CS198570B1 - Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů - Google Patents

Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů Download PDF

Info

Publication number
CS198570B1
CS198570B1 CS825277A CS825277A CS198570B1 CS 198570 B1 CS198570 B1 CS 198570B1 CS 825277 A CS825277 A CS 825277A CS 825277 A CS825277 A CS 825277A CS 198570 B1 CS198570 B1 CS 198570B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
analyzer
specimen
manipulator
axis
auger
Prior art date
Application number
CS825277A
Other languages
English (en)
Inventor
Armin Delong
Vladimir Kolarik
Michal Lenc
Original Assignee
Armin Delong
Vladimir Kolarik
Michal Lenc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Armin Delong, Vladimir Kolarik, Michal Lenc filed Critical Armin Delong
Priority to CS825277A priority Critical patent/CS198570B1/cs
Publication of CS198570B1 publication Critical patent/CS198570B1/cs

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Vynález se týká elektrostatického analyzátoru Augerovýoh elektronů pro analýzu pozorovaných preparátů v autoemiením rastrovacím elektronovém mikroskopu.
Komory preparátu autoemisních elektronovýoh mikroskopů vybavených analyzátorem Augerových elektronů jsou koncipovány jako ultravakuová nádoby vybavená po obvodě otvory pro zavedení jednotlivých detektorů do blízkosti preparátu. Jedna z čelních stran nádoby js uzavřena pólovým nástavcem objektivu, na jehož optioké ose je v pracovní vzdálenosti umístěn preparát nesený manipulátorem. Ve stávajících přístrojích je vesměs jako analyzátoru Augerovýoh elektronů použito válcového elektrostatického analyzátoru, jehož podélná osa je kolmá k optické ose mikroskopu. Vzhledem ke tvaru a rozměrům analyzátoru a částečně i k rozměrům manipulátoru je při měření spekter Augerovýoh elektronů nutné přemístit studovaný preparát směrěm od objektivu do průsečíku podélné osy analyzátoru a optioké osy mikroskopu. Tim vzrůstá pracovní vzdálenost, čímž se snižuje rozlišovací schopnost přístroje, poněvadž optimální pracovní vzdálenost rastrovacího elektronového mikroskopu, na kterou je objektiv konstruován, je zhruba 10 mm. V poloze, ve které je preparát analyzován, není tedy možno dosáhnout zobrazení se Špičkovým rozlišením, čímž se zároveň snižuje rozliěovaoí schopnost zobrazení objektivu ve vybraném prvku pomocí Augerovýoh elektronů.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů pro analýzu pozorovaných preparátů v autoemisním rastrovacím elektronovém mikroskopu, jehož
198 570
198 570 podstatou je, že těleso analyzátoru tvoří kruhová výseč váloového elektrostatického analyzátoru v rozmezí 90 až 180° a je upevněno v komoře preparátu mezi pólovým náetavoem objektivu a manipulátorem s držákem preparátu, přičemž podélná osa tělesa analyzátoru svírá s optiokou osou mikroskopu úhel 45 až 75°·
Předností vynálezu je odstranění nevýhodné polohy preparátu při analytiokýoh praoeoh. Preparát zde zůstává v praoovní poloze nutné pro zobrazování s vysokým rozliSením. Pracovní vzdálenost jen několik mm. Pro zvýšení signálu Augerových elektronů je možno navíc v této poloze preparát naklonit směrem k analyzátoru Augerových elektronů až o 45°. V principu tedy toto uspořádání dovoluje dosáhnout stejné rozlišení v obraze získaném pomocí Augerových elektronů, jako je špičkové rozlišení například v režimu zobrazování pomocí sekundárníoh nebo prošlých elektronů.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, kde na orb. 1 je naznačen osový řez funkční části komory preparátu s pólovým nástavoem a manipulátorem preparátu, který je orientován svojí osou náklonu kolmo k ose elektronového mikroskopu, na obr. 2 je tentýž osový řez, avšak pozorovaný preparát je nakloněn vzhledem k ose elektronového mikroskopu o 45°.
Uspořádání analyzátoru Augerových elektronů v komoře preparátu elektronového mikroskopu je znázorněno na obr. 1 a 2. Pólový nástavec objektivu a manipulátor 2 8 držákem preparátu J leží na optloké ose x elektronového mikroskopu. Těleso 2 analyzátoru je umístěno v prostoru mezi pólovým nástavoem i objektivu a manipulátorem £. Manipulátor 2 s držákem preparátu J je naklonitelný vůči optloké ose x elektronového mikroskopu kolem osy y kolmé na osu x, přičemž osa y proohází pozorovaným bodem objektu, tělesem £ analyzátoru proohází analyzovaný svazek £ Augerových elektronů. Komora preparátu a její boční příruba není pro přehlednost na výkrese naznačena.
V navrhovaném uspořádání se využívá pouze části elektrostatického analyzátoru, jehož těleso i má tvar kruhové výseče v rozmezí 90 až 180°, Podélná osa tělesa 2 analyzátoru svírá s optickou osou x mikroskopu optimální úhel 60°, oož je úhel optimální.
Průsečík těchto os, který je současně místem zdroje analyzátoru a pozorovaným místek objektu, je vzdálen jen několik mm od pólového nástavce i objektivu, oož je optimální praoovní vzdálenost mikroskopu. Těleso £ analyzátoru je upevněno na boční přírubě komory preparátu a je ve všeoh směrech centrovatelné za provozu. Manipulátor 2 8 držákem J preparátu vyplňuje v základní poloze při kolmém dopadu primárních elektronů na objekt, prostor, získaný využitím pouze třetinové kruhové výseče tělesa 4 analyzátoru. Prostor nutný pro pohyb držáku 2 8 preparátem je vymezen vnitřním průměrem uzemněného válce tělesa 4 analyzátoru.
V základní poloze držáku 2 8 preparátem při kolmém dopadu primárních elektronů na rovinu povrohu preparátu se využívá jen části vstupního úhlu analyzátoru Augerových elektronů. Po přiklonění držáku 2 8 preparátem o 45° směrem k tělesu 4 analyzátoru, jak patrno na obr. 2, je využit celý vstupní úhel použité kruhové výseče analyzátoru. Měrný signál je tedy pouze například dva až třikrát slabší než v případě použití celého rotačně symetrického analyzátoru.

Claims (1)

  1. Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů pro analýzu pozorovaných preparátů v autoemiením rastrovacím elektronovém mikroskopu, vyznačený tím, že těleso (4) analyzátoru tvoří kruhová výseč válcového elektrostatického analyzátoru v rozmezí 90 až 180° a je upevněno v komoře preparátu mezi pólovým nástavcem (1) objektivu a manipulátorem (2) s držákem (3) preparátu, přičemž podélná osa tělesa (4) analyzátoru svírá s optickou osou mikroskopu úhel v rozmezí 45 až 90°.
CS825277A 1977-12-09 1977-12-09 Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů CS198570B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS825277A CS198570B1 (cs) 1977-12-09 1977-12-09 Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS825277A CS198570B1 (cs) 1977-12-09 1977-12-09 Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS198570B1 true CS198570B1 (cs) 1980-06-30

Family

ID=5432855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS825277A CS198570B1 (cs) 1977-12-09 1977-12-09 Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS198570B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3885158A (en) Specimen block and specimen block holder
US4330208A (en) Process and apparatus for regulating the impact of a light beam on a target
US5153426A (en) Radiation meter for radiation emerging from an optical fiber with a diffusely reflecting body and cavity
JP6319462B2 (ja) Atr測定用対物光学系
Yates et al. Small area x‐ray photoelectron spectroscopy
GB2197499A (en) High spatial and time resolution measuring apparatus
RU2237984C1 (ru) Лазерный центратор для рентгеновского излучателя
CS198570B1 (cs) Elektrostatický analyzátor Augerovýoh elektronů
US3612867A (en) X-ray television microscope
CN107478332B (zh) 一种环形光束共聚焦纵向高分辨成像装置
US4907882A (en) Surveying instrument for automatically taking measurements
US5440383A (en) Phase detection deflectometer-type optical device having a large measuring range
KR100689308B1 (ko) 엑스선 현미경
US3107297A (en) Electron probe X-ray analyzer wherein the emitted X-radiation passes through the objective lens
CS267642B1 (en) Portable rastering electron microscope
US2514791A (en) X-ray collimating system
US2733634A (en) Ophthalmometer
US3033987A (en) Electronic displacement follower apparatus
Nixon X-ray microscopy
US3209146A (en) Apparatus for adjusting position of a sample for electron probe x-ray microanalyzer
GB847264A (en) Improvements relating to x-ray apparatus
US2347066A (en) Spectrophotometer accessory
US4996483A (en) Spinning angle optical calibration apparatus
SU805445A1 (ru) Камера объектов дл электронно-зондо-ВОгО уСТРОйСТВА
RU2242845C1 (ru) Лазерный центратор для рентгеновского излучателя