CN2684471Y - 内嵌误码测试功能的光端机 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种内嵌误码测试功能的光端机。光端机包括微处理器单元、E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元和分别与E1线路接口单元、光线路接口单元、误码测试单元连接的支路测试选择器单元，误码测试单元产生检测序列和检测经传输后的检测序列。进行误码测试时，可从远端光端机内部环回、外部环回和两端光端机对测的三种方式中选择任一种测试方式，从而执行相应的步骤，这些步骤是在网管台控制下，通过光端机中的微处理器单元发出控制命令，并由支路测试选择器单元具体执行的，实现检测序列向光方向或E1线路方向的任意支路发送，和将光方向或E1线路方向的任意支路的检测序列送误码检测器检测。

Description

内嵌误码测试功能的光端机

技术领域

本实用新型涉及光通信技术，更确切地说是涉及一种光端机设备，是内嵌了误码测试功能的光端机设备，通过为光端机提供误码监测功能，用户无需外配误码测试仪就可以进行传输线路的误码测试，有利于减少用户的维护成本以及设备的投入成本。

背景技术

目前电信服务中迫切需要解决的问题之一是实现传输系统中智能化的端到端测试，以便为用户提供差异化、个性化服务，实现优质优价，真正满足服务等级协议(SLA)的要求。

现有的解决光端机端到端测试问题，通常利用误码测试仪来解决，即通过外加误码测试仪完成。具体方法有以下几种：

1.通过远端光端机的内部环回。如图1中所示。

将误码测试仪与本端光端机A的某一路E1端口用电缆连接起来，将远端光端机B相应的E1端口信号在内部自环，误码测试仪发送测试序列，经本端光端机A、远端光端机B再环回到本端光端机A及误码测试仪，从而完成测试序列的检测、误码的统计和告警。

2.通过远端光端机的外部环回。如图2中所示。

将误码测试仪与本端光端机A的某一路E1端口用电缆连接起来，将远端光端机B相应的E1端口信号在外部自环，误码测试仪发送测试序列，经本端光端机A、远端光端机B再环回到本端光端机A及误码测试仪，从而完成测试序列的检测、误码的统计和告警。

3.通过两台误码测试仪A1、B1对测。如图3中所示。

将误码测试仪A1与光端机A的某一路E1端口用电缆连接起来，将误码测试仪B1与光端机B的相应E1端口用电缆连接起来，可以通过误码测试仪A1经光端机A、光端机B向远端的误码测试仪B1发送测试序列，由误码测试仪B1来完成测试序列的检测、误码的统计和告警；或者，通过误码测试仪B1经光端机B、光端机A向远端的误码测试仪A1发送测试序列，由误码测试仪A1来完成测试序列的检测、误码的统计和告警。

上述测试方式的主要缺点是：用户除了需要购买光端机外，还需要另行购买误码测试设备，因而设备的投资成本高；当系统出现问题时，运行维护人员必须到现场，才能进行测试和故障定位，因而故障定位响应时间慢；在网络结构复杂的环境中，不利于用户的整体维护管理，因而网络的运行维护成本高。

实用新型内容

本实用新型的目的是设计一种内嵌了误码测试功能的光端机，该光端机是内嵌了误码测试功能的光端机，集现有的三种测试方法于一身，可以解决现有测试方式的主要缺点，减少投资成本、加快故障定位响应时间和降低网络的运行维护成本。

实现本实用新型目的的技术方案是这样的：一种内嵌误码测试功能的光端机，包括由微处理器单元、E1线路接口单元和光线路接口单元组成的光端机部分，E1线路接口单元通过E1业务信号输入/输出端与用户设备连接，光线路接口单元通过光信号输入/输出端与光纤连接，光线路接口单元包括复用器和解复用器，其特征在于：

还包括误码测试单元和支路测试选择器单元；误码测试单元包括伪随机序列发生器和伪随机序列检测器；

微处理器单元通过数据总线与控制总线连接E1线路接口单元、误码测试单元、支路测试选择器单元和光线路接口单元，支路测试选择器单元分别连接误码测试单元、E1线路接口单元和光线路接口单元；

伪随机序列发生器产生的检测序列传送给所述的支路测试器选择单元，支路测试器选择单元将来自待测线路的检测序列传送给伪随机序列检测器单元；所述的支路测试选择器单元在微处理器单元的控制下，完成E1业务信号或发送的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择，以及完成E1业务信号或接收的来自待测线路的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择；所述的E1线路接口单元在微处理器单元的控制下，完成检测序列在待测线路上的环回，和E1业务信号的编解码、E1业务信号的时钟提取及E1业务信号HDB3码与NRZ码的选择。

利用内嵌了误码测试功能的光端机在实现端到端传输的误码测试时，可从远端光端机内部环回、远端光端机外部环回和两端光端机对测的三种测试方式中选择任一种测试方式，并根据选择的测试方式对应执行步骤B1或B2或B3；

B1.在选择远端光端机内部环回的测试方式时，网管设备控制待测线路近端光端机，通过支路测试选择器单元将检测序列选送到光线路接口单元上发送，和将光线路接口单元接收到的检测序列选送到误码测试单元检测；网管设备控制远端光端机，通过支路测试选择器单元将E1线路接口单元选接到光线路接口单元上，将光线路接口单元接收到的检测序列选送到E1线路接口单元上，和通过所述E1线路接口单元将发送E1数据线路环回到支路测试选择器单元；

B2.在选择远端光端机外部环回的测试方式时，网管设备控制待测线路近端光端机，通过支路测试选择器单元将检测序列选送到光线路接口单元上发送，和将光线路接口单元接收到的检测序列选送到误码测试单元检测；网管设备控制远端光端机，通过支路测试选择器单元将E1线路接口单元选接到光线路接口单元上，将光线路接口单元接收到的检测序列选送到E1线路接口单元上，在远端光端机外部将所述E1线路接口单元的发送与接收E1数据线路连接；

B3.在选择两端光端机对测的测试方式时，网管设备控制本端与远端光端机的支路测试选择器单元将检测序列选送到光线路接口单元发送，和将光线路接口单元接收的检测序列选送到检测序列检测器进行检测。

本实用新型的关键点在于将实现误码仪功能的部件内嵌在光端机中，并且结合光端机的环回功能以及网管系统对光端机的网管能力，通过设计支路测试选择器灵活地为用户提供便捷的线路实时测试方案，包括实现现有测试方式中的任一种测试方式。本实用新型通过将误码仪测试误码的功能部件内嵌在光端机的结构设计中，和在实时采集误码以及通过支路测试器选择单元对不同方向(光口方向或E1线路方向)、不同路数E1分别随时进行误码测试。

本实用新型借助于网管控制可以实现目前已有的端到端误码测试方案；设备成本以及运行维护成本比已有的测试方案低；故障定位比已有测试方案迅速，可实现智能化的测试。当出现故障时或需要进行全网检测时，运维人员只需要在网管台上进行简单的操作(发出控制指令)，光端机设备就会自动进行线路测试，并将采集的测试结果上报到网管台。

附图说明

图1是现有的通过远端机内部环回的方式进行端到端误码测试的方法示意图；

图2是现有的通过远端机外部环回的方式进行端到端误码测试的方法示意图；

图3是现有的通过两台误码测试仪进行端到端误码测试的方法示意图；

图4是内嵌误码测试功能部件的光端机原理性结构框图；

图5是图4中的E1线路接口单元的原理性结构框图；

图6是图4中的支路测试器选择单元的原理性结构框图；

图7是图4中的伪随机序列发生器的电路结构原理图；

图8是图4中的伪随机序列检测器的电路结构原理图；

图9是利用本实用新型的技术实现线路快速定位的示意图。

具体实施方式

光通信领域的未来发展主趋势是设备小型化、高品质，因而各运营商也必然会采取相应的技术措施来实现上述要求，其中内嵌式的整体解决方案成为智能化设计中的一项重要技术。

利用本实用新型设备实现端到端传输误码测试是采用光端机内嵌误码测试仪功能，和通过网管控制远端光端机的环回或直接进行检测。

参见图4，为内嵌了误码测试功能的光端机结构。由五个功能部件组成：微处理器单元41，光线路接口单元42，E1线路接口单元43，误码测试单元44和支路测试器选择单元45。其中微处理器单元41，光线路接口单元42和E1线路接口单元43是现有光端机已有的功能部件(但对E1线路接口单元43略作了一些改动)，误码测试单元44和支路测试器选择单元45是为实现光端机的误码检测功能内嵌在光端机中的功能部件。微处理器单元41通过数据、控制总线与光线路接口单元42，E1线路接口单元43，误码测试单元44和支路测试器选择单元45连接，实现对各单元的控制与数据传输。

微处理器单元(CPU)41除完成对整个光端机的工作控制外，还根据网管控制台要求，负责对误码测试的配置以及对测试结果的采集与分析，将测试结果上报到网管控制台。

光线路接口单元42与光纤侧连接，主要包括复用器421和解复用器422，完成E1业务信号的码速调整以及复用或解复用，将电信号变为光信号以便在光纤上传输，和将来自光纤上的光信号转变为电信号以便对其进行处理。

E1线路接口单元43，完成各支路E1业务信号三阶高密度双极性码(HDB3)的编码或解码，E1业务信号的时钟提取，HDB3码与非归零(NRZ)码的选择及光端机测试序列的环回控制。E1线路接口单元43，可接收NRZ码或HDB3码准同步E1业务信号输入。在NRZ码输入模式下，数据在时钟的上升沿或下降沿变化均可，而软件设置可将输入定时倒相。同时还提供外部时钟丢失告警指示。对于HDB3码输入模式，采用片内数字定时提取，并检测信号丢失。将来自用户终端的E1业务信号送至支路测试器选择单元45，或将来自支路测试选择器单元45的E1业务信号送用户终端。该E1线路接口单元43在来自微处理器单元41的设备环回或线路环回信号控制下，还可以实现E1端口的设备环回或线路环回。该E1线路接口单元43在来自微处理器单元41的输入码型选择、输出码型选择信号控制下，实现输入码型和输出码型选择(HDB3码与NRZ码)

误码测试单元44，主要包括伪随机序列发生器441和伪随机序列检测器442，也是通常误码测试仪的主要功能部件，完成伪随机序列的产生，供发出检测序列，以及对从远端光端机传来的检测序列进行误码检测。

支路测试选择器单元45，完成各E1支路发送测试序列的支路选择和方向选择(光口方向还是E1线路方向)，以及E1接收测试序列的支路选择(各E1支路)和方向选择(光口方向还是E1线路方向)。

支路测试选择器单元45在中央处理单元41的控制下，将测试序列向光口方向或E1线路方向的任意支路发送；和将光口方向或E1线路方向任意支路的测试序列送至误码检测单元。

进行E1业务信号传输时，本端光端机在微处理器单元41控制下，用户设备的E1业务信号经E1线路接口单元43、支路测试器选择单元45送入光线路接口单元42的复用器421，最终转变为光信号后送光纤传输；来自远端光端机的E1业务信号，被本端光端机的光线路接口单元42解复用，最终形成的电信号，再经支路测试器选择单元45、E1线路接口单元43送用户终端。

进行误码检测时，若选择远端光端机环回(内部环回)的方式检测，本端光端机在微处理器单元41控制下，伪随机序列发生器441产生的检测序列经支路测试选择器单元45送入光线路接口单元42的复用器421，经转变为光信号后送光纤传输；远端光端机被控制设置为线路环回连接状态，检测序列经远端光端机环回入光纤，被本端光端机的光线路接口单元42解复用成电信号，再经支路测试选择器单元45送到误码测试单元44的伪随机序列检测器412中进行误码检测、统计与告警等。

若选择远端光端机环回(外部环回)的方式检测，本端光端机在微处理器单元41控制下，伪随机序列发生器441产生的检测序列经支路测试选择器单元45送入光线路接口单元42，并将光线路接口单元42接收的检测序列经支路测试选择器单元45送误码测试单元44；远端光端机在微处理器单元41控制下，将E1线路接口经支路测试选择器单元45选到光线路接口单元42，并将光线路接口单元42接收的检测序列经支路测试选择器单元45选到E1线路接口，E1线路接口单元不作线路环回，通过设备外部环回。

若选择两端光端机对测的方式检测，本端光端机在微处理器单元41控制下，伪随机序列发生器441产生的检测序列经支路测试选择器单元45送入光线路接口单元42的复用器421，经转变为光信号后送光纤传输；远端光端机被控制设置为光线路接口与误码测试单元间的连接状态，检测序列经远端光端机的光线路接口单元42解复用成电信号，再经支路测试器选择单元45送到误码测试单元44的伪随机序列检测器412中进行误码检测、统计与告警等。

参见图5，为E1线路接口单元43的原理框图，完成E1业务信号三阶高密度双极性码(HDB3)的编码或解码，E1业务信号的时钟提取，HDB3码与非归零(NRZ)码的选择(以上均为光端机原有功能)及光端机内部测试序列的环回控制，包括线路环回与设备环回。主要包括2选1开关431、432、433、434，HDB3编码器435，HDB3解码器436和E1业务信号的时钟提取电路437。输入码型选择信号控制2选1开关433选择输入HDB3码或NRZ码(来自用户设备侧的)；输出码型选择信号控制2选1开关432选择输出HDB3码或NRZ码(至用户设备侧的)；设备环回选择信号控制2选1开关434选择设备内部环回(接收E1数据经431、再经437、436入433或直接入433、434，再经435入432或直接入432，向用户设备发送，该设备环回功能用于用户设备与光端机间的检测)，否则选择来自支路测试选择器单元45的信号，线路环回选择信号控制2选1开关431选择线路环回输出(输出来自2选1开关432的输出信号)，否则选择接收用户设备的E1数据。在进行端到端误码检测时，远端光端机通常工作在线路环回方式。设备环回选择与线路环回选择只能择一使用。该环回选择控制信号是由网管台将相应信号插入开销信号中来通知光端机的微处理器单元，并由微处理器单元进行具体控制的。

本端光端机在进行E1业务信号收发时，设备环回选择与线路环回选择均无效(相当于图中的A线、B线均断开)。接收的用户设备的E1数据，经2选1开关431、直接或经E1时钟提取、HDB3解码后，再经2选1开关433作码型选择后送支路测试选择器单元45，并经支路测试选择器单元45送光线路接口42进行发送；接收的来自光线路接口的E1业务信号，经支路测试选择器单元45、2选1开关434、直接或经HDB3编码后，再经2选1开关432向用户设备发送E1业务数据。

在进行误码检测时，若选择远端光端机环回且为内部环回的测试方式，远端光端机线路环回选择有效(相当于图中的A线闭合、B线断开)，接收的来自光线路接口43的检测序列信号，经支路测试选择器单元45、2选1开关434、直接或经HDB3编码后，再经2选1开关432、A线、2选1开关431、直接或经E1时钟提取、HDB3解码后，再经2选1开关433送支路测试选择器单元45，并经支路测试选择器单元45送光线路接口进行发送。

从以上分析可知，与传统光端机的E1线路接口单元的结构相比较，增加了设备环回功能与线路环回功能。

参见图6，为支路测试选择器单元45的原理框图，主要完成各E1支路发送测试序列的支路选择和方向选择(光口方向至E1线路方向，还是相反)，以及E1接收测试序列的支路选择和方向选择(光口方向至E1线路方向，还是相反)。换句话说，支路测试选择器单元45在微处理器单元41的控制下，将检测序列向光口方向或E1线路方向的任意支路发送，或者将光口方向或E1线路方向任意支路的检测序列送至误码测试单元43。当然在光端机进行正常的E1业务信号传输时，支路测试选择器单元45需要完成光口方向与E1线路方向间的E1业务信号直通。

支路测试选择器单元45主要包括三个2选1开关451、452、453。

在光端机进行E1业务信号传输时，发送端光端机的支路测试选择器单元中，来自E1线路接口单元43的E1业务信号经2选1开关452传递到光线路接口单元42；接收端光端机的支路测试选择器单元中，来自光线路接口单元的E1业务信号经2选1开关453传递到E1线路接口单元43。

在光端机进行误码检测时，分为选择向光线路发送检测序列和选择向E1电路发送检测序列两种情况。

发送端光端机在选择向E1电路发送检测序列时，来自误码测试单元44的检测序列通过图中C线和2选1开关453送到E1线路接口单元43；发送端光端机在选择向光线路发送检测序列时，来自误码测试单元44的检测序列通过2选1开关452送到光线路接口单元42。

接收端光端机在选择向光线路发送检测序列时，来自光线路接口的检测序列经2选1开关451传递到误码测试单元44。来自E1线路接口单元的检测序列通过2选1开关451送到误码测试单元44。

控制信号—“选择误码检测源”，控制2选1开关451将来自光线路接口单元的检测序列/E1业务信号或来自E1线路接口单元的检测序列送到误码测试单元；控制信号—“选择向E1支路发送检测序列”，控制2选1开关453将来自光线路接口单元的检测序列/E1业务信号或来自误码测试单元的检测序列送到E1线路接口单元；控制信号—“选择向光线路发送检测序列”，控制2选1开关452将来自E1线路接口单元的检测序列/E1业务信号或来自误码测试单元的检测序列发送到光线路接口单元。

若选择远端光端机环回且为内部环回的测试方式时，本端光端机的支路测试选择器单元45将检测序列选到光线路接口单元43(由452完成)，和将光线路接口单元43接收的由远端光端机环回的检测序列选到误码测试单元44(由451完成)。远端光端机的支路测试选择器单元45将E1线路接口单元选到光线路接口单元(由452完成)，和将光线路接口接收到的检测序列选到E1线路接口单元(由453完成)，同时通过“线路环回选择”信号控制E1线路接口单元43中的第一2选1开关(如图5中431所示，选择1路)将E1接口的线路环回。

若选择远端光端机环回且为外部环回的测试方式时，本端光端机的支路测试选择器单元45将检测序列选送到光线路接口单元42发送(由452完成)，和将光线路接口单元42接收的由远端光端机环回的检测序列选送到误码测试单元44(由451完成)进行检测。远端光端机的支路测试选择器单元45将E1线路接口单元选到光线路接口单元上(由452完成)，和将光线路接口单元42接收到的检测序列选到E1线路接口单元43上(由453完成)，实现E1线路接口在线路上不环回(如图5中431所示，选择0路)，而在设备外部环回的功能(如图5中接收E1数据端与发送E1数据端连接)。

若选择两端光端机对测的方式检测，本端光端机的支路测试选择器单元45将误码测试单元44输出的检测序列选送到光线路接口单元43发送(由452完成)，和将光线路接口单元45接收的伪随机序列选送到误码测试单元44进行检测(由451完成)。远端光端机的支路测试选择器单元45将误码测试单元44输出的检测序列选送到光线路接口单元43发送(由452完成)，和将光线路接口单元45接收的伪随机序列选送到误码测试单元44进行检测(由451完成)。

参见图7，为误码测试单元44中伪随机序列发生器441的电路结构，该电路根据ITUT O.151中推荐的E1测试序列，可采用215-1的伪随机序列。由15个D触发器与一异或门连接成移位寄存器构成。

参见图8，为误码测试单元44中伪随机序列检测器412的电路结构框图。包括伪随机同步检测单元4121、伪随机序列发生器4122、比较器4123和误码统计单元4124。

伪随机同步检测单元4121对接收的伪随机序列进行检测，当同步上该接收序列时，提取出同步信号送给本地伪随机序列发生器4122并启动本地伪随机序列发生器4122，比较器4123对检测出的伪随机序列与发生的伪随机序列按位进行比较，当发生一位错误时，向误码统计单元4124送出一个脉冲，使误码统计单元加1，从而完成误码检测的统计，再送微处理器单元计算出当前的误码数。

本地伪随机序列发生器4122独立于图4所示的伪随机序列发生器441，但两者采用的是相同的伪随机序列发生机制。

图7、图8所示的电路原理与传统误码测试仪中的相应电路具有相同的原理。

本实用新型在实施时，将由微处理器单元、E1线路接口单元和光线路接口单元组成的光端机部分，与增加的误码测试单元、支路测试选择器单元设置在同一个整体设备中，而构成本实用新型的内嵌了误码测试功能的光端机。并进一步地将误码测试单元与支路测试选择器单元设计在同一块集成电路芯片中。

参见图9，图中示意出利用本实用新型设备进行故障快速定位的效果。

用户A与用户B间通过用户线路M、传输线路E、F、G及用户线路N建立联系(将传输线路分为E，F，G三段，将用户线路分为M，N两段)。当用户A，B间的传输出现故障时，通过内嵌误码测试功能的光端机1、2、3、4可以对传输线路进行分段检测。包括以下处理过程：

1.维护人员通过网管台向集中型光端机2发出发检测序列的命令，向远端光端机1发出向光口方向环回的指令，并在集中型光端机2上检测该检测序列，就可实现对E线路段的诊断。网管台91发出的指令可通过光线路的开销字节传递给远端光端机1和集中型光端机2。

2.维护人员通过网管台向集中型光端机2发出发检测序列的命令，向光端机3发出(可以利用专门的网管通道)向E1线路方向环回的指令，并在光端机2上检测该检测序列，实现对F线路段的诊断。

3.维护人员通过网管台向光端机3发出发测试序列的命令，向光端机4发出向光口方向环回(可以通过光线路的开销字节传递)的指令，并在光端机3上检测该检测序列，实现对G线路段的诊断。

通过以上3个步骤，就可完成对传输线路的诊断。整个诊断过程中，无需维护人员到现场连接误码测试仪，确定故障段方便、快捷且可靠。

对用户线路段M、N的测试，则需要用户端设备A、B的支持(参照本实用新型对支路测试选择器单元的设计思路)，光端机1、4可以提供向E1线路侧环回或向E1线路侧发检测序列。

本实用新型将误码检测功能内嵌在光端机中，并设计出应用灵活的支路测试选择器单元，通过网管实时地按需要控制待测线路一侧的光端机发检测序列与接收环回的该检测序列，和控制线路另一侧的光端机(或用户设备，但具有误码测试仪功能)向光口方向(或向E1线路方向)环回，就可以实现现有的三种端到端测试方式，设备成本及运行维护成本却低于现有的三种端到端测试方式，且故障定位迅速。当需要进行全网检测或线路出现故障时，运行维护人员只需在网管台上进行简单的操作，由相应的内嵌了误码测试功能的光端机自动进行线路测试，并将测试结果上报到网管台。

Claims (6)

1.一种内嵌误码测试功能的光端机，包括由微处理器单元、E1线路接口单元和光线路接口单元组成的光端机部分，E1线路接口单元通过E1业务信号输入/输出端与用户设备连接，光线路接口单元通过光信号输入/输出端与光纤连接，光线路接口单元包括复用器和解复用器，其特征在于：

还包括误码测试单元和支路测试选择器单元；误码测试单元包括伪随机序列发生器和伪随机序列检测器；

微处理器单元通过数据总线与控制总线连接E1线路接口单元、误码测试单元、支路测试选择器单元和光线路接口单元，支路测试选择器单元分别连接误码测试单元、E1线路接口单元和光线路接口单元；

伪随机序列发生器产生的检测序列传送给所述的支路测试器选择单元，支路测试器选择单元将来自待测线路的检测序列传送给伪随机序列检测器单元；所述的支路测试选择器单元在微处理器单元的控制下，完成E1业务信号或发送的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择，以及完成E1业务信号或接收的来自待测线路的检测序列在E1线路接口单元与光线路接口单元间的支路选择及方向选择；所述的E1线路接口单元在微处理器单元的控制下，完成检测序列在待测线路上的环回，和E1业务信号的编解码、E1业务信号的时钟提取及E1业务信号HDB3码与NRZ码的选择。

2.根据权利要求1所述的一种内嵌误码测试功能的光端机，其特征在于：所述的E1线路接口单元包括第一2选1开关、第二2选1开关、第三2选1开关、第四2选1开关、HDB3编码器、E1业务信号的时钟提取电路和HDB3解码器；第一2选1开关的一路输入是所述的E1业务信号输入端，第一2选1开关的另一路输入是所述的E1业务信号输出端并连接第二2选1开关的输出端；第二2选1开关的一路输入端连接HDB3编码器输出端，第二2选1开关的另一路输入端连接HDB3编码器输入端并连接第四2选1开关输出端；第三2选1开关的一路输入端连接HDB3解码器的输出端，第三2选1开关的另一路输入端连接第一2选1开关的输出端并连接E1业务信号的时钟提取电路输入端，E1业务信号的时钟提取电路输出端连接HDB3解码器的输入端；第四2选1开关的一路输入端连接第三2选1开关的输出端，并连接所述支路测试器选择单元的输入端，第四2选1开关的另一路输入端连接所述支路测试器选择单元的输出端；所述第一2选1开关的控制端连接微处理器单元的线路环回选择控制信号输出端，所述第二2选1开关的控制端连接微处理器单元输出的输出码型选择控制信号输出端，所述第三2选1开关的控制端连接微处理器单元输出的输入码型选择控制信号输出端，所述第四2选1开关的控制端连接微处理器单元输出的设备环回选择控制信号输出端。

3.根据权利要求1所述的一种内嵌误码测试功能的光端机，其特征在于：所述的支路测试器选择单元包括第五2选1开关、第六2选1开关和第七2选1开关；第五、第七2选1开关的一路输入端连接光线路接口单元的解复用器输出端；第五2选1开关的另一路输入端与第六2选1开关的一路输入端连接E1线路接口单元的输出端，第五2选1开关的输出端连接误码测试单元的伪随机序列检测器，第六、第七2选1开关的另一路输入端连接误码测试单元的伪随机序列发生器，第六2选1开关的输出端连接光线路接口单元的复用器输入端，第七2选1开关的输出端连接E1线路接口单元的输入端；第五2选1开关的控制端连接微处理器单元的选择误码检测源的控制信号输出端，第六2选1开关的控制端连接微处理器单元的选择向光线路发送检测序列的控制信号输出端，第七2选1开关的控制端连接微处理器单元的选择向E1线路发送检测序列的控制信号输出端。

4.根据权利要求1所述的一种内嵌误码测试功能的光端机，其特征在于：所述的伪随机序列检测器包括伪随机序列同步信号检测器、伪随机序列发生器、比较器和误码统计单元；伪随机序列检测器接收所述的来自待测线路的检测序列，与检测序列同步后输出同步信号启动伪随机序列发生器，比较器对伪随机序列检测器输出的来自待测线路的检测序列与伪随机序列发生器输出的检测序列按位进行比较，比较结果送误码统计单元进行误码统计。

5.根据权利要求1所述的一种内嵌误码测试功能的光端机，其特征在于：所述的由微处理器单元、E1线路接口单元和光线路接口单元组成的光端机部分，与所述的误码测试单元、支路测试选择器单元设置在同一个整体设备中。

6.根据权利要求1所述的一种内嵌误码测试功能的光端机，其特征在于：所述的误码测试单元与支路测试选择器单元设计在同一块集成电路芯片中。

Images