CN2791641Y - X射线弯面晶体分光计 - Google Patents

X射线弯面晶体分光计 Download PDF

Info

Publication number
CN2791641Y
CN2791641Y CN 200520105448 CN200520105448U CN2791641Y CN 2791641 Y CN2791641 Y CN 2791641Y CN 200520105448 CN200520105448 CN 200520105448 CN 200520105448 U CN200520105448 U CN 200520105448U CN 2791641 Y CN2791641 Y CN 2791641Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
crystal
spectrometer
face
ray
frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 200520105448
Other languages
English (en)
Inventor
陈鹏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZHONGHE SCIENCE-TECHNOLOGY Co Ltd TIANJIN
Original Assignee
ZHONGHE SCIENCE-TECHNOLOGY Co Ltd TIANJIN
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZHONGHE SCIENCE-TECHNOLOGY Co Ltd TIANJIN filed Critical ZHONGHE SCIENCE-TECHNOLOGY Co Ltd TIANJIN
Priority to CN 200520105448 priority Critical patent/CN2791641Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN2791641Y publication Critical patent/CN2791641Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构，分光晶体选用有机晶体和无机晶体；分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体、晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道及分光盒，分光晶体装在晶体支架上，晶体支架安装在分光盒内，晶体架微调镶嵌在分光盒上并顶住晶体支架，前狭缝和后狭缝安装在分光盒两侧。本实用新型的优越性在于：弯面晶体分光计的优点在于它不用平晶分光必须使用的准直器，仅取消准直器这一项即可使弯面晶体分光计的分光效率提高四个数量级，此外，它有聚焦作用，提高谱线的单色性。

Description

X射线弯面晶体分光计
(一)技术领域：
本实用新型涉及一种X射线晶体分光计，特别是一种X射线弯面晶体分光计。
(二)背景技术：
X射线晶体分光计是波长色散X射线荧光分析仪核心部件，根据X射线晶体几何光学的布拉格衍射原理，分光计把不同波长的X射线按不同的布拉格衍射角色散出单一波长的X射线。在不同衍射角上探测到衍射线，即是我们需要分析的X射线。
X射线分析方法有两种可供选择，一种是波长色散方法，把不同波长X射线分离开的核心部件就是晶体分光计；其二是能量色散分析方法，它是靠X射线探测器输出脉冲信号幅度与X射线的能量(即波长)成正比例的这一特点，记录不同幅度脉冲信号，即分析到不同能量的X射线。它们各有其优点，也有其不足，前者更适应于对轻元素进行分析，后者适应于中等以上元素X射线的分析。
(三)发明内容：
本实用新型的目的在于提供一种X射线弯面晶体分光计，它克服了平面晶体分光效率低、能散度差的缺点。
本实用新型的技术方案：一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构，分光晶体选用有机晶体和无机晶体；分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体、晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道及分光盒，分光晶体装在晶体支架上，晶体支架安装在分光盒内，晶体架微调镶嵌在分光盒上并顶住晶体支架，前狭缝和后狭缝安装在分光盒两侧。
上述所说的晶体支架包括晶体架夹板、晶体架、销钉、支撑弹簧、晶体支撑架、紧箍螺母与紧箍螺钉、固定螺钉，晶体夹板通过销钉固定在晶体架上，紧箍螺母与紧箍螺钉安装在晶体支撑架上，支撑弹簧放在晶体架和晶体支撑架之间。
上述所说的分光盒上有分光盒盖，分光盒与分光盒盖间有密封圈。
上述所说的晶体架微调包括衍射角微调和微调旋钮，微调旋钮与衍射角微调相连，衍射角微调镶嵌在晶体支撑架中。
上述所说的用于X射线荧光分析的波长色散弯面晶体分光计的前后狭缝光通道为：前狭缝取18×4mm，后狭缝取22×24mm。
上述所说的采用全聚焦型氟化锂晶体分光计，它的晶面距2d＝4.028埃。
上述所说的采用对数螺线三羟甲基甲胺晶体分光计，它的晶面距2d＝7.481埃。
上述所说的采用对数螺线季戊四醇晶体分光计，它的晶面距2d＝8.742埃。
上述所说的采用对数螺线单晶硅晶体分光计，它的晶面距2d＝6.27埃。
上述所说的采用对数螺线邻苯二甲酸氢砣晶体分光计，其晶面距2d＝25.75埃。
本实用新型的工作原理：弯面晶体分光计优点在于它的曲面作用，晶体的曲率允许样品中侧向发射的单一波长谱线会以一个同样布拉格角度入射到晶体表面，有更多的谱线得到衍射；它们会衍射到一点或一条线上，比平面晶体衍射强度大的多。完成上述衍射的晶体分光计必须同时满足以下两个条件，即罗兰条件和布拉格条件。
罗兰条件：根据光线的反射定律，狭缝s及其实像(或虚像)必须处在同一个圆周上，视其圆的半径为R/2，此圆称罗兰圆或聚焦圆。为此，分光晶体必须弯曲成具有曲线半径为R的反射面。晶体中心与聚焦圆相切。此时聚焦圆就是光狭缝的衍射像焦点的轨迹。狭缝s就是待分析样品中X射线的点源或线源。
布拉格条件：该条件使X射线在晶体上的反射定律严格遵守布拉格定律。即弯面晶体必须和聚焦圆处处相切，其晶面的曲率半径应为R/2，这种具有两种曲线半径的晶体加工工艺较难保证。其加工方法可以采取先弯具有曲率半径为R的晶面，再对凹面磨成R/2的曲线半径，或者先把晶体磨成曲率半径为R的薄片，然后再弯成半径为R/2的曲面。
本实用新型的优越性在于：弯面晶体分光计的优点在于它不用平晶分光必须使用的准直器，仅取消准直器这一项即可使弯面晶体分光计的分光效率提高四个数量级，此外，它有聚焦作用，提高谱线的单色性。
(四)附图说明：
附图1为本实用新型所涉一种X射线弯面晶体分光计的整体结构示意图(图1-a为主视图，1-b为侧视图)。
其中：1为分光盒，2为密封圈，3为分光盒盖，4为销钉，5为晶体架夹板，6为水平调节，7为含有分光晶体的晶体架，8为销钉，9为衍射角微调，10为固定螺钉，11为固定螺钉，12为晶体支撑架，13为支撑弹簧，14为保护罩，15为紧箍螺母，16为紧箍螺钉，17为密封圈，18为微调旋钮，19为后狭缝，20为前狭缝。
(五)具体实施方式：
实施例：一种X射线弯面晶体分光计(见图1)，其特征在于：它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构，分光晶体选用有机晶体和无机晶体；分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体与晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道19、20及分光盒1，分光晶体装在晶体支架上，晶体支架安装在分光盒1内，晶体架微调镶嵌在分光盒1上并顶住晶体支架，前狭缝20和后狭缝19安装在分光盒1的两侧。
上述所说的晶体支架包括晶体架夹板5、晶体架7、销钉4与8、支撑弹簧13、晶体支撑架12、紧箍螺母15与紧箍螺钉16及固定螺钉11，晶体夹板5通过销钉4与8固定在晶体架7上，紧箍螺母15与紧箍螺钉16安装在晶体支撑架12上，支撑弹簧13放在晶体架7和晶体支撑架12之间(见图1-a)。
上述所说的分光盒1上有分光盒盖3，分光盒1与分光盒盖3间有密封圈2(见图1-b)。
上述所说的晶体架微调包括衍射角微调9和微调旋钮18，微调旋钮18与衍射角微调9相连，衍射角微调18镶嵌在晶体支撑架12中(见图1-a)。
上述所说的用于X射线荧光分析的波长色散弯面晶体分光计的前后狭缝光通道为：前狭缝20取18×4mm，后狭缝19取22×24mm。
上述所说的采用全聚焦型氟化锂晶体分光计，它的晶面距2d＝4.028埃。
上述所说的采用对数螺线三羟甲基甲胺晶体分光计，它的晶面距2d＝7.481埃。
上述所说的采用对数螺线季戊四醇晶体分光计，它的晶面距2d＝8.742埃。
上述所说的采用对数螺线单晶硅晶体分光计，它的晶面距2d＝6.27埃。
上述所说的采用对数螺线邻苯二甲酸氢砣晶体分光计，其晶面距2d＝25.75埃。

Claims (10)

1、一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构，分光晶体选用有机晶体和无机晶体；分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体、晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道及分光盒，分光晶体装在晶体支架上，晶体支架安装在分光盒内，晶体架微调镶嵌在分光盒上并顶住晶体支架，前狭缝和后狭缝安装在分光盒两侧。
2、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：所说的晶体支架包括晶体架夹板、晶体架、销钉、支撑弹簧、晶体支撑架、紧箍螺母与紧箍螺钉、固定螺钉，晶体夹板通过销钉固定在晶体架上，紧箍螺母与紧箍螺钉安装在晶体支撑架上，支撑弹簧放在晶体架和晶体支撑架之间。
3、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：所说的分光盒上有分光盒盖，分光盒与分光盒盖间有密封圈。
4、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：所说的晶体架微调包括衍射角微调和微调旋钮，微调旋钮与衍射角微调相连，衍射角微调镶嵌在晶体支撑架中。
5、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：用于X射线荧光分析的波长色散弯面晶体分光计的前后狭缝光通道为：前狭缝取18×4mm，后狭缝取22×24mm。
6、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：采用全聚焦型氟化锂晶体分光计，它的晶面距2d＝4.028埃。
7、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：采用对数螺线三羟甲基甲胺晶体分光计，它的晶面距2d＝7.481埃。
8、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：采用对数螺线季戊四醇晶体分光计，它的晶面距2d＝8.742埃。
9、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：采用对数螺线单晶硅晶体分光计，它的晶面距2d＝6.27埃。
10、根据权利要求1所说的一种X射线弯面晶体分光计，其特征在于：采用对数螺线邻苯二甲酸氢砣晶体分光计，其晶面距2d＝25.75埃。
CN 200520105448 2004-08-18 2005-08-17 X射线弯面晶体分光计 Expired - Fee Related CN2791641Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200520105448 CN2791641Y (zh) 2004-08-18 2005-08-17 X射线弯面晶体分光计

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200420029561 2004-08-18
CN200420029561.6 2004-08-18
CN 200520105448 CN2791641Y (zh) 2004-08-18 2005-08-17 X射线弯面晶体分光计

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN2791641Y true CN2791641Y (zh) 2006-06-28

Family

ID=36807704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200520105448 Expired - Fee Related CN2791641Y (zh) 2004-08-18 2005-08-17 X射线弯面晶体分光计

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN2791641Y (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101806759A (zh) * 2010-03-16 2010-08-18 北京矿冶研究总院 X射线分光器及矿物成分分析仪
CN102460135A (zh) * 2009-06-03 2012-05-16 特莫尼托恩分析仪器股份有限公司 检测器位于聚焦元件内部的x射线系统和方法
CN105759304A (zh) * 2016-04-22 2016-07-13 西北核技术研究所 一种基于平晶衍射成像的x射线能谱测量方法
CN113030139A (zh) * 2021-05-31 2021-06-25 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种新型晶体及紧凑型成像装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102460135A (zh) * 2009-06-03 2012-05-16 特莫尼托恩分析仪器股份有限公司 检测器位于聚焦元件内部的x射线系统和方法
CN101806759A (zh) * 2010-03-16 2010-08-18 北京矿冶研究总院 X射线分光器及矿物成分分析仪
CN101806759B (zh) * 2010-03-16 2012-07-04 北京矿冶研究总院 X射线分光器及矿物成分分析仪
CN105759304A (zh) * 2016-04-22 2016-07-13 西北核技术研究所 一种基于平晶衍射成像的x射线能谱测量方法
CN105759304B (zh) * 2016-04-22 2018-08-14 西北核技术研究所 一种基于平晶衍射成像的x射线能谱测量方法
CN113030139A (zh) * 2021-05-31 2021-06-25 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种新型晶体及紧凑型成像装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5216484A (en) Real-time imaging spectrometer
US9535309B2 (en) Compensator system and method for compensating angular dispersion
CN2791641Y (zh) X射线弯面晶体分光计
JP5728470B2 (ja) 粒子に作用する光学力を測定する方法および装置
CN101666681A (zh) 使用moems可动闪耀光栅阵列的光谱仪
US10788411B2 (en) Flow cytometry with dual laser beams
CN103471989B (zh) 一种基于光学矢量模式化的非直观成像方法
US10145808B2 (en) Beam generation unit and X-ray small-angle scattering apparatus
CN104964964A (zh) 一种基于棱镜分光的便携式激光拉曼光谱仪
US20070046946A1 (en) Microscope apparatus
GB2460502A (en) Wave mixing apparatus for sample analysis
EP2524260A1 (en) Ultra dark field microscope
RU132900U1 (ru) Устройство для рентгеновского абсорбционного спектрального анализа
CN102636332A (zh) 一种闪耀光栅沟槽微结构变异的测试系统
CN105737986A (zh) 多功能显微共焦光谱仪
US7515262B2 (en) Crystal grating apparatus
CN1255696C (zh) 光均匀化显微影像装置
CN113092446A (zh) 基于道威棱镜的90度拉曼信号收集平面光路系统
Claus An Experimental Arrangement for the Observation of Light Scattering by Polaritons
CN108627458A (zh) 光谱检测方法及系统
CN214844827U (zh) 一种基于道威棱镜的90度拉曼信号收集平面光路系统
RU2248559C1 (ru) Фокусирующий монохроматор
DE19953527B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung mit rotierendem Analysator
Schrödle et al. Sequential wavelength tuning: dynamics at interfaces investigated by vibrational sum-frequency spectroscopy
Meyer et al. Synchronization of ultrafast pulses and pulse front tilt removal inside samples

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
DD01 Delivery of document by public notice

Addressee: Lu Feng

Document name: Notification of Termination of Patent Right

C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20060628

Termination date: 20090917