CS201706B1 - Connection for determination of the exposition time - Google Patents
Connection for determination of the exposition time Download PDFInfo
- Publication number
- CS201706B1 CS201706B1 CS342078A CS342078A CS201706B1 CS 201706 B1 CS201706 B1 CS 201706B1 CS 342078 A CS342078 A CS 342078A CS 342078 A CS342078 A CS 342078A CS 201706 B1 CS201706 B1 CS 201706B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- voltage
- screen
- change
- resistor
- differential amplifier
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
Vynález se týká zapojení ke stanovení expoziční doby pro fotografické snímání objektů pozorovaných na obrazovce rastrovacího elektronového mikroskopu.The invention relates to a circuit for determining the exposure time for photographically scanning objects observed on a scanning electron microscope screen.
Zhotovení fotografického snímku pozorovaného preparátu je jednou ze základních operací u rastrovacích elektronových mikroskopů. Snímek se získá fotografickým snímáním z obrazovky rastrovacího elektronového mikroskopu.Taking a photographic image of the observed specimen is one of the basic operations of scanning electron microscopes. The image is obtained by photographic scanning from a scanning electron microscope screen.
Na správnou expozici má vliv řada činitelů, jako například jas stínítka obrazovky, rychlost přeběhu rastrování, citlivost fotografického materiálu, použitá clona fotografického aparátu aj.The correct exposure is influenced by a number of factors, such as the brightness of the screen, the speed of scanning, the sensitivity of the photographic material, the aperture of the camera, etc.
Snímání se proto provádí při určitých rychlostech rastrování, při konstantní cloně fotografického aparátu, čímž je určen čas expozice. Jako proměnný zůstává jas stínítka obrazovky, popřípadě kontrast zobrazovaného místa.Shooting is therefore performed at certain scanning speeds, at a constant aperture of the camera, which determines the exposure time. The brightness of the screen or the contrast of the displayed place remains as a variable.
Pro správné určení expozice je potom třeba nastavit vhodnou hodnotu jasu obrazovky. Za tím účelem je třeba zajistit objektivní měření jasu obrazovky.You need to set the appropriate brightness of the screen to determine the exposure correctly. For this purpose, objective measurement of screen brightness must be ensured.
U rastrovacích elektronových mikroskopů se používají různé způsoby měření jasu obrazovky. Například se měří stejnosměrná úroveň modulačního signálu obrazovky a podle ní se nastavuje hodnota při expozici, nebo se měří přímo napětí mřížky nebo katody obrazovky. Je-li přiváděn signál do mřížky obrazovky a jas se mění změnou potenciálu katody, nelze těchto způsobů použít.Scanning electron microscopes use different ways of measuring screen brightness. For example, the DC level of the screen modulation signal is measured to adjust the exposure value, or the screen grid or cathode voltage is measured directly. If a signal is applied to the screen grid and the brightness changes by changing the cathode potential, these methods cannot be used.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení ke stanovení expoziční doby pro fotografické snímání objektů pozorovaných na obrazovce rastrovacího elektronového mikroskopu. Podstatou zapojení je, že ke katodě obrazovky je paralelně ke zdroji stejnosměrného napětí zapojen přes dělič sestávající ze dvou odporů zdroj kompenzačního napětí, přičemž střed děliče mezi oběma odpory je spojen s ínvertujícím vstupem rozdílového zesilovače, jehož neinvertující vstup je spojen přes třetí odpor s uzlem s kondenzátorem a odporem, které jsou druhým vývodem spojeny se zemníín vodičem a se čtvrtým odporem spojeným s modulační elektrodou obrazovky, zatímco výstup rozdílového zesilovače je spojen přes obvod pro úpravu průběhu měřidla s ručkovým měřidlem.These prior disadvantages are eliminated by the wiring to determine the exposure time for photographic imaging of objects observed on the scanning electron microscope screen. The principle of the connection is that a compensating voltage source is connected to the cathode of the screen parallel to the DC voltage source via a divider consisting of two resistors, the center of the divider between the two resistors is connected to the inverting input of the differential amplifier. a capacitor and a resistor which are connected via a second terminal to a grounding conductor and a fourth resistor connected to a screen modulation electrode, while the output of the differential amplifier is coupled via a gauge adjustment circuit to a pointer meter.
Předností zapojení je obvodová jednoduchost zapojení s minimálním počtem součástek, snadná reprodukovatelnost při výrobě i při nastavování expoziční doby, které je prakticky nezávislé na změně stejnosměrné úrovně modulačního napětí, popřípadě na změně potenciálu katody.The advantage of the circuit is the circuit simplicity with a minimum number of components, easy reproducibility during production and setting the exposure time, which is virtually independent of changing the DC level of the modulation voltage, or the change of the cathode potential.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, na kterém je uveden příklad zapojení. Obrazovka 1 je katodou spojena se zdrojem 2 stejnosměrného napětí Uj. Zdroj 6 kompenzačního napětí je spojen v sérii přes dělič ze dvou odporů Ri, R2 s katodou obrazovky 1. Modulační elektroda, na kterou je připojeno modulační napětí U2, je spojena přes čtvrtý odpor R4 do uzlu s kondenzátorem Ci odporem R5 a se třetím odporem R3, který je připojen k neinvertujícímu vstupu rozdílového zesilovače 3. Jeho invertuj íeí vstup je spojen se středem děliče mezi prvním a druhým odporem Ri, R2. Výstup rozdílového zesilovače 3 je spojen přes obvod 4 pro úpravu průběhu měřidla s ručkovým měřidlem 5. Výsledné napětí Ug je na výstupu rozdílového zesilovače 3.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention is illustrated in more detail by the accompanying drawing, in which an example of connection is shown. The screen 1 is connected to the cathode 2 by a cathode DC voltage U1. The compensating voltage source 6 is connected in series via a divider of two resistors R1, R2 to the cathode of the screen 1. The modulation electrode to which the modulation voltage U 2 is connected is connected via a fourth resistor R4 to a node with capacitor Ci by resistor R5 and a third resistor. R3, which is connected to the noninverting input of the differential amplifier 3. Its IEI inverting input is connected with the center divider between the first and second resistance R R 2nd The output of the differential amplifier 3 is connected via the meter adjustment circuit 4 to the pointer meter 5. The resulting voltage Ug is at the output of the differential amplifier 3.
Zapojení pracuje za provozu následovně. Napětí Ui na katodě obrazovky 1 je přiváděno přes dělič sestávající z prvního a druhého odporu R| a R2 ke vstupu rozdílového zesilovače 3. Zdroj 6 kompenzačního napětí zapojený s opačnou polaritou než zdroj 2 stejnosměrného napětí zajišťuje, aby napětí naThe wiring works as follows during operation. The voltage Ui on the cathode of the screen 1 is applied through a divider consisting of the first and second resistors R1 and R 2 to the differential amplifier 3 input. The compensating voltage source 6 connected in opposite polarity to the DC voltage source 2 ensures that the voltage at the
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS342078A CS201706B1 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Connection for determination of the exposition time |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS342078A CS201706B1 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Connection for determination of the exposition time |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS201706B1 true CS201706B1 (en) | 1980-11-28 |
Family
ID=5374208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS342078A CS201706B1 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | Connection for determination of the exposition time |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS201706B1 (en) |
-
1978
- 1978-05-26 CS CS342078A patent/CS201706B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2274158A (en) | Timing device and method | |
| US2455116A (en) | Method of and apparatus for measuring the color quality of light | |
| US3771877A (en) | Densitometer incorporating optical attenuator with direct readout of optical density | |
| US2641158A (en) | Graininess meter | |
| US2432826A (en) | Differential vacuum tube voltmeter | |
| US2755704A (en) | Photographic exposure-determining apparatus | |
| US3572939A (en) | Photoelectric lens bench and method for testing optical systems | |
| US2282741A (en) | Apparatus for measurement | |
| CS201706B1 (en) | Connection for determination of the exposition time | |
| US3814520A (en) | Method of, and apparatus for gauging, inspecting or measuring physical properties of objects | |
| US3765778A (en) | Digital optical density for measuring the difference in optical density between an absorber of known density and a sample absorber | |
| NL8100738A (en) | METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING IONS IN SOLUTION | |
| GB625023A (en) | Improvements in or relating to wheatstone bridge measuring and computing devices | |
| US3856417A (en) | Photographic color densitometer | |
| US1762748A (en) | Photo-electric photometer | |
| Hill | A photoelectric relay for galvanometer measurements | |
| Chamberlain | 6—A GENERAL-PURPOSE PHOTOELECTRIC PHOTOMETER AND ITS USE IN TEXTILE LABORATORIES | |
| Gabriel | Some techniques for recording and measuring time-resolved spectra | |
| US2016469A (en) | Exposure meter | |
| US1907105A (en) | Magnetic testing | |
| USRE26100E (en) | Cahn electrical balance | |
| US3521962A (en) | Light responsive and measuring device | |
| Edgar | A new photoelectric hysteresigraph | |
| US3680024A (en) | Light responsive and measuring device | |
| US2879394A (en) | Exposure meter for electron microscopes |