CS210480B1 - Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances - Google Patents
Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances Download PDFInfo
- Publication number
- CS210480B1 CS210480B1 CS900579A CS900579A CS210480B1 CS 210480 B1 CS210480 B1 CS 210480B1 CS 900579 A CS900579 A CS 900579A CS 900579 A CS900579 A CS 900579A CS 210480 B1 CS210480 B1 CS 210480B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- resonator
- range
- piezoceramic
- thickness
- suppressed
- Prior art date
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 24
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N manganate Chemical compound [O-][Mn]([O-])(=O)=O LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Description
Vynález se týká piezokeramickéhb rezopátoru kmitajícího tloušťkově podélnými kmity s potlačenými parazitními rezonancemi.!The present invention relates to a piezoceramic resonator oscillating in thickness-longitudinal oscillations with suppressed parasitic resonances.
Dosud používané piezokeramické rezoňátory kmitající tloušťkově podélnými kmity, mají na rozdíl od rezonátorů krystalovj|ch tvary rovnoběžnostěnů či kruhových despk. U těchto rezonátorů je možno dosáhnout pouze širokého spektra kmitu v okolí charakteristické pracovní frekvence. V důsledku rozdílného hmotového zatížení v kmitajícím rezonátorů ve směru kolmém k tloušťce (zejména okrajů), dochází ke vzniku jedlejších rezonančních kmitů, které obetjhě mají rozdílný kmitočet od charakteristického tloušťkového kmitu rezonátorů, avšak s tímto charakteristickým kmitem jsou lézány. To má za následek vznik celé řady Nežádoucích kmitů v blízkosti tohoto charakteristického kmitu rezonátorů, spojený jse snížením jeho činitele jakosti a tedy i se snížením účinnosti využití energie na charakteristické kmitání rezonátorů. iThe piezoceramic resonators used so far, oscillating in thickness and longitudinal oscillations, have, in contrast to resonators, crystal shapes of parallelepipedes or circular plates. With these resonators, only a wide spectrum of oscillations around a characteristic operating frequency can be achieved. Due to the different mass load in the oscillating resonators in a direction perpendicular to the thickness (especially the edges), there are formed more edible resonant oscillations, which generally have a different frequency from the characteristic resonator thickness oscillation, but with this characteristic oscillation. This results in a series of undesirable oscillations in the vicinity of this characteristic resonator oscillation, which is associated with a reduction in its quality factor and hence a reduction in the energy recovery efficiency for the characteristic oscillation of the resonators. and
Výše uvedené nedostatky jsou potlačeíny vynálezem, jehož podstatou je, že jejho tloušťkový profil je zaoblen nebo zkosen a to alespoň na jedné straně.The aforementioned drawbacks are suppressed by the invention, the essence of which is that its thickness profile is rounded or beveled on at least one side.
Výhody vynálezu spočívají v tom, že úpfavou profilu tloušťkového rezonátorů se docílí sjednocení kmitů, generovaných v okja2 jových hmotově méně zatížených částech rezonátorů s kmitočtem charakteristického tloušťkového kmitu rezonátorů. Tím se dosáhne jednak lepšího rozlišení a jednak vyššího činitele jakosti tohoto kmitu, a tedy i vyšší účinnosti využití energie pří provozu piezokeramického rezonátorů.The advantages of the invention reside in the fact that by adjusting the profile of the thickness resonators, the oscillations generated in the less stressed parts of the resonators with the frequency of the characteristic resonator thickness oscillation are uniform. This results in a better resolution and a higher quality factor of this oscillation, and thus a higher energy efficiency in the operation of piezoceramic resonators.
Vynález bude blíže vysvětlen á popsán na sedmi obrázcích, znázorňujících tři možné příklady provedení podle vynálezu, přičemž obr. 1 znázorňuje bokorys zkoseného piezokeramického kruhového rezonátorů, popsaného v příkladu 1, obr. 2a, zachycuje admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovních tloušťkových kmitů tohoto rezonátorů před zkosením a obr. 2b po provedeném zkosení. Obr. 3 znázorňuje bokorys zaobleného piezokeramického kruhového rezonátorů, popsaného v příkladu 2, obr. 4a zachycuje admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovních tloušťkových kmitů tohoto rezonátóru před zaoblením a obr. 4b po provedeném zaoblení. Obr. 5 představuje nárys a obr. 6 bokorys zkoseného piezokeramického obdélníkového rezonátorů, popsaného v příkladu 3, obr. 7a zachycuje admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovních tloušťkových kmitů tohoto rezonátorů před zkosením a obr, 7b po provedeném zkosení.The invention will be explained in more detail in seven figures, showing three possible embodiments of the invention, wherein FIG. 1 shows a side view of the tapered piezo-ceramic ring resonators described in Example 1, FIG. 2a showing the admittance oscillation spectra near the working thickness oscillations of this resonator 2b after the chamfer has been performed. Giant. Fig. 3 shows a side view of the rounded piezo-ceramic ring resonators described in Example 2; Fig. 4a shows the admittance spectra of oscillations near the working thickness oscillations of this resonator before rounding; and Fig. 4b after rounding. Giant. Fig. 5 is a front elevation and Fig. 6 is a side elevational view of the tapered piezoceramic rectangular resonators described in Example 3;
210488210488
Příklad 1Example 1
Kruhový rezonátor, uvedený na obrázku 1, vyrobený ze zpolarizovaného piezokeramického materiálu na bázi pevného roztoku titaničitanu-manganičitanu olovnato-lanthanitého (Pb0,93La0j04) ’(Ti0,9gMn0,02)O3 měí průměr r=12,52 mm, tloušťku 1 mm a úhel zkosení 2 horní plochy 3 = 1,7 stupně a úhel zkosení 2’ spodní plochy 3‘ byl 1,7 stupně.Circular resonator, shown in Figure 1, made of piezoceramic material zpolarizovaného based solid solution titanate-lead-lanthanum manganate (Pb 0, 93La 0j 04) + (Ti 0 0 9gMn 02) O3 MEI diameter r = 12.52 mm , a thickness of 1 mm and a bevel angle 2 of the upper surface 3 = 1.7 degrees and a bevel angle 2 'of the lower surface 3' was 1.7 degrees.
Na obrázku 2a jsou pak uvedena admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovního tloušťkového kmitu piezokeramického rezonátoru před provedenou úpravou tloušťtového profilu 1 a -na obr. 2’ po provedené úpravě tloušťkového profilu 1. Z těchto obrázků (2a, 2a’) je patrný pozitivní účinek provedené úpravy tloušťkového profilu (1) rezonátoru.Figure 2a shows the oscillation admittance spectra in the vicinity of the piezoceramic resonator working thickness oscillation before the thickness profile 1 and in Fig. 2 'after the thickness profile 1 has been adjusted. These figures (2a, 2a') show the positive effect adjusting the resonator thickness profile (1).
Př í k1 a d 2Example 1 and d 2
Kruhový rezonátor, uvedený na obrázku 3, vyrobený ze zpolarizovaného piezokeramického materiálu na bázi pevného roztoku zirkoničitanu-titaničltanu olovnatého štrontnatého (Pbo,92Sro,o8) (Zro^Tio^jCb měl průměr r = 38 mm a tloušťku 6 mm a poloměr zaoblení 4 Horní plochy 3 r = 87 milimetrů do vzdálenosti 3 mm od okraje a poloměr zaoblení 4’ spodní plochy 3’ r = 409 mm do vzdálenosti 7 mm od okraje rezonátoru. Na obrázku 4a jsou uvedena admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovního tloušťkového kmitu piezokeramického rezonátoru před provedením úpravy tloušťkového profilu 1 a po provedené úpravě tloušťkového profilu 1 na obr. 4b. Z těchto obrázků je zřejmé, že provedená úprava vedla k pozitivnímu výsledku. ;Circular resonator, shown in Figure 3, made of zpolarizovaného piezoceramic material based solid solution zirconate titaničltanu lead strontium (Pb about 9 2SR O, O8) (ZrO ^ Thio-JCB has a diameter r = 38 mm and a thickness of 6 mm, and the radius curvature 4 Upper surfaces 3 r = 87 millimeters up to 3 mm from the edge and radius 4 'bottom surface 3' r = 409 mm up to 7 mm from the edge of the resonator Figure 4a shows the admittance spectra of the oscillations near the piezoceramic working thickness the resonator before and after the thickness profile 1 has been adjusted in Fig. 4b, and it is clear from these figures that the adjustment results in a positive result;
Příklad3 .Example3.
Rezonátor obdélníkového tvaru, uvedený na obr. 5 a 6, vyrobený ze zpolarizovaného piezokeramického materiálu na bázi pevného roztoku zirkoničitanu-titaničitanu olovnatého Pb(Zr0,6oTio.4o)03 s příměsí '2% molárních oxidu manganičitého (MnOj měl rozměry 7x4x1 mm. Zkosení 2 horní plochy 3 činilo=10,8 stupně do vzdálenosti 2 mm od okrajů vzorku.Resonator rectangular shape as shown in FIGS. 5 and 6, made of zpolarizovaného piezo-ceramic material, a solid solution of lead zirconate titanate Pb (Zr 0 6oTio.4o) blended with 03 "2 mol% of MnO (MnOj having dimensions 7x4x1 mm. The chamfer 2 of the upper surface 3 was = 10.8 degrees to a distance of 2 mm from the edges of the sample.
Na obrázku 7a jsou uvedena admitanční spektra kmitů v blízkosti pracovního tloušťkového kmitu piezokeramického rezonátoru před provedenou úpravou tloušťkového profilu 1 a na obr. 7b po provedené úpravě tloušťkového profilu 1. Z tohoto obrázku je patrné, že úprava tloušťkového profilu 1 tohoto rezonátoru se rozněž projevila kladně.Figure 7a shows the admittance spectra of oscillations near the working thickness oscillation of the piezoceramic resonator before the adjustment of the thickness profile 1 and Figure 7b after the adjustment of the thickness profile 1. From this figure it can be seen that the adjustment of the thickness profile 1 of this resonator .
Claims (5)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS900579A CS210480B1 (en) | 1979-12-19 | 1979-12-19 | Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS900579A CS210480B1 (en) | 1979-12-19 | 1979-12-19 | Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS210480B1 true CS210480B1 (en) | 1982-01-29 |
Family
ID=5441349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS900579A CS210480B1 (en) | 1979-12-19 | 1979-12-19 | Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS210480B1 (en) |
-
1979
- 1979-12-19 CS CS900579A patent/CS210480B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1166056C (en) | Frequency characteristic regulating method and manufacturing method for edge reflection type surface acoustic wave device | |
| US3363119A (en) | Piezoelectric resonator and method of making same | |
| DE69723148T2 (en) | Piezoelectric resonator and method for its manufacture | |
| DE2131170A1 (en) | WIDTH EXPANSION RESONATOR AND COUPLED WAVE-TYPE FILTER | |
| DE10140396A1 (en) | Piezoelectric ceramic, sintered piezoelectric ceramic compact and piezoelectric ceramic device | |
| WO2015139149A1 (en) | Piezoelectric measuring element for measuring the dynamic and static pressure and/or the temperature | |
| US4076987A (en) | Multiple resonator or filter vibrating in a coupled mode | |
| CS210480B1 (en) | Piezzoceramic rezonator of the by diameter vibrating longitudinal vibrations with suppressed parazite rezonances | |
| EP0884842B1 (en) | Energy-trapped thickness extensional mode piezoelectric resonator | |
| US3401283A (en) | Piezoelectric resonator | |
| DE1541491B2 (en) | PIEZOELECTRIC CERAMIC RESONATOR | |
| US2284753A (en) | Piezoelectric crystal apparatus | |
| EP0884841B1 (en) | Energy-trapped type thickness extensional vibration mode piezoelectric resonator | |
| US2204762A (en) | Piezoelectric crystal apparatus | |
| RU2085024C1 (en) | Quartz-crystal resonator | |
| KR20010021310A (en) | Piezoelectric element | |
| JPS58190115A (en) | Piezoelectric oscillator | |
| DE2126341C (en) | Piezoelectric ceramic resonator | |
| SU291313A1 (en) | PIEZOELECTRIC RESONATOR | |
| JPS57101413A (en) | Surface acoustic wave resonator | |
| DE69109359T2 (en) | High frequency piezoelectric vibrator. | |
| RU240075U1 (en) | Piezoelectric element for temperature-compensated generators | |
| SU1167700A1 (en) | Tuneable piezoelectric vibrator | |
| SU1022293A1 (en) | Piezoelectric resonator | |
| JPS58141021A (en) | Thickness sliding crystal oscillator |