CN2662543Y - 射频电路测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种射频(RF)电路测试装置，将第一功率分配器、第二功率分配器、衰减器及其连接线路整合在一测试装置内，简化在更换测试线时量测仪器及治具必须重新架设的问题，故可节省更换测试线时所需的时间及人力，亦可解决交由外包测试厂测试产品时，技术移转过于复杂的问题。
Description
技术领域
本实用新型有关于一种射频(RF)电路测试装置，特别是针对一种适用于无线网络的射频电路测试装置。
背景技术
因应于频宽与移动性越来越高的需求，让消费大众能够早日享受到相当于有线以太网络(Ethernet)速度的高速与便捷，却不受缆线限制而能够随时随地、自由自在地进行数据传输。虽然目前几乎所有的局域网络(LAN)都仍旧是有线的架构，不过近年来无线网络的应用却日渐增加。主要应用范围在学术界(像是大学校园)、医疗界、制造业和仓储业等。而且相关的技术也一直在进步，对企业而言要转换到无线网络也更加容易、更加便宜了。
为了让无线局域网络(WLAN)技术能够被广为使用，这些技术必须要建立一种业界标准，以确保各厂商生产的设备都能具有相容性与稳定性。这些标准是IEEE(电机电子工程师协会，The Institute of Electrical andElectronics Engineers)所制定的，最早的规格IEEE 802.11是在1997年提出，接着在1999年9月又提出了IEEE 802.11a和IEEE 802.11b。初期的规格制定了在射频(RF：Radio Frequency)频段2.4GHz上的运用，并且提供了1Mbps、2Mbps和许多基础信号传输方式与服务的传输速率规格。IEEE802.11a和IEEE 802.11b标准则分别为5.8GHz和2.4GHz频段做定义，另外，IEEE 802.11g规格也已经被公布。
要无线上网首先需在计算机上安装一无线网络卡且周围要有无线区域网路基地台(Access Point，AP)，目前无线网络产品于生产完成后都需经过许多测试，其中一项即是射频测试。由于测试线在测试不同产品时，所有量测仪器及治具几乎都必须重新架设才能提供给下一产品测试使用，在此分秒必争且人力成本高涨的今日，实在不符合经济效益。且重新架设量测仪器及治具需先对测试人员施以训练，教其如何架设，若此测试项目交由多家外包测试厂进行产品测试，也会衍生出技术移转过于复杂的问题。
发明内容
鉴于上述现有技术中测试线在更换测试产品时，所有量测仪器及治具几乎都必须重新架设才能提供给下一产品测试使用的问题，故本实用新型提供一种新的射频电路测试装置，能解决更换测试产品时有太多量测仪器及治具几乎都必须重新架设的问题，节省时间及人力，亦可解决交由多家外包测试厂测试产品时，技术移转过于复杂的问题。
根据以上所述的目的，本实用新型提供的射频电路测试装置，包括：一壳体，具有一第一接头、一第二接头、一第三接头及一第四接头；一第一功率分配器，设置于该壳体内，藉由该第一接头与该被测试产品电性连接，用以接收该被测试产品的一第一输出信号及送出一第一中继信号及一第二中继信号；一第二功率分配器，设置于该壳体内，接收该第一中继信号及分别送出一第三中继信号及一第四中继信号至该第二接头与该第三接头；一衰减器，设置于该壳体内，接收该第二中继信号及送出一第五中继信号至该第四接头。
根据上述射频电路测试装置，其中该被测试产品可为一无线网络卡。
根据上述射频电路测试装置，其中该被测试产品可为一无线局域网络基地台(Access Point，AP)。
根据上述射频电路测试装置，其中该第一功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该第二功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该衰减器为一可程序化衰减器。
上述可程式化的衰减器调整范围介于0-110dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该第二接头与一频谱分析仪电性连接。
根据上述射频电路测试装置，其中该第三接头与一功率计电性连接。
根据上述射频电路测试装置，其中该第四接头与一标准产品电性连。
上述标准产品使用规格与该被测试产品使用规格相同。其产品使用规格可为IEEE 802.11a、IEEE 802.11b或IEEE 802.11g。
根据以上所述的目的，本实用新型提供了另一种射频电路测试装置，用于测试一被测试产品，包含：一壳体，具有复数个接头；一功率分配器，设置于该壳体内，藉由该复数个接头接收该被测试产品送入的一第一信号及送出一第二信号至一量测仪器；一衰减器，设置于该壳体内，藉由该复数个接头接收该被测试产品送入的一第一信号及送出一第三信号至一标准产品。
根据上述射频电路测试装置，其中该壳体是以金属制成。
根据上述射频电路测试装置，其中该被测试产品为一无线网络卡。
根据上述射频电路测试装置，其中该被测试产品为一无线局域网络基地台(Access Point，AP)。
根据上述射频电路测试装置，其中该功率分配器更包含一第一功率分配器及一第二功率分配器。
根据上述射频电路测试装置，其中该第一功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该第二功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该衰减器为一可程序化衰减器。
上述可程序化的衰减器调整范围介于0-110dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该衰减器更包含一第一衰减器及一第二衰减器。
其中该第一衰减器调整范围介于0-100dB，其中该第二衰减器调整范围介于小0-10dB。
根据上述射频电路测试装置，其中该量测仪器更包含一频谱分析仪及一功率计。
根据上述射频电路测试装置，其中该标准产品使用规格与该被测试产品使用规格相同，可为IEEE 802.11a、IEEE 802.11b或IEEE 802.11g。
附图说明
图1为本实用新型射频电路测试装置的电路方块图。
图2为本实用新型射频电路测试装置的详细接线图。
附图符号说明：
11：射频电路测试装置 12：第一功率分配器
13：第二功率分配器 14：第一衰减器
15：第二衰减器 16：可程序化衰减器
21：被测试产品 22：频谱分析仪
23：功率计 24：标准产品
211、212、213、214、215、216：信号
31、32、33、34、35、36、37、38：信号连接线
41、43、45、47：SMA接头(F/F)
42、44、46：SMA接头(m/m)
具体实施方式
本实用新型的实施例请参见图1所示的射频电路测试装置的方块图及图2所示的射频电路测试装置的详细接线图。如图1所示，被测试产品21输出一信号211给第一功率分配器(Splitter)12，第一功率分配器12会将此信号分成两个信号212、213输出，其中信号212将输出到一第二功率分配器13，此第二功率分配器13再将信号212分成两个信号214、215输出到一频谱分析仪(Spectrum Analyzer)22及一功率计(Power Meter)23。另一输出信号213将连接一可程序化衰减器(Programmer Attenuator)16，此可程序化衰减器16可调整衰减功率。信号2I3经过可程序化衰减器16即成为信号216输出至一标准产品24。此标准产品24的使用规格将与被测试产品21的使用规格相同，例如被测试产品21的使用规格为IEEE 802.11a，则标准产品24的使用规格亦为IEEE 802.11a。被测试产品21的输出信号经由第一功率分配器12、可程序化衰减器16，最后输出到标准产品24的目的是为了测试该被测试产品21及该标准产品24的连接信号。本实用新型即是将第一功率分配器12、第二功率分配器13、可程序化衰减器16及其连接的线路整合在一射频电路测试装置11内。
请参见图2所示射频电路测试装置的详细接线图。首先准备一测试装置壳体，于此测试装置壳体内置入一第一功率分配器(Splitter)12，此第一功率分配器12的衰减功率可为3dB或6dB。第一功率分配器12的一端将以射频信号连接线31与预先在测试装置壳体上钻好孔且已安置完成的SAM接头(F/F)41连接。第一功率分配器12的另一端有两个信号出口，第一个信号出口以一SAM接头(m/m)42连接一第二功率分配器13的一端，第二个信号出口则以射频信号连接线32与第一衰减器(Attenuator)14连接，此第二功率分配器13的衰减功率可为3dB或6dB。第一衰减器14可采用型号Agilent 8496H002的衰减器，此型号的衰减器可调整的衰减功率范围介于0-100dB，每调一间格是10dB。第一衰减器14的另一端则以射频信号连接线33与第二衰减器15连接。第二衰减器15可采用型号Agilent 8494H002的衰减器，此型号的衰减器可调整的衰减功率范围介于0-10dB，每调一间格是1dB。第一衰减器14与第二衰减器15以串联方式形成一可程序化衰减器(Programmer Attenuator)16，其可调整的衰减功率范围介于0-110dB，每调一间格是1dB。第二衰减器15的另一端则以射频信号连接线34与预先在测试装置壳体上钻好孔且已安置完成的SAM接头(F/F)43连接。第二功率分配器13的一端与第一功率分配器的第一个信号出口连接，而第二功率分配器13的另一端亦有两个信号出口，第一个信号出口以一SMA接头(m/m)44连接一预先在测试装置壳体上钻好孔且已安置完成的SMA接头(F/F)45连接。第二个信号出口以一SMA接头(m/m)46连接一预先在测试装置壳体上钻好孔且已安置完成的SMA接头(F/F)47连接，此时即完成本实用新型的射频电路测试装置11。
测试装置壳体上的SMA接头(F/F)41将可藉由射频信号连接线35与被测试产品21连接。测试装置壳体上的SMA接头(F/F)43将可藉由射频信号连接线36与标准产品24连接。测试装置壳体上的SMA接头(F/F)45将可藉由射频信号连接线37与频谱分析仪(Spectrum Analyzer)22连接。测试装置壳体上的SMA接头(F/F)47将可藉由射频信号连接线38与功率计(Power Meter)23连接。
以上仅是本实用新型的一个较佳实施例，但是本实用新型并不限定于所举出的实施例。显而易见地，其它未脱离本实用新型所揭示的精神下，所完成的等效改变或修饰，均应包含在本实用新型的权利要求范围内。
Claims (27)
1.一种射频电路测试装置，用于一产品测试线以测试一被测试产品，其特征在于包括：
一壳体，具有一第一接头、一第二接头、一第三接头及一第四接头；
一第一功率分配器，设置于该壳体内，藉由该第一接头与该被测试产品电性连接，用以接收该被测试产品的一第一输出信号及送出一第一中继信号及一第二中继信号；
一第二功率分配器，设置于该壳体内，接收该第一中继信号及分别送出一第三中继信号及一第四中继信号至该第二接头与该第三接头；
一衰减器，设置于该壳体内，接收该第二中继信号及送出一第五中继信号至该第四接头。
2.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述被测试产品为一无线网络卡。
3.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述被测试产品为一无线区域网络基地台。
4.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第一功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
5.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第二功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
6.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述衰减器为一可程序化衰减器。
7.如权利要求6所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述可程序化衰减器的调整范围介于0-110dB。
8.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第二接头与一频谱分析仪电性连接。
9.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第三接头与一功率计电性连接。
10.如权利要求1所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第四接头与一标准产品电性连接。
11.如权利要求10所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述标准产品使用规格与该被测试产品使用规格相同。
12.如权利要求11所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述标准产品使用规格为IEEE 802.11a、IEEE 802.11b或IEEE 802.11g。
13.一种射频电路测试装置，用于测试一被测试产品，其特征在于包括：
一壳体，具有复数个接头；
一功率分配器，设置于该壳体内，藉由该复数个接头接收该被测试产品送入的一第一信号及送出一第二信号至一量测仪器；及
一衰减器，设置于该壳体内，藉由该复数个接头接收该被测试产品送入的一第一信号及送出一第三信号至一标准产品。
14.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述壳体是以金属制成。
15.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述被测试产品为一无线网络卡。
16.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述被测试产品为一无线局域网络基地台。
17.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述功率分配器更包含一第一功率分配器及一第二功率分配器。
18.如权利要求17所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第一功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
19.如权利要求17所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第二功率分配器的衰减功率为3dB或6dB。
20.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述衰减器为一可程序化衰减器。
21.如权利要求20所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述可程序化衰减器的调整范围介于0-110dB。
22.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述衰减器更包含一第一衰减器及一第二衰减器。
23.如权利要求22所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第一衰减器的调整范围介于0-100dB。
24.如权利要求22所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述第二衰减器调整范围介于0-10dB。
25.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述量测仪器更包含一频谱分析仪及一功率计。
26.如权利要求13所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述标准产品使用规格与该被测试产品使用规格相同。
27.如权利要求26所述的射频电路测试装置，其特征在于：所述标准产品使用规格为IEEE 802.11a、IEEE 802.11b或IEEE 802.11g。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNU2003201217588U CN2662543Y (zh) | 2003-11-20 | 2003-11-20 | 射频电路测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CNU2003201217588U CN2662543Y (zh) | 2003-11-20 | 2003-11-20 | 射频电路测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN2662543Y true CN2662543Y (zh) | 2004-12-08 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CNU2003201217588U Expired - Lifetime CN2662543Y (zh) | 2003-11-20 | 2003-11-20 | 射频电路测试装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101252505B (zh) * | 2007-09-21 | 2011-01-12 | 广州市聚晖电子科技有限公司 | 一种射频中继器的自动注册与更新路径系统 |
| CN102565521A (zh) * | 2011-12-14 | 2012-07-11 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高精度大动态范围微波信号电平测试装置 |
| CN103217653A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-07-24 | 深圳市安众电气有限公司 | 一种激光器射频电源老化装置 |
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2003
- 2003-11-20 CN CNU2003201217588U patent/CN2662543Y/zh not_active Expired - Lifetime
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| CN103217653A (zh) * | 2013-03-28 | 2013-07-24 | 深圳市安众电气有限公司 | 一种激光器射频电源老化装置 |
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