CN2859656Y - 具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡 - Google Patents
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Abstract
一种具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，将测试不同主机板模块的测试程序储存在一记录单元中，当测试工程师欲进行主机板烧机测试时，可藉由一测试程序选择单元，根据欲测试的主机板模块选择相对应的测试程序。其中，测试程序选择单元具有至少一组以上测试程序设定值，而每一测试程序设定值对应至一测试程序。本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，在烧机卡上储存有可测试不同模块与系统的测试程序，减少更换烧机测试卡的不便，藉以提高测试效率。
Description
技术领域
本实用新型关于一种外围零件连接接口烧机卡，特别是一种测试计算机主机板之外围零件连接接口烧机卡。
背景技术
对计算机主机板厂商来说，一般计算机之系统主机板于制作完成后，必须经过严谨的品质保证测试过程方能出货。一般说来，计算机系统主机板的测试工作有两种程序，系统运作测试(running test)以及烧机测试(burn in test)的程序。在做以上两种主机板测试之任一种时，必须将中央处理器(CPU)以及内存和其它如监视器、硬盘、软盘、鼠标、主机板、双线内存模块(DIMM)、键盘等等外围设备均安置在主机板上后，再将计算机开机以进行测试的工作。
目前厂商为了提高测试效率，多半采用烧机测试卡的方式来测试主机板是否可以正常的运作。这种烧机卡运用计算机的基本输入输出系统(Basic InputOutput System，BIOS)所做之开机后自我测试(Power 0n Self Test，POST)程序来进行烧机测试工作。此种烧机卡一方面可读取由BIOS所检查的主机板状态，另一方面，还提供了重置(Reset)的功能，让计算机自动重开机，而达到自动测试的目的。然此种烧机卡并无法显现烧机时的状态，使得测试工程师并无法实时知道烧机测试之状况，且必须辅助定时器做计时的工作。测试时间的掌控与及时发现测试过程中的错误是测试品质的关键，因此，本案发明人针对上述问题提出一解决方案，申请案号为第090129616号，其揭露一种由一烧机测试电路与一烧机过程与结果显示电路所组成的烧机卡，可以实时掌控测试时间与测试过程。
然美中不足的是，上述所揭露外围零件连接接口烧机卡上的只读存储器(Read Only Memory，ROM)，仅建有一组测试程序，只对某一种待测试模块进行测试，当系统开机时，即执行只读存储器内的测试程序，以达到在主机板上烧机测试的目的。但是有时候因为不同的测试模块，如影像图形数组(VideoGraphics Array，VGA)模块、串行输出入(Serial Input/Output，SIO)模块、平行输出入(Parallel Input/Output，PIO)模块、软盘(FDC)模块、硬盘(HDC)模块等等或主机板的硬件架构不同时，往往需要更换不同的测试程序，连带着也需要更换不同的烧机卡以及只读存储器，实不利于测试效率的提升，且按一般的生产程序而言，测试工程师同时必须监测大量的主机板烧机情形，若无良好的测试治具辅助，将大幅降低整体的效率。
因此，发展一种适用于各种测试模块的烧机测试卡，减少更换不同模块的烧机测试卡，对于厂商而言是提升生产效率刻不容缓的课题。
发明内容
鉴于以上的问题，本实用新型的主要目的在于提供一种具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，在烧机卡上储存有可测试不同模块与系统的测试程序，减少更换烧机测试卡的不便，藉以提高测试效率。
因此为达上述目的，本实用新型所揭露的具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，是将测试不同模块或不同系统的测试程序储存在一记录单元中，当测试工程师欲进行主机板烧机测试时，可藉由一测试程序选择单元，根据欲测试的主机板模块选择相对应的测试程序。其中，测试程序选择单元具有至少一组以上测试程序设定值，每一测试程序设定值对应至一测试程序。
附图说明
为使对本实用新型的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合附图及实施例详细说明如下：
图1为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之系统方块图；
图2为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之较佳
实施例；
图3为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之选择单元之测试程序设定值与记录单元中测试程序对应关系之内存地图。
具体实施方式
首先说明本实用新型之技术概念，请参考图1，为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之系统方块图。如图所示，记录单元100中储存有测试不同主机板模块的测试程序，当测试工程师欲进行主机板烧机测试时，可藉由一测试程序选择单元200，根据欲测试的主机板模块选择相对应的测试程序。其中，测试程序选择单元200具有至少一组以上测试程序设定值，每一测试程序设定值均可对应至记录单元100中的每一测试程序。记录单元100与测试程序选择单元200藉由一总线300相耦合，测试程序选择单元200所产生的测试程序设定讯号由总线300传送至记录单元100中。
测试程序选择单元中还包括有一选择单元210以及一译码单元220。选择单元210，用以选择欲进行烧机测试之测试程序，当选定一测试程序后会产生一测试程序设定值，而译码单元220会将测试程序设定值转换成一测试程序设定码，供测试系统读取。当系统读取到该测试程序设定码后，以该测试程序设定码在记录单元100中所对应的测试程序，对主机板进行烧机测试。
当电源开启时，BIOS即开始做POST的测试。BIOS的POST测试完毕之讯号可由外围零件连接接口总线上读取，此时烧机卡上的烧机测试电路开始运作。当个人计算机系统开机后执行基本输入输出系统(BIOS)中的程序，而在BIOS中地址DOOOH处，为一未指定任何执行程序的区段，保留给外部只读存储器使用，假若在地址DOOOH处侦测到有一外部只读存储器，则直接执行外部只读存储器中的程序，而不执行操作系统，因此，每当重新开机时，POST侦测到地址时，系统会自动跳到外部只读存储器中的程序去执行。当测试程序逐一读写主机板上各个输入输出端口的缓存器后，亦即烧机程序执行完后，即由重置脉冲产生电路产生一重置脉冲，促使计算机重新开机，重新执行另一次的烧机测试。
请参考图2，为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之较佳具体实施例。
如图所示，其中选择单元210为一八位的指拨开关(DIP Switch)230，指拨开关230中的每一指拨按键都具有开与关两种状态，亦即0与1的状态，因此，八位共可组成256种状态，也就是有256组测试程序设定，以十六进制表示为00至FF。译码单元220可为一缓冲器(BUFFER)240，由于指拨开关230为八位，故缓冲器240要必须有八位的译码功能，因此芯片编号为74244(八位三态缓冲器)或74245(八位双向三态缓冲器)的逻辑电路均可作为缓冲器240。
记录单元100可为一只读存储器(Read only memory，ROM)110，只读存储器110中储存有可测试不同模块的测试程序，只要只读存储器110的容量足够，其测试程序的数量可依据指拨开关的设定值共储存有256组。
由于74244为三态缓冲器，故需搭配一致动器250才能致动(enable)缓冲器240，致动器250主要由一AND逻辑闸251组成，其输入讯号为来自本烧机卡所占用的主机板的输入/输出端口(I/O Port)地址讯号与输入/输出周期为读取周期时的讯号，当两个讯号都会逻辑1时，致动器250输出逻辑1的致动讯号，以致动缓冲器240。在本实施例中，烧机卡所占用的输入/输出端口(I/OPort)地址可为主机板上输入/输出埠380H。
主机板上有许多保留的地址给外围零件使用，而380H这些保留给主机板外围零件使用的地址其中之一。本实用新型将烧机卡的地址定在380H，当系统在输入/输出端口(I/O Port)读取周期(Read Cycle)时，将透过地址380H读取烧机卡上缓冲器中的测试程序设定码。依据本实用新型所揭露的技术，当只读存储器110读取I/O埠380H(八位指拨开关)的值后，会再跳到相对应的程序段执行测试程序。
请参考图3，为本实用新型之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡之选择单元之测试程序设定值与记录单元中测试程序对应关系之内存地图。例如当选择的测试程序设定值为05时，则以05为旗标，跳到旗标地址为05开头地址处，执行相关的测试程序。当测时程序没有错误的现象发生时，系统便会记录其测试的周期数，并重新激活系统，然后再重复上述的步骤进行烧机测试。
藉由上述的方法，测试工程师只要隅测试时将指拨开关设定于需要测试的选择项目，再开机执行测试，此时PCI烧机测试卡便会每次自动更新重新开机时再读取八位的指拨开关设定值，并执行所选择的测试程序而达到测试目的，进而提高测试效率。
本实用新型所揭露的外围零件连接接口烧机卡，可是适用主机板上的任何一种插槽，例如PCI插槽、ISA插槽等。
本实用新型所揭露的具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，将不同模块的测试程序储存在同一烧机测试卡上，使得工程师减少因测试不同模块而必须准备多种烧机卡以及更换烧机卡的困境，简化测试的作业流程，并让让计算机之系统主机板之烧机测试工作更加有效率。
虽然本实用新型以前述之较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟习相像技术者，在不脱离本实用新型之精神和范围内，当可作些许之更动与润饰，因此本实用新型之权利保护范围须视本说明书所附之权利要求书所界定者为准。
Claims (12)
1.一种具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，应用于一测试系统中针对不同模块的主机板进行烧机测试，其特征在于包括有：
一记录单元，储存有至少一组以上测试程序，每一测试程序可对不同的模块的主机板进行烧机测试；以及
一测试程序选择单元，具有至少一组以上选择状态，每一选择状态会产生一测试程序设定码，每一测试程序设定码对应至该记录单元中之每一测试程序；
其中，在一输入/输出端口读取周期时，该测试系统会自一输入/输出端口地址读取该测试程序设定码，并由该测试系统根据该测试程序设定码执行该记录单元中相对应的该测试程序。
2.如权利要求1所述之具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，其特征在于该测试程序选择单元还包括有：
一选择单元，用以产生该测试程序设定值；
一译码单元，根据该程序设定值产生一测试程序设定码。
3.如权利要求1所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该记录单元为一只读存储器。
4.如权利要求1所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该选择单元为一指拨开关。
5.如权利要求1所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该其中该译码单元为一缓冲器。
6.一种具有不同测试模块之外围零件连接接口烧机卡，应用于一测试系统中针对不同模块的主机板进行烧机测试，其特征在于包括有：
一记录单元，储存有至少一组以上测试程序，每一测试程序可对不同的模块的主机板进行烧机测试；
一选择单元，具有至少一组以上选择状态，每一选择状态具有一测试程序设定值；以及
一缓冲器，根据该程序设定值产生一测试程序设定码；
其中，在一输入/输出端口读取周期时，该测试系统会自一输入/输出端口地址读取该测试程序设定码，并由该测试系统根据该测试程序设定码执行该记录单元中相对应的该测试程序。
7.如权利要求6所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该记录单元为一只读存储器。
8.如权利要求6所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于该还包括有一用以致动该缓冲器的致动器。
9.如权利要求8所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该其中该致动器为一AND逻辑闸。
10.如权利要求9所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：当该测试系统侦测到该烧机卡所占用之输入/输出端口之逻辑值为1以及输入/输出读取周期为逻辑1时，输出一逻辑1讯号，以致动该缓冲器。
11.如权利要求6所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该选择单元可为指拨开关。
12.如权利要求6所述之具有不同测试模块之周边零件连接接口烧机卡，其特征在于：该缓冲器选自芯片编号为74244与74245之组合中之任何一种。
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