CN2837855Y - 可同时测试多个lcm的夹具 - Google Patents

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CN2837855Y CN 200520035851 CN200520035851U CN2837855Y CN 2837855 Y CN2837855 Y CN 2837855Y CN 200520035851 CN200520035851 CN 200520035851 CN 200520035851 U CN200520035851 U CN 200520035851U CN 2837855 Y CN2837855 Y CN 2837855Y
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CN 200520035851
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刘嘉
何志奇
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BYD Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开一种可同时测试多个LCM的夹具,包括控制板、LCM放置板和测试平台,其特征是:所述控制板通过接口与测试平台相连,测试平台还有多个接口分别与多个LCM放置板相连。由于将控制部分、LCM放置夹具和测试平台这三者功能进行适当的分离,用一个控制板即可控制多个LCM放置板,并且将它们放置于一个测试平台上,这样可以一次测试多个LCM,也可以对单个LCM进行测试。大大提高了LCM的测试效率,同时也减轻操作人员的工作量。

Description

可同时测试多个LCM的夹具
技术领域
本实用新型涉及一种用于测试LCM(LCD Module,液晶显示模块)的夹具,尤其是能同时测试多个LCM的夹具。
背景技术
随着时代发展,手机已经实实在在成为人们日常生活中的一部分,为人们的工作和生活提供着更多快捷与方便的服务。液晶显示模块作为手机一个重要的组成部分,这也同时给LCM的测试带来了不小的压力。
传统的LCM测试夹具包括一一对应的控制部分、LCM放置夹具和测试平台,其缺点是每一个LCM放置夹具都需要对应一个控制部分,多个LCM放置夹具就需要多个控制部分,这样一来,一个测试夹具一次只能测试一个LCM,这样不仅效率非常低,而且操作繁琐,操作人员容易疲劳,夹具也容易损耗。
发明内容
本实用新型就是为了解决传统测试夹具测试效率低的问题,提供一种可以一次测试多个LCM的测试夹具。
为实现上述目的,本实用新型提出一种可同时测试多个LCM的夹具,包括控制板、LCM放置板和测试平台,其特征是:所述控制板通过接口与所述测试平台相连,所述测试平台还有多个接口分别与多个所述LCM放置板相连。
所述控制板为一个单独的PCB板。
本实用新型由于将控制部分、LCM放置夹具和测试平台这三者功能进行适当的分离,用一个控制板即可控制多个LCM放置板,并且将它们放置于一个测试平台上,这样可以一次测试多个LCM,也可以对单个LCM进行测试。大大提高了LCM的测试效率,同时也减轻操作人员的工作量。
附图说明
图1本实用新型的结构示意图。
图2A是本实用新型控制板上单片机及其扩展的外部数据存储块示意图。
图2B是本实用新型控制板上译码器示意图。
图2C是本实用新型控制板上电源示意图。
图2D是本实用新型控制板上单向BUFFER示意图。
图2E是本实用新型控制板上双向BUFFER示意图。
图2F是本实用新型控制板上存储芯片适配器(或叫转换座、管座、接口)示意图。
具体实施方式
下面通过实施例对本实用新型进行进一步的说明。
如图1所示,本实施例的方案是:用一个单独的PCB板作为控制板,用一个小PCB板(称为LCM放置板)来放LCM,再用一个大PCB板作为测试平台,这个平台有11个相同Interface(接口),一个Interface用于与控制板相连,另十个与放LCM的小PCB板相连。这样用一个控制板即可以单个的测试LCM,也可以一次测试十个LCM。其结构见图1。
控制板的原理见图2A-2F。如图2A,控制板是用51单片机作为MCU(微控制单元)。16根数据线,P0口作为高八位数据线,P1口作为低八位数据线。19根地址线,用来扩展512K字节的外部数据存储空间,这样可以测试更多的画面。P0口做地址线的低八位,通过一个地址锁存器74LS373(U1)将低八位地址锁存。锁存器的使能端接单片机的ALE,当P0口向外输出地址的低字节时,ALE输出一个高电平从而使能锁存器74LS373将地址的低字节保存。P2口的P2.0-P2.5作为地址线的A08-A13位,P1口的P1.0-P1.4作为地址线的高5位,A14-A18位。这样512K字节的空间被分为32小块,每块16K字节。
该控制板可以扩展两个512K字节的外部数据存储块M27C4001。这里是通过一个38译码器74HC138(U2)(如图2B)来实现数据块的选择。74HC138有三个输入端,高位C固定接低电平,低两位B,A接P2口的P2.7,P2.6。通过对P2.7,P2.6的控制来选择外部数据存储块,当P2.7,P2.6为0,0时,38译码器74HC138输出端的Y0为低电平这样就选中了数据块U4,当P2.7,P2.6为0,1时,74HC138输出端的Y1为低电平这样就选中了数据块U5.此外,数据存储块M27C4001的使能端与MCU(U3)的读操作使能脚P3.7相连,这样当MCU执行读操作的同时就使能数据存储块M27C4001了。
如图2C,在电源方面,用一个LDO(稳压源)给LCM供电,以保证LCM的稳定性。因为一次要驱动十个LCM,为防止驱动信号在传输过程中的衰减,特意在数据线,控制线上加了BUFFER(缓冲器)以保证信号的驱动能力。在16位数据线上加了两个双向BUFFER(缓冲器)HD74HC245(U9,U10)(如图2E),这样读写数据都得以保证。在控制线:CS,RESET,RS,WR,RD上加一个单向BUFFER HD74HC244(U8)(如图2D)。
整个测试平台的原理就是用11个相同Interface(接口)与控制板相连和与放LCM的小PCB板相连,因此其图略,该接口管座示意图如图2F所示。
本实用新型上述实施例可以一次测试最多10个LCM,也可以对单个LCM进行测试。这样大大提高了LCM的测试效率,同时也减轻操作人员的工作量。

Claims (2)

1、一种可同时测试多个LCM的夹具,包括控制板、LCM放置板和测试平台,其特征是:所述控制板通过接口与所述测试平台相连,所述测试平台还有多个接口分别与多个所述LCM放置板相连。
2、如权利要求1所述的可同时测试多个LCM的夹具,其特征是:
所述控制板为一个单独的PCB板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103454508A (zh) * 2012-05-30 2013-12-18 路华科技(深圳)有限公司 四通道过流过压保护测试仪

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