CN221124486U - 晶片电阻片表面损伤的外观检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检测设备技术领域,公开了晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,包括转板,所述转板内部滑动连接有固定杆,所述转板内部固定连接有挡块,所述固定杆外壁固定连接有连接板,所述连接板内部固定连接有滑杆,所述滑杆外壁滑动连接有连接块一,所述连接块一外壁固定连接有夹板,所述夹板外壁固定连接有齿条,所述转板相对一侧转动连接有连接杆一,所述连接杆一内部固定连接有电机一,所述电机一输出端固定连接有齿轮,所述齿轮外壁啮合连接在齿条外壁。本实用新型中,首先启动电机一,通过电机一输出端齿轮转动带动齿条运动进而带动夹板夹紧,再通过电机二带动连接板转动进而带动夹板转动,从而达到对晶片电阻双面检测的效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备技术领域,尤其涉及晶片电阻片表面损伤的外观检测装置。
背景技术
晶片电阻是一种电阻器件,它采用集成电路制造技术制作而成,通常采用薄膜或厚膜电阻材料,晶片电阻的特点包括体积小、重量轻、功率能力强、精度高、稳定性好等,通常用于电子设备、通信设备、计算机、汽车电子、家用电器等领域,经过长时间的使用,晶片电阻表面通常会出现问题导致工作效率下降,因此需要一种晶片电阻片表面损伤的外观检测装置用来检测晶片电阻是否出现问题。
现有的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置大多数只能检测晶片电阻的一面,而检测另一面就需要重复工作,导致工作量大幅提升,工作效率难以提升。
实用新型内容
为了弥补以上不足,本实用新型提供了晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,旨在改善晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,无法进行双面检测的问题。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,包括转板,其特征在于:所述转板内部滑动连接有固定杆,所述转板内部固定连接有挡块,所述固定杆外壁固定连接有连接板,所述连接板内部固定连接有滑杆,所述滑杆外壁滑动连接有连接块一,所述连接块一外壁固定连接有夹板,所述夹板外壁固定连接有齿条,所述转板相对一侧转动连接有连接杆一,所述连接杆一内部固定连接有电机一,所述电机一输出端固定连接有齿轮,所述齿轮外壁啮合连接在齿条外壁,所述转板内部固定连接有电机二,所述电机二输出端固定连接有连接板,所述转板外壁固定连接有连接块二。
作为上述技术方案的进一步描述:
其特征在于:所述连接块二内部固定连接有螺纹杆一,所述螺纹杆一两端转动连接有连接杆二,所述螺纹杆一外壁固定连接有蜗轮一。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述连接杆二外壁固定连接有电机三,所述电机三输出端固定连接有蜗杆一,所述蜗杆一外壁啮合连接在蜗轮一外壁。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述连接杆二外壁固定连接有连接块三,所述连接块三内部螺纹连接有螺纹杆二。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述螺纹杆二外壁固定连接有蜗轮二,所述螺纹杆二两端转动连接有连接杆三。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述连接杆三外壁固定连接有转动电机,所述转动电机输出端固定连接有蜗杆二,所述蜗杆二外壁啮合连接在蜗轮二外壁。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述连接杆三一端固定连接有底板,所述连接杆三另一端固定连接有顶盖。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述顶盖下表面固定连接有气缸,所述气缸输出端固定连接有检测器。
本实用新型具有如下有益效果:
1、本实用新型中,首先启动电机一,通过电机一输出端连接的齿轮转动带动齿条运动进而带动夹板夹紧,从而通过电机一带动夹板夹紧晶片电阻,再通过电机二带动连接板转动,进而带动夹板转动,从而通过电机二带动晶片电阻转动,从而达到对晶片电阻进行双面检测的效果。
2、本实用新型中,通过电机三带动螺纹杆一转进而带动转板运动,再通过转动电机带动螺纹杆二转动进而带动连接块三上下运动,再通过连接杆三带动连接杆二上下运动,从而达到自动送料的效果。
附图说明
图1为本实用新型提出的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置的正视立体结构图;
图2为本实用新型提出的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置的夹板示意图;
图3为本实用新型提出的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置的转板示意图;
图4为本实用新型提出的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置的连接杆三示意图。
图例说明:
1、连接杆一;2、电机一;3、齿轮;4、齿条;5、夹板;6、连接块一;7、滑杆;8、转板;9、电机二;10、固定杆;11、挡块;12、连接块二;13、连接杆二;14、电机三;15、蜗杆一;16、蜗轮一;17、螺纹杆一;18、蜗杆二;19、蜗轮二;20、转动电机;21、连接杆三;22、螺纹杆二;23、检测器;24、顶盖;25、气缸;26、底板;27、连接板;28、连接块三。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
参照图1-4,本实用新型提供的一种实施例:晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,包括转板8,其特征在于:转板8内部滑动连接有固定杆10,转板8内部固定连接有挡块11,固定杆10外壁固定连接有连接板27,连接板27内部固定连接有滑杆7,滑杆7外壁滑动连接有连接块一6,连接块一6外壁固定连接有夹板5,夹板5外壁固定连接有齿条4,转板8相对一侧转动连接有连接杆一1,连接杆一1内部固定连接有电机一2,电机一2输出端固定连接有齿轮3,齿轮3外壁啮合连接在齿条4外壁,转板8内部固定连接有电机二9,电机二9输出端固定连接有连接板27,转板8外壁固定连接有连接块二12。
具体的,通过电机一2输出端的齿轮3带动齿条4运动进而带动夹板5收紧,再通过电机二9带动连接板27转动进而带动夹板5转动从而达到双面检测的效果。
连接块二12内部固定连接有螺纹杆一17,螺纹杆一17两端转动连接有连接杆二13,螺纹杆一17外壁固定连接有蜗轮一16。
具体的,通过蜗轮一16带动螺纹杆一17转动的效果。
连接杆二13外壁固定连接有电机三14,电机三14输出端固定连接有蜗杆一15,蜗杆一15外壁啮合连接在蜗轮一16外壁。
具体的,通过电机三14输出端连接的蜗杆一15带动蜗轮一16转动效果。
连接杆二13外壁固定连接有连接块三28,连接块三28内部螺纹连接有螺纹杆二22。
具体的,通过螺纹杆二22转动带动连接块三28运动的效果。
螺纹杆二22外壁固定连接有蜗轮二19,螺纹杆二22两端转动连接有连接杆三21。
具体的,通过蜗轮二19带动螺纹杆二22转动的效果。
连接杆三21外壁固定连接有转动电机20,转动电机20输出端固定连接有蜗杆二18,蜗杆二18外壁啮合连接在蜗轮二19外壁。
具体的,通过转动电机20带动蜗杆二18进而带动蜗轮二19转动的效果。
连接杆三21一端固定连接有底板26,连接杆三21另一端固定连接有顶盖24。
具体的,通过连接杆三21支撑底板26和顶盖24的效果。
顶盖24下表面固定连接有气缸25,气缸25输出端固定连接有检测器23具体的,通过气缸25控制检测器23上下运动的效果。
工作原理:当需要晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,首先启动连接杆三21内部的转动电机20,通过转动电机20带动蜗杆二18转动进而带动蜗轮二19转动,再通过蜗轮二19带动螺纹杆二22转动进而带动连接块三28运动,从而带动连接杆二13上下运动,再启动连接杆二13内部的电机三14,通过电机三14带动蜗杆一15转动进而带动蜗轮一16转动,再通过蜗轮一16带动螺纹杆一17转动进而推动连接块二12,从而推动转板8到达指定位置,再启动连接杆一1内部的电机一2,通过电机一2带动齿轮3转动进而带动齿条4运动,再通过齿条4带动夹板5运动从而将待检测晶片电阻夹起,达到了固定晶片电阻的效果,再通过电机三14带动螺纹杆一17转动进而带动连接块二12运动,从而带动转板8运动,再通过转动电机20带动螺纹杆二22转动带动连接块三28上下运动进而带动连接杆二13上下运动,从而带动转板8运动至检测位置,再启动顶盖24下方的气缸25,通过气缸25输出端带动检测器23上下运动,从而带动检测器23运动至检测位置进行检测,再启动转板8内部的电机一2,通过电机一2输出端的连接板27带动夹板5转动,进而带动晶片电阻转动,从而达到检测晶片电阻双面的效果。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,包括转板(8),其特征在于:所述转板(8)内部滑动连接有固定杆(10),所述转板(8)内部固定连接有挡块(11),所述固定杆(10)外壁固定连接有连接板(27),所述连接板(27)内部固定连接有滑杆(7),所述滑杆(7)外壁滑动连接有连接块一(6),所述连接块一(6)外壁固定连接有夹板(5),所述夹板(5)外壁固定连接有齿条(4),所述转板(8)相对一侧转动连接有连接杆一(1),所述连接杆一(1)内部固定连接有电机一(2),所述电机一(2)输出端固定连接有齿轮(3),所述齿轮(3)外壁啮合连接在齿条(4)外壁,所述转板(8)内部固定连接有电机二(9),所述电机二(9)输出端固定连接有连接板(27),所述转板(8)外壁固定连接有连接块二(12)。
2.根据权利要求1所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述连接块二(12)内部固定连接有螺纹杆一(17),所述螺纹杆一(17)两端转动连接有连接杆二(13),所述螺纹杆一(17)外壁固定连接有蜗轮一(16)。
3.根据权利要求2所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述连接杆二(13)外壁固定连接有电机三(14),所述电机三(14)输出端固定连接有蜗杆一(15),所述蜗杆一(15)外壁啮合连接在蜗轮一(16)外壁。
4.根据权利要求2所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述连接杆二(13)外壁固定连接有连接块三(28),所述连接块三(28)内部螺纹连接有螺纹杆二(22)。
5.根据权利要求4所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述螺纹杆二(22)外壁固定连接有蜗轮二(19),所述螺纹杆二(22)两端转动连接有连接杆三(21)。
6.根据权利要求5所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述连接杆三(21)外壁固定连接有转动电机(20),所述转动电机(20)输出端固定连接有蜗杆二(18),所述蜗杆二(18)外壁啮合连接在蜗轮二(19)外壁。
7.根据权利要求6所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述连接杆三(21)一端固定连接有底板(26),所述连接杆三(21)另一端固定连接有顶盖(24)。
8.根据权利要求7所述的晶片电阻片表面损伤的外观检测装置,其特征在于:所述顶盖(24)下表面固定连接有气缸(25),所述气缸(25)输出端固定连接有检测器(23)。
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