CN220820116U - 一种电阻检测探针、组件及其装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种电阻检测探针、组件及其装置，涉及电阻检测技术领域。该电阻检测探针包括：套筒、伸缩柱和弹性件。其中，所述伸缩柱与所述套筒相套接。所述伸缩柱的第一端位于所述套筒的内部，所述伸缩柱的第二端位于所述套筒的外部。所述伸缩柱能够与所述套筒形成沿第一方向上的相对滑动。第一方向平行于所述伸缩柱的轴心线。所述弹性件设置于所述套筒内，用于向所述伸缩柱施加沿第一方向的弹性力。本申请所提出的电阻检测探针其具有伸缩功能，能够有效的避免在测试过程中第一探针和第二探针长度固定，在制造过程中或者长期的使用过程中第一探针和第二探针测试段高度不一致，而导致的检测结果不准确的现象发生。

Description

一种电阻检测探针、组件及其装置

技术领域

本申请涉及电阻检测技术领域，具体为一种电阻检测探针、组件及其装置。

背景技术

需要清楚的是，现有技术中无法对多层材料（例如：复合集流体或者电池极片）中每一层的电阻进行测试，只能够对多层材料的总电阻进行测试。为了能够对多层材料中每一层的电阻进行测试，现提出一种电阻检测装置。如图2所示，该电阻检测装置包括一个第一探针2和至少一个第二探针3，通过第一探针2和第二探针3与待测物6进行贴合，即可对多层材料中每一层的电阻进行测试。在测试中，若第一探针2或者第二探针3与待测物6贴合不稳定，则易导致检测结果不准确。

实用新型内容

本申请的目的在于提供一种电阻检测探针、组件及其装置，以解决探针与待测物贴合不稳定的技术问题。

为实现上述目的，本申请提供如下技术方案：

第一方面，本申请提出一种电阻检测探针，该电阻检测探针包括：套筒、伸缩柱和弹性件。其中，所述伸缩柱与所述套筒相套接。所述伸缩柱的第一端位于所述套筒的内部，所述伸缩柱的第二端位于所述套筒的外部。所述伸缩柱能够与所述套筒形成沿第一方向上的相对滑动。第一方向平行于所述伸缩柱的轴心线。所述弹性件设置于所述套筒内，用于向所述伸缩柱施加沿第一方向的弹性力，第一方向由所述伸缩柱的第一端指向第二端。

作为本技术方案中优选的，所述伸缩柱的第二端设置有接触脚，所述接触脚用于增大与待测物的接触面积。

作为本技术方案中优选的，所述接触脚呈圆台状或者圆柱状。

作为本技术方案中优选的，所述套筒沿第二方向依次开设有伸缩孔和接触孔；所述第二方向平行于所述伸缩柱的轴心线，且由所述伸缩柱的第二端指向第一端；所述接触孔沿第二方向上的孔径递减；所述伸缩孔与所述伸缩柱相适配；所述伸缩柱的第一端设置有多个弹性片，各个弹性片绕所述伸缩柱的周向均匀分布，且每个弹性片均沿第二方向延伸。

作为本技术方案中优选的，所述套筒内沿第二方向还开设有导向孔，所述伸缩柱的第一端设置有导向杆，所述导向杆与所述导向孔相适配，所述弹性件为弹簧，弹簧套接于所述导向杆外部。

第二方面，本申请提出一种电阻检测组件，包括如第一方面中任意一项所述的电阻检测探针。

作为本技术方案中优选的，该电阻检测组件还包括承载件、设置于所述承载件的一个第一探针和多个第二探针。所述第一探针的轴心线与各个第二探针的轴心线平行，所述第一探针和/或各个第二探针为第一方面中任意一项所述的电阻检测探针。

作为本技术方案中优选的，所述各个第二探针绕所述第一探针的轴心线均匀分布。

作为本技术方案中优选的，所述第一探针为固定探针，各个第二探针为第一方面中任意一项所述的电阻检测探针；每个第二探针均具有两种状态，其分别为压缩状态和松弛状态；若第二探针处于压缩状态，则弹性件所产生的弹性力最大；若第二探针处于松弛状态，则弹性件所产生的弹性力为0；第二探针处于压缩状态时，所述第一探针的有效高度大于第二探针的有效高度；第二探针处于松弛状态时，所述第一探针的有效高度小于第二探针的有效高度。

第三方面，本申请提出一种电阻检测装置，包括如第一方面中任意一项所述的电阻检测探针，或者包括如第二方面中任意一项所述的电阻检测组件。

与现有技术相比，本申请的有益效果是：

本申请所提出的电阻检测探针其具有伸缩功能，能够有效的避免在测试过程中第一探针和第二探针长度固定，在制造过程中或者长期的使用过程中第一探针和第二探针测试段高度不一致，而导致的检测结果不准确的现象发生。

附图说明

图1为本申请实施例所提出的多层材料的结构示意图；

图2为本申请实施例所提出的一种电阻检测装置的结构示意图；

图3为本申请实施例所提出的一种电阻检测组件的立体图；

图4为本申请实施例所提出的一种电阻检测组件中第二探针处于松弛状态的主视图；

图5为本申请实施例所提出的一种电阻检测组件中第二探针处于压缩状态的主视图；

图6为本申请实施例所提出的一种电阻检测探针的立体图；

图7为本申请实施例所提出的一种电阻检测探针的剖视图；

图8为本申请实施例所提出的套筒的剖视图；

图9为本申请实施例所提出的伸缩柱的立体图。

图中：1、承载件；2、第一探针；3、第二探针；31、套筒；312、伸缩孔；313、接触孔；314、导向孔；32、伸缩柱；322、接触脚；323、弹性片；324、导向杆；33、弹性件；4、电流表；5、电压表；6、待测物；61、支撑体；62、阴极材料层；63、阳极材料层；64、有电流区域；641、第一接触区域； 642、第二接触区域； 643、阴极接触区域等电势区；644、阳极接触区域等电势区；65、无电流区域；7、电源；81、第一开关；82、第二开关；83、第三开关；84、第四开关。

实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，并不是指示或暗示所指的装置或元件所必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，应当理解，为了便于描述，附图中所示出的各个部件的尺寸并不按照实际的比例关系绘制，例如某些层的厚度或宽度可以相对于其他层有所夸大。

应注意的是，相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义或说明，则在随后的附图的说明中将不需要再对其进行进一步的具体讨论和描述。

具体的，如图2所示，采用本申请所提出的电阻检测装置检测待测物6中各层（也即支撑体61、阴极材料层62和阳极材料层63）的电阻的原理如下：

电阻测试的基本原理为对待测物6进行通电，获取通过待测物6的电流和待测物6两端的电压，基于电流和电压获取电阻。现有技术中，常用的电阻测试装置有万用表和电阻测试仪等，但是上述的装置只能够对待测物6的总电阻进行测量，若待测物6为多层物质（例如背景技术中所提出的集流体或者电池极片等），则现有装置无法分别对多层物质的电阻分别进行测量。

本申请所提出的待测物6如图1所示，其包括支撑体61、阴极材料层62和阳极材料层63，其中阴极材料层62覆盖在支撑体61的一面，而阳极材料层63覆盖在支撑体61的另一面。

为了解决上述的技术问题，如图2所示，本申请实施例提出一种电阻检测装置，该电阻阻检测装置包括：依次串联形成第一电路的两个第一探针2、电源7和电流表4；依次串联形成第二电路的所述两个第一探针2、第一开关81、电压表5和第二开关82；依次串联形成第三电路的两个第二探针3、第三开关83、电压表5和第四开关84。其中，电源7主要用于提供电流，电流表4主要用于测试流经待测物6的电流，而电压表5主要用于测试电压。

具体的，如图2所示，若需要测试待测物6的电阻，则闭合第一开关81和第二开关82。闭合第一开关81和第二开关82后，电流表4测试的数据为流径待测物6的电流，电压表5测试的数据为待测物6的电压，基于上述的电压和电流即可获取待测物6的总电阻，我们将该电阻命名为第一电阻。

如图2所示，若要测试阳极材料层63的电阻，则闭合第一开关81和第四开关84。闭合第一开关81和第四开关84后，电流表4测试的数据为流径待测物6的电流。需要清楚的是，如图1所示，在测试过程中，由于整个待测物6只有与两个第一探针2相接触的区域（也即第一接触区域641和第二接触区域642）均具有电流流过，电流在周围衰减形成有电流区域64，该区域内存在与支撑体61和阴极材料62接触区域等电势的阴极接触区域等电势区643,与支撑体61和阳极材料63接触区域等电势的阳极接触区域等电势区644，电流进一步衰减形成无电流区域65。也就是说，如图2所示，两个第二探针3与待测物6的阳极接触面等电势区644相接触，电压表5所测试的数据为支撑体61和阴极材料层62的总电压。基于该电压和电流获取支撑体61和阴极材料层62的总电阻，我们将该电阻命名为第二电阻，则阳极材料层63的电阻即为第一电阻减去第二电阻。

如图2所示，若要测试阴极材料层62的电阻，则闭合第二开关82和第三开关83。闭合第二开关82和第三开关83后，电流表4测试的数据为流径待测物6的电流。基于与上述类似的理由，电压表所测试的数据为支撑体61和阳极材料层63的总电压，基于该电流和电压可以获取支撑体61和阳极材料层63的总电阻。我们将该电阻命名为第三电阻，则阴极材料层62的电阻即为第一电阻减去第三电阻。

由此可知，本申请所提出的电阻检测装置能够检测出多层材料（例如：复合集流体或者电池极片）中每一层的电阻，从而能够基于多层材料中的每一层电阻判定多层材料是否合格。

需要清楚的是，在本申请的实施例中，电源7可以是任意的形式，例如：若电流表4的内部具有电源，则可以不用额外的配置电源7；若电流表4的内部不具有电源或者电流表所具有电源的电压与检测需求的电压不一致，则可以在电流表4的外部配置电源。

需要清楚的是，基于上述技术方案对待测物6的电阻进行检测需要第一探针2和第二探针3与待测物6紧密贴合才能测试准确。在本申请的一个实施例中，第一探针2和第二探针3均可以为固定探针，固定探针的含义为第一探针2和第二探针3位置不可变动。如图4所示，假设第一探针2和第二探针3均固定探针，则第一探针2用于测试段的高度为M，第二探针3用于测试段的高度为H，此时，必须高度H等于高度M才能进行准确的测试。但是，在生产和制造过程中以及长期的使用过程中，难以保证第一探针2和第二探针3测试段的高度保持一致。

为了解决上述技术问题，如图6和图7所示，本申请提出一种电阻检测探针，该包电阻检测探针括套筒31、伸缩柱32和弹性件33。

具体的，在本申请的实施例中，套筒31可以为任意形状的筒状，对其不做任何限制。例如：其可以为如图6和图7所示的圆柱筒状，在本申请的其他实施例中，其也可以为四棱柱的筒状。伸缩柱32与套筒31相套接，伸缩柱32的第一端位于套筒31的内部，伸缩柱32的第二端位于套筒31的外部。伸缩柱32的第二端是用于与待测物6相接触的。在本申请的实施例中，同套筒31一样，对伸缩柱32的形式不做任何限制。只需要伸缩柱32能够与套筒31形成沿第一方向上的相对滑动即可，第一方向平行于伸缩柱32的轴心线。弹性件33，设置于套筒31内，用于向伸缩柱32施加沿第一方向的弹性力，第一方向由伸缩柱32的第一端指向第二端。需要清楚的是，在本申请的实施例中，弹性件33可以是任意能够形成弹性力的部件，例如：如图7所示的弹簧，或者弹片等。

需要清楚的是，在本申请的实施例中，由于伸缩柱32能够在套筒31上自由的进行收缩，也就是说，即使第一探针2和第二探针3测试段的高度不一致，由于第一探针2和/或第二探针3能够伸缩，也能够保证第一探针2和第二探针3测试段高度一致，保证测试结果的准确性。

需要清楚的是，在本申请的其他实施例中，伸缩柱32还可以套接于套筒31外部。由图7可知，若伸缩柱32套接于套筒31内部，则伸缩柱32与待测物6所形成的接触面积较小，为了增大伸缩柱32与待测物6的接触面积。如图7和图9所示，伸缩柱32的第二端设置有接触脚322，接触脚322用于增大与待测物6的接触面积。容易理解的是，由于用于增大接触面积的形状和构造多种多样，因此接触脚322可以是任意形状和构造的。例如：如图9所示，接触脚322呈圆台状，或者在本申请的其他实施例中，接触脚322还可以呈圆柱状。

由前文可知，在本申请的实施例中，探针的主要作用是用于测试电流或者电压。容易理解的是，探针需要具有良好的电学性能，也就是说，探针的各个接触点必须能够紧密接触，防止接触不良而导致检测不准确。需要清楚的是，若探针能够伸缩，则在长期的使用过程中，探针磨损易导致接触不良。为了避免这一问题，如图7至图9所示，套筒31沿第二方向依次开设有伸缩孔312和接触孔313，第二方向平行于伸缩柱32的轴心线，且由伸缩柱32的第二端指向第一端。其中，伸缩孔312与伸缩柱32相适配，也就是说，伸缩孔312的内径与伸缩柱32的外径一致。接触孔313沿第二方向上的孔径递减，伸缩柱32的第一端设置有多个弹性片323，各个弹性片323绕伸缩柱32的周向均匀分布，且每个弹性片323均沿第二方向延伸。也就是说，在每次伸缩柱32被压缩的过程中，各个弹性片323位于接触孔313的收容空间变小，使得各个弹性片323能够与接触孔313紧密接触，进而避免接触不良的现象发生。

需要清楚的是，在长期的使用过程中，若弹性件33为弹簧，且弹簧的长度较长，为了能够保证弹簧能够准确沿第一方向施加弹力，如图7至图9所示，在本申请的实施例中，套筒31内沿第二方向还开设有导向孔314，伸缩柱32的第一端设置有导向杆324，导向杆324与导向孔314相适配，弹簧套接于导向杆324外。也就是说，导向杆324能够对弹簧所施加的力进行准确的导向，延长电阻检测探针的使用寿命。

本申请实施例所提出的电阻检测探针其具有伸缩功能，能够有效的避免在测试过程中第一探针和第二探针长度固定，在制造过程中或者长期的使用过程中第一探针和第二探针测试段高度不一致，而导致的检测结果不准确的现象发生。

在介绍完本申请所提出的电阻检测探针的所有实施例之后，本申请还提出一种电阻检测组件的实施例，具体的，该电阻检测组件包括如上述实施例中任意一项的电阻检测探针。

在本申请的一个实施例中，为了便于对上电阻检测组件的使用，如图3和图5所示，该电阻检测组件，包括承载件1和设置于承载件1的一个第一探针2和多个第二探针3。

具体的，在本申请的实施例中，承载件1主要是用于固定第一探针2和各个第二探针3的载体，因此对其形状和构造不做任何限制。例如：如图3至图5所示，承载件1可以为圆形块状结构，当然，在本申请的其他实施例中，承载件1可以为方形块状结构或者为球状结构。容易理解的是，第一探针2和各个第二探针3均为导电材料，为了避免第一探针2和各个第二探针3形成电性连接，承载件1为绝缘材料。第一探针2的轴心线与各个第二探针3的轴心线平行，第一探针2和/或各个第二探针3为上述实施例中任意一项的电阻检测探针。也就是说，第一探针2和/或各个第二探针3能够进行伸缩。

由前文可知，在对待测物6进行电阻测试时，在第一探针2和各个第二探针3与待测物6的接触好坏对检测结果影响较大。本申请的一个实施例中，为了保证第一探针2和各个第二探针3能够稳定的与待测物6进行接触，如图3所示，各个第二探针3绕第一探针2的轴心线均匀分布。也就是说，各个第二探针3均匀对称的分布在第一探针2的周围，有利于提升电阻检测组件的接触稳定性。

由前文可知，在本申请的实施例中电流主要是通过两个第一探针2所形成的闭合回路中进行流动的。为了保证第一探针2不会发生接触不良，在本申请的一个实施例中，第一探针2为固定探针，各个第二探针3为上述实施例中任意一项的电阻检测探针。

具体的，在本申请的实施例中，每个第二探针3均具有两种状态，其分别为压缩状态和松弛状态。若第二探针3处于压缩状态，则弹性件33所产生的弹性力最大，也就说是，伸缩柱32被压缩到最短。若第二探针3处于松弛状态，则弹性件33所产生的弹性力为0，也就是说，伸缩柱32未被压缩。为了保证在使用该电阻检测组件时，第一探针2和各个第二探针3均能够与待测物6进行稳定的接触。如图5所示，第二探针3处于压缩状态时，第一探针2的有效高度（也即测试段高度M）大于第二探针3的有效高度（也即测试段高度h）；第二探针3处于松弛状态时，第一探针2的有效高度（也即测试段高度M）小于第二探针3的有效高度（也即测试段高度H）。

本申请实施例所提出的电阻检测组件，由于其具有能够进行伸缩的第一探针和/或和各个第二探针，也就是说，其能够有效的避免在测试过程中第一探针和第二探针长度固定，在制造过程中或者长期的使用过程中第一探针和第二探针测试段高度不一致，而导致的检测结果不准确的现象发生。

在介绍完本申请所提出的电阻检测组件的所有实施例之后，本申请还提出一种电阻检测装置的实施例，具体的，该电阻检测装置包括如上述实施例中任意一项的电阻检测探针。

一种电阻检测装置，包括如上述实施例中任意一项的电阻检测探针，或者包括如上述实施例中任意一项的电阻检测组件。

具体的，在本申请的实施例中，该电阻检测装置还可以如图2所示，在此不做赘述。

尽管已经示出和描述了本申请的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本申请的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种电阻检测探针，其特征在于，包括：

套筒（31）；

伸缩柱（32），与所述套筒（31）相套接；所述伸缩柱（32）的第一端位于所述套筒（31）的内部，所述伸缩柱（32）的第二端位于所述套筒（31）的外部；所述伸缩柱（32）能够与所述套筒（31）形成沿第一方向上的相对滑动；第一方向平行于所述伸缩柱（32）的轴心线；

弹性件（33），设置于所述套筒（31）内，用于向所述伸缩柱（32）施加沿第一方向的弹性力，第一方向由所述伸缩柱（32）的第一端指向第二端。

2.根据权利要求1所述的电阻检测探针，其特征在于，所述伸缩柱（32）的第二端设置有接触脚（322），所述接触脚（322）用于增大与待测物（6）的接触面积。

3.根据权利要求2所述的电阻检测探针，其特征在于，所述接触脚（322）呈圆台状或者圆柱状。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的电阻检测探针，其特征在于，

所述套筒（31）沿第二方向依次开设有伸缩孔（312）和接触孔（313）；所述第二方向平行于所述伸缩柱（32）的轴心线，且由所述伸缩柱（32）的第二端指向第一端；所述接触孔（313）沿第二方向上的孔径递减；所述伸缩孔（312）与所述伸缩柱（32）相适配；

所述伸缩柱（32）的第一端设置有多个弹性片（323），各个弹性片（323）绕所述伸缩柱（32）的周向均匀分布，且每个弹性片（323）均沿第二方向延伸。

5.根据权利要求4所述的电阻检测探针，其特征在于，所述套筒（31）内沿第二方向还开设有导向孔（314），所述伸缩柱（32）的第一端设置有导向杆（324），所述导向杆（324）与所述导向孔（314）相适配，所述弹性件（33）为弹簧，弹簧套接于所述导向杆（324）外部。

6.一种电阻检测组件，其特征在于，包括如权利要求1至5中任意一项所述的电阻检测探针。

7.根据权利要求6所述的电阻检测组件，其特征在于，包括：

承载件（1）；

设置于所述承载件（1）的一个第一探针（2）和多个第二探针（3）；所述第一探针（2）的轴心线与各个第二探针（3）的轴心线平行，所述第一探针（2）和/或各个第二探针（3）为权利要求1至5中任意一项所述的电阻检测探针。

8.根据权利要求7所述的电阻检测组件，其特征在于，所述各个第二探针（3）绕所述第一探针（2）的轴心线均匀分布。

9.根据权利要求7所述的电阻检测组件，其特征在于，所述第一探针（2）为固定探针，各个第二探针（3）为权利要求1至5中任意一项所述的电阻检测探针；每个第二探针（3）均具有两种状态，其分别为压缩状态和松弛状态；若第二探针（3）处于压缩状态，则弹性件（33）所产生的弹性力最大；若第二探针（3）处于松弛状态，则弹性件（33）所产生的弹性力为0；第二探针（3）处于压缩状态时，所述第一探针（2）的有效高度大于第二探针（3）的有效高度；第二探针（3）处于松弛状态时，所述第一探针（2）的有效高度小于第二探针（3）的有效高度。

10.一种电阻检测装置，其特征在于，包括如权利要求1至5中任意一项所述的电阻检测探针，或者包括如权利要求7至9中任意一项所述的电阻检测组件。