zákonitosti a její využití v tomto vynálezu umožňuje odlišit zklezifikovaná tkáni rostlin od případného nánosu anorganiekýoh znečištěním /např. píoku nebo drobných částeček prachu kysličníku křemičitého či křeničitanů/, která jaou bezprostřední součástí rostlinné suroviny, a ktoré proto robou být od rostlinné suroviny předem odděleny, například mechanicky či odsáváním. Podle vedlejší varianty tohoto vynálezu je otupoň aklerifikaee určován nepřímo, například porosí stanovení obsahu draslíku v povrchové vretvě rostlinných tkání.According to the main variant of the present invention, the degree of eclorifica is determined by the determination of the silicon content in the surface layer of plant tissues. In view of the uneven content of silicon in the surface layers of plants, it is preferable to determine its content in dependence on the surface structures of roetlins, in the hardest surface forms, such as sclerified papillae. However, it has been found that the increased silicon content of the plant surface layers is accompanied by a reduced potassium content in the sclerified tissues, the higher the silicon content, the lower the potassium content in the surface nicrostructure of the plant tissue. The discovery of this novel pattern and its use in the present invention makes it possible to distinguish between the distorted plant tissues and the possible deposition of inorganic contamination (e.g. flakes or small particles of silicon dioxide or silicate), which are an immediate part of the vegetable raw material and which, therefore, are separated from the vegetable raw material beforehand, for example by mechanical means or by suction. According to a minor variant of the present invention, the blunt of the aclerificae is determined indirectly, e.g.

Stanovení stupně sklerifikaoe povrchových tkání rostlin jo dosahováno spůaobon podle vynálezu, jehož podstatou jo, že ee rostlinný povroh bombarduje elektrony a vznikající rentgenovo záření se měří podél mikroprofilu procházejícího vrcholen sklerifikovaných struktur /například sklerifikovaných papil/ nebo plošně v místech výskytu sklerifikovaných struktur při vlnové dálce od 0,3 .10^°m do 80 .10^°m, čímž ·· stanoví stupeň sklerifikaoe. Měřením tohoto rentgenová záření plošně (v místech výskytu sklerifikovaných struktur) jsou zjišťovány průměrné, a nikoli' tedy maximální, hodnoty stupně aklerifikaee. Měřením vznikajícího rentgenová záření podél nikroprofilu (proohásejícího vrcholen skloriflkovaných struktur) se zjišťují maximální, minimální i průměrné hodnoty stupně sklorifikaec.The determination of the degree of sclerification of the surface tissues of plants is achieved by the method according to the invention, wherein the plant surface is bombarded by electrons and the X-rays produced are measured along a microprofile passing through the apex of sclerified structures. 0.3-10 µm to 80-10 µm, thereby determining the degree of sclerification. By measuring this X-rays across the board (at the sites of sclerified structures), the average and not the maximum values of the degree of aclerification are determined. By measuring the resulting X-rays along the nicroprofil (exacerbating the peak of the glass-refined structures), the maximum, minimum and average values of the degree of glass-refining are determined.

Pro hodnocení vlivu rostlinných surovin aa opotřebení teohnologiokáho zařísení jsou zpravidla závažnější maximální hodnoty stupně aklerifikaee než hodnoty průněrné. V takovém případě je tedy výhodnější měřit vznikající rentgenové záření podál nikroprofilu.In order to assess the effect of plant raw materials and wear and tear of the thiologiological apparatus, the maximum values of the degree of aclerificae are generally more serious than the average values. Thus, in such a case, it is preferable to measure the X-rays produced by the nicroprofil.

Na připojených výkresech jaou znásorněny příklady provedení způsobu stanovení stupně aklerifikaee povrchových tkání rostlin.The accompanying drawings illustrate embodiments of a method for determining the degree of aclerification of plant surface tissues.

Na obr. 1 na oas x je vzdálenost podál nikroprofilu (procházejícího vrcholem sklerifikovaaé papily a věnčen obklopujících ji, mámě sklerifikovaných buněk), na ooe y Je počet impulsů za jednotku času sjišťovaaý počítačem impulsů pro vznikající rentgenové záření přiIn Fig. 1, o and x is the distance traveled by the nicroprofile (passing through the top of the sclerified papilla and dedicated to the surrounding sclerified cells), at ooe y The number of pulses per unit of time is determined by the pulse counter for the X-rays generated

213 838 ▼lnové déle· 7,125 ,10”¹⁰m. Desetivteřinová kozulaee v míetech levého (nižěího) maxima lomené čáry 1 činí 4608 a 4786 impulsů za 10 ses. Desetivteřinové kumulace v místech prostřed ního velkáho maxima lomená čáry 1 činí 8796 a 8956 inpnleů za 10 sec, tohoto maxima je dosaženo v místě, kde mikroprofil prochází vrcholem sklerifikované papily. Stupeň sklerifikaee lze takto stanovit jako přímo úměrný počta impulsů za jednotka čaea·213,838 ▼ m longer · 7,125, 10 ” ¹⁰ m. The ten-second Kozulaee at the left (lower) maximum of the broken line 1 is 4608 and 4786 pulses in 10 seconds. The ten second cumulation at the mid-high peak of the broken line 1 is 8796 and 8956 inches per 10 sec, this maximum being reached at the point where the microprofile passes through the apex of the sclerified papilla. The degree of sclerification can thus be determined as proportional to the number of pulses per unit of time and ·

Sa obr. 2 na ose x jo vzdálenost podál mikroprofilu procházejícího vrcholem sklerifikované papily, na oae y je počet Impulsů zjištěný počítačem impulsů pro vznikající rentgenové záření při vlnové dále· 3,741 · 10^l0m. Počátek osy x je umíetěn do místa, kde mikroprofil prochází vrcholem sklerifikované papily. Lomená čára 2 dosahuje svého minima v místě kde mikroprofil prochází vrcholem sklerifikované papily. Vznikající rentgonovo záření o ▼lnové délce 3,741 .10”¹⁰m měřené pomooí počítače impulsů jo svým počten impulsů nepřímo úměrné stupni eklerlfikaee.To FIG. 2 the abscissa jo distance in two along microprofiled extending apex sklerifikované papillae on OAE y is the number of pulses detected by counting pulses for the emerging X-ray radiation with a wavelength below · 3741 · 10 ^l0 m. The origin of the x axis is possible the location to where the micro passes apex of sclerified papilla. The broken line 2 reaches its minimum at the point where the microprofile passes through the apex of the sclerified papilla. The resulting X-ray radiation with a length of 3,741.10 ” ¹⁰ m measured by means of a pulse counter is inversely proportional to the degree of eclerlficae by its pulse count.

Obr. 1 a obr. 2 znázorňují výsledky měření rentgenová záření při dvou různých vlnových délkách podél téhož mikroprofilu. Pre stanovení stupně eklerlfikaee povrchových tkání rostlin postačí měření rentgenová záření při jedné vlnové délce, avšak měření rentgenová zéřohí při dvou vlnových délkách zvyšuje spolehlivost stanovení.Giant. 1 and 2 show the results of X-ray measurements at two different wavelengths along the same microprofile. X-ray measurements at one wavelength are sufficient to determine the degree of eclerlfikaee surface tissues of plants, but X-ray measurements at two wavelengths increase the reliability of the assay.

Příklad provedeníExemplary embodiment

Povroh pluěky pluchatýoh obilek vysokolysinových mutantů ječmene byl studován pomooí rastrového elektronového mikroskopu spřažoného so zařízením pro rentgenovou mikro analýzu a samočinným počítačem. Zvětšení na obrazevee 2000 x, na zapisovači 6000 x. Pro stanovení křemíku podél mikroprofilu procházejícího sklerifikovanou papilou užito následujících o p podmínek* 15 kV, 10A, 3.10 ope /viz obr.l/. V místech maximálních obsahů křemíku byla provedena desetivteřinové kumulace impulsů, tak například vrchol papily /8796, 8956 impulsů sa 10 see/ jo přibližně téměř dvakrát více skloriflkován než věnec buněk obklopujících bázi papily /4608, 4786 impulsů za 10 sec/· Průběh obsahu draslíku podél téhož mikroprofilu /obr.2/ jo komplbmontémí k obsahu křemíku /obr. 1/. Semikvantitativní nebo kvantitativní stanovení aoučaaně křemíku a draslíku tedy umožňuje kvalitnější identifikaci sklerifikované struktury, posouzení stupně její sklerifikaee a ověření její příslušnosti k povrchové rostlinné struktuře a její odlišení od náhodných kontaminací charakterizovaných zvýšeným obsahem křemíku /jimiž muže být například křemitý prach usazený na rostlinném povrchu/.The surface area of the flattened corn barley caryopses was studied using a scanning electron microscope coupled with an X-ray microanalysis device and an automatic computer. Magnification on picture 2000 x, on recorder 6000 x. For the determination of silicon along the microprofile passing through the sclerified papilla, the following β conditions were 15 kV, 10A, 3.10 ope (see Fig. 1). At the maximum silicon content, a 10 second pulse accumulation was performed, such as papilla peak / 8796, 8956 pulses with 10 see / y approximately nearly twice as glassed as the crown of cells surrounding the papilla base / 4608, 4786 pulses per 10 sec /. of the same microprofile (FIG. 2) is complete with silicon content / FIG. 1 /. Thus, the semi-quantitative or quantitative determination of silicon and potassium permits better identification of the sclerified structure, assessment of the degree of sclerification and verification of its belonging to the surface plant structure and its differentiation from accidental contamination characterized by increased silicon content.

výkreavýkrea

Claims

SUBJECT OF THE INVENTION

A method of determining the degree of eclerified surface tissue of a plant, characterized in that the plant surface is electron bombarded and the X-rays produced are measured along a microprofile passing through the apex of the eclerified structures, e.g. 10 ** ^ θη do 80. 10 m and, depending on the X-ray radiation measured, determine the degree of sclerification

213,838 rf-1