CN221899286U - 一种测试电路及测试用电路板 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电流检测电路及测试用电路板，测试电路包括控制芯片、放大电路和至少两条电流检测电路；控制芯片包括控制引脚和模数转换引脚，控制引脚分别与每条电流检测电路的控制端电连接，模数转换引脚通过放大电路分别与每条电流检测电路的输出端电连接；每条电流检测电路的电流检测范围各不相同，且对应的输入端分别与待测部件电连接；控制芯片用于控制至少两条电流检测电路中的任意一条电流检测电路导通。本实用新型的测试电路可以通过至少两条电流检测电路分别实现待测部件在不同功耗模式下的电流测试，从而丰富了测试模式，提升了对待测部件的测试效果。

Description

一种测试电路及测试用电路板

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试电路及测试用电路板。

背景技术

在线路板的批量生产中，由于设备和操作者各种不确定的因素，生产出的线路板可能存在残次品。因此，需要对成品线路板进行测试，待测试结果无误，确认该线路板为合格品后再进行装配。

在线测试是一种线路板测试领域常用的测试手段，可以测试线路板上已安装的电容、电阻、电感、二极管、三极管、MOS管等电子元器件的电流是否处于正常工作范围，进而判断电子元器件的功能能否正常执行等。

然而，现有技术中在线测试的测试模式单一，难以实现不同功耗模式下电子元器件的电流测试，测试效果不足。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种测试电路及测试用电路板，以至少解决现有技术中线路板测试的测试模式单一，难以实现不同功耗模式测试的问题。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

本实用新型提供了一种测试电路，包括控制芯片、放大电路和至少两条电流检测电路；

所述控制芯片包括控制引脚和模数转换引脚；所述控制引脚分别与每条所述电流检测电路的控制端电连接，所述模数转换引脚通过所述放大电路分别与每条所述电流检测电路的输出端电连接；

每条所述电流检测电路的电流检测范围各不相同，且对应的输入端分别与待测部件电连接；所述控制芯片用于控制至少两条所述电流检测电路中的任意一条所述电流检测电路导通。

可选地，每条所述电流检测电路包括串联连接检测电阻和控制开关；

不同的所述电流检测电路所包括的所述检测电阻的阻值各不相同；

所述控制开关的控制端与所述控制引脚电连接，所述控制芯片用于控制所述控制开关的导通或断开。

可选地，所述控制开关为N型MOS管，所述N型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述N型MOS管的源极接地，所述N型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；

或，所述控制开关为N型三极管，所述N型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述N型三极管的发射极接地，所述N型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

可选地，所述控制开关为P型MOS管，所述P型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述P型MOS管的源极连接电源，所述P型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；

或，所述控制开关为P型三极管，所述P型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述P型三极管的发射极连接电源，所述P型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

可选地，所述电流检测电路包括第一电流检测电路、第二电流检测电路和第三电流检测电路；

所述第一电流检测电路的电流检测范围为0A～2.5A，所述第二电流检测电路的电流检测范围为0A～280mA，所述第三电流检测电路的电流检测范围为0A～152uA。

可选地，还包括计时模块；

所述计时模块与所述控制芯片电连接，用于记录每条所述电流检测电路的工作时长。

可选地，所述放大电路包括运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；

所述运算放大器的同相输入端通过所述第一电阻与每条所述电流检测电路的输出端电连接，所述运算放大器的反相输入端通过所述第二电阻接地，所述运算放大器的输出端通过所述第三电阻与所述模数转换引脚电连接，所述第四电阻连接于所述运算放大器的反向输入端与所述运算放大器的输出端之间。

可选地，所述放大电路包括第一电容、第二电容和第三电容；

所述第一电容与所述运算放大器的同相输入端电连接，所述第二电容与所述运算放大器的输出端电连接，所述第三电容与所述运算放大器的电源端电连接。

可选地，还包括无线通信模块；

所述无线通信模块与所述控制芯片电连接，用于将所述控制芯片的判定结果上传至云平台。

本实用新型还提供一种测试用电路板，所述测试用电路板集成有前述任一项所述的测试电路。

相对于现有技术，本实用新型所述的测试电路及测试用电路板具有以下优势：

本实用新型的测试电路包括控制芯片、放大电路和至少两条电流检测电路；控制芯片包括控制引脚和模数转换引脚，每条电流检测电路的控制端与控制芯片的控制引脚电连接，每条电流检测电路的输出端分别通过放大电路与控制芯片的模数转换引脚电连接，每条电流检测电路的输入端还用于与待测部件电连接；至少两条电流检测电路的电流检测范围各不相同，控制芯片用于控制至少两条电流检测电路中的任意一条电流检测电路导通。本实用新型的测试电路可以通过至少两条电流检测电路分别实现待测部件在不同功耗模式下的电流测试，从而丰富了测试模式，提升了对待测部件的测试效果。

本实用新型的测试用电路板相较于现有技术与前述的测试电路具备相同或相似的优势，在此不再赘述。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是本实用新型实施例中一种测试电路的部件连接示意图；

图2是本实用新型实施例中一种测试电路的电路结构示意图；

图3是本实用新型实施例中另一种测试电路的部件连接示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

应理解，说明书通篇中提到的“一些实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本实用新型的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一些实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。

下面通过列举具体的实施例详细介绍本实用新型提供的一种电流检测电路及测试用电路板。

图1示出了本实用新型实施例中一种测试电路的部件连接示意图，如图1所示，本实用新型实施例的测试电路包括控制芯片1、放大电路3和至少两条电流检测电路；所述控制芯片1包括控制引脚和模数转换引脚，所述控制引脚分别与每条所述电流检测电路的控制端电连接，所述模数转换引脚通过所述放大电路3分别与每条所述电流检测电路的输出端电连接；每条所述电流检测电路的电流检测范围各不相同，且对应的输入端分别与待测部件电连接；所述控制芯片1用于控制至少两条所述电流检测电路中的任意一条所述电流检测电路导通。

具体而言，本实用新型实施例的电流检测电路用于测试线路板的硬件电路是否正常，从而实现合格线路板和非合格线路板的区分。电流检测电路包括控制芯片1和至少两条电流检测电路，本实用新型实施例以三条电流检测电路进行示例性说明，如图1所示，三条电流检测电路包括第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23，第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23的输入端分别与待测部件的引脚电连接，其中，待测部件包括但不限于线路板。控制芯片1包括控制引脚，控制引脚如图1中的引脚11所示，控制引脚11分别与第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23的控制端电连接，控制芯片1的控制引脚11能够为第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23的控制端输入高电平或低电平，从而控制相应和电流检测电路的导通或断开，其中，第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23仅可以在同一时刻导通一条。在电流检测电路导通的情况下，电流检测电路上产生电流；在电流检测电路断开的情况下，电流检测电路上不产生电流。控制芯片1还包括模数转换引脚，模数转换引脚如图1中的引脚12所示，控制芯片1上集成有ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换)模块，控制芯片1的模数转换引脚12指ADC模块的引脚，ADC模块可以将第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23的电压信号转换为数字信号并反馈至控制芯片1，控制芯片1根据接收的信号判断待测部件的硬件电路是否正常，以区分出质量合格的待测部件和质量不合格的待测部件。

由于电流检测电路检测到的待测部件的电流值较小，电压值相应较小，小范围的电压值无法被控制芯片1准确识别，因此设置放大电路3与电流检测电路电连接，如图1中第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23通过放大电路3与控制芯片1的模数转换引脚12电连接。在第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23中任意一条导通的情况下，导通的电流检测电路与待测部件之间形成回路，电流流通并流向放大电路3的输入端，放大电路3的输出端与控制芯片1的模数转换引脚12电连接，放大电路3能够将电流检测电路的电流信号对应的电压信号放大至控制芯片1能够准确识别的范围，并将放大后的电压信号输出至控制芯片1的模数转换引脚12，控制芯片1对接收到的电压信号进行模数转换并判断放大后的电压信号是否在预设电压范围内。若放大后的电压在预设电压范围内，则说明待测部件的硬件电路正常，将待测部件归类为合格产品，若放大后的电压不在预设电压范围内，则说明待测部件的硬件电路异常，将待测部件归类为非合格产品。其中，预设电压范围可以根据待测部件的电流情况进行设置，本实施例将预设电压范围设置在3.3V～6.6V之间，该范围的电压可以满足大部分待测部件硬件电路的工作需求。

本实用新型实施例的测试电路中，至少两条电流检测电路的电流检测范围各不相同，不同电流检测电路适用于待测部件在不同模式下的电流检测需求，控制芯片1用于控制至少两条电流检测电路中的任意一条电流检测电路导通，在该条电流检测电路导通的情况下，其余电流检测电路均为断开状态。示例性的，若需要分别对待测部件处于正常工作模式、小电流模式以及处于休眠模式下进行电流测试，第一电流检测电路21对应待测部件处于正常工作模式下的测试，第二电流检测电路22对应待测部件处于小电流模式下的测试，第三电流检测电路23对应待测部件处于休眠模式下的测试，则第一电流检测电路21导通，第二电流检测电路22和第三电流检测电路23断开时，可实现待测部件正常工作模式下硬件电路的测试；第一电流检测电路21和第三电流检测电路23断开，第二电流检测电路22导通时，可实现待测部件小电流模式下硬件电路的测试；第一电流检测电路21和第二电流检测电路22断开，第三电流检测电路23导通时，可实现待测部件休眠模式下硬件电路的测试。从而，本实用新型的测试电路可以通过至少两条电流检测电路分别实现待测部件在不同功耗模式下的电流测试，丰富了测试模式，提升了对待测部件的测试效果。

在进一步的实施例中，控制芯片1可以通过TTL(transistor transistor logic，晶体管-晶体管逻辑电平)串口与待测部件电连接，与被测线路板进行串口通讯，对需要测试的相关硬件电路做功能测试。示例性的，控制芯片1下发测试指令需翻转待测部件一个引脚的电平，默认该引脚对应的初始电平为低电平，若执行测试指令后控制芯片1测得该引脚的电平为高电平，则说明该引脚连接的硬件电路正常，若执行测试指令后控制芯片1测得该引脚的电平仍为低电平，则说明该引脚连接的硬件电路异常。

图2示出了本实用新型实施例中一种测试电路的电路结构示意图，如图2所示，每条所述电流检测电路包括串联连接检测电阻和控制开关；不同的所述电流检测电路所包括的所述检测电阻的阻值各不相同；所述控制开关的控制端与所述控制引脚电连接，所述控制芯片1用于控制所述控制开关的导通或断开。

具体而言，检测电阻如图2中的R5、R6、R7所示，控制开关如图2中的Q1、Q2、Q3所示，从而检测电阻R5与控制开关Q1形成第一电流检测电路21，检测电阻R6与控制开关Q2形成第二电流检测电路22，检测电阻R7与控制开关Q3形成第三电流检测电路23。检测电阻的一端与控制开关电连接，另一端与放大电路的输入端电连接，不同的电流检测电路，其包括的检测电阻的阻值各不相同，即第一电流检测电路21中R5的阻值、第二电流检测电路22中R6的阻值、第三电流检测电路23中R7的阻值各不相同，从而使得每条电流检测电路的电流检测范围各不相同，放大电路的输入端的电压值近似于检测电阻的电流与电阻的乘积。控制开关的控制端与控制芯片1的控制引脚电连接，控制芯片1用于控制控制开关的导通或断开，控制开关导通，则电流检测电路导通，控制开关断开，则电流检测电路断开。

可选地，参照图2，所述控制开关为N型MOS管，所述N型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述N型MOS管的源极接地，所述N型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；或，所述控制开关为N型三极管，所述N型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述N型三极管的发射极接地，所述N型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

具体而言，在一些实施例中，如图2所示，控制开关选用N型MOS管，N型MOS管的栅极(图2中Q1、Q2、Q3的G所示)与控制芯片1的控制引脚电连接，N型MOS管的源极(图2中Q1、Q2、Q3的S所示)接地，N型MOS管的漏极(图2中Q1、Q2、Q3的D所示)与检测电阻电连接，N型MOS管在其栅极电压与源极电压的压差大于预设压差的情况下导通，不同规格的N型MOS管其预设压差可能不同。本实施例中由于N型MOS管的源极接地，在控制芯片1为N型MOS管的栅极输出高电平的情况下，N型MOS管导通，从而电流检测电路导通，在控制芯片1为N型MOS管的栅极输出低电平的情况下，N型MOS管断开，从而电流检测电路断开。

在另一些实施例中，控制开关选用N型三极管，N型三极管的基极与控制芯片1的控制引脚电连接，N型三极管的发射极接地，N型三极管的集电极与检测电阻电连接，N型三极管在其基极电压大于发射极电压的情况下导通，本实施例中由于N型三极管的发射极接地，在控制芯片1为N型三极管的基极输出高电平的情况下，N型三极管导通，从而电流检测电路导通，在控制芯片1为N型三极管的基极输出低电平的情况下，N型三极管断开，从而电流检测电路断开。

可选地，所述控制开关为P型MOS管，所述P型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述P型MOS管的源极连接电源，所述P型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；或，所述控制开关为P型三极管，所述P型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述P型三极管的发射极连接电源，所述P型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

具体而言，在一些实施例中，控制开关选用P型MOS管，P型MOS管的栅极与控制芯片1的控制引脚电连接，P型MOS管的源极连接电源，P型MOS管的漏极与检测电阻电连接，P型MOS管在其栅极电压与源极电压的压差小于预设压差的情况下导通，不同规格的P型MOS管其预设压差可能不同。本实施例中由于P型MOS管的源极接电源，源极会维持在高电平状态，因而在控制芯片1为P型MOS管的栅极输出低电平的情况下，P型MOS管导通，电流检测电路导通，在控制芯片1为P型MOS管的栅极输出高电平的情况下，P型MOS管断开，电流检测电路断开。

在另一些实施例中，控制开关选用P型三极管，P型三极管的基极与控制芯片1的控制引脚电连接，P型三极管的发射极接电源，P型三极管的集电极与检测电阻电连接，P型三极管在其基极电压小于发射极电压的情况下导通，本实施例中由于P型三极管的发射极接电源，在控制芯片1为P型三极管的基极输出低电平的情况下，P型三极管导通，电流检测电路导通，在控制芯片1为P型三极管的基极输出高电平的情况下，P型三极管断开，电流检测电路断开。

可选地，参照图1至图3，所述电流检测电路包括第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23；所述第一电流检测电路21的电流检测范围为0A～2.5A，对应待测部件的正常工作模式；所述第二电流检测电路22的电流检测范围为0A～280mA，对应待测部件的小电流模式；所述第三电流检测电路23的电流检测范围为0A～152uA，对应待测部件的休眠模式。

具体而言，本实施例中测试电路包括三条电流检测电路，即第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23，如图2所示，检测电阻R5与控制开关Q1形成第一电流检测电路21，检测电阻R6与控制开关Q2形成第二电流检测电路22，检测电阻R7与控制开关Q3形成第三电流检测电路23。第一电流检测电路21的电流检测范围为0A～2.5A，用于检测待测部件处于正常工作模式下的电流情况，第二电流检测电路22的电流检测范围为0A～280mA，用于检测待测部件处于小电流工作模式下的电流情况，第三电流检测电路23的电流检测范围为0A～152uA，用于检测待测部件处于休眠模式下的电流情况。

图3示出了本实用新型实施例中另一种测试电路的部件连接示意图，如图3所示，测试电路还包括计时模块4；所述计时模块4与所述控制芯片1电连接，用于记录每条所述电流检测电路的工作时长。

具体而言，控制芯片1除了包括控制引脚11和模数转换引脚12之外，还包括控制引脚13，控制引脚13与计时模块4电连接，计时模块4用于记录每条电流检测电路的工作时长，控制芯片1可以根据待测部件的测试要求以及每条电流检测电路的工作时长切换不同的电流检测电路进行工作，结合前述实施例，在测试电路包括第一电流检测电路21、第二电流检测电路22和第三电流检测电路23的情况下，若待测部件的测试要求为正常工作模式下测试15S，小电流工作模式下测试5S，休眠模式下测试5S，则计时模块4记录到第一电流检测电路21已导通15S时对控制芯片1发送切换指令，控制芯片1控制第二电流检测电路22导通，第一电流检测电路21和第三电流检测电路23断开，进入小电流模式的测试；在计时模块4记录到第二电流检测电路22已导通5S时对控制芯片1发送切换指令，控制芯片1控制第三电流检测电路23导通，第一电流检测电路21和第二电流检测电路22断开，进入休眠模式的测试，从而实现不同电流检测电路的自动切换，提升测试电路的智能性。

可选地，参照图2，所述放大电路3包括运算放大器、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4；所述运算放大器的同相输入端通过所述第一电阻R1与每条所述电流检测电路的输出端电连接，所述运算放大器的反相输入端通过所述第二电阻R2接地，所述运算放大器的输出端通过所述第三电阻R3与所述模数转换引脚电连接，所述第四电阻R4连接于所述运算放大器的反向输入端与所述运算放大器的输出端之间。

具体而言，运算放大器包括五个引脚，引脚编号如图2中的引脚1～5所示，引脚1连接电源正极，引脚2接地，即本实施例的运算放大器采用单电源供电的方式，电源VCC连接引脚1后为运算放大器供电，使运算放大器能够正常工作。引脚3为运算放大器的同相输入端，其通过第一电阻R1与每条电流检测电路的输出端电连接，引脚4为运算放大器的反相输入端，其通过第二电阻R2接地，引脚5为运算放大器的输出端，其通过第三电阻R3与控制芯片1的模数转换引脚12电连接，第四电阻R4连接于运算放大器的反向输入端与运算放大器的输出端之间，即引脚4与引脚5之间。

其中，第一电阻R1可以提高输入阻抗，有助于确保电流检测电路输出的电压信号能够被运算放大器正确接收；第二电阻R2相当于引入负偏置电流，从而对运算放大器的偏置电流进行校准，第二电阻R2与第一电阻R1的阻值需要相同，以更好的消除偏置电流的影响，同时当输入信号超出一定范围或电源电压异常时，第一电阻R1和第二电阻R2可以在一定程度上限制流经运算放大器的电流，避免运算放大器因过压而损坏；第三电阻R3可以对运算放大器的输出起到一定的缓冲作用，避免造成控制芯片1的异常；第四电阻R4可以提供一个负反馈回路，减少外界干扰对运算放大器输出信号的影响，提高运算放大器的稳定性和可靠性，同时第二电阻R2和第四电阻R4构成放大比例调节，决定着运算放大器的放大倍数，可以根据实际需求合理选择第二电阻R2和第四电阻R4的阻值，对此本实施例不作限制。

可选地，参照图2，所述放大电路3包括第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3；所述第一电容C1与所述运算放大器的同相输入端电连接，所述第二电容C2与所述运算放大器的输出端电连接，所述第三电容C3与所述运算放大器的电源端电连接。

具体而言，第一电容C1与运算放大器的同相输入端，即引脚3电连接，第一电阻R1与第一电容C1构成运算放大器的输入缓冲，第二电容C2与运算放大器的输出端，即引脚5电连接，第三电阻R3与第二电容C2构成运算放大器的输出缓冲，由于输入至运算放大器的被测信号包括有用信号和干扰信号，设置第一电容C1和第二电容C2可以在运算放大器的输入端吸收干扰信号，使干扰信号基本不进入运算放大器，继而不予放大，从而起到滤除干扰信号和稳定电压的作用，提升运算放大器的精确性。第三电容C3与运算放大器的电源端，即引脚1电连接，构成电源端的滤波电容，提升运算放大器接入的电源电压的稳定性，从而保证运算放大器正常工作。需要说明的是，第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3的数量可以分别为一个，也可以为两个或多个，具体根据实际需求进行设置，图2中示出了第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3的数量分别为两个的方式。

可选地，参照图3，测试电路还包括无线通信模块5；所述无线通信模块5与所述控制芯片1电连接，用于将所述控制芯片1的判定结果上传至云平台。

具体而言，控制芯片1还包括控制引脚14，控制引脚14与无线通信模块5电连接，无线通信模块5可以选用WIFI模块，WIFI模块与控制芯片1通过串口连接，WIFI模块而可以将控制芯片1的判定结果上传至云平台，结合前述实施例，控制芯片1可以判断放大电路3放大后的电压是否在预设电压范围内，若放大后的电压在预设电压范围内，则说明待测部件的硬件电路正常，待测部件为合格产品，若放大后的电压不在预设电压范围内，则说明待测部件的硬件电路异常，待测部件为非合格产品，判定结果则指待测部件的硬件电路正常或异常的信息，或者指待测部件为合格产品或非合格产品的信息，WIFI模块而可以将该判定结果上传至云平台，云平台包括但不限于移动终端、计算机设备及其他人机交互设备，云平台自动生成该待测部件对应的测试结果二维码，后续检修人员只需扫该待测部件对应的二维码即可知道待测部件的硬件电路信息，极大的便利了人员查看。

本实用新型还提供一种测试用电路板，所述测试用电路板集成有前述任一项所述的测试电路。

具体而言，测试用电路板集成有前述任一项的测试电路，测试用电路板可采用柔性绕制的PCB(printed circuit board，印刷电路板)，将测试电路集成设置在测试用电路板上，减少电流测量仪器如万用表以及数据线的使用，减少设备的占地面积，实现了测试电路的集成化设计。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试电路，其特征在于，包括控制芯片、放大电路和至少两条电流检测电路；

所述控制芯片包括控制引脚和模数转换引脚；所述控制引脚分别与每条所述电流检测电路的控制端电连接，所述模数转换引脚通过所述放大电路分别与每条所述电流检测电路的输出端电连接；

每条所述电流检测电路的电流检测范围各不相同，且对应的输入端分别与待测部件电连接；所述控制芯片用于控制至少两条所述电流检测电路中的任意一条所述电流检测电路导通。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，每条所述电流检测电路包括串联连接检测电阻和控制开关；

不同的所述电流检测电路所包括的所述检测电阻的阻值各不相同；

所述控制开关的控制端与所述控制引脚电连接，所述控制芯片用于控制所述控制开关的导通或断开。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述控制开关为N型MOS管；所述N型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述N型MOS管的源极接地，所述N型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；

或，所述控制开关为N型三极管；所述N型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述N型三极管的发射极接地，所述N型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述控制开关为P型MOS管；所述P型MOS管的栅极与所述控制引脚电连接，所述P型MOS管的源极连接电源，所述P型MOS管的漏极与所述检测电阻电连接；

或，所述控制开关为P型三极管；所述P型三极管的基极与所述控制引脚电连接，所述P型三极管的发射极连接电源，所述P型三极管的集电极与所述检测电阻电连接。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述电流检测电路包括第一电流检测电路、第二电流检测电路和第三电流检测电路；

所述第一电流检测电路的电流检测范围为0A～2.5A，所述第二电流检测电路的电流检测范围为0A～280mA，所述第三电流检测电路的电流检测范围为0A～152uA。

6.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括计时模块；

所述计时模块与所述控制芯片电连接，用于记录每条所述电流检测电路的工作时长。

7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述放大电路包括运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；

所述运算放大器的同相输入端通过所述第一电阻与每条所述电流检测电路的输出端电连接，所述运算放大器的反相输入端通过所述第二电阻接地，所述运算放大器的输出端通过所述第三电阻与所述模数转换引脚电连接，所述第四电阻连接于所述运算放大器的反向输入端与所述运算放大器的输出端之间。

8.根据权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述放大电路包括第一电容、第二电容和第三电容；

所述第一电容与所述运算放大器的同相输入端电连接，所述第二电容与所述运算放大器的输出端电连接，所述第三电容与所述运算放大器的电源端电连接。

9.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括无线通信模块；

所述无线通信模块与所述控制芯片电连接，用于将所述控制芯片的判定结果上传至云平台。

10.一种测试用电路板，其特征在于，所述测试用电路板集成有权利要求1至9任一项所述的测试电路。