CN2532607Y - 测试板的过电压保护装置 - Google Patents

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CN2532607Y CN 02230708 CN02230708U CN2532607Y CN 2532607 Y CN2532607 Y CN 2532607Y CN 02230708 CN02230708 CN 02230708 CN 02230708 U CN02230708 U CN 02230708U CN 2532607 Y CN2532607 Y CN 2532607Y
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简子仁
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Abstract

本实用新型公开了一种测试板的过电压保护装置，包括一个保险丝、一个第一电容器、一个闸控开关、一个电阻及一个第二电容器。该闸控开关可采用一可控硅整流器，该电阻采用一可调电阻，且一端与该可控硅整流器的控制端耦接；该装置使用可调电阻与闸控开关，来设定所要保护的电压值，使输出的直流电压不会超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，因而无造成IC烧毁之虑。

Description

测试板的过电压保护装置
技术领域
本实用新型是有关于一种过电压保护装置，特别是有关于一种测试板或老化测试板的过电压保护装置。
背景技术
目前测试板或老化测试板(Burn-in Board)的过电压保护装置10都是利用齐纳(Zener)二极管搭配保险丝当作过电压保护电路。图1所示是已知测试板的过电压保护装置的电路图，当输入电压Vin的电压值高于齐纳二极管12的击穿电压时，齐纳二极管12便会被击穿而造成短路。此时，会有很大的短路电流流过齐纳二极管12，同时短路电流也会流过保险丝14，因为短路电流大于保险丝14的额定电流，会将保险丝14烧毁，因此可避免输出电压Vo的电压值过大而造成测试板或老化测试板上的IC烧毁。
但是目前的齐纳二极管的击穿电压仅为某些特定值(如3.3V或5.1V)，若输出电压Vo不是在齐纳二极管所能保护的特定值(如4.3V)时，电压保护线路便无法发挥保护的功能。此时，若供应输入电压Vin的驱动板因某些因素(如驱动板损坏或电力公司电力不稳等等)，以致其供应直流的输出电压Vo超过测试板或老化测试板上的1C电压规格时，则往往会造成IC的烧毁。而对于可靠度实验如高温操作寿命(HighTemperature Operation Life，HTOL)、低温操作寿命(Low TemperatureOperation Life，LTOt)、高温偏压寿命(High Temperature Bias Life，HTBL)、温湿度偏压(Temperature Humidity Bias，THB)、高加速寿命测试等项目(High Accelerated Stress Test，HAST)，则可能会造成实验的中断，以致重做实验，严重影响对IC可靠度的评估时间。
实用新型内容
因此本实用新型要解决的技术问题就是提供一种测试板的过电压保护装置，可以设定所要保护的电压值，使输出电压Vo不会超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，因而无造成IC烧毁之虑。
为了达到上述目的，本实用新型提出一种测试板的过电压保护装置，该过电压保护装置的电压输入端包含一第一端和一第二端，电压输出端包含一第一端和一第二端，电压输入端的第二端耦接至电压输出端的第二端，该过电压保护装置包括：
一保险丝，该保险丝的第一端耦接至电压输入端的第一端，该保险丝的第二端耦接至电压输出端的第一端；一第一储能元件，该第一储能元件的第一端耦接至电压输出端的第一端，第二端耦接至电压输出端的第二端；一闸控开关，具有一电源端、一负载端与一控制端，该电源端耦接至电压输出端的第一端，该负载端耦接至电压输出端的第二端；一电阻，该电阻的第一端耦接至电压输出端的第一端，该电阻的第二端耦接至闸控开关的控制端；及一第二储能元件，该第二储能元件的第一端耦接至电压输出端的第一端，第二端耦接至电压输出端的第二端。
上述的过电压保护装置，该保险丝可为一熔断型保险丝或一回复型保险丝。
上述的过电压保护装置，该闸控开关为一可控硅整流器。
上述的过电压保护装置，该电阻为一可调电阻，或一精密可调电阻。
上述的过电压保护装置，该第一储能元件与第二储能元件均为一电容器。
上述的过电压保护装置，该回复型保险丝为一自复式保险丝，对瞬间的过电压脉冲不仅有保护作用，而且过电压脉冲通过后，回复型的保险丝会回复到导通的状态，使得输出的直流电压恢复成原来的电压值。
由上可知，本实用新型提供的测试板的过电压保护装置，能使输出的直流电压不会超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，因而无造成IC烧毁之虑。
为让本实用新型的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图详细说明如下。
附图说明
图1为已知测试板过电压保护装置的电路图；以及
图2为本实用新型测试板的过电压保护装置实施例的电路图。
具体实施方式
图2所示为本实用新型测试板的过电压保护装置实施例的电路图。在图2中，测试板的过电压保护装置20电压输入端点a与电压输入端点b接收一输入电压Vin，过电压保护装置20的电压输出端点c与电压输出端点d输出一输出电压Vo，过电压保护装置20的电压输入端点b耦接至电压输出端点d。该过电压保护装置20包括一保险丝24、一电容器C1 26、一电阻精密可调R 28、一可控硅整流器SCR 22及一电容器C2 30。
保险丝24的一端耦接至电压输入端点a，另一端耦接至电压输出端点c，保险丝24可以使用熔断型保险丝或回复型保险丝(如自复式保险丝)；电容器C1 26的一端耦接至电压输出端点c，另一端耦接至电压输出端点d；可控硅整流器SCR 22具有一电源端、一负载端及一控制端(即栅极)，可控硅整流器SCR 22的电源端耦接至电压输出端点c，其负载端耦接至电压输出端点d；电阻R 28的一端耦接至电压输出端点c，另一端耦接至可控硅整流器SCR 22的控制端；电容器C2 30的一端耦接至电压输出端c，另一端耦接至电压输出端电d。
本实施例使用可控硅整流器SCR 22搭配精密可调的电阻R 28和熔断型的保险丝24，做为测试板或老化测试板的过电压保护装置20。当电压输入端的电压Vi n出现过电压的情况，使得电压输出端的直流电压Vo超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，则可控硅整流器SCR 22的控制端会被先触发，致使可控硅整流器SCR 22导通动作。该时，会有很大的导通电流流过可控硅整流器SCR 22，同时导通电流也会流过保险丝24，因为导通电流大于保险丝24的额定电流，会将保险丝24烧毁断开电路，避免直流电压Vo的电压值过大而造成测试板或老化测试板上的IC烧毁。
在图2中，由于电阻R 28的电阻值是可以调整的，即调整可控硅整流器SCR 22的控制端触发导通的电压，来设定任何要保护的电压值，使电压输出端的直流电压Vo的电压值不超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，因而无造成IC烧毁之虑。
在图2中，若使用自复式保险丝24与可控硅整流器SCR 22搭配，则对瞬间的过电压脉冲不仅有保护作用，而且过电压脉冲通过后，自复型保险丝24会回复到导通的状态，使得输出的直流电压Vo恢复成原来的电压值。
综上所述，本实用新型的过电压保护装置可设定所要保护的电压值，使输出的直流电压不会超过测试板或老化测试板上的IC电压规格，因而无造成IC烧毁之虑。
虽然本实用新型的较佳实施例已公开如上，然其开非用以限定本实用新型，任何熟知此技术者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，所作的各种更动与修饰，应在本实用新型请求的保护范围之内。

Claims (10)

1、一种测试板的过电压保护装置，该过电压保护装置的电压输入端包含一第一端及一第二端，电压输出端包含一第一端及一第二端，电压输入端的该第二端耦接至电压输出端的该第二端，该过电压保护装置包含：
一保险丝，该保险丝的第一端耦接至该电压输入端的第一端，该保险丝的第二端耦接至该电压输出端的第一端；
一第一储能元件，该第一储能元件的第一端耦接至该电压输出端的第一端，该第一储能元件的第二端耦接至该电压输出端的第二端；
一第二储能元件，该第二储能元件的第一端耦接至该电压输出端的第一端，该第二储能元件的第二端耦接至该电压输出端的第二端；
其特征在于还包含：
一闸控开关，具有一电源端、一负载端与一控制端，该电源端耦接至该电压输出端的第一端，该负载端耦接至该电压输出端的第二端；以及
一电阻，该电阻的第一端耦接至该电压输出端的第一端，该电阻的第二端耦接至该闸控开关的控制端。
2、如权利要求1所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的保险丝是一熔断型保险丝。
3、如权利要求2所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的闸控开关是一可控硅整流器。
4、如权利要求3所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的电阻是一可调电阻。
5、如权利要求4所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的第一储能元件与第二储能元件均是一电容器。
6、如权利要求1所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的保险丝是一回复型保险丝，所述的第一储能元件与第二储能元件均是一电容器。
7、如权利要求6所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的回复型保险丝是一自复式保险丝。
8、如权利要求7所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的闸控开关是一可控硅整流器。
9、如权利要求8所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的电阻是一可调电阻。
10、如权利要求4或9所述的测试板的过电压保护装置，其特征在于所述的可调电阻是一精密可调电阻。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101136252B (zh) * 2006-08-30 2010-05-19 台湾积体电路制造股份有限公司 修复电路及避免电子保险丝在静电放电测试时烧毁的方法
CN101464473B (zh) * 2008-12-31 2011-08-17 深圳创维－Rgb电子有限公司 应用于电路板测试中的电压异常保护装置

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