CS213532B1 - A method of casting electronic components in a casting mold or housing - Google Patents
A method of casting electronic components in a casting mold or housing Download PDFInfo
- Publication number
- CS213532B1 CS213532B1 CS32681A CS32681A CS213532B1 CS 213532 B1 CS213532 B1 CS 213532B1 CS 32681 A CS32681 A CS 32681A CS 32681 A CS32681 A CS 32681A CS 213532 B1 CS213532 B1 CS 213532B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- casting
- electronic components
- lacquer
- casing
- filled
- Prior art date
Links
Landscapes
- Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
Vynález se týká způsobu zaléváni elektronických součástek a obvodů v liči formě nebo pouzdru a řeší problém použiti elektroizolačnich leiků k zaléváni těchto součástek. Podstatou vynálezu je vyplnění pouzdra ( pláště) nebo licí formy skleněnými mikrokuličkami nebo granulemi z termoplastu tak, aby vytvořené dutiny měly maximální rozměr menší než je tlouštka mezní mezery pro polymeraci laku a tento prostor se zalije elektroizolačním lakem, který se následně vytvrdí.The invention relates to a method of potting electronic components and circuits in a mold or casing and solves the problem of using electrically insulating lacquers for potting these components. The essence of the invention is to fill the casing (casing) or casting mold with glass microspheres or thermoplastic granules so that the created cavities have a maximum dimension smaller than the thickness of the boundary gap for the polymerization of the lacquer and this space is filled with electrically insulating lacquer, which is subsequently hardened.
Description
Vynález ae týká způsobu zaléváni elektroniokých, zejména polovodičových součástek v liči formě , nebo pouzdru.The invention relates to a method for potting electronically, in particular semiconductor components, in a mold or a housing.
Blektronioké součástky a obvody zejména polovodičové jako jsou tranzistory, diody, tyristory, můztkové obvody, tenkovrstvé obvody, integrované obrody a pod. se velmi často zapouzdřuji do plastů zpravidla epoxidových, silikonovýoh, epoxlsilikonových, fenolformaldohydovýoh, polyurethanovýoh a j. pryekyřio, které ee zpracovávají pro tyto fičely bul jako licí / salévaol / hmoty nebo jako hmoty lisovací. Liacvaoí hmoty jaou vhodné-pro velkou produkol rozměrové menších, tvarově jednodušších součástek nebo obvodů, proto dosáhly značného využiti ve výrobč ku př. integrovaných obvodů. Složením se lisovací a licí hmoty od sobe přilil nelišit lisovací hmoty mivaji větěl obsah plniva a proto výlisky mají oproti odlitkům nižší lineární roztažnoet. Licí hmoty mají lepši přilnavost ke kovovým vývodům a pod·, protože neobsahuji vnitřní separátor obsažený v lisovacích hmotách pro snadné vyjímáni výlisků z formy zatímco u lících hmot ae používá pouze vnější eeparátor ku př. silikonová pasta nanesená na povroh formy, ovšem jen tehdy, pokud ee forma nestává integrální části odlitku· V toa připadá ae jedná o tak zvané zapouzdřováni odléváním z pláštěm» toa ná tvor výsledného výrobku a jeho rozměry také odpovídají rozměrům výrobku. Vnější pláěř může být podlo typu součástky vyroben z různých materiálů, může být kovový, vylisován z termoplastu, nebo reaktoplastu a pod. Výhodou tsohniky odléváni s pláštěm oproti klasickému způsobu odléváni je, že vnější tvar takto vyrobených součástek je dokonalejší. Jedním z problémů při zapouzdřováni odléváním z pláštěm bývá někdy špatná přilnavost zalévaol pryskyřice k pláětl. Obeoně je nutné zaléváni provádět ve vakuu k vůli odstraněni bublin a púrú v odlitku noho použiti techniky odstředivého liti. Odplyňuje se zpravidla namlohaná licí směs před zalitím a pak i po zaliti ve formě resp. v plášti. Např. epoxidové pryskyřice jsou zpraoovány obvykle pří tlaku menším než 13 kře. Problémy při zapouzdřováni do licloh pryekyřio vznikají při- míšeni jednotllvýoh složek, neboř se jedná obvykle o vícesložkový systém, takže jsou probléay s odměřením složek, s homogenizací směsi protože např. některá plniva mají ve směsi tendenci asdimsntévat.Light-current components and circuits, especially semiconductors such as transistors, diodes, thyristors, bridge circuits, thin-film circuits, integrated resets and the like. are very often encapsulated in plastics, generally epoxy, silicone, epoxy silicone, phenolformaldohydride, polyurethane, and others, which are processed as casting / salivaol / molding or molding materials for these facials. Many materials are suitable for large-scale products of smaller, simpler shape or circuitry, and have therefore achieved considerable use in the manufacture of, for example, integrated circuits. Due to their composition, the molding and casting materials have adhered to each other not to differ the molding compositions, since they usually contained the filler content and therefore the moldings have a lower linear expansion compared to the castings. Casting materials have better adhesion to metal outlets and the like because they do not contain an internal separator contained in the molding materials for easy removal of the moldings from the mold while for the molding materials and only uses an external eeparator eg silicone paste applied to the mold surface. ee the mold does not become an integral part of the casting · This is the so-called encapsulation by sheath casting »the token of the final product and its dimensions also correspond to the dimensions of the product. Depending on the component type, the outer skin may be made of different materials, may be metal, molded from thermoplastic, or thermosetting plastic, and the like. The advantage of the casing casting over the conventional casting method is that the outer shape of the parts so produced is more perfect. One of the problems in encapsulation by casting from the sheath is sometimes poor adhesion of the resin to the sheath. It is necessary to carry out the watering under vacuum in order to remove bubbles and fumes in the casting, using the centrifugal casting technique. Typically, the poured mixture is degassed before casting and then after casting in the form or after casting. in a coat. E.g. The epoxy resins are generally treated at a pressure of less than 13 cc. Problems with encapsulation in the compositions arise from the admixture of the individual components, since they are usually multi-component systems, so that they are difficult to measure with the homogenization of the mixture because, for example, some fillers tend to dissipate in the mixture.
Podobné složeni a vlastnosti· jako líčí nebo silikonové hmoty mají 1 některé elektroizolačni laky, např. epoxidové laky odpovídají lioím resp. lisovacím epoxidům, podobně silikony, polyurothany, fenolformaldehydy a tp. Někdy v důsledku rozličných modifikaci a kombinaci různých zložok polymeru ee dociluje 1 výhodnějěloh vlastnosti kupř. lepši adheze, lepši flexibility, nižšího smrštěni, lepších dlelektriokýoh vlastnosti a pod. Při tom věak nejsou tyto lal^ použitelné k vyráběni odlitků, ař už z důvodů, že jde o rozpouětědlový systém a odpařeni rozpouštědla a polymerace by neúměrně prodlužovaly doby vytvrzeni, nebo proto, že u dvousložkových bezrozpouětědlových laků dochází k uvolněni velkého exothermického tepla při polymeraol, takže je lze použit k nanášeni tenkých ochranných vrstev kupř. k ochraně plošných spojů.Similar compositions and properties · such as make-up or silicone compositions 1 have some electro-insulating varnishes, e.g. molding epoxides, like silicones, polyurothanes, phenol formaldehydes and tp. Sometimes due to various modifications and combinations of different polymer components, ee preferably achieves properties of e.g. better adhesion, better flexibility, lower shrinkage, better elongated properties and the like. However, they are not usable for the production of castings, either because they are solvent system and evaporation of solvent and polymerization would disproportionately increase cure times, or because the two-component solvent-free paints release large exothermic heat with the polymerol, so that it can be used to apply thin protective layers e.g. for PCB protection.
Předložený vynález odstraňuje uvedené nevýhody a řeši daný problém v podstatě tak, že liol forma přlp. poudro se vyplní skleněnými mikrokullčkami, přičemž dutiny mezi nimi mají «·τΗmAi.ní rozměr menši než je tlouětka mezní vrstvy pro polymsraci elektroizolačního laku. Takto vytvořené dutiny se žale ji elektrolzolačnim lakem, který se vytvrdí.The present invention overcomes these disadvantages and solves the problem essentially by having the liol form adherent. the casing is filled with glass microspheres, the cavities therebetween having a dimension smaller than the thickness of the boundary layer for the polymerization of the electroinsulating varnish. The cavities thus formed are coated with an electrolytic lacquer which is cured.
213 532213 532
Výhodou způsobu zaléváni elektronlokých součástek v licí formé nebo pouzdru podle vynálezu je zejména to, Se odpadají problémy s evakuováním licí smésl a a jeji homogenizaci! odlitky zhotovené výěe uvedeným způsobem jsou dostatečně homogenní a bez bublin a pórů. Při tom lze volit 1 systémy, které nevyžaduji zvýšené teploty při polymeraci, ale polymeruji kontrolovatelným způsobem jen za nižších' teplot a v tenkých vrstvách.An advantage of the method of embedding the electronic components in the casting mold or sleeve according to the invention is, in particular, that there are no problems with the evacuation of the casting mixtures and their homogenization! the castings produced in the above manner are sufficiently homogeneous and free of bubbles and pores. There are 1 systems which do not require elevated polymerization temperatures, but polymerize in a controlled manner only at lower temperatures and in thin layers.
K vyplněni liči formy nebo pouzdra je třeba použit skleněných mlkrokullček /skleněné balotlny / resp. granuli z termoplastu vhodné velikosti případně vhodně zvolit poměr mlkrokullček různých průměrů. Pak je možno docílit až devatesátí. procent vyplněni prostoru. Zásyp se zalije vhodným elektrolzolačnlm lakem, který vyplní dutiny.To fill the lychee mold or sleeve, glass microspheres (glass beads) and / or glass beads are used. the thermoplastic granules of suitable size optionally select the ratio of the microspheres of different diameters. Then it is possible to reach the ninetieth. percent filled space. The backfill is filled with a suitable electrolytic lacquer to fill the cavities.
Doba a teplota vytvrzeni a tlak při zaliti závisí na povaze laku a na výšce odlitku. Z povlaků schopných polymerace ve vrstvě silné např. 1 mm lze zhotovit odlitky na jedno zalití o výěoe přibližně lOx větší, t.j. 1 cm.The curing time and temperature and the casting pressure depend on the nature of the lacquer and the casting height. Coatings capable of being polymerized in a layer, e.g., 1 mm thick, can be used to produce single-cast castings having a height of approximately 10 times larger, i.e., 1 cm.
Součástky nebo obvody vysoké 2 áž 3 om, a tech je v praxi většina, lze v tomto případě zapouzdřit na dvě až tři zalití.Components or circuits 2 to 3 m high, and most of them in practice, can be encapsulated in two to three pots.
Použijeme-11 jako plniva granule z termoplastu je někdy výhodné použit rozpouštědlový typ laků s rozpouštědlem, které před odpařením a zpolymerlzovánim laku naleptá povrch termoplastových granuli, takže se vytvoří kompaktní celek termoplastu a laku ; jedná se zde vlastně o zapouzdřeni lnatropnl směsi termoplastu a elektrolzolačnlho laku .When using thermoplastic granules as a filler, it is sometimes advantageous to use solvent type lacquers with a solvent which, prior to evaporation and polymerization of the lacquer, etch the surface of the thermoplastic granules so as to form a compact assembly of thermoplastic and lacquer; it is in fact an encapsulation of a thermoplastic and a lacquer of a thermoplastic lacquer.
přiklad 1example 1
Vnitřní prostor pouzdra polovodičového můatkového obvodu tvořeného výliskem z epoxidové pryskyřice o výšce 2 cm a připojeného např. epoxidovým lepidlem ke kovové základně se vyplní do poloviny skleněnými mlkrokuličkami o 0 0,125 nm a zalije ae roztokem sllikonakrylátového laku v toluenu tak, aby došlo k vyplněni všech dutin mezi mlkrokuličkami.The inner space of the semiconductor bridging circuit formed by a 2 cm high epoxy resin molding and attached eg with an epoxy adhesive to a metal base is filled halfway with 0.125 nm glass microspheres and sealed with a solution of acrylic lacquer in toluene to fill all cavities between mlkrokuličkami.
Po odpaření toluenu a vytvrzenl laku, což trvá při teplotě 20° C 24 hodin, se celý postup opakuje.After evaporating toluene and curing the lacquer, which lasts at 20 ° C for 24 hours, the whole process is repeated.
Příklad 2Example 2
Vnitřní prostor pouzdra polovodičového můatkového obvodu se vyplní granulemi z termoplastu např. polypropylenu a zalije sodo poloviny roztokem sillkonakxylátového laku v toluenu. Po odpařeni toluenu a polymeraci laku se pouzdro dolije uvedeným lakem.The interior of the housing of the semiconductor bridging circuit is filled with granules of thermoplastic, for example polypropylene, and sealed with a solution of sillconacoxylate lacquer in toluene. After evaporating the toluene and polymerizing the lacquer, the casing is topped up with the lacquer.
Přiklad 3Example 3
Vnitřní prostor pouzdra polovodičového můatkového obvodu se vyplní skleněnými mlkrokuličkami a zalije se roztokem slllkonakrylátového laku v toluenu. Poté se součástka vloží do vakuové sušárny a za tlaku 13,3 kPa a při teplotě 60° C se lak vytvrdl za 6 hodin.The interior of the housing of the semiconductor bridging circuit is filled with glass microspheres and sealed with a solution of acrylic lacquer in toluene. The component is then placed in a vacuum oven at a pressure of 13.3 kPa and at 60 DEG C. the lacquer has cured in 6 hours.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS32681A CS213532B1 (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | A method of casting electronic components in a casting mold or housing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS32681A CS213532B1 (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | A method of casting electronic components in a casting mold or housing |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS213532B1 true CS213532B1 (en) | 1982-04-09 |
Family
ID=5335173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS32681A CS213532B1 (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | A method of casting electronic components in a casting mold or housing |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS213532B1 (en) |
-
1981
- 1981-01-19 CS CS32681A patent/CS213532B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5700981A (en) | Encapsulated electronic component and method for encapsulating an electronic component | |
| US3693252A (en) | A method of providing environmental protection for electrical circuit assemblies | |
| US3428725A (en) | Process of casting a polyurethane to form a flexible mold | |
| JPS57178814A (en) | Manufacture of molded resin molding and mold therefor | |
| CN1160410C (en) | Casting resin and manufacturing method of resin mold | |
| DE60017631D1 (en) | Thermosetting epoxy powder coatings having improved degassing properties | |
| ES8607804A1 (en) | Method of fabricating composite or encapsulated articles. | |
| JPWO2016152623A1 (en) | Resin molded body and method for producing the same | |
| CS213532B1 (en) | A method of casting electronic components in a casting mold or housing | |
| JPS6136710B2 (en) | ||
| US3264248A (en) | Encapsulating compositions containing an epoxy resin, metaxylylene diamine, and tris-beta chlorethyl phosphate, and encapsulated modules | |
| JPH0430891B2 (en) | ||
| US5885505A (en) | Method for producing electronic part sealed body | |
| KR920005520B1 (en) | Method of encapsulation an articles | |
| GB1136260A (en) | Curable filled resin compositions | |
| US3372214A (en) | Method of dielectrically heatmolding epoxy resins | |
| GB2019304A (en) | In-mold coating of molded articles | |
| KR20030076108A (en) | Degassing Process of Silicone for Wax Mold Coating | |
| US3530417A (en) | Capsulated electrical apparatus | |
| JPS61179544A (en) | Manufacture of thick film hybrid integrated circuit | |
| Usmani | Diallyl phthalate/epoxy interpenetrating polymer network encapsulating materials | |
| JPS61277414A (en) | Manufacture of silicone monolithically molded product | |
| JPS5838137A (en) | Method of molding epoxy resin | |
| KR840008536A (en) | Semiconductor device and manufacturing method | |
| EP0143660A3 (en) | Resistors, methods of forming said resistors, and articles comprising said resistors |