CN220961731U - 一种半导体测试的探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体测试的探针，涉及到测试探针设备技术领域，包括保护外壳，保护外壳的内部设置有安装框，安装框的内部开设有第一插孔，安装框的外侧安装有门形固定板，门形固定板的内部连接有活动杆，活动杆的一端固定连接有拉把，活动杆的外壁固定有活动板，活动板的侧面固定连接有第一弹簧，安装框的内部连接有固定块，固定块的内部开设有第二插孔，第二插孔的内径尺寸与活动杆的外径尺寸相同，第二插孔与活动杆滑动连接，固定块的下方设置有测试探针本体。本实用新型通过操作两组拉把，使得安装有测试探针本体的固定块便于从安装框内部进行拆装，这样实现了该一种半导体测试的探针快速拆装探针的功能。

Description

一种半导体测试的探针

技术领域

本实用新型涉及测试探针设备技术领域，特别涉及一种半导体测试的探针。

背景技术

集成电路产业作为新兴产业，半导体测试探针的运用贯穿整个芯片制造过程，通过及时有效的检测，芯片厂商还可以合理筛选出不同性能等级的芯片或器件，其中ICT探针是一种常用的垂直形探针，多用于光电路板测试和微电子测试，测试探针，K-50-QG无线路由器测试，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件，测试探针的种类有PCB探针、ICT功能测试探针(汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)、BGA测试探针等。

现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次使用，现有的装置必须用双手操作，同时针头与元器件引脚连接不准确和不稳定，易脱落。

经检索现有中国专利：一种半导体测试探针（公告号为：CN209231396U），包括外壳，所述外壳的内侧活动安装有两个测试探针，两个所述测试探针上端通过螺纹活动安装有安装件，所述安装件的上端与外壳内侧上端之间固定设置有第一弹簧，所述外壳中部活动安装有双头螺杆，两个所述测试探针分别通过螺纹与双头螺杆活动连接，所述外壳的两侧分别活动安装有固定件，两个所述固定件通过轴承与双头螺杆活动连接，所述双头螺杆的一端固定设置有转盘，两个所述固定件的下端通过螺纹活动安装有限位件，所述限位件靠近外壳的一端端固定设置有橡胶垫。该实用新型通过设置磁铁，便于针头与待测元器件的引脚连接准确，同时保证连接稳定不易脱离，保证测试操作过程中的稳定性和准确性。

上述专利虽然通过转动转盘带动双头螺杆转动进而带动两个测试探针根据需求调节之间的距离，但是该半导体探针在使用的过程中不便对探针进行快速的安装和拆卸，使得在更换或维修时带来不便。

因此，发明一种半导体测试的探针来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体测试的探针，以解决上述背景技术中提出的该半导体探针在使用的过程中不便对探针进行快速的安装和拆卸，使得在更换或维修时带来不便问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试的探针，包括保护外壳，所述保护外壳的内部设置有安装框，所述安装框的内部开设有第一插孔，所述安装框的外侧安装有门形固定板，所述门形固定板的内部连接有活动杆，所述活动杆的一端固定连接有拉把，所述活动杆的外壁固定有活动板，所述活动板的侧面固定连接有第一弹簧，所述安装框的内部连接有固定块，所述固定块的内部开设有第二插孔，所述第二插孔的内径尺寸与所述活动杆的外径尺寸相同，所述第二插孔与所述活动杆滑动连接，所述固定块的下方设置有测试探针本体。

优选地，所述保护外壳的顶部固定有挂环，所述保护外壳的侧面安装有盖板。

优选地，所述保护外壳的外侧设置有转把，所述转把的侧面固定有双向旋丝杆。

优选地，所述双向旋丝杆的一端连接有轴承，所述双向旋丝杆的外壁连接有丝杆螺母。

优选地，所述安装框的内部开设有滑动孔，所述滑动孔的内部连接有限位杆。

优选地，所述活动板的一侧固定有导向块，所述门形固定板的内部开设有导向槽。

优选地，所述固定块的底部固定连接有第二弹簧，所述测试探针本体的底端安装有针头，所述针头的底部安装有磁铁。

本实用新型的技术效果和优点：

1、通过设置安装机构，当需要对测试探针本体进行拆卸时，拉动两组拉把，使得拉把带动活动杆向门形固定板一侧移动，此时活动杆脱离固定块开设的第二插孔内，然后将安装有测试探针本体的固定块从安装框内部拆卸下来，这样便实现了该测试探针本体便于拆卸的功能，当对测试探针本体进行安装时，拉动两组拉把，使得拉把带动活动杆向门形固定板一侧移动，活动杆外壁固定有活动板，活动板侧面连接有第一弹簧，当活动杆向外移动时，活动板对第一弹簧进行拉伸，使得第一弹簧发生形变，然后将安装有测试探针本体的固定块插入到安装框内部，然后松开两组拉把，使得第一弹簧形变复位，此时活动杆回移，并且插入到第二插孔内，这样将固定块固定在安装框内部，这样便将测试探针本体安装在保护外壳内部，实现了该测试探针本体便于安装的功能；

2、通过设置移动机构，转动转把，使得转把带动双向旋丝杆转动，双向旋丝杆外壁连接有两组丝杆螺母，两组丝杆螺母分别安装在两组安装框内部，两组安装框内部又共同连接有限位杆，在限位杆的限位作用下，使得双向旋丝杆带动两组安装框相向或相反运动，从而使得两组测试探针本体相向或相反运动，达到调节两组测试探针本体之间间距的效果；

3、通过在针头底部设置磁铁，这样便于针头与待测元器件的引脚连接准确，同时保证连接稳定不易脱离，保证测试操作过程中的稳定性和准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型一种半导体测试的探针的整体的正视结构示意图。

图2为本实用新型一种半导体测试的探针的保护外壳内部机构的拆分图。

图3为本实用新型一种半导体测试的探针的图2中A处的放大图。

图4为本实用新型一种半导体测试的探针的整体的俯视结构示意图。

图5为本实用新型一种半导体测试的探针的整体的仰视结构示意图。

图中：1、保护外壳；2、挂环；3、盖板；4、转把；5、双向旋丝杆；6、轴承；7、丝杆螺母；8、安装框；9、滑动孔；10、限位杆；11、第一插孔；12、门形固定板；13、活动杆；14、拉把；15、活动板；16、导向块；17、导向槽；18、第一弹簧；19、固定块；20、第二插孔；21、第二弹簧；22、测试探针本体；23、针头；24、磁铁。

实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了如图1-5所示的一种半导体测试的探针，包括保护外壳1，保护外壳1的内部设置有安装框8，其中安装框8起到安装限位机构的作用，安装框8的内部开设有第一插孔11，其中第一插孔11使得活动杆13在其内部滑动，安装框8的外侧安装有门形固定板12，其中门形固定板12起到限位活动杆13移动的作用，门形固定板12的内部连接有活动杆13，其中活动杆13起到限位固定块19移动的作用，活动杆13的一端固定连接有拉把14，其中拉把14起到拉动活动杆13的作用，活动杆13的外壁固定有活动板15，其中活动板15起到拉伸第一弹簧18的作用，活动板15的侧面固定连接有第一弹簧18，其中第一弹簧18起到形变复位的作用，安装框8的内部连接有固定块19，其中固定块19起到连接第二弹簧21的作用，固定块19的内部开设有第二插孔20，其中第二插孔20使得活动杆13在其内部滑动，起到限位固定块19移动的作用，第二插孔20的内径尺寸与活动杆13的外径尺寸相同，第二插孔20与活动杆13滑动连接，固定块19的下方设置有测试探针本体22，其中测试探针本体22起到测试半导体的作用。

保护外壳1的顶部固定有挂环2，保护外壳1的侧面安装有盖板3，其中挂环2起到方便悬挂保护外壳1的作用，盖板3起到盖住保护外壳1侧面开设的操作口的作用。

保护外壳1的外侧设置有转把4，转把4的侧面固定有双向旋丝杆5，其中转把4起到带动双向旋丝杆5转动的作用，双向旋丝杆5起到带动两组丝杆螺母7移动的作用。

双向旋丝杆5的一端连接有轴承6，双向旋丝杆5的外壁连接有丝杆螺母7，其中轴承6使得双向旋丝杆5在其内部转动，丝杆螺母7起到带动安装框8移动的作用。

安装框8的内部开设有滑动孔9，滑动孔9的内部连接有限位杆10，其中滑动孔9使得限位杆10在其内部滑动，限位杆10起到限位安装框8移动的作用。

活动板15的一侧固定有导向块16，门形固定板12的内部开设有导向槽17，其中导向块16起到导向活动板15移动的作用，导向槽17起到限位导向块16移动的作用。

固定块19的底部固定连接有第二弹簧21，测试探针本体22的底端安装有针头23，针头23的底部安装有磁铁24，其中第二弹簧21起到连接固定块19与测试探针本体22的作用，从而使得测试探针本体22能够被拉伸，针头23起到测试的作用，磁铁24便于针头23与待测元器件的引脚连接准确，同时保证连接稳定不易脱离，保证测试操作过程中的稳定性和准确性。

工作原理：当需要对测试探针本体22进行拆卸时，拉动两组拉把14，使得拉把14带动活动杆13向门形固定板12一侧移动，此时活动杆13脱离固定块19开设的第二插孔20内，然后将安装有测试探针本体22的固定块19从安装框8内部拆卸下来，这样便实现了该测试探针本体22便于拆卸的功能，当对测试探针本体22进行安装时，拉动两组拉把14，使得拉把14带动活动杆13向门形固定板12一侧移动，活动杆13外壁固定有活动板15，活动板15侧面连接有第一弹簧18，当活动杆13向外移动时，活动板15对第一弹簧18进行拉伸，使得第一弹簧18发生形变，然后将安装有测试探针本体22的固定块19插入到安装框8内部，然后松开两组拉把14，使得第一弹簧18形变复位，此时活动杆13回移，并且插入到第二插孔20内，这样将固定块19固定在安装框8内部，这样便将测试探针本体22安装在保护外壳1内部，实现了该测试探针本体22便于安装的功能。

以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种半导体测试的探针，包括保护外壳（1），其特征在于：所述保护外壳（1）的内部设置有安装框（8），所述安装框（8）的内部开设有第一插孔（11），所述安装框（8）的外侧安装有门形固定板（12），所述门形固定板（12）的内部连接有活动杆（13），所述活动杆（13）的一端固定连接有拉把（14），所述活动杆（13）的外壁固定有活动板（15），所述活动板（15）的侧面固定连接有第一弹簧（18），所述安装框（8）的内部连接有固定块（19），所述固定块（19）的内部开设有第二插孔（20），所述第二插孔（20）的内径尺寸与所述活动杆（13）的外径尺寸相同，所述第二插孔（20）与所述活动杆（13）滑动连接，所述固定块（19）的下方设置有测试探针本体（22）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的顶部固定有挂环（2），所述保护外壳（1）的侧面安装有盖板（3）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的外侧设置有转把（4），所述转把（4）的侧面固定有双向旋丝杆（5）。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述双向旋丝杆（5）的一端连接有轴承（6），所述双向旋丝杆（5）的外壁连接有丝杆螺母（7）。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述安装框（8）的内部开设有滑动孔（9），所述滑动孔（9）的内部连接有限位杆（10）。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述活动板（15）的一侧固定有导向块（16），所述门形固定板（12）的内部开设有导向槽（17）。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述固定块（19）的底部固定连接有第二弹簧（21），所述测试探针本体（22）的底端安装有针头（23）。

8.根据权利要求7所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述针头（23）的底部安装有磁铁（24）。