CN221123335U - 用于环件检测的数显深度测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了用于环件检测的数显深度测量仪，包括：底部平板和外圈竖板，底部平板和外圈竖板相垂直固定呈L形，底部平板上设有第一磁性元件，外圈竖板上设有第二磁性元件，外圈竖板顶部设有竖杆，竖杆上安装有滑套，滑套上设有横梁，横梁与外圈竖板相垂直，横梁上设有滑座，滑座上设有数显屏、穿设于滑座上的探针、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器，计算控制器与数显屏电连接，探针顶端上设有检测板，两个激光测距仪与计算控制器电连接，第一激光测距仪朝向滑套布置，第二激光测距仪竖直朝向检测板。采用所述的数显深度测量仪对环件进行检测能大大提高工作效率和测量精度，使得生产成本能大大降低，环件的产品质量能得到保证。

Description

用于环件检测的数显深度测量仪

技术领域

本实用新型涉及环锻件检测工具领域，具体涉及用于环件检测的数显深度测量仪。

背景技术

现有一种加工有环形坡面的环件，这种环件在制造完成后需要对环形坡面上的多个点位的深度进行检测，从而来判断环形坡面的整体尺寸是否合格，通常由工人利用多种规格的尺进行手工测量，人工测量存在工作效率差，测量精度差，从而无法保证产品质量。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：将提供一种工作效率高、测量精度高的用于环件检测的数显深度测量仪。

为了解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案为：用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：包括：底部平板和外圈竖板，底部平板和外圈竖板相垂直固定呈L形，底部平板用于与环件的底平面相抵靠，外圈竖板用于与环件的外圈侧壁相抵靠，在底部平板上设置有能使底部平板吸附于环件底部上的第一磁性元件，在外圈竖板上设置有能使外圈竖板吸附于环件外圈侧壁上的第二磁性元件，在外圈竖板的顶部设置有一根竖杆，在竖杆上可竖直滑动的安装有一个滑套，在滑套上设置有一根横梁，横梁与外圈竖板相垂直，在横梁上设置有一个能沿着横梁滑动的滑座，在滑座上设置有一个数显屏、一个竖直活动穿设于滑座上的探针、一个第一激光测距仪、一个第二激光测距仪、一个计算控制器，计算控制器与数显屏电连接，探针在滑座上不可旋转，探针的两端均伸出滑座，在探针的顶端上设置有检测板，两个激光测距仪与计算控制器电连接，第一激光测距仪朝向滑套布置，并且第一激光测距仪的前端与探针相对齐，使得第一激光测距仪能对探针到滑套的距离进行检测，第二激光测距仪竖直朝向检测板，使得第二激光测距仪能对其和检测板之间的距离进行检测。

进一步的，前述的用于环件检测的数显深度测量仪，其中：第一磁性元件和第二磁性元件均为微型电磁铁，在底部平板和外圈竖板上还分别设置有用于控制其上微型电磁铁的开关。

进一步的，前述的用于环件检测的数显深度测量仪，其中：在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器、两个微型电磁铁供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。

进一步的，前述的用于环件检测的数显深度测量仪，其中：横梁上设置有沿着横梁布置的导向槽，滑座的下部设置有卡块，卡块卡入至导向槽中，使得滑座能沿着横梁滑动。

进一步的，前述的用于环件检测的数显深度测量仪，其中：第一磁性元件和第二磁性元件也可以均为磁铁。

本实用新型的优点为：采用所述的数显深度测量仪对环件进行检测能大大提高工作效率和测量精度，使得生产成本能大大降低，环件的产品质量能得到保证。

附图说明

图1为本实用新型所述的用于环件检测的数显深度测量仪的结构示意图。

图2为本实用新型所述的用于环件检测的数显深度测量仪的使用状态图。

具体实施方式

下面结合具体实施例和附图对本实用新型作进一步的详细描述。

如图1、图2所示，用于环件检测的数显深度测量仪，包括：底部平板1和外圈竖板2，底部平板1和外圈竖板2相垂直固定呈L形，底部平板1用于与环件3的底平面相抵靠，外圈竖板2用于与环件3的外圈侧壁相抵靠，在底部平板1上设置有能使底部平板1吸附于环件3底部上的第一磁性元件4，在外圈竖板2上设置有能使外圈竖板2吸附于环件3外圈侧壁上的第二磁性元件5，在外圈竖板2的顶部设置有一根竖杆6，在竖杆6上可竖直滑动的安装有一个滑套7，在滑套7上设置有一根横梁8，横梁8与外圈竖板2相垂直，在横梁8上设置有一个能沿着横梁8滑动的滑座9，在滑座9上设置有一个数显屏10、一个竖直活动穿设于滑座9上的探针11、一个第一激光测距仪13、一个第二激光测距仪12、一个计算控制器，计算控制器与数显屏10电连接，探针11在滑座9上不可旋转，探针11的两端均伸出滑座9，在探针11的顶端上设置有检测板14，两个激光测距仪与计算控制器电连接，第一激光测距仪13朝向滑套7布置，并且第一激光测距仪13的前端与探针11相对齐，使得第一激光测距仪13能对探针11到滑套7的距离进行检测，第二激光测距仪12竖直朝向检测板14，使得第二激光测距仪12能对其和检测板14之间的距离进行检测。

在本实施例中，第一磁性元件4和第二磁性元件5均为微型电磁铁，在底部平板1和外圈竖板2上还分别设置有用于控制其上微型电磁铁的开关。在实际生产中，第一磁性元件4和第二磁性元件5也可以为磁铁。

在底部平板1上还设置有用于给数显屏10、第一激光测距仪13、第二激光测距仪12、计算控制器、两个微型电磁铁供电的蓄电池15和能给蓄电池充电的充电装置。在实际生产中，也可以使用外置的蓄电池供电。

横梁8上设置有沿着横梁8布置的导向槽16，滑座9的下部设置有卡块，卡块卡入至导向槽16中，使得滑座9能沿着横梁8滑动。

在数显深度测量仪安装于环件上后，滑套7和环件3的外圈侧壁之间的距离是S1，当将探针11提升至其下针头与横梁8下表面平齐时，第二激光测距仪12和检测板14之间的距离能预先检测得到为S2，S1、S2是固定的，S1、S2会被预先存储于计算控制器中。本实施例中，滑套7和外圈竖板2的内表面相对齐，使得S1为0。

工作时，由工人托着，使底部平板1与环件3的底平面相抵靠，外圈竖板2与环件3的外圈侧壁相抵靠，接着通过开关打开两个微型电磁铁，使得底部平板1能吸附于环件3的底平面上，外圈竖板2能吸附于环件3的外圈侧壁上，然后调节滑套7的高度，使得横梁8搁置于环件3上，接着调节滑座9，使得探针11移动至所需检测点位的上方，然后下移探针11使探针11的下针头落于所需检测的点位上，接着通过两个激光测距仪，使得探针11到滑套7的距离S3、第二激光测距仪12和检测板14之间的距离S4能被检测出来，S3、S4被输入至计算控制器中后，计算控制器会进行计算，所测点位到环件3外圈侧壁的径向距离S5=S3— S1，所测点位的深度S6=S2— S4，计算控制器计算得到S5和S6后会传输给数显屏，最后数显屏会将所测点位的深度S6、以及该点位到环件3外圈侧壁的径向距离S5显示出来。

Claims (6)

1.用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：包括：底部平板和外圈竖板，底部平板和外圈竖板相垂直固定呈L形，底部平板用于与环件的底平面相抵靠，外圈竖板用于与环件的外圈侧壁相抵靠，在底部平板上设置有能使底部平板吸附于环件底部上的第一磁性元件，在外圈竖板上设置有能使外圈竖板吸附于环件外圈侧壁上的第二磁性元件，在外圈竖板的顶部设置有一根竖杆，在竖杆上可竖直滑动的安装有一个滑套，在滑套上设置有一根横梁，横梁与外圈竖板相垂直，在横梁上设置有一个能沿着横梁滑动的滑座，在滑座上设置有一个数显屏、一个竖直活动穿设于滑座上的探针、一个第一激光测距仪、一个第二激光测距仪、一个计算控制器，计算控制器与数显屏电连接，探针在滑座上不可旋转，探针的两端均伸出滑座，在探针的顶端上设置有检测板，两个激光测距仪与计算控制器电连接，第一激光测距仪朝向滑套布置，并且第一激光测距仪的前端与探针相对齐，使得第一激光测距仪能对探针到滑套的距离进行检测，第二激光测距仪竖直朝向检测板，使得第二激光测距仪能对其和检测板之间的距离进行检测。

2.根据权利要求1所述的用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：第一磁性元件和第二磁性元件均为磁铁。

3.根据权利要求1所述的用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：第一磁性元件和第二磁性元件均为微型电磁铁，在底部平板和外圈竖板上还分别设置有用于控制其上微型电磁铁的开关。

4.根据权利要求1或2所述的用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。

5.根据权利要求1或2所述的用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：横梁上设置有沿着横梁布置的导向槽，滑座的下部设置有卡块，卡块卡入至导向槽中，使得滑座能沿着横梁滑动。

6.根据权利要求3所述的用于环件检测的数显深度测量仪，其特征在于：在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器、两个微型电磁铁供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。