CO6141492A2 - Optimizacion de parametros mtem - Google Patents

Abstract

1.- Un método para optimizar la inspección electromagnética que comprende aplicar una corriente a una fuente de corriente, recibir una señal en uno o más receptores de voltaje y registrar las señales recibidas, caracterizada porque el método involucra variar uno o más parámetros de adquisición como una función de la separación fuente-receptor. 2.- Un método como se reivindico en la reivindicación 1 en donde los parámetros de adquisición que son variados comprenden por lo menos una frecuencia de cambio en la fuente y una frecuencia de muestreo en el sistema de registro. 3.- Un método como se reivindico en la reivindicación 2 que comprende variar la frecuencia de cambio y/o la frecuencia de muestreo inversamente como el cuadrado de la separación fuente-receptor. 4.- Un método como se reivindico en cualquiera de las reivindicaciones precedentes que comprende variar la separación entre los electrodos fuente y la separación entre los electrodos del receptor. 5.- Un método como se reivindico en la reivindicación 4 en donde la separación varia en proporción a la profundidad de inspección del blanco y/o a la separación entre la fuente y el receptor. 6.- Un sistema de inspección electromagnética que comprende una fuente de corriente, y uno o más receptores de voltaje para recibir y registrar las señales recibidas, caracterizado porque uno o más parámetros de adquisición utilizados por la fuente y/o el o cada receptor se seleccionan como una función de la separación fuente-receptor. 7.- Un sistema como se reivindico en la reivindicación 6 en donde los parámetros de adquisición son por lo menos uno de una frecuencia de cambio en la fuente y una frecuencia de muestreo en el sistema de registro. 8.- Un sistema como se reivindico en la reivindicación 7 en donde la frecuencia de cambio y/o la frecuencia de muestreo se seleccionan inversamente como el cuadrado de la separación fuente-receptor.