CN2905246Y - 一种便携式硅材料分选仪 - Google Patents

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Abstract

本实用新型属于半导体测试器材技术领域,特别涉及对硅材料测试特定电阻率的便携式硅材料分选仪,包括笔管、外接电源、设于笔管内的电路板、集成块,笔端设有两根探针,探针测得的电压信号经集成块和电路板比较处理后,分选信号分别传输给蜂鸣器和笔管外侧的LED指示灯。本实用新型具有结构简单、制作成本低廉、操作简便、可依设定值进行定性分选的优点,特别适用于光伏行业,用于分拣硅材料,对低电阻率材料进行声光报警,达到分选合格硅料的目的。

Description

一种便携式硅材料分选仪
技术领域
本实用新型属于半导体测试器材技术领域,特别涉及对硅材料测试特定电阻率的便携式分选仪。
背景技术
半导体的电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数,不同类型、不同型号的半导体器件要求采用不同电阻率的材料制作。所以,半导体材料测量在整个产品的研发和生产过程中占据非常重要的地位,测量的结果直接影响着产品的性能及价值。半导体的电阻率测量方式也有多种,如常用的两探针法、四探针法。采用两探针法首先要把被检测的样品切成规则的长方体,而且操作麻烦。四探针法适用于测量外形不规则的硅材料的电阻率,但也存在一些不足之处,在样品被测量的表面,必须事先用金刚砂喷射成测量道,测量时,应选择适当电流,电流太大,会使注入的非平衡少数载流子显著增加,而且也会使样品发热引起电阻率的变化;电流太小,探针之间的电压降太小,致使测量误差增大。所以目前所用的测量仪器结构复杂、价格高昂、操作复杂,只能适用企业抽样检测,而不能适用于工业化对大批量材料分选。在硅材料的利用中,通常需对硅材料进行测定分选,所以亟需设计一种结构简单、制作成本低廉、操作简便且测量较精确的分选仪来适应企业批量测试分选硅材料的需求。
发明内容
本实用新型公开了一种结构简单、制作成本低廉、操作简便且测量精确的便携式硅材料分选仪。
本实用新型所采取的技术方案为:一种便携式硅材料分选仪,包括笔管、外接电源、设于笔管内的电路板、集成块,笔端设有两根探针,探针测得的电压信号经集成块和电路板比较处理后,分选信号分别传输给蜂鸣器和笔管外侧的LED指示灯。
所述的便携式硅材料分选仪,探针的间距为1.5-10毫米,最佳为3.5-4毫米,探针材料为欧姆接触金属材料。
所述的便携式硅材料分选仪,探针为活动式,接插探针的基管为弹簧套管。
本实用新型具有结构简单、制作成本低廉、操作简便、可依设定值进行定性分选的优点。
本实用新型特别适用于光伏行业,用于分拣硅材料,对低电阻率材料进行声光报警,达到分选合格硅料的目的。
附图说明
图1为本实用新型的结构剖视图。
图2为本实用新型的电路方框图。
图3为本实用新型的电路原理图。
图示中,1-电源、2-笔管、3-电路板、4-探针、5-弹簧套管、6-蜂鸣器、7-指示灯、8-集成块。
如图1、2所示,电路板3、蜂鸣器6都设置于笔管2内,LED指示灯7设于笔管外侧,笔管2的笔端设有两根探针4,探针4部分套伸于弹簧套管5内,电源1与电路板3连接,为其提供电能,电路板3和集成块8对探针4测得电压信号经过比较处理,将分选信号传输给蜂鸣器6和指示灯7。蜂鸣器6、指示灯7用作被测硅料是否合格的声光提示。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的实施例作详细说明。
如图1、2、3所示,两根探针4的间距为3.5毫米,其由欧姆接触金属材料制成。指示灯7为发光二极管。
一根探针4连入集成块8的“+”极,滑动触点电位器R连接Vcc及集成块8的“+”极,集成块8的“-”极并联两个电阻,两个电阻的另一端分别连接Vcc和接地。集成块8的输出端连接蜂鸣器6和发光二极管7。另一根探针4接地并接入集成块8。
在电路中先设置定标值V1。启动电源1,将两根探针4接触被测硅料,取得电压V2,经过集成块8的比较作用,若电压V2比定标值V1小,输出给蜂鸣器6和发光二极管7,蜂鸣器6发出报警声,发光二极管7亮灯,说明被测硅料不符合要求;若电压V2比定标值V1大,则蜂鸣器6和发光二极管7无提示,说明被测硅料符合要求。
本实用新型可以通过两个设定值对硅料进行分选,利用两个发光二极管7显示不同质量的硅料,从而达到分选的目的。

Claims (3)

1、一种便携式硅材料分选仪,包括笔管、外接电源、设于笔管内的电路板、集成块,其特征在于:笔端设有两根探针,探针测得的电压信号经集成块和电路板比较处理后,分选信号分别传输给蜂鸣器和笔管外侧的LED指示灯。
2、根据权利要求1所述的便携式硅材料分选仪,其特征在于:探针的间距为1.5-10毫米,最佳为3.5-4毫米,探针材料为欧姆接触金属材料。
3、根据权利要求1或2所述的便携式硅材料分选仪,其特征在于:探针为活动式,接插探针的基管为弹簧套管。
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