CN2747597Y - 可调节型聚焦物镜 - Google Patents

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张清明
安明
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Abstract

本实用新型公开了一种使用方便的可调节型聚焦物镜,包括物镜、位置调节架和底座,物镜采用相机的定焦大光圈镜头,物镜中镜头朝向胶卷的一端朝向样品,另一端朝向光谱仪;物镜安装在位置调节架上,位置调节架放置在磁性底座上。与现有技术相比,本实用新型结构简单、成本低廉、使用效果好,物镜在XYZ三个方向的位置可以通过螺旋千分尺杆进行非常精细的调节,它在拉曼散射,荧光等光学系统中,对样品上的散射光进行搜集具有极大的实用价值。

Description

可调节型聚焦物镜
一、技术领域
本实用新型涉及一种光学实验中所使用的仪器,具体地说是一种在拉曼散射或荧光系统中采用的可调节型聚焦物镜。
二、背景技术
在拉曼散射,荧光等很多光学系统中,由于散射光或荧光的信号很弱,对样品上的散射光进行搜集,是非常关键的一步,因此对负责搜集散射光的物镜选择就非常重要。物镜的选择要和整个光学系统成为有机整体,因此有比较严格的限制。具体地说,就是一方面要和样品一端提供的最大立体角相匹配,以获得尽量多的散射光信号;另一方面,经物镜搜集的散射光,通常要送到光栅光谱仪或其他光学谱仪和成像设备中进行分析,所以要与光谱仪的数值孔径等进行严格匹配,以达到光谱仪的最高效率。还有一个重要的方面就是,由于不同的样品安装的具体情况,散射光的源在实际工作中会有空间上的变化,物镜必须能够适应这种变化,也就是说物镜必须有空间三维方向的可细微调节功能。目前拉曼散射或荧光系统采用的是特制物镜,价格昂贵且可调节性较差。
三、发明内容
本实用新型的目的是提供一种结构简单、使用方便的可调节型聚焦物镜。本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种可调节型聚焦物镜,其特征是:它包括物镜、位置调节架和底座,所述物镜是相机的定焦大光圈镜头,物镜中镜头朝向胶卷的一端朝向样品,另一端朝向光谱仪;物镜安装在位置调节架上,位置调节架放置在底座上。底座可采用磁性底座。
本实用新型中,物镜可采用单反光学相机的定焦大光圈镜头。为保证最大通光量,可以将镜头中的光圈叶片拆除。
本实用新型在物镜上装有固定的铝圈,铝圈与支杆相连接;物镜上通过铝圈和支杆安装在位置调节架上。位置调节架在XYZ三个方向均可以通过螺旋千分尺杆进行调节。
本实用新型采用了成熟的相机镜头工艺,镜头的镜片排列精度,收集光的效率,色差和像差校正等都超出一般的物镜,加上组合的三维调节,使用中物镜能灵活应用,同时大大降低了成本。与现有技术相比,本实用新型结构简单、成本低廉、使用效果好。
四、附图说明
附图是本实用新型的结构示意图。
五、具体实施方式
一种本实用新型所述的可调节型聚焦物镜,包括物镜1、位置调节架2和底座3。物镜1的制作采用了一种经济实用而且可以空间灵敏调节的方法,根据对物镜1选择的要求,我们选择了单反光学相机的定焦大光圈镜头,这里选用的是焦距50毫米,f/1.4的海鸥镜头,根据不同需要还可以选择f/1.2,1.0等光圈更大的镜头。在使用到散射光路上时,与在照相机上用法正好相反,如附图所示,把物镜1朝向胶卷的一端朝向样品5一也就是散射光的源,把另一端朝向光谱仪6。物镜1朝向样品5端的透镜直径W,物镜1前端距光谱仪入口的距离L,L/W就是该物镜系统的对光谱仪的数值孔径,适当调节L,就可以很好地与光谱仪6的数值孔径匹配。在实际应用中对镜头进行了改造,取出了镜头中的光圈叶片,以保证最大通光量。并在物镜1上装上固定的铝圈与下面的支杆4相连,支杆4下面连有XYZ三个方向均可调节的位置调节架2,可选用北京大恒光电公司的XY平移台和Z平移台。平移台固定在磁性底座3上。XYZ三个方向可以通过螺旋千分尺杆进行非常精细的调节。

Claims (6)

1、一种可调节型聚焦物镜,其特征是:它包括物镜(1)、位置调节架(2)和底座(3),所述物镜(1)是相机的定焦大光圈镜头,物镜(1)中镜头朝向胶卷的一端朝向样品,另一端朝向光谱仪;物镜(1)安装在位置调节架(2)上,位置调节架(2)放置在底座(3)上。
2、根据权利要求1所述的可调节型聚焦物镜,其特征是:所述物镜(1)是单反光学相机的定焦大光圈镜头。
3、根据权利要求2所述的可调节型聚焦物镜,其特征是:所述物镜(1)是已经将镜头中的光圈叶片拆除的单反光学相机的定焦大光圈镜头。
4、根据权利要求1所述的可调节型聚焦物镜,其特征是:在物镜(1)上装有固定的铝圈,铝圈与支杆(4)相连接;物镜上(1)通过铝圈和支杆(4)安装在位置调节架(2)上。
5、根据权利要求1所述的可调节型聚焦物镜,其特征是:所述位置调节架(2)在XYZ三个方向均可以通过螺旋千分尺杆进行调节。
6、根据权利要求1所述的可调节型聚焦物镜,其特征是:所述底座(3)是磁性底座。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US20150279616A1 (en) * 2014-03-26 2015-10-01 Witec Gmbh Raman microscope and electron microscope analytical system

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