CN87209334U - 数字投影比长仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型属教学演示装置，它在比长仪的基础上将映谱仪、比长仪和测微光度计三者的功能有机地结合于一体，该机在底片架的下端放一投影灯，物镜的上端有一平面反射镜，靠底片架的左侧有一投影观测屏，底片架与一台光栅测长仪联接光栅，测长仪与数字显示仪联结。通过投影定位，可以测量谱片上任意两点之间的距离。

Description

本实用新型属教学演示装置。

近代物理实验中光谱实验是高教物理必搞的实验。在这项实验中，实验室必备映谱仪，比长仪和测微光度计三种仪器，通过这项实验来反映原子壳层结构的规律。

传统的观测光谱底片的方法是将光谱底片先后置于映谱仪，比长仪和测微光度计上，反复调整、观测才能完成，由于底片多次移动，所测之值又是由被测谱线与标准谱线对照后凭目视读出的，所以同一谱线的读数值往往因人而异，即难以保证测量精度。又难以控制所测谱线的位置且在三台机器之间往返辗转操作复杂、费时费力。另外，对谱线的观察是通过显微镜进行的，只能一人操作、观测，不利于实验教学。

本实用新型的任务是在比长仪的基础上将上述三者的功能有机地结合于一体，变三机为一机，並且在谱片一次定位的情况下将其投影放大，利用光栅测距机构将其测量结果直接用数字显示出来，从而使本实用新型具有操作简单、测量精度高，演示效果好，省力省时，测量速度可提高3－4倍。

本实用新型是在比长仪的基础上並结合映谱仪、测微光度计的特点将三者的功能有机地结合起来，该机在底片架的下端放一投影灯，物镜的上端有一平面反射镜，靠底片架的左侧有一投影观测屏，当按通电源时，投影灯的光线透过底片，穿过物镜，平面反射镜将物镜投来的光线反射在投影观测屏上，调整物镜，使成像清晰。

本实用新型在投影观测屏上有一可调狭缝，缝下有一光电池，光电池联接一放大电路，该电路联接一检流计，通过光电流的大小可以判定谱线的中心，光电流的大小反映谱线的黑度值，光电流最小说明谱线中心正对狭缝、从而很容易解决一般比长仪找不准谱线中心的困难，由光电流的大小还可以比较两条谱线的相对黑度值。

光栅测长技术是先进的数学化电子测长技术，本实用新型是把底片架与一台光栅测长仪联接，光栅测长仪与数字显示仪联接，通过投影定位，可以测量谱片上任意两点之间的距离，并且有很高的测量精度（精度±0.005毫米）。由于使用数显仪进行数字显示，可以迅速而简便地读出六位数字，完全避免了以往比长仪上烦琐的读数所易造成的错误和螺距差。

本实用新型，接通电源后，先看观测屏上的照度是否均匀，有无暗角，必要时可调整投影灯的安装位置使之正常，即屏上各点都均匀照亮，且照度最大。这时将欲观察的底片置于活动底片架上，位置摆正，调整物镜，使成像清晰，再仔细调整底片架倾斜角，使要观测的谱线与屏上基准线平行，将投影像与标准谱图片对比。如发现放大倍率不合适，可调整平面反射镜的高低，调整后，注意摆正反射镜的角度，以便全屏成像一致清晰，再进行对谱工作。

如需测定波长或谱线间间隔，首先开启数显仪电源开关，此时数显仪应有数码显示，左右移动底片架，数字应有变化，底片架移至选定的零点（可以选一条标准谱线与基准谱线对准），按一下数显仪的“置0”按钮，使数字显示为全零，移动底片架待测谱线与基准线对准此时数显仪上的示数即为待测谱线与零点的距离，测任意两条谱线间的距离亦可仿此进行，为测准谱线的位置，在检流计上找到光电流最小的底片架位置，此时数显仪的读数即为谱线的中心位置，而且，从检流计上的读数可以确定谱片上各处的相对透射光强，从而可以算出谱线的相对黑度，固定底片架，移动观测屏使狭缝随之左右移动，亦可测出像面上两谱线的距离。

由于本实用新型采用了先进的数字化测长技术。因而节约了许多实验室的建设投资，避免了观察显微镜的视力疲劳，便于数师讲解光谱细节与观测方法，提高了测量精度和速度。

本实用新型的测量精度：±5微米、测量速度6米／秒。

本实用新型的附图为数字投影比长仪的外型结构示意图。其中1、狭缝部份、2、机体、3、光栅、4、平面反射镜、5、罩盖、6、立柱、7、物镜部份、8、底片架、9、投影灯。

本实用新型最好的实施方式是投影灯功率为100瓦，狭缝宽度为0～2毫米，检流计为毫安电流计，影象放大倍率为20±1，光栅采用JI₁型光栅。

Claims (1)

1、由物镜部份、底片架、进给部份组成的数字式投影比长仪，其特征在于：

a、在底片架的下端有一投影灯。

b、在物镜的上端有一平面反射镜。

c、靠底片架的左侧有一投影观测屏。

d、投影观测屏上有可调狭缝，缝下有一光电池，光电池联接一放大电路，该电路联接一检流计。

e、底片架上联接一台光栅测长仪，光栅测长仪与数字显示仪联接。

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