CS201706B1 - Zapojení ke stanovení expoziční doby - Google Patents

Zapojení ke stanovení expoziční doby Download PDF

Info

Publication number
CS201706B1
CS201706B1 CS342078A CS342078A CS201706B1 CS 201706 B1 CS201706 B1 CS 201706B1 CS 342078 A CS342078 A CS 342078A CS 342078 A CS342078 A CS 342078A CS 201706 B1 CS201706 B1 CS 201706B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
voltage
screen
change
resistor
differential amplifier
Prior art date
Application number
CS342078A
Other languages
English (en)
Inventor
Miroslav Chaloupka
Original Assignee
Miroslav Chaloupka
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miroslav Chaloupka filed Critical Miroslav Chaloupka
Priority to CS342078A priority Critical patent/CS201706B1/cs
Publication of CS201706B1 publication Critical patent/CS201706B1/cs

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

Vynález se týká zapojení ke stanovení expoziční doby pro fotografické snímání objektů pozorovaných na obrazovce rastrovacího elektronového mikroskopu.
Zhotovení fotografického snímku pozorovaného preparátu je jednou ze základních operací u rastrovacích elektronových mikroskopů. Snímek se získá fotografickým snímáním z obrazovky rastrovacího elektronového mikroskopu.
Na správnou expozici má vliv řada činitelů, jako například jas stínítka obrazovky, rychlost přeběhu rastrování, citlivost fotografického materiálu, použitá clona fotografického aparátu aj.
Snímání se proto provádí při určitých rychlostech rastrování, při konstantní cloně fotografického aparátu, čímž je určen čas expozice. Jako proměnný zůstává jas stínítka obrazovky, popřípadě kontrast zobrazovaného místa.
Pro správné určení expozice je potom třeba nastavit vhodnou hodnotu jasu obrazovky. Za tím účelem je třeba zajistit objektivní měření jasu obrazovky.
U rastrovacích elektronových mikroskopů se používají různé způsoby měření jasu obrazovky. Například se měří stejnosměrná úroveň modulačního signálu obrazovky a podle ní se nastavuje hodnota při expozici, nebo se měří přímo napětí mřížky nebo katody obrazovky. Je-li přiváděn signál do mřížky obrazovky a jas se mění změnou potenciálu katody, nelze těchto způsobů použít.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení ke stanovení expoziční doby pro fotografické snímání objektů pozorovaných na obrazovce rastrovacího elektronového mikroskopu. Podstatou zapojení je, že ke katodě obrazovky je paralelně ke zdroji stejnosměrného napětí zapojen přes dělič sestávající ze dvou odporů zdroj kompenzačního napětí, přičemž střed děliče mezi oběma odpory je spojen s ínvertujícím vstupem rozdílového zesilovače, jehož neinvertující vstup je spojen přes třetí odpor s uzlem s kondenzátorem a odporem, které jsou druhým vývodem spojeny se zemníín vodičem a se čtvrtým odporem spojeným s modulační elektrodou obrazovky, zatímco výstup rozdílového zesilovače je spojen přes obvod pro úpravu průběhu měřidla s ručkovým měřidlem.
Předností zapojení je obvodová jednoduchost zapojení s minimálním počtem součástek, snadná reprodukovatelnost při výrobě i při nastavování expoziční doby, které je prakticky nezávislé na změně stejnosměrné úrovně modulačního napětí, popřípadě na změně potenciálu katody.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, na kterém je uveden příklad zapojení. Obrazovka 1 je katodou spojena se zdrojem 2 stejnosměrného napětí Uj. Zdroj 6 kompenzačního napětí je spojen v sérii přes dělič ze dvou odporů Ri, R2 s katodou obrazovky 1. Modulační elektroda, na kterou je připojeno modulační napětí U2, je spojena přes čtvrtý odpor R4 do uzlu s kondenzátorem Ci odporem R5 a se třetím odporem R3, který je připojen k neinvertujícímu vstupu rozdílového zesilovače 3. Jeho invertuj íeí vstup je spojen se středem děliče mezi prvním a druhým odporem Ri, R2. Výstup rozdílového zesilovače 3 je spojen přes obvod 4 pro úpravu průběhu měřidla s ručkovým měřidlem 5. Výsledné napětí Ug je na výstupu rozdílového zesilovače 3.
Zapojení pracuje za provozu následovně. Napětí Ui na katodě obrazovky 1 je přiváděno přes dělič sestávající z prvního a druhého odporu R| a R2 ke vstupu rozdílového zesilovače 3. Zdroj 6 kompenzačního napětí zapojený s opačnou polaritou než zdroj 2 stejnosměrného napětí zajišťuje, aby napětí na

Claims (1)

  1. pRedmEt
    Zapojení ke stanovení expoziční doby pro fotografické snímání objektů pozorovaných na obrazovce rastrovacího elektronového mikroskopu, vyznačené tím, že ke katodě obrazovky (1) je paralelně ke zdroji (2) stejnosměrného napětí zapojen, přes dělič sestávající ze dvou odporů (Ri, R2), zdroj (6) kompenzačního napětí, přičemž střed děliče je spojen s invertujícím vstupem rozdílového invertuj ícím vstupu rozdílového zesilovače 3 se blížilo nulové hodnotě. Modulační napětí U2 je přiváděno k neinvertujícímu vstupu rozdílového zesilovače 3 přes dolnofrekvenční filtr tvořený třetím a čtvrtým odporem R3, R4 a kondenzátorem Cp Pro přenos napětí platí vztah:
    El= _ Uj
    Uj U2
    Požadovaný přenos napětí se nastaví výběrem hodnot odporů Ri, R2, R„ R5. Změní-li se napětí U4 nebo U2, popřípadě obě napětí současně, dojde ke změně výstupního napětí U;j, kterou zaznamenává přes obvod 4 pro úpravu .průběhu měřidla ručkové měřidlo 5. Tyto změny jsou přímo úměrné změnám jasu obrazovky 1. Je-li změna obou napětí Ui a U2 stejně veliká a se souhlasnou polaritou, nedojde ke změně jasu obrazovky ani ke změně napětí U3, protože potenciál mezi katodou a modulační elektrodou je konstantní. Obvod 4 pro úpravu průběhu měřidla upravuje průběh stupnice a současně chrání ručkové měřidlo 5 před přetížením.
    VYNÁLEZU zesilovače (3), jehož neinvertující vstup je spojen přes třetí odpor (R3) jednak s kondenzátorem (Q) a odporem (Ř5), které jsou druhým vývodem spojeny se zemním vodičem, a jednak se čtvrtým odporem (R4) spojeným s modulační elektrodou obrazovky (1), zatímco výstup rozdílového zesilovače (3) je spojen přes obvod (4) pro úpravu průběhu měřidla s ručkovým měřidlem (5).
    1 výkres
CS342078A 1978-05-26 1978-05-26 Zapojení ke stanovení expoziční doby CS201706B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS342078A CS201706B1 (cs) 1978-05-26 1978-05-26 Zapojení ke stanovení expoziční doby

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS342078A CS201706B1 (cs) 1978-05-26 1978-05-26 Zapojení ke stanovení expoziční doby

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS201706B1 true CS201706B1 (cs) 1980-11-28

Family

ID=5374208

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS342078A CS201706B1 (cs) 1978-05-26 1978-05-26 Zapojení ke stanovení expoziční doby

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS201706B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2274158A (en) Timing device and method
US2455116A (en) Method of and apparatus for measuring the color quality of light
US3771877A (en) Densitometer incorporating optical attenuator with direct readout of optical density
US2641158A (en) Graininess meter
US2432826A (en) Differential vacuum tube voltmeter
US2755704A (en) Photographic exposure-determining apparatus
US3572939A (en) Photoelectric lens bench and method for testing optical systems
US2282741A (en) Apparatus for measurement
CS201706B1 (cs) Zapojení ke stanovení expoziční doby
US3814520A (en) Method of, and apparatus for gauging, inspecting or measuring physical properties of objects
US3765778A (en) Digital optical density for measuring the difference in optical density between an absorber of known density and a sample absorber
NL8100738A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van ionen in oplossing.
GB625023A (en) Improvements in or relating to wheatstone bridge measuring and computing devices
US3856417A (en) Photographic color densitometer
US1762748A (en) Photo-electric photometer
Hill A photoelectric relay for galvanometer measurements
Chamberlain 6—A GENERAL-PURPOSE PHOTOELECTRIC PHOTOMETER AND ITS USE IN TEXTILE LABORATORIES
Gabriel Some techniques for recording and measuring time-resolved spectra
US2016469A (en) Exposure meter
US1907105A (en) Magnetic testing
USRE26100E (en) Cahn electrical balance
US3521962A (en) Light responsive and measuring device
Edgar A new photoelectric hysteresigraph
US3680024A (en) Light responsive and measuring device
US2879394A (en) Exposure meter for electron microscopes