CN2532487Y - 金属化薄膜测试仪 - Google Patents

Abstract

一种金属化薄膜测试仪，由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极和工作台组成，其固定电极为具有一定表面积的导电板。工作台上还设有方阻测试装置，及表面质量观察装置，工作台一端连有膜卷支架。本实用新型采用大面积的导电板作电极，测量的耐压值可真实地反映薄膜实际耐压情况，另外将方阻测试、表面质量检查及静电吸附检查设备集中在一个工作台上，占用空间小，便于测试和管理。

Description

金属化薄膜测试仪

本实用新型涉及对生产交流电容器的材料金属化薄膜进行质量检测的仪器。

目前，各厂家对金属化薄膜的质量检测主要是针对其耐压值、方阻、表面质量及静电吸附程度进行检查。测试耐压值的装置主要由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极组成，其测试电极为一对金属球探头，高压发生器的输出电压通过金属球探头加在薄膜的某一点上，调节高压发生器的输出电压，即可测试该点薄膜的耐压值，并通过显示电路显示。当该点薄膜发生击穿时，过流保护电路工作，切断输出电压。测试几十个点的耐压值并求出其平均值，该值即为薄膜的耐压值。由于薄膜镀层的薄弱点分布不均，对几十个取样点的测试结果并不能真实全面地反映薄膜的最薄弱点，不能真实反映金属化薄膜的实际耐电压值。

方阻测试采用面接触法测试一定面积镀层的平均方阻值，其测试装置由两根测试电棒、拨盘开关、电阻取样电路、运算电路、方阻显示电路组成，测试时将薄膜的金属面朝下，双手拉紧薄膜，使薄膜金属面接触相隔一定长度的二根金属测试电棒，测量其电阻，将薄膜宽度数值通过拨盘开关输入转换成电信号后送至运算电路，薄膜的长度、宽度及电阻数值经运算电路处理，由方阻显示电路显示数值。测试时由于需用双手拉紧薄膜，薄膜易发生变形、皱折，而且用双手将薄膜与测试电棒接触，容易产生接触不良，使测试结果不准确。

表面质量检查，是对金属化薄膜表面质量进行直观检查，即将被测薄膜透过灯光观察其表面缺陷。

而目前无论是金属化薄膜生产厂还是薄膜电容器生产厂，还没有一套专用测试设备对金属化薄膜的耐电压值、方阻及表面质量等产品质量进行综合检测，通常是不同指标用不同的测试设备，既不方便，各设备占用空间也较多，不利于生产管理。

本实用新型的目的是提供一种能够较真实地测量金属化薄膜耐压值的测试仪，另一个目的是提供一种能够检测几种不同质量指标的测试仪。

本实用新型金属化薄膜测试仪由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极和工作台组成，测试电极由固定在工作台上的活动电极和固定电极组成，固定电极为具有一定表面积的导电板。该测试仪还包括一个自愈电压保持电路，当薄膜首次发生自愈时输出电信号，使电压显示电路显示的电压值保持不变。

该测试仪还包括一个方阻测试装置，该装置由两根测试电棒、数值输入电路、电阻取样电路、运算电路及方阻显示电路组成，两根测试电棒一端与工作台活动连接，并且相隔一定距离，即待测薄膜的长度值，用来测量薄膜的电阻，数值输入电路用来将薄膜宽度数值转化成电信号；运算电路用来将上述薄膜电阻、长度、宽度运算成方阻电信号，并由方阻显示电路显示方阻值。

上述测试仪的工作台面上还设有一块透明玻璃，玻璃下方装有照明灯具，用来检测薄膜表面质量。

上述工作台的一端还有与工作台相连的膜卷支架，膜卷可安装在支架上，将薄膜垂直放下即可观察其静电吸附情况。

本实用新型金属化薄膜测试仪由于采用大面积的导电板作电极，测量的耐压值较全面真实地反映薄膜实际耐电压情况，还可精确地测出首次自愈电压。测试方阻时，薄膜金属面朝上平放在工作台上，再将测试电棒压紧在薄膜上，避免了因薄膜变形、接触不良而造成的测试结果不准确。另外将方阻测试，表面质量检查及静电吸附程度检查设备集中在一个工作台上，不仅占地空间减少，设备易于管理，而且测试更方便快捷，可以提高工作效率。

图1为本实用新型结构示意图。

图2为耐压自愈电压测试电路方框图。

图3为耐压及自愈电压测试电路图。

图4为方阻测试电路方框图。

由图1所示，长方形工作台1沿长度方向中心线分成两边，上边为耐压及自愈电压测试区，下边为表面质量及方阻测试区。金属球电极3和测试电棒5由转轴固定在工作台中心线上，长方形导电板2固定在工作台上边。金属球电极3的球头可转动至导电板2上，通过薄膜可与导电板2形成电极对。透明玻璃4和绝缘橡胶垫6并排固定在工作台1下边。两个电棒5之间相隔一定距离并位于橡胶垫6一侧，转动电棒5可使电棒平行位于橡胶垫6上。透明玻璃4下方有空腔，空腔内装有照明灯具。工作台一端连有T形膜卷支架8，膜卷7安装在支架8两端。

耐压及自愈电压测试电路如图2和图3所示，由高压发生器、薄膜测试电极、电压取样电路、自愈电压保持电路、电压显示电路、过流保护电路组成。高压发生器的输出电压DC通过金属球电极3和导电板2组成的薄膜测试电极加在被测金属化薄膜两端，电压取样电路由分压电阻R₁和R₂组成，并与由电极3与导电板2组成的测试电极并联，取自分压电阻R₂上的电压取样信号送至电压显示电路。电压显示电路由A/D转换集成D₁和数码LE1～3管组成，电压取样信号由A/D转换集成块D₁(7117)的输入端31脚输入，经A/D转换后送至数码管LE1、LE2、LE3显示电压数值。自愈电压保持电路由V₇组成的整形电路和555集成块组成的触发器D₂组成，当被测金属化薄膜发生自愈时，在导电板2端输出脉冲跳变信号，该脉冲信号送至自愈电压保持电路，经V₇组成的整形电路处理后，送至由555集成块组成的触发器D₂的2脚，D₂的输出端3脚输出一个稳定的高电平，送至电压显示电路中的集成块D₁的保持端1脚，D₁即对其输出的电压值予以保持，此时数码管显示的电压为自愈电压即薄膜发生瞬时击穿并能自动恢复其电性能时的电压。当薄膜发生击穿时，大电流信号通过线路9至过流保护电路，切断高压发生器的输出高压DC。

方阻测试电路如图4所示，由数值输入电路、电阻取样电路、运算电路和方阻显示电路组成，薄膜宽度数值通过拔盘开关由数值输入电路转化成电压信号并输入运算电路，电阻取样电路将取自两根测试电棒5之间的与薄膜电阻成比例的电压信号输入运算电路，运算电路将上述两电压信号处理后送至方阻显示电路直接显示薄膜的方阻值。

本实用新型是这样工作的：当测试耐压及自愈电压时，将薄膜镀层朝上平放在电导电板2上，将金属球电极3的球头放在薄膜镀层上，打开高压发生器开关，取样电路将取自电极3与导电板2之间的电压取样信号送至电压显示电路显示电压值，逐渐升高高压发生器的输出电压，当金属化薄膜首次发生自愈时，导电板2端产生脉冲跳变信号，通过自愈电压保持电路输出电压保持信号将电压显示电路显示的电压值锁定，此时显示的电压值即为自愈电压。当薄膜发生击穿时，过流保护电路工作，高压发生器的输出高压被切断。

测量方阻时，将薄膜镀层朝上平放在绝缘橡胶垫6上，再将测试电棒5平行放并压紧在薄膜上，向电棒输恒流电源，电阻取样电路将取自两电棒之间的电压信号输送至运算电路，同时由拨盘开关将薄膜宽度数值通过数值输入电路输入转换成电压信号再送至运算电路，通过运算电路处理由方阻显示电路显示数值。

检查表面质量时，将薄膜平放在工作台的透明玻璃上，打开照明灯具，即可用眼观察。

检查静电吸附程度时，将膜卷装在膜卷支架8上，再将薄膜从膜卷上放下一段并让其自然垂落，即可观察其静电吸附程度。

Claims (6)

1、一种金属化薄膜测试仪，由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极、工作台组成，测试电极由固定在工作台上的活动电极和固定电极组成，其特征在于所述固定电极为具有一定表面积的导电板。

2、根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于它还包括一个自愈电压保持电路，当薄膜发生自愈时输出电信号，使电压显示电路显示的电压值保持不变。

3、根据权利要求1或2所述的测试仪，其特征在于还包括一个方阻测试装置，该装置由两根测试电棒、数值输入电路、电阻取样电路、运算电路、方阻显示电路组成，两根测试电棒一端与工作台活动连接并相隔一定距离，数值输入电路用来输入薄膜宽度数值并将其转化成电信号，电阻取样电路用来从两根测试电棒间获得与薄膜电阻成比例的电信号，运算电路用来将上述两个电信号处理成方阻电信号，方阻显示电路用来将方阻电信号转化成数值并显示。

4、根据权利要求3所述的测试仪，其特征在于方阻测试区工作台上设有绝缘垫。

5、根据权利要求3所述的测试仪，其特征在于所述工作台上还装有透明玻璃，玻璃下方装有照明灯具。

6、根据权利要求5所述的测试仪，其特征在于工作台一端固定有膜卷支架。

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