CS207901B1 - Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tloušíky a zařízeni k jeho prováděni - Google Patents

Abstract

Způsob měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušíky a zařízeni k jeho provádění. Způ sob měření plošné hmotnosti a/nebo tlouší— ky pomocí nizkoenergetiokého záření gama spočívá v tom,že záření prochází proměřova ným materiálem umístěným pod zdrojem záření a dopadá na seřlditelnou podložku, kde vzni ká budto charakteristické nebo rozptýlené záření, které opět prochází proměřovaným materiálem a dopadá na detektor, umístěný na stejné straně jako zdroj záření. Výhodou tohoto způsobu je zvýšená citlivost, možnost proměřování plošnýoh hmotností v širším in tervalu a jeho jednoduchost. Zařízení podle vynálezu je uvedeno na obr.l v bočním uspo řádání, seřiditelná podložka je od proměřo vaného materiálu umístěna ve vzdálenosti od 0,1 do 300 mm. Obr.2 ukazuje schematicky geo metrii, v níž byl vynález prakticky proměřen.

Description

(54) Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tloušíky a zařízeni k jeho prováděni

Způsob měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušíky a zařízeni k jeho provádění. Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tlouší— ky pomocí nizkoenergetiokého záření gama spočívá v tom,že záření prochází proměřovaným materiálem umístěným pod zdrojem záření a dopadá na seřlditelnou podložku, kde vzniká budto charakteristické nebo rozptýlené záření, které opět prochází proměřovaným materiálem a dopadá na detektor, umístěný na stejné straně jako zdroj záření. Výhodou tohoto způsobu je zvýšená citlivost, možnost proměřování plošnýoh hmotností v širším intervalu a jeho jednoduchost. Zařízení podle vynálezu je uvedeno na obr.l v bočním uspořádání, seřiditelná podložka je od proměřovaného materiálu umístěna ve vzdálenosti od

0,1 do 300 mm. Obr.2 ukazuje schematicky geometrii, v níž byl vynález prakticky proměřen.

207 901

Vynález se týká způsobu měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušťky proměřovaného materiálu a zařízení pro provádění tohoto způsobu.

Pro proměřování plošné hmotnosti jsou známé různé způsoby měření. Tak například v monografii E.Broda, T.Schónfeld Využití radioaktivity v technice, SNTL, Praha 1959, se uvádí použití odrazové metody pro měřeni plošné hmotnosti, přičemž zdroj zářeni a detektor jsou rovněž na stejné straně. Ve způsobu podle uvedené monografie je uplatňováno zpětně rozptýlené záření od proměřovaného materiálu, které je ve způsobu měření plošné hmotnosti podle předmětu vynálezu odfiltrováno a je nežádoucí.

Dále je například v polském patentovém spise č. 74 502 pro proměřování plošné hmotnosti používáno výhradně záření beta a pro zvýšení efektivnosti sa používá i podložka z materiálu o poměrně vysokém atomovém čísle Z, Na rozdíl od způsobu měření plošné hmothostl podle předmětu vynálezu, kde je uplatněno fotonové záření, ve způsobu proměřování plošné hmotnosti podle polského patentu není odfiltrováno rozptýlené záření od proměřovaného materiálu.

Autorské osvědčení SSSR č, 397 748 týká se způsobu kontroly tloušťky výrobků a povlakových vrstev. Používá pouze záření beta a využívá zpětně rozptýleného záření jak od proměřovaného materiálu tak i případně od podložky.

V autorském osvědčení SSSR č, 463 084 se sice jedná o charakteristické záření, které však nepoužívá výměnnou podložku a navíc, charakteristické záření může vznikat i v proměřovaném materiálu a v daném případě není odfiltrováno. Princip tohoto měření je otázkou elektroniky.

Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tloušťky pomoci nizkoenergetiokého záření gama, emitovaného například radionuklidem Am 241, přičemž záření dopadá na proměřovaný materiál, podle předmětu tohoto vynálezu, se vyznačuje tím, že zářeni prochází proměřovaným materiálem umístěným těsně pod zdrojem zářeni a dopadá na seřldltelnou podložku, ve které vzniká buáto charakteristické záření nebo rozptýlené záření, přičemž toto záření opět prochází proměřovaným materiálem a dopadá na detektor, umístěný na stejné straně jako zdroj záření.

Zařízeni pro provádění způsobu podle předmětu vynálezu, tvořené zdrojem nízkoenergetiokého záření gama, alespoň jedním detektorem pro měření nizkoenergetického zářeni gama, kde zdroj nizkoenergetického záření gama umístěný po straně nebo s výhodou uvnitř alespoň jednoho detektoru pro měření nizkoenergetického záření gama, na stejné straně proměřovaného materiálu, nevýhody stávajících způsobů měření plošné hmotnosti a/nebo tloušťky odstraňuje nebo alespoň podstatně snižuje tím, že alespoň jeden detektor pro měření nízkoenergetiokóho záření gama je opatřen stínícím pouzdrem, například studnového tvaru s přírubou, ve kterém je zdroj nizkoenergetického záření, na protilehlé straně ve vzdálenosti od 0,1 do 300 mm od proměřovaného materiálu je umístěna seřiditelná podložka, přičemž proměřovaný materiál je udržován v konstantní geometrii měření prostředky pro zajištění konstantní polohy, například vodicím! lištami, válečky, kotouči, magnety.

Dalším význakem zařízení pro provádění způsobu podle vynálezu je to, že seřiditelná podložka je z materiálu o atomovém čísle v intervalu od 4 do 25, například z.hliníku.

V takovéto seřiditelné podložce je záření emitované zdrojem nízkoenergetlckého záření gama prošlé proměřovaným materiálem převážně rozptýleno. Jinou možnosti pak je to, že seři— ditelná podložka je z materiálu o atomovém čísle v intervalu od 20 do 92, například z kadmia. V takovéto podložce zářeni emitované zdrojem nízkoenergetlckého záření gama proálé proměřovaným materiálem vybudí charakteristické záření.

Zařízeni pro měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušíky podle způsobu vynálezu může být zdokonaleno tim, že seřiditelná podložka mé tvar pláště kulového vrchlíku, jehož maximální délka sečny je alespoň rovné maximálnímu délkovému rozměru čela detektoru pro měření níz— koenergetiokého záření gama.

Výhodou způsobu měřeni plošné hmotnosti a zařízení k jeho provádění podle předmětu vynálezu je zvýšena citlivost měření oproti jiným dosud známým způsobům. Další výhodou oproti jiným dosud známým způsobům je možnost proměřováni plošných hmotností sledovaného materiálu v širším intervalu, V neposlední řadě pak je výhodou i to, že zařízení podle způ sobu měřeni plošné hmotnosti je poměrně jednoduché.

Zařízení pro měření plošné hmotnosti a/nebo tloušiky podle způsobu vynálezu je znázorněno na připojených výkresech, kde obr.l znázorňuje boění uspořádání zařízeni podle předmětu vynálezu, využívající řešeni podle 6s. autorského osvědčení č. 158095, obr.3 znázorňuje totéž zařízeni a obr.2, kde seřiditelná podložka je tvarována. Obr.4 znázorňuje konkrétní případ průběhu výstupního signálu pro metodu prozařování ve srovnání se způsobem podle vynálezu, obr.5 znázorňuje jiný konkrétní případ průběhu výstupního signálu podle způsobu vynálezu. Obr.6 znázorňuje srovnání měření pomocí prozařovacl metody a rozptylové metody se způsobem podle vynálezu.

Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tloušřky proměřovaného materiálu, například kovových folii a podobně, podle předmětu vynálezu doplňuje a rozšiřuje způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tloušřky podle čs, autorského osvědčeni č. 194935. Uplatňuje způsoby využití charakteristického záření, vybuzeného v seřiditelné podložce 1. a/nebo zpětně rozptýleného záření od seřiditelné podložky 1 a odstraňuje vliv zpětně rozptýleného záření od proměřovaného materiálu 2 a/nebo okolní atmosféry. Zařízení podle způsobu vynálezu uplatňuje volně seřldltelnou podložku í, která je od proměřovaného materiálu 2 umístěna ve vzdálenosti ležící v intervalu od 0,1 do 300 mm.

Nad proměřovaným materiálem 2 je na protilehlé straně seřiditelné podložky 1 detekční jednotka či detekční jednotky Zdroj 4 nízkoenergetlckého zářeni gama, například radionuklid Am 241 je umístěn v krytu Jj, který má za úkol zabránit dopadu přímého záření emitovaného zdrojem U nízkoenergetlckého záření gama na čelo fa detektoru fa pro měření nizkoenergetického záření gama. Kryt £ se zdrojem 4 nízkoenergetlckého záření gama může být umístěn po straně detekční jednotky a/nebo v ose detektoru ěi detektorů 7 pro měřeni nízkoenergetlckého záření gama.

Proměřovaný materiál £ je pomoci prostředku 8 pro zajištěni konstantní polohy vzhledem k detektoru £ pro měření nízkoenergetlckého záření gama veden tak, aby bylo zabráněno geometrickým změnám mezi proměřovaným materiálem 2 a detektorem 7 pro měření nizkoenergetického zářeni gama. Kryt a prostředky fa pro zajištěni konstantní polohy jsou konstruovány tak, aby umožnily dopad charakteristického záření vybuzeného v seřiditelné podložce 1. na čelo 6 detektoru _7 pro měření nízkoanergetického záření gama a naopak zabránily dopadu zpětně rozptýleného zářeni od proměřovaného materiálu na čelo j6 detektoru pro měřeni nízkoanergetického záření gama. Získaný signál v detekční jednotce či detekčních jednotkách 3, který je funkci proměřovaného materiálu 2, je vyhodnocován pomoci vyhodnocovacího zařízení £.

Jiná možnost realizace měření podle předmětu vynálezu, viz obr.3, je odlišné kon strukční řešeni seřiditelné podložky 1, Takto seřiditelná podložka 1 může mít tvar pláště kulového vrchliku o poloměru se středem ve zdroji 4 nízkoenergetického zářeni gama. Poloměr seřiditelné podložky 1 je s výhodou větší než poloměr čela 6 detektoru 7 pro měření nízkoenergetického záření gama a/nebo větší, než je maximální délkový rozměr čela 6 detektoru 2 pro měření nízkoenergetlokóho záření gama. Detekční jednotka nebo jednotky 2 i kryt 2 se zdrojem _4 nízkoenergetického zářeni gama a rovněž tak i prostředky 8 pro zajištění konstantní polohy jsou volně nastavitelné a jejich poloha po konečném nastavení je fixována .

Způsob podle předmětu vynálezu byl prakticky proměřován v geometrii, která je schematicky znázorněna na obr.2, Výsledky měření uvedené na obr.4 byly získány proměřováním měděné fólie ČSN 42 8306.02 jakosti 42 3001.11 . Průběh 10 udává závislost výstupního signálu n v relativních jednotkách na plošné hmotnosti proměřované měděné fólie P /kg.m”^/, získaný klasickou běžně užívanou prozařovací metodou. Průběh 11 udává naměřenou závislost výstupního signálu v relativních jednotkách na plošné hmotnosti prozařované měděné fólie v případě, že bylo vyhodnocováno zpětně rozptýlené zářeni od seřiditelné podložky 1, zhotovené z hliníku, V tomto případě emitované záření ze zdroje b nízkoenergetického záření gama dopadá na proměřovaný materiál 2, ve kterém dochází k částečnému rozptylu tohoto záření. ,

Zpětně rozptýlené záření od proměřovaného materiálu J2 je absorbováno bučí ve vhodně konstruovaném krytu 2 zdroje b nízkoenergetického záření gama a/nebo v prostředcích JB pro zajištění konstantní polohy. Část toku zářeni, která pronikne proměřovaným materiálem ^2 dopadá na seříditelnou podložku _1, Část dopadajícího toku záření na seřiditelnou podložku 1 je zpětně rozptýlena. Část zpětně rozptýleného záření proniká proměřovaným materiálem 2 a dopadá na čelo 6 detektoru _7· Průběh 12, 13. 14 udává závislost výstupního signálu v relativních jednotkách na plošné hmotnosti proměřovaného materiálu 2 v případě, že bylo vyhodnoceno charakteristické zářeni vybuzené v seřiditelné podložce 1, která byla vytvořena z cínu pro průběh 12, z kadmia pro průběh 13 a z molybdenu pro průběh 14.

V tomto případě emitované záření ze zdroje k nízkoenergetického záření gama dopadá na proměřovaný materiál 2, ve kterém dochází k částečnému rozptylu tohoto záření. Zpětně rozptýlené zářeni od proměřovaného materiálu 2 je plně absorbováno buá ve vhodně umístěném krytu 2 zdroje 4 nízkoenergetického záření gama a nebo v prostředcích J5 pro zajištěni konstantní polohy. Část toku záření, která pronikne proměřovaným materiálem 2, dopadá na seřiditelnou podložku 1. Energie dopadajícího záření je s výhodou o málo větší než je budicí energie pharaktevistiekéhó žáření pro daný materiál seřiditelné podložky χ. V tomto případě v materiálu seřiditelné podložky 1 dochází k vybuzeni charakteristického záření, jehož energie pro uvedené materiály může být charakterizována hodnotami uvedenými v ta bulce 1,

Tabulka 1

	energie charakteristického záření čára
cín			25,27 keV
kadmium			23,17 keV
molybden			17,47 keV

Část toku charakteristického záření proniká proměřovaným materiálem 2, kde je částečně absorbováno a část zeslabeného zbytku toku charakteristického záření dopadá na čelo 6 detektoru £, Na výstupu detekční jednotky 2 získaný signál je funkcí plošné hmotnosti a/nebo tloušíky proměřovaného materiálu 2.

Obr.1 znázorňuje boční uspořádáni zařízení, využívajícího nárokovaného způsobu měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušíky proměřovaného materiálu 2, kde dva detektory 2 J^sou umístěny po straně zdroje 4 nizkoenergetického zářeni gama.

Obr.2 znázorňuje zařízení využívající nárokovaného způsobu měřeni plošné hmotnosti a/nebo tloušíky proměřovaného materiálu, kde zdroj U nizkoenergetického záření gama je umístěn symetricky s podélnou osou a v dutině detektoru 2 Pro měřeni nizkoenergetického záření gama podle čs, autorského osvědčení č, 158095.

Obr.3 znázorňuje shodné uspořádání jako na obr.2 s tím,rozdílem, že seřiditelná podložka 1 na protilehlé straně zdroje 4 nizkoenergetického záření gama má tvar pláště kulového vrchlíku , jehož maximální délka sečny je alespoň rovná maximálnímu délkovému rozměru čela 6 detektoru 2 P^ro měření nizkoenergetického záření gama.

Obr,4 znázorňuje konkrétní případ průběhu výstupního signálu n v závislosti na plošné hmotnosti P /kg.m / měděné folie pro metodu prozařóvací znázorněnou průběhem 10 a pro způsob měření podle předmětu tohoto vynálezu, kde průběh li představuje průběh výstupního signálu v závislosti na plošné hmotnosti proměřovaného materiálu v případě, kdy seřiditelná podložka byla zhotovena z hliníku, V tomto případě bylo uplatněno zpětně rozptýlené záření od hliníkové podložky podle způsobu vynálezu. Další průběhy 12, Α3ι l4 představují průběh výstupniho signálu v závislosti na plošné hmotnosti měděné folie v případě, že jako materiál seřiditelné podložky 1 byl uplatněn v průběhu 12 - čin, v průběhu 13 - kadmium v průběhu l4 - molybden. V těchto třech případech podle způsobu tohoto vynálezu bylo využito charakteristické záření vybuzené v uvedených materiálech seřiditelné podložky 1 zářením proniknuvším proměřovaným materiálem 2, emitovaným radionuklidem Am 24l.

Obr.5 představuje konkrétní příklad průběhu výstupního signálu v závislosti na plošné hmotnosti proměřovaného materiálu 2, kdy seřiditelná podložka 1 byla z cínu a zdrojem 4 nizkoenergetického záření gama byl radionuklid Am 24l. Proměřované materiály 2 byly hliník, železo, měď a olovo, V obou případech znázorněných na obr.4 a 5 měření probíhalo v geometrii znázorněné na obr.2 a hodnota výstupního signálu je udávána v relativních jednot kách. V tomto případě pro vyhodnoceni plošné hmotnosti proměřovaného materiálu 2 bylo využíváno charakteristické zářeni, vybuzené v seřiditelné podložce 1, zhotovené z činu. Rádio nuklid Am 241 byl o aktivitě cca 3 . 10® Bq.

Obr.6 znázorňuje výhodu způsobu měření plošné hmotnosti a/nebo tloušřky podle předmětu vynálezu ve srovnání výstupního signálu v závislosti na plošné hmotnosti proměřovaného materiálu 2, to je v konkrétním případě měděné fólie pomocí známé prozařovaci metody průběh l*i, klasicky používané rozptylové metody - průběh 3.6 a způsoby podle předmětu tohoto vynálezu, to je využití zpětně rozptýleného záření od seřiditelné podložky 1, v uvedeném případě zhotovené z hliníku - průběh 17 a využití charakteristického záření, vybuzenéh v seřiditelné podložce 1, v daném případě z cínu - průběh 18.

Výhodou způsobu měření podle předmětu vynálezu se jeví ta skutečnost, že při použití zdroje tiizkoenergetického zářeni gama, například radionuklidu Am 24l je možno dosáhnout značného rozšířeni intervalu měřených plošných hmotností a/nebo tlouátěk proměřovaného materiálu 2 směrem k nižším hodnotám těchto plošných hmotností a/nebo tlouštěk. Navíc při po užití způsobu měření podle předmětu vynálezu je možno dosáhnout poměrně vysoké citlivosti měření, to znamená při změně plošné hmotnosti o ůp je možno dosáhnout poměrně vysokých změn výstupního signálu Δη, jak je znázorněno na obr.6.

Na základě požadavků na měření plošné hmotnosti v daném intervalu, například mědě ných fólii, je možno rozhodnout o vhodném způsobu měření. Je-li třeba proměřovat plošnou hmotnost měděné folie v intervalu například od 0,2 až 1 kg.m , pak je možno použit způsob podle předmětu vynálezu, využívající charakteristického zářeni, například vybuzeného v seřiditelné podložce 1 z kadmia a jako zdroje 4 nízkoenergetického záření gama je možno použit radionuklid Am 241. V uvedeném případě lze ovšem rovněž použit s úspěchem klasickou , běžně používanou prozařovaci uiotodu, využívající záření beta a nebo metodu, využívající zpětně rozptýlené záření bota. Způsob podle vynálezu má však nad těmito známými klasickými metodami některé výhody, jako například to, že navrhovaný zdroj 4 nízkoenergetického zá ření gama, to je radionuklid Am 241, má značný poločas rozpadu, což je 458 let. Emitované záření gama tímto zdrojem je rovněž snadno odstinitelné, což je z hygienického hlediska důležité.

Před započetím měření detekční jednotka nebo detekční jednotky se nastaví pomocí pohybového zařízení do takové polohy vzhledem k proměřovanému materiálu 2, to je měděné fólii,aby bylo zabezpečeno pronikáni zpětně rozptýleného záření'proměřovaného materiálu 2 na čelo detektoru 7. Prostředky 8 zabezpečující konstantní polohu mohou být pevně spojeny s detekční jednotkou nebo detekčními jednotkami 3 a v případě, že spojeny nejsou, je nezbytné je nastavit tak, aby byly splněny optimální podmínky měření, to je, aby rovněž umožnily odstínění zpětně rozptýleného záření od čela detektoru £. Seřiditelné podložka 1 se nastaví s výhodou na takovou vzdálenost od proměřovaného materiálu 2, aby výstupní signál měl maximální hodnotu.

Zařízeni podle předmětu vynálezu může sestávat z jedné nebo více detekčních jednotek a zdroje 4 nízkoenergetického záření gama umístěného v pouzdru Pouzdro jj Je umístěno z boku detekčních jednotek viz obr.l. Další varianta provedení umožňuje umístit pouzdro £ se zdrojem k nizkoenergetického zářeni gama s výhodou do dutiny v ose detektoru viz například čs. autorské osvědčeni č. 158095.

Oba výše uvedené příklady řešení zařízení vytvořeného tak, aby využívalo způsob vynálezu, mohou být rozšířena ještě o jiná konstrukční řešeni, například použitím seřiditelné podložky X, vytvořené ve tvaru pláště kulového vrohlíku, jehož maximální délka sečny je alespoň rovná maximálnímu délkovému rozměru čela 6 detektoru £ pro měřeni nízkoeněrgetického zářeni gama. Tento tvar je znázorněn na obr.3.

Výhoda způsobu a zařízeni podle vynálezu se jeví hlavně v tom, že dopadající záření na proměřovaný materiál 2 je částečně tímto materiálem absorbováno, to znamená, že čím je větší plošná hmotnost a /nebo tloušíka proměřovaného materiálu J2, tím menší část toku částic dopadá na seřiditelnou podložku 1. V seřiditelně podložce 1 vybuzený tok charakteristického záření nebo tok zpětně rozptýleného záření od seřiditelně podložky 1 klesají s růstem plošné hmotnosti a/nebo tloušťky proměřovaného materiálu 2 a navíc absorpce charakteristického nebo zpětně rozptýleného záření pronikající proměřovaným materiálem 2 je rovněž závislá na plošné hmotností a/nebo tlouštce proměřovaného materiálu 2. To znamená, že výstupní signál bude značně klesat s rostoucí plošnou hmotností a/nebo , tloušíkou proměřovaného materiálu £. Naopak tok zpětně rozptýleného záření od proměřovaného materiálu £ se zvětšující se plošnou hmotností a/nebo tloušťkou vzrůstá a to až do nasycené vrstvy proměřovaného materiálu 2. Tento tok zpětně rozptýleného záření od proměřovaného materiálu 2 je pro způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tlouštky pomocí nizkoenergetického záření gama podle předmětu vynálezu nežádoucí a ovlivňoval by nepříznivě dosažené výsledky. Zařízeni pro měření plošné hmotnosti a/nebo tlouštky podle způsobu vynálezu tento nežádoucí tok zpětně rozptýleného záření od proměřovaného materiálu 2 téměř zcela odstraňuje, čímž závislost výstupního signálu na plošné hmotnosti a/nebo tloušlce má povahu jako při prozařovací metodě měření.

Využití způsobu měření plošné hmotnosti a/nebo tloušťky a zařízení k jeho prováděni podle předmětu vynálezu může nalézt uplatnění při výrobě hliníkových, měděných a jiných fólii, papíru a podobně,

Claims (5)

PŘEDMĚT VYNÁLEZU

1, Způsob měření plošné hmotnosti a/nebo tlouštky pomocí nizkoenergetického zářeni gama, emitovaného například radlonuklidem Am 241, přičemž záření dopadá na proměřovaný materiál, vyznačující se tím, že zářeni prochází proměřovaným materiálem umístěným těsně pod zdrojem záření a dopadá na seřiditelnou podložku, ve které vzniká buňto charakteristické zářeni nebo rozptýlené záření, přičemž toto záření opět prochází proměřovaným materiálem a dopadá na detektor, umístěný na stejné straně jako zdroj záření, g, Zařízení pro prováděni způsobu podle bodu 1, tvořené zdrojem nizkoenergetického zářeni gama, alespoň jedním detektorem pro měřeni nizkoenergetického záření gama, přičemž zdroj pízkoenergetiokého zářeni gama je umístěný na straně nebo s výhodou uvnitř alespoň jed(10(10 detektoru pro měřeni nizkoenergetického zářeni gama, na stejné straně proměřovaného materiálu, vyznačující se tím, že alespoň jeden detektor (7) pro měření nízkoenerge tického záření gama je opatřen stínícím pouzdrem (5), například studnového tvaru s pří rubou, ve kterém Je zdroj (4) nízkoenergetiokého záření gama, na protilehlé straně ve vzdálenosti od 0,1 do 300 mm od proměřovaného materiálu (

2) je umístěna seřidltelná podložažka (l), přičemž proměřovaný matařiál (2) Je fixován v konstantní geometrii měření prostředky (8) pro zajiětění konstantní polohy.

3. Zařízení podle bodu 2, vyznačující se tím, že seřidltelná podložka (l) je z materiálu o atomovém čísle v intervalu od 4 do 25, například z hliníku.

4. Zařízení podle bodu 2, vyznačující se tím, že seřidltelná podložka (l) je z materiálu o atomovém čísle v intervalu od 20 do 92, například z kadmia.

5. Zařízení podle bodu 2, vyznačujíoí se tím, že seřidltelná podložka (i) má tvar pláětě kulového vrchlíku, jehož maximální délka sečny je alespoň rovna maximálnímu délkovému rozměru čela (6) detektoru (7) pro měření nízkoenergetického záření gama.