CN2720457Y - 半导体激光器特性参数测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种半导体激光器特性参数测试装置，包括测试仪，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3接测试仪的数字控制信号输出端，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪的恒流信号设定输出端，输入的信号经集成运放U2～3放大、并控制MOS管TQ3～4的G极与S极之间电压达到控制恒流源输出的电流，此电流经过继电器J1输入到被测温敏电阻W上，通过温敏电阻W的阻值即可得到现在的温度。这样流过温敏电阻W的电流可调，而不受电源的限制，不管温敏电阻W值怎样变化其取样电压值都是成比例变化的，灵敏度大大提高。
Description
所属技术领域
本实用新型提供一种半导体激光器特性参数测试装置，属于光电测试装置技术领域。
背景技术
在半导体激光器的测试过程中，温度是一个重要的指标，它对激光器的波长和功率等都有影响，作为测试激光器的仪器，它的温度控制精度电路部分是一个重要的环节，是衡量仪器技术含量的重要标准。现有的测试仪都是采取分压的方法从温敏电阻两端取得电压值然后得出现在的被测温度，由于器件的离散性、电源电压的误差和方式不灵活，这种方法取得的电压值精度有很大的误差，而且在大动态温度的控制时灵敏度不高(当热敏电阻很大时，热敏电阻的变化引起电压的变化不是线性的，电源的电压是固定的不可调)，分压电阻的热效应也是不能避免的。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种能克服上述缺陷、精度和灵敏度高的半导体激光器特性参数测试装置。其技术方案为：
包括测试仪，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3的一端接测试仪的数字控制信号输出端，其另一端对应经电阻R8～10接电源，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪的恒流信号设定输出端、依次经电阻R4和电阻R6接MOS管TQ3的D极及集成运放U3A的反向输入端，集成运放U3A的输出端接MOS管TQ3的G极，MOS管TQ3的S极分别接集成运放U3B的正向输入端、经电阻R5接电源，集成运放U3B的反向输入端接MOS管TQ4的S极、经电阻R7接电源，集成运放U3B的输出端接MOS管TQ4的G极，MOS管TQ4的D极分别经继电器J2的常闭触点J21及电阻R11接地、经继电器J1的常开触点J11接待测的温敏电阻W，温敏电阻W的另一端接电阻R4与电阻R6连接端、并经继电器J3的常闭触点J31接地。
其工作原理为：当电路工作时，设定的恒流信号输入到集成运放U2的正向输入端，经集成运放U2、集成运放U3放大输出，控制MOS管TQ3、TQ4的G极S极之间电压达到控制恒流源输出的电流，此电流经过继电器J1输入到被测温敏电阻W上，通过温敏电阻W的阻值即可得到现在的温度。
本技术与现有技术相比，温敏电阻取样电压V＝I(横流源)×温敏电阻W，这样就避免了原有测试仪的不足，而且流过温敏电阻W的电流可调，不受电源的限制，不管温敏电阻W值怎样变化其取样电压值都是成比例变化的，所以灵敏度、精度大大提高。
附图说明
图1是本实用新型实施例的电路图。
具体实施方式
1、测试仪
继电器J1～3的一端接原有测试仪1的数字控制信号输出端，其另一端对应经电阻R8～10接+5V电源，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪1的恒流信号设定输出端、依次经电阻R4和电阻R6接MOS管TQ3的D极及集成运放U3A的反向输入端，集成运放U3A的输出端接MOS管TQ3的G极，MOS管TQ3的S极分别接集成运放U3B的正向输入端、经电阻R5接+5V电源，集成运放U3B的反向输入端接MOS管TQ4的S极、经电阻R7接+5V电源，其输出端接MOS管TQ4的G极，MOS管TQ4的D极分别经继电器J2的常闭触点J21及电阻R11接地、经继电器J1的常开触点J11接待测的温敏电阻W，温敏电阻W的另一端接电阻R4与电阻R6连接端、并经继电器J3的常闭触点J31接地。
因测试仪1为已有技术，故没提供详细电路图。
Claims (1)
1、一种半导体激光器特性参数测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3的一端接测试仪(1)的数字控制信号输出端，其另一端对应经电阻R8～10接电源，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪(1)的恒流信号设定输出端、依次经电阻R4和电阻R6接MOS管TQ3的D极及集成运放U3A的反向输入端，集成运放U3A的输出端接MOS管TQ3的G极，MOS管TQ3的S极分别接集成运放U3B的正向输入端、经电阻R5接电源，集成运放U3B的反向输入端接MOS管TQ4的S极、经电阻R7接电源，集成运放U3B的输出端接MOS管TQ4的G极，MOS管TQ4的D极分别经继电器J2的常闭触点J21及电阻R11接地、经继电器J1的常开触点J11接待测的温敏电阻W，温敏电阻W的另一端接电阻R4与电阻R6连接端、并经继电器J3的常闭触点J31接地。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100371725C (zh) * | 2005-11-25 | 2008-02-27 | 左昉 | 半导体激光器参数测量装置 |
| CN109564262A (zh) * | 2016-08-12 | 2019-04-02 | 东京毅力科创株式会社 | 器件检查电路、器件检查装置和探针卡 |
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