CS211002B1 - Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness - Google Patents

Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness Download PDF

Info

Publication number
CS211002B1
CS211002B1 CS954179A CS954179A CS211002B1 CS 211002 B1 CS211002 B1 CS 211002B1 CS 954179 A CS954179 A CS 954179A CS 954179 A CS954179 A CS 954179A CS 211002 B1 CS211002 B1 CS 211002B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
indentations
gauge
hardness
measuring
measure
Prior art date
Application number
CS954179A
Other languages
Czech (cs)
Inventor
Bohuslav Cutka
Original Assignee
Bohuslav Cutka
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bohuslav Cutka filed Critical Bohuslav Cutka
Priority to CS954179A priority Critical patent/CS211002B1/en
Publication of CS211002B1 publication Critical patent/CS211002B1/en

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

Měrka je určena ke kontrole měřicích mikroskopů a projekčních zařízení, určených k měření vtisků při zkoušení tvrdosti metodami Vickers, Knoop, Grodzinski, Brinell apod. Použitím této měrky lze dosáhnout· jednotného a správného měření vtisků, i když tato měření provádí více pracovníků na více pracovištích a na různých přístrojích. Za použití měrky lze stanovit odchylky měření, velikost variabilních chyb měření i velikosti osobních chyb pracovníků. Měrku lze použít jak k nácviku měření, tak k přezkušování práce a při výběru vhodných pracovníků. Měrka se vyznačuje tím, že na jedné své ploše je opatřena obvykle několika skupinami vtisků stejné velikosti v každé skupině, ale různých velikostí v jednotlivých skupinách, jejichž rozměry jsou známé. Měrka je určena pro pracoviště zabývající se zkoušením tvrdosti a podnikovou, státní nebo mezinárodní metrologií tvrdosti.The gauge is intended for checking measuring microscopes and projection devices intended for measuring indentations during hardness testing by Vickers, Knoop, Grodzinski, Brinell, etc. methods. Using this gauge, it is possible to achieve uniform and correct measurement of indentations, even if these measurements are carried out by several workers at several workplaces and on different devices. Using the gauge, it is possible to determine measurement deviations, the size of variable measurement errors and the size of personal errors of workers. The gauge can be used both for training in measurements and for checking work and for selecting suitable workers. The gauge is characterized by the fact that on one of its surfaces it is usually provided with several groups of indentations of the same size in each group, but of different sizes in individual groups, the dimensions of which are known. The gauge is intended for workplaces dealing with hardness testing and corporate, state or international hardness metrology.

Description

Vynález se týká měrky pro kontrolu a staijovení odchylek měřicích mikroskopů, velikosti variabilních chyb včetně stanovení osobních chyb pracovníka, zejména při zkoušení tvrdosti materiálu vnikacími metodami, například metodami Vickers, Knoop, Grodzinski, Brinell apod.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The invention relates to a gauge for checking and determining the deviations of a measuring microscope, the magnitude of variable errors, including the determination of a worker's personal errors, in particular when testing the hardness of a material by intrusion methods.

V současné době se provádí kontrola měřicího zařízení používaného k měření vtisků, především měřicích mikroskopů a projekčních zařízení, pomocí mikrostupnic, například pomocí objektivního mikrometru.At present, the measuring equipment used for measuring indentations, in particular measuring microscopes and projection equipment, is inspected by means of microstructures, for example by means of an objective micrometer.

Tato kontrola se však provádí za jiných podmínek, než za jakých se měří vlastní vtisky při zkoušení tvrdosti, a to především proto, že mikrostupnioe je plošná, kdežto vtisk je prostorový útvar konkrétního tvaru podle použité metody zkoušení tvrdosti.However, this check is carried out under conditions other than the actual hardness test indentation measurements, mainly because the microstructure is flat, whereas the indentation is a spatial formation of a particular shape according to the hardness test method used.

Stávající kontrola nemůže brát v úvahu měnící se podmínky zejména subjektivního charakteru, zejména osobní chyby pracovníka, různé osvětlení a podobně.The current inspection cannot take into account changing conditions, especially of a subjective nature, in particular the personal mistakes of the worker, various illumination and the like.

Z těchto důvodů není možné dosáhnout jednotné měření i případně stejných vtisků na různých pracovištích nebo různými pozorovateli. 'For these reasons, it is not possible to achieve a uniform measurement even of the same indentations at different workplaces or different observers. '

Všechny tyto problémy je však potřeba řešit i s ohledem na podnikovou a zejména na potřeby státní a mezinárodní etalonáže, kdy je třeba pracovat s maximální možnou přesností.All these problems, however, need to be addressed with regard to corporate and especially the needs of national and international standards, when it is necessary to work with the maximum possible accuracy.

Uvedené nedostatky jsou odstraněny měrkou podle předmětu vynálezu, jejíž podstata spočívá v tom, že na jedné své obvykle rovinné a vyleštěné ploše je opatřena jednou skupinou vtisků stejné velikosti nebo několika skupinami vtisků stejné velikosti v jedné skupině, ale různých velikostí v každé skupině, jejichž rozměry jsou známé. Za vtisky stejné velikosti jsou považovány i vtisky s nepatrně odlišnou velikostí vzniklou technologickým vytvářením vtisků.These drawbacks are remedied by the measure according to the invention, characterized in that it has one group of indentations of the same size or several groups of indentations of the same size in one group, but of different sizes in each group, whose dimensions are they're known. Impressions of the same size are considered to be indentations of a slightly different size created by technological indentation.

Optimálním řešením je měrka, která je opatřena pěti vtisky v každé skupině v případě vtisků, u kterých je normou předepsáno měření vtisků ve dvou směrech obvykle na sebe kolmých, to je vtisky Vickers nebo Brinell nebo deseti vtisky u vtisků, u kterých se měří jen jeden rozměr, to je vtisky Knoop, Grodzinski.The optimum solution is a gauge that has five indentations per group for indentations where the standard prescribes indentations in two directions usually perpendicular to each other, that is, Vickers or Brinell indentations or ten indentations for indentations where only one is measured dimension, it is imprints Knoop, Grodzinski.

Měrka podle předmětu vynálezu umožňuje rychle a poměrně snadno stanovit nejen odchylky měřicího zařízení, ale i jeho přesnost, to znamená velikost variabilních chyb a osobni chyby pozorovatele, a to za podmínek, za jakých se provádí vlastní měření vtisků při zkoušení tvrdosti.The gauge according to the invention makes it possible to quickly and relatively easily determine not only the deviations of the measuring device, but also its accuracy, i.e. the magnitude of the variable errors and the personal error of the observer, under the conditions under which the indentation measurements are carried out during hardness testing.

Měrka podle vynálezu může sloužit jako délková míra při měření vtisků a budou-li na takto vytvořenou míru délky navázány měrky uživatelů, lze zajistit jednotné měření vtisků na neomezeném území.The measure according to the invention can serve as a measure of the length of the indentation, and if the measure of the length of the indentation is connected to the user's measures, a uniform indentation of the indentation can be ensured in an unlimited area.

Měrka podle vynálezu komplexně řeší jednotnost měření, správnost měření, stanovení odchylek měřicích mikroskopů používaných při měření vtisků podle jednotlivých metod zkoušení tvrdosti, stanovení 'osobních chyb pracovníků provádějících měření a stanovení přesnosti měření vtisků.The gauge according to the invention comprehensively solves uniformity of measurement, accuracy of measurement, determination of deviations of measuring microscopes used in measuring indentations according to individual methods of hardness testing, determination of personal errors of measuring personnel and determination of accuracy of indentation measurements.

Měrku lze používat i k nácviku měření vtisků, zvláště pak správného přikládání rysek k okraji vtisků.The gauge can also be used for practicing indentation measurements, especially for proper alignment of marks to the edge of indentations.

Měrky lze používat při výběru vhodných pracovníků pro tuto práci a k jejich přezkušování.Gauges can be used to select and test suitable personnel for the job.

Příkladné provedení měrky podle vynálezu je znázorněno na přiloženém výkrese, kde obr. 1 uvádí půdorysný pohled na měrku a obr. 2 vtisk s označením měřeného rozměru.An exemplary embodiment of a dipstick according to the invention is shown in the accompanying drawing, in which Fig. 1 shows a plan view of the dipstick and Fig. 2 shows an indentation indicating the measured dimension.

V daném konkrétním případě je na horní rovinné a vyleštěné ploše i měrky vytvořeno šest skupin 2 vtisků J pro kontrolu mikroskopů v případě použití metody Knoop, jako metody zkoušeni tvrdosti.In this particular case, six groups of 2 indentations J are formed on the upper planar and polished surface i of the dipstick as well as the Knoop method as a hardness testing method.

Každé skupina 2 vtisků J respektive všechny vtisky jedné skupiny mají přibližně stejnou velikost, jejichž přesná velikost je uvedena v ověřovacím listě každé jednotlivé měrky, včetně přesnosti, s jakou byly rozměry stanoveny. Pro měřeni by stačil i jediný vtisk J od každé velikosti, alé optimální je takový počet vtisků, aby počet měřených rozměrů 4 byl u každé skupiny 2 vtisků J roven deseti.Each group 2 of indentations J or all indentations of one group are approximately the same size, the exact size of which is stated in the verification sheet of each individual measure, including the accuracy with which the dimensions have been determined. A single indent J of each size would suffice to measure, but the optimum number of indentations would be sufficient so that the number of measured dimensions 4 was equal to ten for each group of 2 indentations J.

Podle použité metody zkoušení tvrdosti se měří různé rozměry 4 vtisků J. V případě použití metody zkoušení podle Vickerse se měří obě úhlopříčky vtisků J, u metody podle Knoopa délka delší úhlopříčky a v případě měření tvrdosti podle Brinella dva na sebe kolmé průměry přibližně kruhového vtisků J.Depending on the hardness testing method used, the various dimensions of 4 indentations J are measured. When using the Vickers test method, both diagonals of indentations J are measured, for the Knoop method the longer diagonal and, for Brinell hardness, two perpendicular diameters of approximately circular indentations J .

Při stanovování odchylek měření se postupuje tak, že pracovník nejdříve změří vybrané skupiny 2 vtisků J a naměřené hodnoty si zapisuje. Po odečtení hodnot uvedených v ověřovacím listě od hodnot naměřených získá odchylky svého měření od správných hodnot, které může použít ke korigování svých výsledků při zkoušení tvrdosti.To determine the measurement deviations, the operator first measures selected groups of 2 indentations J and writes down the measured values. After subtracting the values given in the certificate from the measured values, he obtains deviations from his measurements from the correct values, which he can use to correct his hardness test results.

Claims (2)

1. Měrka, zejména pro kontrolu mikroskopů a projekčních zařízení určených pro měření vtisků při zkoušení tvrdosti se vyznačuje tím, že na jedné své ploše (1) je opatřena jednou skupinou (2) vtisků (3) stejné velikosti nebo několika skupinami (2) vtisků (3) stejné velikosti v každé skupině, ale různých velikostí v jednotlivých skupinách, jejichž rozměry (4) jsou známé.1. A dipstick, in particular for the examination of microscopes and projection devices for measuring indentations in hardness testing, characterized in that it has one group (2) of indentations (3) of the same size or several indentation groups (2) on one surface (1). (3) the same size in each group, but different sizes in each group, the dimensions of which (4) are known. 2. Měrka podle bodu 1, vyznačující sé tím, že plocha (1) je rovinná a vyleštěná a skupiny (2) vtisků (3) jsou uspořádány v řadách s pěti vtisky (3) v řadě nebo deseti vtisky (3) v řadě určených pro měření jen jednoho rozměru (4) vtisků (3).2. A dipstick according to claim 1, characterized in that the surface (1) is planar and polished and the groups (2) of the indentations (3) are arranged in rows with five indentations (3) in a row or ten indentations (3) in a row for measuring only one dimension (4) of the indentations (3).
CS954179A 1979-12-28 1979-12-28 Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness CS211002B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS954179A CS211002B1 (en) 1979-12-28 1979-12-28 Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS954179A CS211002B1 (en) 1979-12-28 1979-12-28 Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS211002B1 true CS211002B1 (en) 1982-01-29

Family

ID=5445298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS954179A CS211002B1 (en) 1979-12-28 1979-12-28 Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS211002B1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7877882B2 (en) Thread gauge checker
US20110162434A1 (en) Composite calibration/verification gauge and method of its manufacture
US3763697A (en) Method and apparatus for determining stress
Flack CMM measurement strategies.
Farkas et al. Measurement uncertainty of surface roughness measurement
Hardness Standard test method for microindentation hardness of materials
Younis et al. Averaging effects of a strain gage
JP2001056272A (en) Measuring method of stress enlarging factor
CS211002B1 (en) Gauge, especially for microscope inspection and projection devices designed to measure indentations when testing hardness
CN105841818B (en) A color measurement device and method for beam laser paper and printed matter
KR100949315B1 (en) Brinell hardness indentation measuring instrument calibration standard
US4372152A (en) Brinell hardness measuring system
DE10060974B4 (en) Device for measuring parallelism and alignment of rolls
US2541974A (en) Means for establishing the hardness of metal surfaces
Hardness Standard Test Method for Brinell Hardness of Metallic Materials1
US2172281A (en) Scale
US3587303A (en) Alignment measurement
US3352148A (en) Test bar for hardness testing machines
JPH03245038A (en) Consistency measuring method
Schuetz et al. Calibrating Standard Threaded Gages
DK172962B1 (en) Perforated plate for calibration of optical/mechanical co- ordinate measuring machines
Vandenbemden The Surface Plate
US2091995A (en) Hardness testing device
Instruments Standard Test Method for Brinell Hardness of Metallic Materials1
CN206362269U (en) A kind of jerk value of irregular part examines measurer