CS196255B2 - Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek - Google Patents
Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek Download PDFInfo
- Publication number
- CS196255B2 CS196255B2 CS495074A CS495074A CS196255B2 CS 196255 B2 CS196255 B2 CS 196255B2 CS 495074 A CS495074 A CS 495074A CS 495074 A CS495074 A CS 495074A CS 196255 B2 CS196255 B2 CS 196255B2
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- measuring
- straightness
- elements
- objects
- sensor
- Prior art date
Links
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 1
- 238000011031 large-scale manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Vynález se týká přístroje k měření přímočarosti povrchu předmětů, zejména eleméntů valivých ložisek.
V současné době známá konstrukční řešení přístrojů k měření přímočarosti ploch zahrnují měřicí stůl, na jehož desku se ustaví měřený předmět. Měří-li se rovnoběžnost kuželovitých ploch posouváním měřicího čidla, podkládají se pod jeden konec základní měrky a ustavení těchto ploch k dosažení přesné rovnoběžnosti se provádí regulačním šroubem a upnutím suportu, posouvajícího měřicí čidlo spolu se základní měrkou.
Tato zařízení mají tu nevýhodu, že vyžadují pokaždé nejvýš přesné nastavení vzorového povrchu vůči měřenému povrchu a tím také posunutí měřicího čidla. Tato manipulace vyžaduje velké odborné znalosti a je velmi pracná.
Kromě toho se u známých přístrojů výsledek měření zapisuje na registrační pásku, jejíž posuv není svázán s posuvem měřicího čidla, což vede ke vzniku značných chyb při určování tvaru odchylky měřeného povrchu od přímočarosti.
Z toho důvodu se dosud známé přístroje používají v nevelkém počtu kusů jen pro laboratorní zkoušky, avšak nebyly zavedeny pro dílenské zkoušky ve velkosériové výrobě.
Výše uvédené nedostatky odstraňuje přístroj k měření přímočarosti povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek, sestávající ze stojanu s měřicím stolem a posuvným sUportem, podle vynálezu, jehož podstata spbčívá v tom, že měřicí stůl je otočně uložen ná jedné hraně ramene, jehož druhý konec je kloubově spojen se stojanem, přičemž osa otáčení měřicího stolu a směr posuvu měřicího čidla jsou ve stejné rovině posuvu a rameno je v blízkosti osy otáčení měřicího stolu opřeno n kuličku, posuvnou po nakloněné rovině pomocí šroubu. Kromě toho je měřící čidlo, které je ve styku s kontrolovaným předmětem spojeno prostřednictvím řemenů, hřídele a spojky s potenciometrem.
Takto vytvořený přístroj značně zkracuje dobu měření, a to díky zjednodušenému seřizování kontrolované plochy vůči posunutí čidla a věrnější reprodukci zkoušeného povrchu v důsledku přímého spojení posou-. vání čidla s vodorovným posouváním světelného bodu, určujícího obraz kontrolovaného povrchu na stínítku osciloskopické obrazovky.
Příklad provedení předmětu vynálezu je znázorněn na připojeném výkrese, který představuje přístroj k měření přímočarosti povrchu předmětů vě schematickém nákresu. : ,
Jak je patrno z výkresu, přístroj sestává z měřicího stolu 1, jenž je otočně připevněn na jedné hraně na ramenu 3, jehož druhý, konec je kloubově spojen se stojanem 4. V blízkosti opěrného bodu 2 je rameno 3 opřeno o kuličku 5, kterou lze posouvat po nakloněné rovině 6 pomocí šoupátka 7 a šroubu 8 s roubíkovou rukojetí.
K bočnímu stojanu 4 je připevněna vodicí dráha 9, v níž se ve svislé rovině posouvá suport 10. Na suportu je upevněno měřicí čidlo 11, jehož jeden měřicí element je veden po etalonu 12 přímočarosti a druhý měřicí element po zkoušeném předmětu 19. Suport je poháněn od elektromotoru 13 přes hřídel 14 a řemen 15, které prostřednictvím Spojky 16 a spojovacího řemene 17 zajišťují současné otáčení potenciometru 1β. ,·
Měřený předmět 19 se ustaví na měřicí stůl 1, který se při měření kuželovité plo-. chy otáčí kolem své ópěrňé hrany v bodě 2, což zajišťuje počáteční zjištění rovnoběžnosti měřené plochy sé vzorovou plochou,’ Naproti tomu, přesně zjištění této rovnoběžnosti se provádí za pomoci šroubu 8, který prostřednictvím, šoupátka 7 posouvá kuličku 5 po nakloněné rovině 6 a tím způsobuje příslušné-seřízení měřicíhq-stolu., 1.. Přístroj podle vynálezu nevyžaduje přesné ustavení těchto povrchů do ideální rovnoběžnosti, , 4 , poněvadž odečítací zařízení je vybaveno otočnou stupnicí, kter£ umožňuje zjištění výsledku měření i při úhlovém sklonu.
Měřicí element, pohybující se podél profilu kontrolovaného ppvrchu, je známým způsobem spojen s jádrem, posouvajícím se v indukční cívce, která je zapojena v můstku. V můstku se vytváří elektrický signál ve formě změn amplitudy střídavého napětí, kterýžto signál se po průchodu fázově citlivým detektorem a po zesílení přivádí k vertikálně vychylujícím deskám osciloskopické obrazovky, čímž se na jejím stínítku vychyluje světelný bod podél svislé osy.
Posouvání suportu 10, na kterém je upnuto měřicí čidlo 11, způsobuje díky mechanickému spojení s osou potenciometru 18 změnu rozdělení napětí na svorkách tohoto potenciometru 18.
Po zesílení se napětí z potenciometru 18 přivádí k horizontálně vychylujícím deskám osciloskopícké obrazovky, což způsobuje na jejím Stínítku výchylku světelného bodu v horizontálním směřu. Tímto způsobem se na stínítku osciloskopické obrazovky odečítacíhó zařízeni získá obraz kontrolovaného povrchu v pravoúhlé soustavě souřadnic.
Takto vytvořený přístroj umožňuje díky zjednodušenému promítání kontrolovaného povrchu vůči posouvání čidla značně zkrátit. potřebnou dobu měření, a také dosáhnout vyšší přesnosti měření kontrolovaného profilu povrchu.
Claims (2)
- , PŘEDMĚT1. Přístroj k měření přímočarosti povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek, sestávající ze stojanů s měřicím stolem a posuvným suportem, jakož i z elektronického měřičítíó*'čidla a elektronického odečítacího' ústrojíj vyznačený tím, že měřicí stůl (lj Je otočně uložen na jedné hraněji) ramene (3), jehož druhý konec je kloubově spojen se stojanem (4), přičemž óša otáčení měřicího štolu (1) a směr povynAlezu suvu měřicího čidla (11) jsou ve stejné rovině posuvu a rameno (3) je u osy otáčení měřicího stolu (1) opřeno o kuličku (5), posuvnou po nakloněné rovině (6) pomocí šroubu (8).
- 2. Přístroj podle bodu 1, vyznačený tím, že měřicí čidlo (11), které je ve styku s kontrolovaným předmětem (19), je spojeno pro-t střednictvím řemenů (15, 17), hřídele (14) a spojky (16) s potenciometrem (18).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS495074A CS196255B2 (cs) | 1974-07-11 | 1974-07-11 | Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS495074A CS196255B2 (cs) | 1974-07-11 | 1974-07-11 | Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS196255B2 true CS196255B2 (cs) | 1980-03-31 |
Family
ID=5393378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS495074A CS196255B2 (cs) | 1974-07-11 | 1974-07-11 | Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS196255B2 (cs) |
-
1974
- 1974-07-11 CS CS495074A patent/CS196255B2/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4914828A (en) | Surface inspection device and method | |
| CN106705823A (zh) | 一种线位移传感器现场校准方法 | |
| JPS6195311A (ja) | 顕微鏡 | |
| KR100516013B1 (ko) | 직각도 검사장치 | |
| CN204188158U (zh) | 一种可变检测位置的平面度检测装置 | |
| US3406292A (en) | Surface checking device | |
| CS196255B2 (cs) | Přístroj k měření přímočarostí povrchu předmětů, zejména elementů valivých ložisek | |
| CN115235336A (zh) | 一种基于激光自混合干涉的发动机曲轴检测装置及其方法 | |
| GB1316137A (en) | Method and apparatus for optical alignment of industrial equipment | |
| Svensson | A scanning interference microphotometer | |
| US3916528A (en) | Apparatus for compensation of dimensional position changes | |
| US3499227A (en) | Contour recorder | |
| US2532964A (en) | Automatic electronic tolerance monitor | |
| GB2112942A (en) | Measuring instruments | |
| US4432141A (en) | High precision height comparator apparatus | |
| US3312893A (en) | Automatic apparatus for measuring resistivity of semiconductors | |
| JP3190723B2 (ja) | ローラ偏心量測定装置 | |
| CN108827223A (zh) | 一种测量平面度的端差机 | |
| JP3940819B2 (ja) | 半導体ウェーハの表面形状測定装置および表面形状測定方法 | |
| CN222579247U (zh) | 测量装置 | |
| CN109813196A (zh) | 一种销轴的直线度和圆跳动的检测装置 | |
| US3220113A (en) | Surface checking device | |
| CN201129984Y (zh) | 指示表全自动检定仪 | |
| US332110A (en) | And george m | |
| US3436153A (en) | Object measuring by interferometry |