CN220933765U - 一种用于储存芯片的测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于储存芯片的测试治具，属于芯片质检技术领域，其包括测试治具主体，所述测试治具主体上连接有支撑架，且支撑架的一侧连接有存储箱，所述存储箱下开设有滑槽，且滑槽内设置有第二滑块，所述第二滑块下连接有弧形挡板，且弧形挡板的正面转动连接有伸缩杆一，所述伸缩杆一内转动连接有销轴。该用于储存芯片的测试治具，通过设置芯片测试圆盘、环形滑轨、支撑架、存储箱、滑槽、第二滑块和弧形挡板，通过芯片测试圆盘的上升推动弧形挡板水平移动，使得待检测芯片落入测试卡槽内，并启动电机带动芯片测试圆盘转动，使得芯片检测和装载连续进行，使装载和检测的间断时间减少，节约了检测时间。

Description

一种用于储存芯片的测试治具

技术领域

本实用新型属于芯片质检技术领域，具体为一种用于储存芯片的测试治具。

背景技术

储存芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用，因此，无论是系统芯片还是储存芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。储存芯片在生产的过程中，常需要对芯片样品进行检测，芯片测试治具是一种用于芯片检测过程中，对芯片进行放置固定，以便后续进行检测的辅助装置，传统的芯片测试治具在使用的过程中，一般需要先对芯片进行装载，并且在装载完成后在进行检测，从而在对芯片检测和对芯片装载不能同时进行，使装载和检测时间间隔较大。

实用新型内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种用于储存芯片的测试治具，解决了传统的芯片测试治具在使用的过程中，一般需要先对芯片进行装载，并且在装载完成后在进行检测，从而在检测的时候不便于继续对芯片的装载，降低检测的效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于储存芯片的测试治具，包括测试治具主体，所述测试治具主体上连接有支撑架，且支撑架的一侧连接有存储箱，所述存储箱下开设有滑槽，且滑槽内设置有第二滑块，所述第二滑块下连接有弧形挡板，且弧形挡板的正面转动连接有伸缩杆一，所述伸缩杆一内转动连接有销轴，且销轴的两端均连接有耳板，所述伸缩杆一上转动连接有夹板，且夹板与存储箱滑动连接。

作为本实用新型的进一步方案：所述测试治具主体的正面连接有控制面板，所述测试治具主体的正面转动连接有传动轴，且传动轴的正面连接有手柄，所述传动轴的背面连接有锥齿轮一，所述第二滑块的形状为T形。

作为本实用新型的进一步方案：所述锥齿轮一上啮合有锥齿轮二，且锥齿轮二内连接有螺纹套筒，所述螺纹套筒下连接有轴承，且轴承下与测试治具主体内相连接，所述螺纹套筒内连接有螺纹杆，且螺纹杆上连接有方形支撑杆，所述方形支撑杆上连接有第一滑块，所述方形支撑杆外连接有套筒二，且套筒二的形状为方形，所述套筒二外与测试治具主体相连。

作为本实用新型的进一步方案：所述测试治具主体内连接有电机，且电机上连接有伸缩杆二，所述伸缩杆二上连接有芯片测试圆盘，所述伸缩杆二外连接有套筒一，且套筒一外与测试治具主体相连。

作为本实用新型的进一步方案：所述芯片测试圆盘下开设有环形滑轨，且环形滑轨内与第一滑块滑动连接，所述芯片测试圆盘上开设有测试卡槽。

作为本实用新型的进一步方案：所述耳板的背面与存储箱的正面连接，且耳板沿伸缩杆一的中心对称设置。

作为本实用新型的进一步方案：所述伸缩杆二通过套筒一与测试治具主体连接，且伸缩杆二与套筒一套接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、该用于储存芯片的测试治具，通过设置芯片测试圆盘、环形滑轨、支撑架、存储箱、滑槽、第二滑块和弧形挡板，通过芯片测试圆盘的上升推动弧形挡板水平移动，使得待检测芯片落入测试卡槽内，并启动电机带动芯片测试圆盘转动，使得芯片检测和装载连续进行，使装载和检测的间断时间减少，节约了检测时间。

2、该用于储存芯片的测试治具，通过设置弧形挡板、伸缩杆一、销轴、耳板和夹板，通过弧形挡板推动伸缩杆一绕销轴转动，使夹板水平移动，使夹板与待检测芯片贴合，增大夹板和待检测芯片之间的摩擦力，并对剩余的待检测芯片施加压力，从而达到了控制待检测芯片下落数量，达到控制单个芯片在单个测试卡槽的装载。

3、该用于储存芯片的测试治具，通过设置传动轴、手柄、锥齿轮一、锥齿轮二、螺纹套筒、螺纹杆、方形支撑杆、第一滑块、芯片测试圆盘、环形滑轨、电机和伸缩杆二，通过启动电机带动伸缩杆二转动，使得芯片测试圆盘转动，同时转动手柄，使芯片测试圆盘上升，从而达到在芯片测试圆盘在转动时，同时芯片测试圆盘也可进行竖直方向的移动，使转动和竖直方向移动互不干扰。

附图说明

图1为本实用新型测试治具立体的结构示意图；

图2为本实用新型测试治具部分剖开立体的结构示意图；

图3为本实用新型图2中A处放大的结构示意图；

图4为本实用新型螺纹套筒立体的结构示意图；

图5为本实用新型支撑架部分剖开立体的结构示意图；

图6为本实用新型图5中B处放大的结构示意图；

图7为本实用新型存储箱部分剖开立体的结构示意图；

图中：1、测试治具主体；2、控制面板；3、传动轴；4、手柄；5、锥齿轮一；6、锥齿轮二；7、螺纹套筒；8、螺纹杆；9、方形支撑杆；10、第一滑块；11、芯片测试圆盘；12、环形滑轨；13、支撑架；14、存储箱；15、滑槽；16、第二滑块；17、弧形挡板；18、伸缩杆一；19、销轴；20、耳板；21、夹板；22、电机；23、伸缩杆二；24、测试卡槽；25、套筒一；26、套筒二；27、轴承。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

如图1-7所示，本实用新型提供一种技术方案：一种用于储存芯片的测试治具，包括测试治具主体1，测试治具主体1上连接有支撑架13，且支撑架13的一侧连接有存储箱14，存储箱14下开设有滑槽15，且滑槽15内设置有第二滑块16，第二滑块16下连接有弧形挡板17，且弧形挡板17的正面转动连接有伸缩杆一18，通过设置有存储箱14，从而便于对待检测芯片的存储，通过设置有弧形挡板17，从而便于在芯片测试圆盘11上升时推动弧形挡板17沿滑槽15水平移动，同时防止待检测芯片掉落；

伸缩杆一18内转动连接有销轴19，且销轴19的两端均连接有耳板20，伸缩杆一18上转动连接有夹板21，且夹板21与存储箱14滑动连接，通过设置销轴19，从而使伸缩杆一18两端的移动方向不同，使弧形挡板17推动夹板21水平移动，通过设置有伸缩杆一18，在伸缩杆一18绕销轴19中心转动时，保证弧形挡板17和夹板21之间连接，同时也使弧形挡板17与夹板21可进行水平移动。

测试治具主体1的正面连接有控制面板2，测试治具主体1的正面转动连接有传动轴3，且传动轴3的正面连接有手柄4，传动轴3的背面连接有锥齿轮一5，第二滑块16的形状为T形，通过设置锥齿轮一5，从而便于将动力传输到锥齿轮二6，通过设置有第二滑块16，从而防止弧形挡板17与存储箱14脱离，也便于弧形挡板17沿滑槽15水平移动。

锥齿轮一5上啮合有锥齿轮二6，且锥齿轮二6内连接有螺纹套筒7，螺纹套筒7下连接有轴承27，且轴承27下与测试治具主体1内相连接，螺纹套筒7内连接有螺纹杆8，且螺纹杆8上连接有方形支撑杆9，通过设置锥齿轮二6，从而便于带动螺纹套筒7的转动，通过设置螺纹套筒7和螺纹杆8，从而在螺纹套筒7转动时，使得螺纹杆8竖直移动；

方形支撑杆9上连接有第一滑块10，方形支撑杆9外连接有套筒二26，且套筒二26的形状为方形，套筒二26外与测试治具主体1相连，通过设置有方形支撑杆9，防止螺纹杆8转动，通过设置有套筒二26，达到了对方形支撑杆9进行限位，也便于方形支撑杆9伸出。

测试治具主体1内连接有电机22，且电机22上连接有伸缩杆二23，伸缩杆二23上连接有芯片测试圆盘11，伸缩杆二23外连接有套筒一25，且套筒一25外与测试治具主体1相连，通过设置套筒一25，从而使伸缩杆二23沿套筒一25伸出，也便于在套筒一25内转动。

芯片测试圆盘11下开设有环形滑轨12，且环形滑轨12内与第一滑块10滑动连接，芯片测试圆盘11上开设有测试卡槽24，通过设置有电机22，为芯片测试圆盘11的转动提供动力，通过设置有伸缩杆二23，从而便于在芯片测试圆盘11上升时，保证伸缩杆二23与芯片测试圆盘11连接，同时也便于为芯片测试圆盘11提供动力，通过设置第一滑块10和环形滑轨12，从而使在芯片测试圆盘11上升的同时可以进行转动，互不干扰。

耳板20的背面与存储箱14的正面连接，且耳板20沿伸缩杆一18的中心对称设置，通过设置有耳板20，便于对销轴19进行限位，也防止销轴19脱落。

伸缩杆二23通过套筒一25与测试治具主体1连接，且伸缩杆二23与套筒一25套接。

本实用新型的工作原理为：首先将待检测芯片放入存储箱14中，在进行芯片装载时，通过转动手柄4带动传动轴3转动，从而带动锥齿轮一5转动，并将动力传输到锥齿轮二6，使锥齿轮二6带动螺纹套筒7转动，从而使螺纹杆8向上移动，并推动方形支撑杆9和第一滑块10上升，同时带动伸缩杆二23拉伸，使得芯片测试圆盘11与弧形挡板17挤压，持续转动手柄4，使得芯片测试圆盘11推动弧形挡板17沿滑槽15进行水平方向移动，当弧形挡板17与待检测芯片脱离时，待测试芯片落入测试卡槽24内，同时弧形挡板17推动伸缩杆一18绕销轴19中心转动，使得夹板21水平移动，使夹板21与待检测芯片贴合，并对剩余的芯片施加压力，从而完成对于芯片装载。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (7)

1.一种用于储存芯片的测试治具，包括测试治具主体(1)，其特征在于：所述测试治具主体(1)上连接有支撑架(13)，且支撑架(13)的一侧连接有存储箱(14)，所述存储箱(14)下开设有滑槽(15)，且滑槽(15)内设置有第二滑块(16)，所述第二滑块(16)下连接有弧形挡板(17)，且弧形挡板(17)的正面转动连接有伸缩杆一(18)，所述伸缩杆一(18)内转动连接有销轴(19)，且销轴(19)的两端均连接有耳板(20)，所述伸缩杆一(18)上转动连接有夹板(21)，且夹板(21)与存储箱(14)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述测试治具主体(1)的正面连接有控制面板(2)，所述测试治具主体(1)的正面转动连接有传动轴(3)，且传动轴(3)的正面连接有手柄(4)，所述传动轴(3)的背面连接有锥齿轮一(5)，所述第二滑块(16)的形状为T形。

3.根据权利要求2所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述锥齿轮一(5)上啮合有锥齿轮二(6)，且锥齿轮二(6)内连接有螺纹套筒(7)，所述螺纹套筒(7)下连接有轴承(27)，且轴承(27)下与测试治具主体(1)内相连接，所述螺纹套筒(7)内连接有螺纹杆(8)，且螺纹杆(8)上连接有方形支撑杆(9)，所述方形支撑杆(9)上连接有第一滑块(10)，所述方形支撑杆(9)外连接有套筒二(26)，且套筒二(26)的形状为方形，所述套筒二(26)外与测试治具主体(1)相连。

4.根据权利要求3所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述测试治具主体(1)内连接有电机(22)，且电机(22)上连接有伸缩杆二(23)，所述伸缩杆二(23)上连接有芯片测试圆盘(11)，所述伸缩杆二(23)外连接有套筒一(25)，且套筒一(25)外与测试治具主体(1)相连。

5.根据权利要求4所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述芯片测试圆盘(11)下开设有环形滑轨(12)，且环形滑轨(12)内与第一滑块(10)滑动连接，所述芯片测试圆盘(11)上开设有测试卡槽(24)。

6.根据权利要求1所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述耳板(20)的背面与存储箱(14)的正面连接，且耳板(20)沿伸缩杆一(18)的中心对称设置。

7.根据权利要求4所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于：所述伸缩杆二(23)通过套筒一(25)与测试治具主体(1)连接，且伸缩杆二(23)与套筒一(25)套接。